• Search Research Projects
  • Search Researchers
  • How to Use
  1. Back to previous page

TAKAHASHI Takehiro  高橋 丈博

ORCIDConnect your ORCID iD *help
… Alternative Names

高橋 丈博  タカハシ タケヒロ

Less
Researcher Number 10206815
Other IDs
External Links
Affiliation (Current) 2025: 拓殖大学, 工学部, 教授
Affiliation (based on the past Project Information) *help 2010 – 2012: 拓殖大学, 工学部, 教授
2006: Takushoku University, Faculty of Engineering, Professor, 工学部, 教授
2004 – 2005: 拓殖大学, 工学部, 助教授
1997 – 2000: 拓殖大学, 工学部, 助教授
Review Section/Research Field
Principal Investigator
Power engineering/Power conversion/Electric machinery / 情報通信工学
Except Principal Investigator
電力工学・電気機器工学 / 電子デバイス・機器工学
Keywords
Principal Investigator
プリント配線板 / 電磁ノイズ / 信号波形歪み / コモンモード放射 / 放射ノイズ低減 / 共振抑制 / 抵抗付キャパシタ / ノイズ低減 / シミュレーション / デカップリングキャパシタ … More / コモンモード / 損失性素子 / 電源グラウンドノイズ / 抵抗付きキャパシタ / 放射抑制 / 電磁ノイズ低減技術 / 不要輻射 / プリント回路基板 / 回路実装 / 電気・電磁環境 / 3次元計測 / 近傍電磁界 / プリント配線版 … More
Except Principal Investigator
EMC / through-put / performance degradation / intra-equipment interference / near-field measurement / noise immunity / electromagnetic disturbance / ubiquitous equipment / 通信品質(スループット) / パケットエラーレート / 基板上の誤動作マップ / ノイズイミュニティ / 電磁干渉(EMC) / 自家中毒 / 誤動作マップ / スループット / 近傍電界測定 / (ノイズ)イミュニティ / 電磁ノイズ妨害 / ユビキタス機器 / Automatic placement with self-organization / Low noise PCB design / PCB design support system / Near field / radiated emission / 低ノイズ設計 / 配線設計 / ピックテール / 電磁放射 / コモンモード電流 / メンバーシップ関数構築ツール / ファジー推論 / 自己組織化による自動配置 / 低ノイズ配線設計 / 配線設計支援システム / 近傍磁界 / 放射エミッション Less
  • Research Projects

    (4 results)
  • Research Products

    (39 results)
  • Co-Researchers

    (2 People)
  •  Reduction of Radiated Emission from Printed Circuit Board using Resistive ElementsPrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      TAKAHASHI Takehiro
    • Project Period (FY)
      2010 – 2012
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • Research Field
      Power engineering/Power conversion/Electric machinery
    • Research Institution
      Takushoku University
  •  The Evaluation Method of Electromagnetic Disturbance and Interference on Ubiquitous Equipment

    • Principal Investigator
      SCHIBUYA Noboru
    • Project Period (FY)
      2004 – 2006
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • Research Field
      電力工学・電気機器工学
    • Research Institution
      Takushoku University
  •  DEVELOPMENT OF EMC CONSTRAINT DESIGN SUPPORT SYSTEM FOR ELECTRIC AND ELECTORONIC EQUIPMENT

    • Principal Investigator
      SCHIBUYA Noboru
    • Project Period (FY)
      1998 – 2000
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • Research Field
      電子デバイス・機器工学
    • Research Institution
      TAKUSHOKU University
  •  放射源に依存した近傍電磁ノイズの遠方への影響の解析Principal Investigator

    • Principal Investigator
      高橋 丈博
    • Project Period (FY)
      1997 – 1998
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
    • Research Field
      情報通信工学
    • Research Institution
      Takushoku University

All 2013 2012 2011 2007 2006 2005 Other

All Journal Article Presentation

  • [Journal Article] Comparison between near field radiation and EM immunity on Electronic equipment2007

    • Author(s)
      Y.Ohkubo, T.Takahashi, T.Sakusabe, N.Schibuya
    • Journal Title

      IEICE Technical report on EMC EMCJ2006-112

      Pages: 81-84

    • Description
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Journal Article] Comparison of near field radiation and performance degradation by electromagnetic disturbance2007

    • Author(s)
      Y.Ohkubo, T.Takahashi, T.Sakusabe, N.Schibuya
    • Journal Title

      JIEP Proc. of Annual Conf. 15B-11

      Pages: 2-2

    • Description
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Journal Article] ノイズによる電子機器の性能低下と近傍放射との比較2007

    • Author(s)
      大久保義和, 高橋丈博, 作左部剛視, 渋谷昇
    • Journal Title

      エレクトロニクス実装学会,学術講演論文集

    • NAID

      10018782327

    • Description
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Journal Article] ノイズによる電子機器の性能低下と近傍放射との比較2007

    • Author(s)
      大久保義和, 高橋丈博, 作佐部剛視, 渋谷昇
    • Journal Title

      エレクトロニクス実装学会、学術講演論文集

    • NAID

      10018782327

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Journal Article] 電子機器内の近傍放射とノイズ耐力の比較2007

    • Author(s)
      大久保義和, 高橋丈博, 作左部剛視, 渋谷昇
    • Journal Title

      電子情報通信学会 信学技報 EMCJ2006-112

      Pages: 81-84

    • NAID

      110006202447

    • Description
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Journal Article] 電子機器内の近傍放射とノイズ耐力の比較2007

    • Author(s)
      大久保義和, 高橋丈博, 作佐部剛視, 渋谷昇
    • Journal Title

      電子情報通信学会 信学技報 EMCJ2006-112

      Pages: 81-84

    • NAID

      110006202447

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Journal Article] 電磁ノイズ干渉によるユビキタス機器の通信性能への影響に関する研究2006

    • Author(s)
      岡庭弘典, 高橋丈博, 作左部剛視, 渋谷昇
    • Journal Title

      エレクトロニクス実装学会 講演論文集

      Pages: 111-112

    • NAID

      130004588914

    • Description
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Journal Article] Evaluation Method of Electromagnetic Disturbance and Interference on Ubiquitous Equipment2006

    • Author(s)
      H.Okaniwa, T.Takahashi, T.Sakusabe, N.Schibuya
    • Journal Title

      PROCEEDINGS of 2nd Pan-Pacific EMC Joint Meeting, Okayama Japan

      Pages: 32-33

    • Description
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Journal Article] 電子機器のエミッションとイミュニティの比較検討2006

    • Author(s)
      大久保義和, 高橋丈博, 作左部剛視, 渋谷昇
    • Journal Title

      八王子産学公連携機構 第6回研究成果発表講演要旨集

      Pages: 144-145

    • Description
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Journal Article] Measurement of Communication Performance Degradation By Electromagnetic Interference on Ubiquitous Equipment2006

    • Author(s)
      H.Okaniwa, T.Takahashi, T.Sakusabe, N.Schibuya
    • Journal Title

      JIEP Proc. of Annual Conf. 23B-02

      Pages: 111-112

    • NAID

      110006405613

    • Description
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Journal Article] Self-Degradation of performance of Electronic equipment2006

    • Author(s)
      Y.Ohkubo, T.Takahashi, T.Sakusabe, N.Schibuya
    • Journal Title

      JIEE Technical report on Electronic circuits

      Pages: 11-16

    • Description
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Journal Article] Evaluation Method of Electromagnetic Disturbance and Interference on Ubiquitous Equipment2006

    • Author(s)
      H.Okaniwa, T.Takahashi, T.Sakusabe, N.Schibuya
    • Journal Title

      Proceedings of 2nd Pan-Pacific Joint Meeting, Okayama Japan

      Pages: 32-33

    • Description
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Journal Article] 自家中毒による電子機器の性能低下の検討2006

    • Author(s)
      大久保義和, 高橋丈博, 作佐部剛視, 渋谷昇
    • Journal Title

      電気学会 電子回路研究会

      Pages: 11-16

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Journal Article] ノイズによる電子機器の性能低下と近傍放射との比較2006

    • Author(s)
      大久保義和, 高橋丈博, 作左部剛視, 渋谷昇
    • Journal Title

      電気学会 電子回路研究会

      Pages: 11-16

    • NAID

      10018782327

    • Description
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Journal Article] 電磁ノイズ干渉によるユビキタス機器の通信性能への影響に関する研究2006

    • Author(s)
      岡庭弘典, 高橋丈博, 作佐部剛視, 渋谷昇
    • Journal Title

      エレクトロニクス実装学会 講演論文集

      Pages: 111-112

    • NAID

      130004588914

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Journal Article] Evaluation Method of Electromagnetic Disturbance and Interference on Ubiquitous Equipment2006

    • Author(s)
      H.Ikaniwa, T.Takahashi, T.Sakusabe, N.Schibuya
    • Journal Title

      Proceedings of 2nd Pan-Pacific Joint Meeting, Okayama Japan

      Pages: 32-33

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Journal Article] 電子機器のエミッションとイミュニティの比較検討2006

    • Author(s)
      大久保義和, 高橋丈博, 作佐部剛視, 渋谷昇
    • Journal Title

      八王子産学公連携機構 第6回研究成果発表講演要旨集

      Pages: 144-145

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Journal Article] 電磁ノイズ干渉によるユビキタス機器の通信性能への影響に関する研究2006

    • Author(s)
      岡庭弘典, 高橋丈博, 作左部剛視, 渋谷昇
    • Journal Title

      第20回エレクトロニクス実装学会講演大会 講演論文集

    • NAID

      130004588914

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Journal Article] Measurement of Communication Performance Degradation By Electromagnetic Interference on Ubiquitous Equipment2005

    • Author(s)
      H.Okaniwa, T.Takahashi, T.Sakusabe, N.Schibuya
    • Journal Title

      JIEP Technical report on High-speed, High-Frequency Electronics mounting Technology Vol.4, No.4

      Pages: 27-30

    • NAID

      110006405613

    • Description
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Journal Article] ユビキタス機器のノイズ干渉の測定2005

    • Author(s)
      岡庭弘典, 高橋丈博, 作左部剛視, 渋谷昇
    • Journal Title

      電子情報通信学会 全国大会講演論文集

    • Description
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Journal Article] 電磁ノイズ干渉によるユビキタス機器の通信性能への影響の測定2005

    • Author(s)
      岡庭弘典, 高橋丈博, 作左部剛視, 渋谷昇
    • Journal Title

      エレクトロニクス実装学会 超高速高周波エレクトロニクス実装研究会 4・4

      Pages: 27-30

    • NAID

      110006405613

    • Description
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Journal Article] ユビキタス機器のノイズ干渉の測定2005

    • Author(s)
      岡庭弘典, 高橋丈博, 作佐部剛視, 渋谷昇
    • Journal Title

      電子情報通信学会2005年総合大会 講演論文集

      Pages: 432-432

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Journal Article] 電磁ノイズ干渉によるユビキタス機器の通信性能への影響の測定2005

    • Author(s)
      岡庭弘典, 高橋丈博, 作左部剛視, 渋谷昇
    • Journal Title

      エレクトロニクス実装学会 講演論文集

      Pages: 153-154

    • NAID

      110006405613

    • Description
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Journal Article] 電機ノイズ干渉によるユビキタス機器の通信性能への影響の測定2005

    • Author(s)
      岡庭弘典, 高橋丈博, 作佐部剛視, 渋谷昇
    • Journal Title

      回路実装学会 超高速高周波エレクトロニクス実装研究会 Vol.4,No.4

      Pages: 27-30

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Journal Article] Measurement of Communication Performance Degradation By Electromagnetic Interference on Ubiquitous Equipment2005

    • Author(s)
      H.Okaniwa, T.Takahashi, T.Sakusabe, N.Schibuya
    • Journal Title

      Proceedings of International Conf. on EMC, Phuket, Thailand

    • NAID

      110006405613

    • Description
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Journal Article] Measurement of Communication Performance Degradation By Electromagnetic Interference on Ubiquitous Equipment2005

    • Author(s)
      H.Okaniwa, T.Takahashi, T.Sakusabe, N.Schibuya
    • Journal Title

      Proceedings of International Conf. on EMC, Phuket Thailand

    • NAID

      110006405613

    • Description
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Journal Article] Measurement of Communication Performance Degradation By Electromagnetic Interference on Ubiquitous Equipment2005

    • Author(s)
      H.Okaniwa, T.Takahashi, T.Sakusabe, N.Schibuya
    • Journal Title

      JIEP Proc. of Annual Conf.

      Pages: 153-154

    • NAID

      110006405613

    • Description
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Journal Article] 電磁ノイズ干渉によるユビキタス機器の通信性能への影響の測定2005

    • Author(s)
      岡庭弘典, 高橋丈博, 作左部剛視, 渋谷昇
    • Journal Title

      八王子産学公連携機構 第5回研究成果発表講演要旨集(優秀賞受賞)

      Pages: 88-89

    • NAID

      110006405613

    • Description
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Journal Article] Measurement of Communication Performance Degradation by Electromagnetic Interference on Ubiquitous Equipment2005

    • Author(s)
      Okaniwa, Takahashi, Sakusabe, Schibuya
    • Journal Title

      Proceedings of International Conf.on EMC 2005, Phuket, Thailand

    • NAID

      110006405613

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Journal Article] Measurement of Electromagnetic Interference on Ubiquitous Equipment2005

    • Author(s)
      H.Okaniwa, T.Takahashi, T.Sakusabe, N.Schibuya
    • Journal Title

      IEICE Proc. of Annual Conf.

    • Description
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Journal Article] 電磁ノイズ干渉によるユビキタス機器の通信性能への影響の測定2005

    • Author(s)
      岡庭弘典, 高橋丈博, 作佐部剛視, 渋谷昇
    • Journal Title

      第19回エレクトロニクス実装学術講演大会 講演論文集

      Pages: 153-154

    • NAID

      110006405613

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Journal Article] A Study on Performance Degradation of Digital Electronic Equipment under Electromagnetic Disturbance

    • Author(s)
      H.Okaniwa, T.Takahashi, T.Sakusabe, N.Schibuya
    • Journal Title

      A Study on Performance Degradation of Digital Electronic Equipment under Electromagnetic Disturbance (accepted)

    • NAID

      110007519395

    • Description
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Journal Article] A Study on Performance Degradation of Digital Electronic Equipment under Electromagnetic Disturbance

    • Author(s)
      T.Takahashi, H.Okaniwa, T.Sakusabe, N.Schibuya
    • Journal Title

      IEICE Transaction on EMC To be appeared in July (Accepted)

    • NAID

      110007519395

    • Description
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16560253
  • [Presentation] プリント配線板プレーン間に挿入した抵抗付きキャパシタの消費電力への影響2013

    • Author(s)
      斎藤純、谷由紀夫、高橋丈博、澁谷昇
    • Organizer
      第27回エレクトロニクス実装学会春季講演大会
    • Place of Presentation
      東北大学
    • Year and Date
      2013-03-14
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22560281
  • [Presentation] プリント基板の平板間共振を抑制する抵抗値の検討2012

    • Author(s)
      高橋丈博、斎藤純、谷由紀夫、澁谷昇
    • Organizer
      第22回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
    • Place of Presentation
      大阪府立大学
    • Year and Date
      2012-09-12
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22560281
  • [Presentation] 抵抗付きデカップリングキャパシタによるノイズ低減法2012

    • Author(s)
      斎藤純、谷由紀夫、高橋丈博、澁谷昇
    • Organizer
      第26回エレクトロニクス実装学会春季講演大会
    • Place of Presentation
      中央大学
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22560281
  • [Presentation] プリント配線板における不完全グラウンドによる電流経路への影響2011

    • Author(s)
      酒井辰也、 作左部剛視、 高橋丈博、 澁谷昇
    • Organizer
      第25回エレクトロニクス実装学会春季講演大会
    • Place of Presentation
      横浜国立大学
    • Year and Date
      2011-03-10
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22560281
  • [Presentation] 抵抗付きキャパシタによる平面基板のコモンモード抑制効果の測定2011

    • Author(s)
      高橋丈博、斎藤純、作左部剛視、澁谷昇
    • Organizer
      第25回エレクトロニクス実装学会春季講演大会
    • Place of Presentation
      横浜国立大学
    • Year and Date
      2011-03-10
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22560281
  • [Presentation] 抵抗付きキャパシタによる平面基板のコモンモード抑制効果の測定2011

    • Author(s)
      高橋丈博
    • Organizer
      エレクトロニクス実装学会
    • Place of Presentation
      横浜国立大学(神奈川県)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22560281
  • 1.  SCHIBUYA Noboru (50114822)
    # of Collaborated Projects: 3 results
    # of Collaborated Products: 38 results
  • 2.  SAKUSABE Takashi (80092485)
    # of Collaborated Projects: 2 results
    # of Collaborated Products: 33 results

URL: 

Are you sure that you want to link your ORCID iD to your KAKEN Researcher profile?
* This action can be performed only by the researcher himself/herself who is listed on the KAKEN Researcher’s page. Are you sure that this KAKEN Researcher’s page is your page?

この研究者とORCID iDの連携を行いますか?
※ この処理は、研究者本人だけが実行できます。

Information User Guide FAQ News Terms of Use Attribution of KAKENHI

Powered by NII kakenhi