• Search Research Projects
  • Search Researchers
  • How to Use
  1. Back to previous page

FUJIOKA Hiromu  藤岡 弘

ORCIDConnect your ORCID iD *help
Researcher Number 40029228
Other IDs
External Links
Affiliation (based on the past Project Information) *help 1998 – 2001: 大阪大学, 大学院・工学研究科, 教授
1996 – 1997: 大阪大学, 工学部, 教授
1991 – 1992: 大阪大学, 工学部, 教授
1987 – 1988: Faculty of Engineering,Osaka University, 工学部, 助教授
1986: 阪大, 工学部, 助教授
Review Section/Research Field
Principal Investigator
電子デバイス・機器工学 / 電子機器工学
Keywords
Principal Investigator
VLSI / 2次電子検出器 / リアルタイム計測 / 電子ビームテスティング / 故障診断支援システム / 知識ベースシステム / CMOS標準セル設計 / 回路認識 / VLSI光学顕微鏡画像 / Real Time Measurement … More / Electron Beam Testing / 超広帯域二次電子検出器 / EB testability / fault localization / current test point / current testing / test pad / LSI with multi-layer structure / design for testability / パーティクル / EBテスタビリティ / 故障局所化 / 電流テストポイント / 電流テスティング / 電圧テストポイント / 多層構造VLSI / テスティング容易化設計 / automatic fault tracing system / CAD layout / fault tracing / EB tester / 階層的自動故障追跡法 / トランジスタレベル故障 / 自動故障追跡システム / CADレイアウト / 故障追跡 / EBテスター / Specimen current / Secondary electron / Large scale integrated circuit / Electron beam assisted selective deposition / Electron beam assisted selective etching / 電子ビ-ム支援エッチング / 試料吸収電流 / 二次電子 / 集積回路 / 電子ビーム支援CVD / 電子ビーム支援エッチング / 論理LSI / 走査電子顕微鏡 / 故障診断システム / FIB加工装置 Less
  • Research Projects

    (7 results)
  • Co-Researchers

    (2 People)
  •  VLSIチップ観測画像からの逆設計によるその場故障診断に関する基礎的研究Principal Investigator

    • Principal Investigator
      藤岡 弘
    • Project Period (FY)
      2000 – 2001
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Exploratory Research
    • Research Field
      電子デバイス・機器工学
    • Research Institution
      Osaka University
  •  Fundamental study on design for testing of multi-layer structure VLSIsPrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      FUJIOKA Hiromu
    • Project Period (FY)
      1998 – 2000
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (B).
    • Research Field
      電子デバイス・機器工学
    • Research Institution
      Osaka University
  •  VLSIチップからの逐次回路機能抽出によるその場故障診断に関する基礎的研究Principal Investigator

    • Principal Investigator
      藤岡 弘
    • Project Period (FY)
      1996 – 1997
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Exploratory Research
    • Research Field
      電子デバイス・機器工学
    • Research Institution
      Osaka University
  •  Automatic hierarchical tracing of VLSI transistor-level performance faults with CAD-linked electron beam test system from CAD layout dataPrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      FUJIOKA Hiromu
    • Project Period (FY)
      1996 – 1997
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
    • Research Field
      電子デバイス・機器工学
    • Research Institution
      Osaka University
  •  Fundamental research on low energy electron beam assisted selective etching and deposition for submicron LSI fabricationPrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      FUJIOKA Hiromu
    • Project Period (FY)
      1991 – 1992
    • Research Category
      Grant-in-Aid for General Scientific Research (B)
    • Research Field
      電子機器工学
    • Research Institution
      Osaka University
  •  リアルタイム電子ビームテスティング法とその応用に関する研究Principal Investigator

    • Principal Investigator
      藤岡 弘
    • Project Period (FY)
      1988
    • Research Category
      Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
    • Research Field
      電子機器工学
    • Research Institution
      Osaka University
  •  Real Time Electron Beam Testing MethodPrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      FUJIOKA Hiromu
    • Project Period (FY)
      1986 – 1987
    • Research Category
      Grant-in-Aid for General Scientific Research (B)
    • Research Field
      電子機器工学
    • Research Institution
      Osaka University
  • 1.  NAKAMAE Koji (40155809)
    # of Collaborated Projects: 5 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 2.  MIURA Katsuyoshi (30263221)
    # of Collaborated Projects: 2 results
    # of Collaborated Products: 0 results

URL: 

Are you sure that you want to link your ORCID iD to your KAKEN Researcher profile?
* This action can be performed only by the researcher himself/herself who is listed on the KAKEN Researcher’s page. Are you sure that this KAKEN Researcher’s page is your page?

この研究者とORCID iDの連携を行いますか?
※ この処理は、研究者本人だけが実行できます。

Information User Guide FAQ News Terms of Use Attribution of KAKENHI

Powered by NII kakenhi