HIGAMI Yoshinobu 樋上喜信

Researcher Number	40304654
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Affiliation (Current)	2025: 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 教授
Affiliation (based on the past Project Information) *help	2016 – 2023: 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 教授 2012 – 2015: 愛媛大学, 理工学研究科, 准教授 2008 – 2012: 愛媛大学, 大学院・理工学研究科, 准教授 2007 – 2009: Ehime University, 理工学研究科, 准教授 2006: 愛媛大学, 理工学研究科, 助教授 2005: Ehime University, Faculty of Engineering, Associate Professor, 工学部, 助教授 2003 – 2004: 愛媛大学, 工学部, 講師
Review Section/Research Field	Principal Investigator Computer system / Computer system/Network / Basic Section 60040:Computer system-related Except Principal Investigator Basic Section 60040:Computer system-related / Computer system / Computer system/Network
Keywords	Principal Investigator 故障診断 / 遅延故障 / LSIの故障診断 / テストパターン生成 / LSIテスト / LSIのテスト / 論理回路 / 故障シミュレーション / 出力応答圧縮 / フィールドテスト … More / アダプティブ故障診断 / 組込み自己テスト / テストパターン / ニューラルネットワーク / 出力圧縮 / テストポイント / 機械学習 / 故障辞書 / テスト容易化設計 / ブリッジ故障 / テストパターン数削減 / 信号伝搬遅延変動 / 縮退故障 / マルチサイクルテスト / 3次元LSI / LSI / LSIの設計・テスト / クロック信号線 / システムLSI / 故障検査 / 論理回路の故障検査 / ディペンダブルコンピューティング / 故障モデル / シミュレーション / VLSIのテスト / 高信頼化 / ゲートレベルツール / トランジスタショート / クロストーク故障 / テスト / VLSI(大規模集積回路) … More Except Principal Investigator 組込み自己テスト / 故障検査 / 故障診断 / ディペンダブルコンピューティング / テスト / フィールドテスト / 組込み自己診断 / 遅延故障 / オープン故障 / テスト容易化設計 / 構造型情報処理アーキテクチャ / メモリ / シストリックアーキテクチャ / 集積回路回路 / 深層強化学習 / シストリックアレイ / ニューラルネットワーク（NN） / MRP / AI（人工知能） / 時空間グラフ畳み込みニューラルネットワーク / テスト容易化 / セキュリティ / バウンダリスキャン / バイナリーニューラルネットワーク / 検査容易化設計 / テスト容易化設計法 / 認証方式 / 信頼性強化設計法 / つながるデバイス / ディペンダブル・コンピューティング / 計算機システム / 先進運転支援システム / 先進自動運転 / LSIのテスト / 組込み自己診断法 / 機能安全 / Open fault / Internal bridging fault / Stuck-at fault / Test compaction / Built-in self test / Fault diagnosis / Testing of LSIs / 消費電力削減 / テスト系列圧縮 / VLSIの故障診断 / VLSIの故障検査 / ドントケア値 / クロストーク故障 / ブリッジ故障 / 論理回路のテスト / 内部ブリッジ故障 / 縮退故障 / テスト圧縮 / 論理回路の故障検査 / 診断用テスト / 故障診断法 / プリシリコンテスト / ポストシリコンテスト / 抵抗性オープン故障 / オンチップセンサー / 診断 / タイミング不良 / ハードウエア記述言語 / 保守性 / ソフトウエアメトリクス / テストケース / ハード協調テスト / ハード協調設計 / ソフト / 協調テスト / ソフトウエア / ハードウエア / 組み込みシステム Less

Field Testing for Structure-Oriented Computing Architectures
- Principal Investigator
  
  高橋寛
- Project Period (FY)
  2023 – 2025
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- Review Section
  
  Basic Section 60040:Computer system-related
- Research Institution
  Ehime University
メモリ型再構成エッジデバイスにおける高信頼性知的処理機能の設計法に関する研究
- Principal Investigator
  
  王森レイ
- Project Period (FY)
  2022 – 2024
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- Review Section
  
  Basic Section 60040:Computer system-related
- Research Institution
  Ehime University
Study on Adaptive Fault Diagnosis for Reducing Fault Diagnosis TimePrincipal Investigator
- Principal Investigator
  
  higami Yoshinobu
- Project Period (FY)
  2019 – 2023
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- Review Section
  
  Basic Section 60040:Computer system-related
- Research Institution
  Ehime University
Study of Design for Trust for Field Test of Connected Devices
- Principal Investigator
  
  Takahashi Hiroshi
- Project Period (FY)
  2019 – 2022
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- Review Section
  
  Basic Section 60040:Computer system-related
- Research Institution
  Ehime University
Built-In Self Diagnosis for Functional Safety Assurance
- Principal Investigator
  
  Takahashi Hiroshi
- Project Period (FY)
  2016 – 2018
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- Research Field
  
  Computer system
- Research Institution
  Ehime University
Research on Test and Diagnosis for Delay Faults by Accurate Delay Fault SimulatorPrincipal Investigator
- Principal Investigator
  
  Higami Yoshinobu
- Project Period (FY)
  2016 – 2019
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- Research Field
  
  Computer system
- Research Institution
  Ehime University
Study on test and diagnosis for defects on vias in 3D-LSIsPrincipal Investigator
- Principal Investigator
  
  Higami Yoshinobu
- Project Period (FY)
  2013 – 2015
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- Research Field
  
  Computer system
- Research Institution
  Ehime University
Timing failure diagnosis using pre-silicon test and post-silicon test
- Principal Investigator
  
  Takahashi Hiroshi
- Project Period (FY)
  2013 – 2016
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- Research Field
  
  Computer system
- Research Institution
  Ehime University
Development of methods for testing and diagnosing faults on clock lines in system LSIsPrincipal Investigator
- Principal Investigator
  
  HIGAMI Yoshinobu
- Project Period (FY)
  2010 – 2012
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- Research Field
  
  Computer system/Network
- Research Institution
  Ehime University
Research on High Dependable Test for Crosstalk Faults in High Speed VLSIsPrincipal Investigator
- Principal Investigator
  
  HIGAMI Yoshinobu
- Project Period (FY)
  2007 – 2009
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- Research Field
  
  Computer system/Network
- Research Institution
  Ehime University
Development of Soft/Hard Co-Test Method for Embedded Systems
- Principal Investigator
  
  TAKAMATSU Yuzo
- Project Period (FY)
  2006 – 2008
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- Research Field
  
  Computer system/Network
- Research Institution
  Ehime University
Study on Built-in Self Test and Fault Diagnosis for Very High Speed and Deep Sub-micron VLSIs
- Principal Investigator
  
  TAKAMATSU Yuzo
- Project Period (FY)
  2003 – 2005
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- Research Field
  
  Computer system/Network
- Research Institution
  Ehime University

[Journal Article] Testing and Delay-Monitoring for the High Reliability of Memory-Based Programmable Logic Device2024
- Author(s)
  ZHOU Xihong、WANG Senling、HIGAMI Yoshinobu、TAKAHASHI Hiroshi
- Journal Title
  
  IEICE Trans. Inf. & Syst.
  
  Volume: E107.D Issue: 1 Pages: 60-71
- DOI
  10.1587/transinf.2023EDP7101
- ISSN
  0916-8532, 1745-1361
- Year and Date
  2024-01-01
- Language
  English
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-22K11955
[Journal Article] 深層強化学習によるマルチサイクルBIST向けテストポイント選定法2023
- Author(s)
  塩谷晃平, 西川竜矢, 魏少奇, 王森レイ, 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛
- Journal Title
  
  信学技報,
  
  Volume: 123 Pages: 23-28
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-22K11955
[Journal Article] SASL-JTAG: A Light-Weight Dependable JTAG2023
- Author(s)
  Wang Senling、Wei Shaoqi、Ma Jun、Kai Hiroshi、Higami Yoshinobu、Takahashi Hiroshi、Shimizu Akihiro、Wen Xiaoqing、Ni Tianming
- Journal Title
  
  Proc. in 2023 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)
  
  Pages: 1-3
- DOI
  10.1109/dft59622.2023.10313532
- Peer Reviewed / Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-22K11955
[Journal Article] Improving of Fault Diagnosis Ability by Test Point Insertion and Output Compaction2023
- Author(s)
  Higami Yoshinobu、Inamoto Tsutomu、Wang Senling、Takahashi Hiroshi、Saluja Kewal K.
- Journal Title
  
  Proc. in 2023 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC)
  
  Volume: - Pages: 1-6
- DOI
  10.1109/itc-cscc58803.2023.10212844
- Peer Reviewed / Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-22K11955, KAKENHI-PROJECT-19K11877
[Journal Article] Test Point Selection Using Deep Graph Convolutional Networks and Advantage Actor Critic (A2C) Reinforcement Learning2023
- Author(s)
  Wei Shaoqi、Shiotani Kohei、Wang Senling、Kai Hiroshi、Higami Yoshinobu、Takahashi Hiroshi、Wang Gang
- Journal Title
  
  Proc. in 2023 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC)
  
  Pages: 1-6
- DOI
  10.1109/itc-cscc58803.2023.10212888
- Peer Reviewed / Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-22K11955
[Journal Article] Test Point Selection Using Deep Graph Convolutional Networks and Advantage Actor Critic (A2C) Reinforcement Learning2023
- Author(s)
  Shaoqi Wei, Kohei Shiotani, Senling Wang, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Gang Wang
- Journal Title
  
  2023 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications,
  
  Volume: - Pages: 1-8
- Peer Reviewed / Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23K11033
[Journal Article] グラフニューラルネットワークと深層強化学習による論理回路のテストポイント選択法2023
- Author(s)
  魏　少奇・塩谷晃平・王　森レイ・甲斐　博・樋上喜信・高橋　寛
- Journal Title
  
  電子情報通信学会技術報告
  
  Volume: DC2022(87) Pages: 27-32
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K11878
[Journal Article] メモリズムパターンマッチングアクセラレータのFPGA実装と性能評価2023
- Author(s)
  本田志遠, 西川竜矢, 周細紅, 王森レイ, 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛, 井上克己
- Journal Title
  
  信学技報
  
  Volume: 123 Pages: 162-167
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-22K11955
[Journal Article] メモリズムパターンマッチングアクセラレータのFPGA 実装と性能評価2023
- Author(s)
  本田志遠，西川竜矢，周細紅，王森レイ，甲斐博，樋上喜信，高橋寛，井上克己
- Journal Title
  
  電子情報通信学会信学技報
  
  Volume: DC2023-68 Pages: 162-167
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23K11033
[Journal Article] 深層強化学習によるマルチサイクルBIST向けテストポイント選定法2023
- Author(s)
  塩谷晃平，西川竜矢，魏少奇，王森レイ，甲斐博，樋上喜信，高橋寛
- Journal Title
  
  電子情報通信学会信学技報
  
  Volume: DC2023-98 Pages: 23-28
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23K11033
[Journal Article] Test Point Insertion for Multi-Cycle Power-On Self-Test2022
- Author(s)
  Senling Wang, Xihong Zhou, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Iwata, Yoichi Maeda, Jun Matsushima
- Journal Title
  
  ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems
  
  Volume: - Issue: 3 Pages: 1-21
- DOI
  10.1145/3563552
- Peer Reviewed / Open Access
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K11878, KAKENHI-PROJECT-19K20234, KAKENHI-PROJECT-22K11955
[Journal Article] Preliminary Study on Noise-Resilient Artificial Neural Networks for On-Chip Test Generation2022
- Author(s)
  Tsutomu Inamoto, Tomoki Nishino, Senling Wang, Yoshinobu Higami and Hiroshi Takahashi
- Journal Title
  
  Proceedings of IEEE 11th Global Conference on Consumer Electronics
  
  Volume: - Pages: 561-565
- DOI
  10.1109/gcce56475.2022.10014218
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K11877, KAKENHI-PROJECT-19K20234
[Journal Article] Machine Learning Based Fault Diagnosis for Stuck-at Faults and Bridging Faults2022
- Author(s)
  Yoshinobu Higami, Takaya Yamauchi, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja
- Journal Title
  
  Proceedings of International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications
  
  Volume: - Pages: 477-480
- DOI
  10.1109/itc-cscc55581.2022.9894966
- Peer Reviewed / Open Access / Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K11877, KAKENHI-PROJECT-22K11955, KAKENHI-PROJECT-19K20234
[Journal Article] グラフニューラルネットワークと深層強化学習による論理回路のテストポイント選択法2022
- Author(s)
  魏少奇 , 塩谷晃平 , 王森レイ , 甲斐博 , 樋上喜信 , 高橋寛
- Journal Title
  
  信学技報
  
  Volume: vol.122(no.393) Pages: 27-32
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-22K11955
[Journal Article] Compaction of Fault Dictionary without Degrading Diagnosis Ability,2021
- Author(s)
  Yoshinobu Higami, Tomokazu Nakamura, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja
- Journal Title
  
  Proceedings of International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications
  
  Volume: - Pages: 51-54
- DOI
  10.1109/itc-cscc52171.2021.9501474
- Peer Reviewed / Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K11877, KAKENHI-PROJECT-19K20234
[Journal Article] Preliminary Evaluation of Artificial Neural Networks as Test Pattern Generators for BIST2021
- Author(s)
  Tsutomu Inamoto, Kazuki Ohtomo, and Yoshinobu Higami
- Journal Title
  
  Proceedings of International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications
  
  Volume: - Pages: 307-310
- DOI
  10.1109/itc-cscc52171.2021.9501263
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K11877
[Journal Article] FF-Control Point Insertion (FF-CPI) to Overcome the Degradation of Fault Detection under Multi-Cycle Test for POST2020
- Author(s)
  Al-AWADHI Hanan T.、AONO Tomoki、WANG Senling、HIGAMI Yoshinobu、TAKAHASHI Hiroshi、IWATA Hiroyuki、MAEDA Yoichi、MATSUSHIMA Jun
- Journal Title
  
  IEICE Trans. Inf. & Syst.
  
  Volume: E103.D Issue: 11 Pages: 2289-2301
- DOI
  10.1587/transinf.2019EDP7235
- NAID
  130007933859
- ISSN
  0916-8532, 1745-1361
- Year and Date
  2020-11-01
- Language
  English
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K11878, KAKENHI-PROJECT-19K20234
[Journal Article] Formulation of a Test Pattern Measure that Counts Distinguished Fault-Pairs for Circuit Fault Diagnosis2020
- Author(s)
  Tsutomu Inamoto and Yoshinobu Higami
- Journal Title
  
  IEICE Trans. on Fundamentals
  
  Volume: E103-A Pages: 1456-1463
- NAID
  130007948287
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K11877
[Journal Article] Reduction of Fault Dictionary Size by Optimizing the Order of Test Patterns Application2020
- Author(s)
  Yoshinobu Higami, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja
- Journal Title
  
  Proc. Int. Technical Conf. on Circuits/Systems, Computers and Communications
  
  Volume: - Pages: 131-136
- Peer Reviewed / Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K11877
[Journal Article] マルチサイクルテストにおけるスキャンパターン削減指向制御ポイントの選定法2020
- Author(s)
  環　輝・王　森レイ・樋上喜信・高橋　寛・岩田浩幸・前田洋一・松嶋　潤
- Journal Title
  
  電子情報通信学会技術報告
  
  Volume: DC2020-35 Pages: 24-29
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K11878
[Journal Article] Regeneration of Test Patterns for BIST by Using Artificial Neural Networks2020
- Author(s)
  Tsutomu Inamoto, Yoshinobu Higami
- Journal Title
  
  Proc. Int. Technical Conf. on Circuits/Systems, Computers and Communications
  
  Volume: - Pages: 137-140
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K11877
[Journal Article] マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのテストポイント挿入法2020
- Author(s)
  青野智己, 中岡典弘, 周　細紅, 王　森レイ, 樋上喜信, 高橋　寛, 岩田浩幸, 前田洋一, 松嶋　潤
- Journal Title
  
  電子情報通信学会技術報告
  
  Volume: 119 Pages: 19-24
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K11878
[Journal Article] マルチサイクルテストにおける故障検出率の推定法2020
- Author(s)
  中岡典弘・王　森レイ・樋上喜信・高橋　寛・岩田浩幸・前田洋一・松嶋　潤
- Journal Title
  
  電子情報通信学会技術報告
  
  Volume: DC2020-75 Pages: 36-41
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K11878
[Journal Article] Compact Dictionaries for Reducing Compute Time in Adaptive Diagnosis2019
- Author(s)
  Yoshinobu Higami, Tomokazu Nakamura, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K Saluja
- Journal Title
  
  Proceedings Internationa Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications
  
  Volume: - Pages: 525-528
- DOI
  10.1109/itc-cscc.2019.8793429
- Peer Reviewed / Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K11877, KAKENHI-PROJECT-19K20234
[Journal Article] 畳み込みニューラルネットワークを用いたテストパターンの再生2019
- Author(s)
  稲元勉, 樋上喜信
- Journal Title
  
  第32回回路とシステムワークショップ (KWS 32) 論文集
  
  Volume: - Pages: 234-239
- NAID
  40021991413
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K11877
[Journal Article] Application of Convolutional Neural Networks to RegenerateDeterministic Test Pattern for BIST2019
- Author(s)
  Tsutomu Inamoto and Yoshinobu Higami
- Journal Title
  
  Proceedings Internationa Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications
  
  Volume: - Pages: 523-524
- DOI
  10.1109/itc-cscc.2019.8793374
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K11877
[Journal Article] 確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析2019
- Author(s)
  中岡典弘，青野智己，工藤壮司，王　森レイ，樋上喜信，高橋　寛，岩田浩幸，前田洋一，松嶋　潤
- Journal Title
  
  電子情報通信学会技術報告
  
  Volume: 119 Pages: 145-150
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K11878
[Journal Article] Automotive Functional Safety Assurance by POST with Sequential Observation2018
- Author(s)
  S. Wang, Y. Higami, H. Iwata, J. Matsushima, H. Takahashi
- Journal Title
  
  IEEE Design and Test of Computers
  
  Volume: -
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00074
[Journal Article] Fault-detection-strengthened method to enable the POST for very-large automotive MCU in compliance with ISO262622018
- Author(s)
  Senling Wang,Yoshinobu Higami,Hiroshi Takahashi,Hiroyuki Iwata,Yoichi Maeda,Jun Matsushima
- Journal Title
  
  Proc. 23rd IEEE European Test Symposium, ETS 2018
  
  Volume: - Pages: 1-2
- DOI
  10.1109/ets.2018.8400707
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00074
[Journal Article] Automotive Functional Safety Assurance by POST with Sequential Observation2018
- Author(s)
  S. Wang, Y. Higami, H. Takahashi, H. Iwata, J. Matsushima
- Journal Title
  
  IEEE Design & Test
  
  Volume: 35(3) Issue: 3 Pages: 39-45
- DOI
  10.1109/mdat.2018.2799801
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00074
[Journal Article] Fault-Detection-Strengthened Method to Enable the POST for Very-Large Automotive MCU in Compliance with ISO262622018
- Author(s)
  S. Wang , Y. Higami, H. Iwata, Y. Maeda, J. Matsushima, H. Takahasi
- Journal Title
  
  IEEE European Test Symposium
  
  Volume: -
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00074
[Journal Article] Capture-Pattern-Control to Address the Fault Detection Degradation Problem of Multi-cycle Test in Logic BIST2018
- Author(s)
  Senling Wang,Tomoki Aono,Yoshinobu Higami,Hiroshi Takahashi,Hiroyuki Iwata,Yoichi Maeda,Jun Matsushima
- Journal Title
  
  Proc. 27th IEEE Asian Test Symposium, ATS 2018
  
  Volume: - Pages: 155-160
- DOI
  10.1109/ats.2018.00038
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00074
[Journal Article] Pattern Partitioning based Field Testing for Improving the Detection Latency of Aging-induced Delay Faults2017
- Author(s)
  H.T. Al-Awadhi, S. Wang, Y. Higami, H. Takahashi
- Journal Title
  
  International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications
  
  Volume: - Pages: 1-4
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00074
[Journal Article] A Method for Diagnosing Bridging Fault between a Gate Signal Line and a Clock Line2017
- Author(s)
  Y. Higami, S. Wang, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. K. Saluja
- Journal Title
  
  IEICE Trans. Inf. & Syst.
  
  Volume: E100.D Issue: 9 Pages: 2224-2227
- DOI
  10.1587/transinf.2016EDL8210
- NAID
  130006038431
- ISSN
  0916-8532, 1745-1361
- Language
  English
- Peer Reviewed / Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00075
[Journal Article] Testing of Interconnect Defects in Memory Based Reconfigurable Logic Device (MRLD)2017
- Author(s)
  Wang Senling、Higami Yoshinobu、Takahashi Hiroshi、Sato Masayuki、Katsu Mitsunori、Sekiguchi Shoichi
- Journal Title
  
  IEEE Asian Test Symposium
  
  Volume: - Pages: 13-18
- DOI
  10.1109/ats.2017.16
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00074
[Journal Article] Structure-Based Methods for Selecting Fault-Detection-Strengthened FF under Multi-cycle Test with Sequential Observation2016
- Author(s)
  Senling Wang, Hanan T. Al-Awadhi, Soh Hamada, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Iwata, Jun Matsushima
- Journal Title
  
  Proc. IEEE Asian Test Symposium
  
  Volume: - Pages: 209-214
- DOI
  10.1109/ats.2016.40
- Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00074
[Journal Article] Pattern Partitioning for Field Testing Considering the Aging Speed2016
- Author(s)
  Hanan T. Al-Awadhi, Senling Wang, Yoshinobu Higami and Hiroshi Takahashi
- Journal Title
  
  IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
  
  Volume: - Pages: 1-5
- Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330063
[Journal Article] 論理回路の組込み自己診断に関する提案2016
- Author(s)
  香川敬祐, 矢野郁也, 王森レイ，樋上喜信，高橋寛，大竹哲史
- Journal Title
  
  電子情報通信学会技術研究報告
  
  Volume: DC2016-76 Pages: 11-16
- Acknowledgement Compliant
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00074
[Journal Article] Message from the Editor-in-Chief2016
- Author(s)
  Y. Higami, S. Wang, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. K. Saluja
- Journal Title
  
  IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology
  
  Volume: 9 Issue: 0 Pages: 1-1
- DOI
  10.2197/ipsjtsldm.9.1
- NAID
  130005126057
- ISSN
  1882-6687
- Language
  English
- Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant / Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330062
[Journal Article] アナログバウンダリスキャンを用いた三次元積層後のTSV 抵抗の精密計測法の実装について2015
- Author(s)
  王森レイ,　香川敬祐,　亀山修一，樋上喜信, 高橋寛
- Journal Title
  
  電子情報通信学会技術研究報告
  
  Volume: 115 Pages: 1-6
- Acknowledgement Compliant
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330063
[Journal Article] 論理値割当隣接線の選択による断線故障用テスト生成時間の削減2015
- Author(s)
  藤谷和依, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛
- Journal Title
  
  電子情報通信学会技術研究報告
  
  Volume: 115 Pages: 13-18
- Acknowledgement Compliant
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330063
[Journal Article] 隣接線の信号遷移による遅延変動を用いる半断線故障の判別法について2015
- Author(s)
  伊勢幸太郎, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛
- Journal Title
  
  電子情報通信学会技術研究報告
  
  Volume: 115 Pages: 31-36
- Acknowledgement Compliant
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330063
[Journal Article] A Simulated Annealing based Pattern Selection Method to HandlePower Supply Noise for Resistive Open Fault Diagnosis2015
- Author(s)
  Senling Wang, Taiga Inoue, Hanan T. Al-Awadhi, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi,
- Journal Title
  
  Proc. ITC-CSCC2015
  
  Volume: - Pages: 592-595
- Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330063
[Journal Article] Accurate Resistance Measuring Method for High Density Post-Bond TSVs in 3D-SIC with Electrical Probes2014
- Author(s)
  Shuichi Kameyama, Masayuki Baba, Yoshinobu Higami, and Hiroshi Takahashi
- Journal Title
  
  Proc. International Conference on Electornics Packaging
  
  Volume: TA4-4 Pages: 117-121
- Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330063
[Journal Article] Measuring Method for TSV-based Interconnect Resistance in 3D-SIC by Embedded Analog Boundary-Scan Circuit2014
- Author(s)
  Shuichi Kameyama, Masayuki Baba, Yoshinobu Higami, and Hiroshi Takahashi
- Journal Title
  
  Transactions of The Japan Institute of Electronics Packaging
  
  Volume: 7 Pages: 140-146
- NAID
  130005130537
- Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330063
[Journal Article] Diagnosis of Delay Faults in Multi-Clock SOCs2014
- Author(s)
  Y. Higami, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. K. Saluja
- Journal Title
  
  Proceedings of International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications
  
  Volume: - Pages: 217-220
- Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330062
[Journal Article] On SAT-based Test Generation for Resistive Open Using Delay Variation Caused by Effect of Adjacent Lines2014
- Author(s)
  Jun Yamashita, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume, Yoshinobu Higami and Hiroshi Takahashi
- Journal Title
  
  WRTLT2014
  
  Volume: - Pages: 49-54
- Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330063
[Journal Article] アナログバウンダリスキャンによる三次元積層後のTSV抵抗精密計測法2014
- Author(s)
  亀山　修一，馬場　雅之，樋上　喜信，高橋　寛
- Journal Title
  
  電子情報通信学会論文誌 D-I
  
  Volume: J97-D-I Pages: 887-890
- Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330063
[Journal Article] Diagnosis of Gate Delay Faults in the Presence of Clock Delay Faults2014
- Author(s)
  Y. Higami, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. K. Saluja
- Journal Title
  
  Proceedings of IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI
  
  Volume: - Pages: 320-325
- DOI
  10.1109/isvlsi.2014.60
- Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330062
[Journal Article] Diagnosing Resistive Open Faults Using Small Delay Fault Simulation2013
- Author(s)
  Koji Yamazaki, Toshiyuki Tsutsumi, Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Hironobu Yotsuyanagi, Masaki Hashizume, and Kewal K. Saluja
- Journal Title
  
  Proc. IEEE 22nd Asian Test Symposium
  
  Volume: - Pages: 79-84
- DOI
  10.1109/ats.2013.23
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330063
[Journal Article] Generation for Delay Faults on Clock Lines under Launch-on-Capture Test Environment2013
- Author(s)
  Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Shin-ya Kobayashi and Kewal K. Saluja
- Journal Title
  
  IEICE Transactions on Information and Systems
  
  Volume: E96-D Pages: 1323-1331
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330062
[Journal Article] Diagnosis for Bridging Faults on Clock Lines2012
- Author(s)
  Y. Higami, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. Saluja
- Journal Title
  
  Proc. Pacific Rim Int. Symposium on Dependable Computing
  
  Pages: 135-144
- DOI
  10.1109/prdc.2012.15
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-22500048
[Journal Article] Diagnosis for Bridging Faults on Clock Lines2012
- Author(s)
  Yoshinobu Higami
- Journal Title
  
  Proc. Pacific Rim Int. Symposium on Dependable Computing
  
  Volume: - Pages: 135-144
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-22500048
[Journal Article] Generation of Diagnostic Tests for Transition Faults Using a Stuck-at ATPG Tool2012
- Author(s)
  Y. Higami, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. Saluja
- Journal Title
  
  IEICE Trans. on Inf. & Systems
  
  Volume: vol. E95-D Pages: 1093-1100
- NAID
  10030942163
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-22500048
[Journal Article] Generation of Diagnostic Tests for Transition Faults Using a Stuck-at ATPG Tool2012
- Author(s)
  Yoshinobu Higami
- Journal Title
  
  IEICE Trans. on Information and Systems
  
  Volume: E95-D Pages: 1093-1100
- NAID
  10030942163
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-22500048
[Journal Article] Diagnosis of Bridging Faults at Gated Clock Lines2012
- Author(s)
  Yoshinobu Higami
- Journal Title
  
  Proc. Int. Technical Conf. on Circuits/Systems, Computers and Communications
  
  Volume: -
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-22500048
[Journal Article] Diagnosis of Bridging Faults at Gated Clock Lines2012
- Author(s)
  Y. Higami, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. Saluja
- Journal Title
  
  Proc. Int. Technical Conf. on Circuits/Systems, Computers and Communications
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-22500048
[Journal Article] Fault Simulation and Test Generation for Clock Delay Faults2011
- Author(s)
  Y.Higami, H.Takahashi, S.Kobayashi, K.K.Saluja
- Journal Title
  
  Proc.of Asia and South Pacific Design Automation Conference
  
  Pages: 799-805
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-22500048
[Journal Article] Enhancement of Clock Delay Faults Testing2011
- Author(s)
  Y. Higami, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. Saluja
- Journal Title
  
  Proc. European Test Symposium
  
  Pages: 216-216
- DOI
  10.1109/ets.2011.27
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-22500048
[Journal Article] Fault Simulation and Test Generation for Clock Delay Faults2011
- Author(s)
  Y. Higami, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. Saluja
- Journal Title
  
  Proc. Asia and South Pacific Design Automation Conference
  
  Pages: 799-805
- DOI
  10.1109/aspdac.2011.5722299
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-22500048
[Journal Article] On Detecting Transition Faults in the Presence of Clock Delay Faults2011
- Author(s)
  Y. Higami, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. Saluja
- Journal Title
  
  Proc. Asian Test Symposium
  
  Pages: 1-6
- DOI
  10.1109/ats.2011.33
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-22500048
[Journal Article] Addressing Defect Coverage through Generating Test Vectors for Transistor Defects2009
- Author(s)
  Y. Higami, K.K. Saluja, H. Takahashi, S. Kobayashi, Y. Takamatsu
- Journal Title
  
  IEICE Trans. Fundamentals vol.E92-A,no.12
  
  Pages: 3506-3513
- NAID
  10026861532
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19500045
[Journal Article] An Algorithm for Diagnosing Transistor Shorts Using Gate-level Simulation2009
- Author(s)
  Y. Higami, K.K. Saluja, H. Takahashi, S. Kobayashi, Y. Takamatsu
- Journal Title
  
  IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology vol.2(in press)
  
  Pages: 250-262
- NAID
  130000140280
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19500045
[Journal Article] Addressing Defect Coverage through Generating Test Vectors for Transistor Defects2009
- Author(s)
  Y.Higami, K.K.Saluja, H.Takahashi, S.Kobayashi, Y.Takamatsu
- Journal Title
  
  IEICE Trans.Fundamentals E92-A
  
  Pages: 3505-3513
- NAID
  10026861532
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19500045
[Journal Article] An Algorithm for Diagnosing Transistor Shorts Using Gate-level Simulation2009
- Author(s)
  Y.Higami, K.K.Saluja, H.Takahashi, S.Kobayashi, Y.Takamatsu
- Journal Title
  
  IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology 2
  
  Pages: 250-262
- NAID
  130000140280
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19500045
[Journal Article] ハードウェアテスト生成ツールを用いた組込みシステムに対するテストケール生成法2008
- Author(s)
  樋上喜信, 藤尾昇平, 阿萬裕久, 高橋寛, 高松雄三
- Journal Title
  
  組込みシステムシンポジウム論文集
  
  Pages: 151-157
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18500055
[Journal Article] ハードウェアテスト生成ツールを用いた組込みシステムに対するテストケース生成法2008
- Author(s)
  樋上喜信, 藤尾昇平, 阿萬裕久, 高橋寛, 高松雄三
- Journal Title
  
  組込みシステムシンポジウム論文集無し
  
  Pages: 151-157
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18500055
[Journal Article] ハードウエア設計に対するソフトウエアメトリクスの適用2007
- Author(s)
  阿萬裕久, 池田裕輔, 市川直樹, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三
- Journal Title
  
  電子情報通信学会総合大会論文集
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18500055
[Journal Article] Compaction of Pass/Fail-based Diagnostic Test Vectors for Combinational and Sequential Circuits2006
- Author(s)
  Y.Higami, K.K.Saluja, H.Takahashi, S.Kobayashi, Y.Takamatsu
- Journal Title
  
  Proc.of IEEE The Eleventh Asia and South Pacific Design Automation
  
  Pages: 659-664
- NAID
  110004729724
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15500043
[Journal Article] 組合せ回路および順序回路に対する検出・非検出情報に基づく診断用テスト圧縮法2006
- Author(s)
  樋上喜信, Kewal K. Saluja, 高橋寛, 小林真也, 高松雄三
- Journal Title
  
  情報処理学会論文誌 vol.47, no.5
  
  Pages: 1269-1277
- NAID
  110004729724
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18500055
[Journal Article] Compaction of Pass/Fail-based Diagnostic Test Vectors for Combinational and Sequential Circuits2006
- Author(s)
  Y.Higami, K.K.Saluji, H.Takahashi, S.Kobayashi, Y.Takamatsu
- Journal Title
  
  Proc. of IEEE The Eleventh Asia and South Pacific Design Automation
  
  Pages: 659-664
- NAID
  110004729724
- Description
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15500043
[Journal Article] On Finding Don't Cares in Test Sequences for Sequential Circuits2006
- Author(s)
  Y. Higami, S. Kajihara, I. Pomeranz, S. Kobayashi and Y. Takamatsu
- Journal Title
  
  IEICE Trans. on Inf. & Syst. vol.E89-D, no.11
  
  Pages: 2748-2755
- NAID
  110007538482
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18500055
[Journal Article] Compaction of Pass/Fail-based Diagnostic Test Vectors for Combinational and Sequential Circuits2006
- Author(s)
  Y.Higami, K.K.Saluja, H.Takahashi, S.Kobayashi, Y.Takamatsu
- Journal Title
  
  Proc.of IEEE Eleventh Asia and South Pacific Design Automation Conference
  
  Pages: 659-664
- NAID
  110004729724
- Description
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15500043
[Journal Article] On the Fault Diagnosis in the Presence of Unknown Fault Models Using Pass/Fail Information2005
- Author(s)
  Y.Takamatsu, T.Seiyama, H.Takahashi, Y.Higami, K.Yamazaki
- Journal Title
  
  Proc.of IEEE Int.Sympo.on Circuits and Systems
  
  Pages: 2987-2990
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15500043
[Journal Article] On the Fault Diagnosis in the Presence of Unknown Fault Models Using Pass/Fail Information2005
- Author(s)
  Y.Takamatsu, T.Seiyama, H.Takahashi, Y.Higami, K.Yamazaki
- Journal Title
  
  Proc.of IEEE Int.Sympo. on Circuits and Systems
  
  Pages: 2987-2990
- Description
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15500043
[Journal Article] On the Fault Diagnosis in the Presence of Unknown Fault Models Using Pass/Fail Information2005
- Author(s)
  Y.Takamatsu, T.Seiyama, H.Takahashi, Y.Higami, K.Yamazaki
- Journal Title
  
  Proc. of IEEE Int. Sympo. on Circuits and Systems
  
  Pages: 2987-2990
- Description
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15500043
[Journal Article] Failure Analysis of Open Faults by Using Detecting/Undetecting Information on Tests2004
- Author(s)
  Y.Sato, H.Takahashi, Y.Higami, Y.Takamatsu
- Journal Title
  
  Proc.of the Thirteenth Asian Test Symposium
  
  Pages: 222-227
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15500043
[Journal Article] Acceleration Techniques for Crosstalk Fault Simulation2004
- Author(s)
  Y.Higami, M.Sato, H.Takahashi, S.Kobayashi, Y.Takamatsu
- Journal Title
  
  Proc.of the Int'l Multi-Conf.on Advanced Computer System & Computer Information Systems and Industrial Management
  
  Pages: 300-309
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15500043
[Journal Article] Techniques for Finding Xs in Test Sequences for Sequential Circuits and Applications of Test Length/Power Reductior2004
- Author(s)
  Y.Higami, S.Kajihara, S.Kobayeshi, Y.Takamatsu
- Journal Title
  
  Proc.of the Thirteenth Asian Test Symposium
  
  Pages: 46-49
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15500043
[Presentation] 深層強化学習によるマルチサイクルBIST向けテストポイント選定法2024
- Author(s)
  塩谷晃平，西川竜矢，魏少奇，王森レイ，甲斐博，樋上喜信，高橋寛
- Organizer
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23K11033
[Presentation] メモリズムパターンマッチングアクセラレータのFPGA 実装と性能評価2023
- Author(s)
  本田志遠，西川竜矢，周細紅，王森レイ，甲斐博，樋上喜信，高橋寛，井上克己
- Organizer
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23K11033
[Presentation] Test Point Selection Using Deep Graph Convolutional Networks and Advantage Actor Critic (A2C) Reinforcement Learning2023
- Author(s)
  Shaoqi Wei, Kohei Shiotani, Senling Wang, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Gang Wang
- Organizer
  2023 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications,
- Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23K11033
[Presentation] 圧縮優先度の近似的計算による故障辞書の圧縮処理時間の短縮2022
- Author(s)
  濱野郁也，稲元勉，樋上喜信
- Organizer
  令和4年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K11877
[Presentation] マルチサイクルテストによるテストパターン削減2022
- Author(s)
  中野潤平, 王森レイ, 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛
- Organizer
  電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K11878
[Presentation] マルチサイクルテストによるテストパターン削減2022
- Author(s)
  中野潤平, 王森レイ, 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛
- Organizer
  2022年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-22K11955
[Presentation] 機械学習を用いた複数故障モデルの故障診断2021
- Author(s)
  山内崇矢，稲元勉，王森レイ，樋上喜信，高橋寛
- Organizer
  令和3年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K11877
[Presentation] グラフ畳み込みニューラルネットワークを用いたテストポイント選定について2021
- Author(s)
  魏少奇, 王森レイ, 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛
- Organizer
  令和3年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K11878
[Presentation] マルチサイクルテストの導入による組込自己診断の故障診断能力評価2021
- Author(s)
  王宇超, 王森レイ, 樋上喜信, 甲斐博, 高橋寛
- Organizer
  令和3年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K11878
[Presentation] マルチサイクル機能動作による故障診断用パターン生成2021
- Author(s)
  神崎壽伯, 王シンレイ, 樋上喜信, 甲斐博, 高橋寛
- Organizer
  令和3年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K11878
[Presentation] マルチサイクルテストのテスト容易化のための制御ポイント選定法2020
- Author(s)
  環　輝・王　森レイ・樋上喜信・高橋　寛
- Organizer
  令和2年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K11878
[Presentation] 圧縮故障辞書を用いたフィールド故障診断2019
- Author(s)
  中村友和, 稲元勉, 王森レイ, 樋上喜信, 高橋寛
- Organizer
  電気関係学会四国支部連合大会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00075
[Presentation] マルチサイクルテストにおける故障検出低下問題の解析とその対策2019
- Author(s)
  青野智己,王　森レイ, 樋上喜信, 高橋　寛
- Organizer
  電気関係学会四国支部連合大会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K11878
[Presentation] 機械学習を適用した半断線故障判別法の評価2018
- Author(s)
  増成紳介,青萩正俊,王森レイ, 樋上喜信,高橋寛,四柳浩之,橋爪正樹
- Organizer
  電気関係学会四国支部連合大会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00074
[Presentation] Adaptive Field Diagnosis for Reducing Computing Time2018
- Author(s)
  Yoshinobu Higami
- Organizer
  International Conference on Fuzzy Systems and Data Mining
- Invited / Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00075
[Presentation] Fault Diagnosis Considering Path Delay Variations in Multi Cycle Test Environment2018
- Author(s)
  Yoshinobu Higami, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K Saluja
- Organizer
  International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications
- Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00075
[Presentation] キャプチャパターン制御機構を付加したフリップフロップの選択法2018
- Author(s)
  矢野良典,青野智己,王森レイ, 樋上喜信,高橋寛
- Organizer
  電気関係学会四国支部連合大会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00074
[Presentation] マルチサイクルテストの故障検出率の低下を改善するためのキャプチャパターン制御法2018
- Author(s)
  青野智己,矢野良典,王森レイ, 樋上喜信,高橋寛
- Organizer
  電気関係学会四国支部連合大会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00074
[Presentation] 可変サイクルテストのテスト圧縮効果2017
- Author(s)
  矢野　良典，王森レイ，樋上喜信，高橋　寛
- Organizer
  電気関係学会四国支部大会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00074
[Presentation] Fault Simulation using Hazard Signals and Its Application to Fault Diagnosis for Delay Faults2017
- Author(s)
  Y. Higami
- Organizer
  International Conference for Top and Emerging Computer Scientists
- Invited / Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00075
[Presentation] マルチサイクルテストにおける故障検出率最大化のための電力制御法2017
- Author(s)
  高原　圭太，王森レイ，樋上喜信，高橋　寛
- Organizer
  電気関係学会四国支部大会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00074
[Presentation] Adaptive Field Diagnosis for Reducing the Number of Test Patterns2017
- Author(s)
  Y. Higami, S. Wang, H. Takahashi and K. K. Saluja
- Organizer
  International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications
- Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00075
[Presentation] 組込み自己診断向けのテストパターン生成法2017
- Author(s)
  松田　優太，王森レイ，樋上喜信，高橋　寛
- Organizer
  電気関係学会四国支部大会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00074
[Presentation] Test Generation Methods for Delay Faults on Clock Lines2017
- Author(s)
  Y. Higami
- Organizer
  The 3rd International Conference on Fuzzy Systems and Data Mining
- Invited / Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00075
[Presentation] フィールドテストにおけるテスト集合分割法2017
- Author(s)
  青萩　正俊，増成　紳介，王森レイ，樋上喜信，高橋　寛
- Organizer
  電気関係学会四国支部大会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00074
[Presentation] Multi-Cycle Test Diagnosis for Path Delay Variations2016
- Author(s)
  Y. Higami, S. Wang, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. K. Saluja
- Organizer
  Taiwan and Japan Conference on Circuits and Systems
- Place of Presentation
  Tainan, Taiwan
- Year and Date
  2016-07-31
- Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00075
[Presentation] 隣接線の信号遷移を用いる半断線故障判別法の断線位置に対する有効性調査2016
- Author(s)
  伊勢幸太郎，四柳浩之，橋爪正樹，樋上喜信，高橋寛
- Organizer
  電気関係学会四国支部連合大会
- Place of Presentation
  徳島大学，徳島県・徳島市
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330063
[Presentation] マルチサイクルテストにおけるクロック信号線のd-故障に対するテストパターン生成について2016
- Author(s)
  和田祐介, 樋上喜信, 王森レイ, 高橋寛, 小林真也
- Organizer
  電気関係学会四国支部連合大会
- Place of Presentation
  徳島大学（徳島県徳島市）
- Year and Date
  2016-09-17
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00075
[Presentation] 矢野郁也，王森レイ，樋上喜信，高橋寛2016
- Author(s)
  矢野郁也，王森レイ，樋上喜信，高橋寛
- Organizer
  電気関係学会四国支部大会
- Place of Presentation
  徳島大学（徳島県・徳島市）
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00074
[Presentation] アナログバウンダリスキャンを適用した三次元積層後のTSV抵抗精密計測法の計測制度評価2016
- Author(s)
  香川敬祐，王森レイ，亀山修一，樋上喜信，高橋寛
- Organizer
  電気関係学会四国支部連合大会
- Place of Presentation
  徳島大学，徳島県・徳島市
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330063
[Presentation] 中間観測FF選択法の大規模ベンチマーク回路に対する評価2016
- Author(s)
  濱田宗, 王森レイ, 樋上喜信, 高橋寛, 岩田浩幸, 松嶋潤
- Organizer
  電気関係学会四国支部大会
- Place of Presentation
  徳島大学（徳島県・徳島市）
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00074
[Presentation] マルチサイクテストにおけるFFの接続情報を用いた中間観測FFの選択法2016
- Author(s)
  高原圭太, 王森レイ, 樋上喜信, 高橋寛
- Organizer
  電気関係学会四国支部大会
- Place of Presentation
  徳島大学（徳島県・徳島市）
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00074
[Presentation] 組込み自己診断における遷移故障診断能力の改善法2015
- Author(s)
  宮本夏規，村上陽紀，王森レイ，樋上喜信，高橋寛
- Organizer
  電気関係学会四国支部連合大会講演論文集
- Place of Presentation
  高知県香美市土佐山田町，高知工科大学
- Year and Date
  2015-09-26
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330063
[Presentation] Diagnosis for Delay Faults in the Presence of Clock Delays Considering Hazards2015
- Author(s)
  Y. Higami, S. Wang, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. K. Saluja
- Organizer
  International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications
- Place of Presentation
  韓国ソウル
- Year and Date
  2015-06-30
- Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330062
[Presentation] 隣接線の信号遷移を用いる多変量解析による半断線故障の検出可能性について2015
- Author(s)
  伊勢幸太郎, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛
- Organizer
  電気関係学会四国支部連合大会講演論文集
- Place of Presentation
  高知県香美市土佐山田町，高知工科大学
- Year and Date
  2015-09-26
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330063
[Presentation] IR-dropを考慮した抵抗性オープン故障の診断用パターンの選択手法2015
- Author(s)
  王　森レイ・井上大画・ハナンティアルアワディー・樋上喜信・高橋　寛
- Organizer
  電子情報通信学会技術研究報告
- Place of Presentation
  機械振興会館（港区，東京都），日本
- Year and Date
  2015-02-13
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330063
[Presentation] タイミングシミュレーション情報に基づく故障診断法2015
- Author(s)
  門田一樹，矢野郁也，王　森レイ，樋上喜信，高橋寛
- Organizer
  電気関係学会四国支部連合大会講演論文集
- Place of Presentation
  高知県香美市土佐山田町，高知工科大学
- Year and Date
  2015-09-26
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330063
[Presentation] 0-1整数計画問題を利用した遅延故障テストの改善2015
- Author(s)
  今村亮太・門田一樹・王　森レイ・樋上喜信・高橋　寛
- Organizer
  電子情報通信学会総合大会
- Place of Presentation
  立命館大学(草津市，滋賀県），日本
- Year and Date
  2015-03-12
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330063
[Presentation] アナログバウンダリスキャンによる三次元積層後のTSV 抵抗精密計測法の実装と評価2015
- Author(s)
  香川敬祐, 王森レイ, 亀山修一，樋上喜信, 高橋寛
- Organizer
  電気関係学会四国支部連合大会講演論文集
- Place of Presentation
  高知県香美市土佐山田町，高知工科大学
- Year and Date
  2015-09-26
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330063
[Presentation] 組込み自己診断におけるテストパターン系列の診断能力に関して2015
- Author(s)
  宮本　夏規，村上　陽紀，王　シンレイ，樋上　喜信，高橋　寛，大竹　哲史
- Organizer
  FIT2015（第14 回情報科学技術フォーラム）
- Place of Presentation
  愛媛県松山市文京町，愛媛大学
- Year and Date
  2015-09-15
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330063
[Presentation] Diagnosis of Delay Faults Considering Hazards2015
- Author(s)
  Y. Higami, S. Wang, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. K. Saluja
- Organizer
  IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI
- Place of Presentation
  フランスモンペリエ
- Year and Date
  2015-07-08
- Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330062
[Presentation] 組込み自己診断におけるシード候補の生成法2015
- Author(s)
  村上陽紀，宮本夏規，王森レイ，樋上喜信，高橋寛
- Organizer
  電気関係学会四国支部連合大会講演論文集
- Place of Presentation
  高知県香美市土佐山田町，高知工科大学
- Year and Date
  2015-09-26
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330063
[Presentation] オンチップセンサを利用した抵抗性オープン故障診断2014
- Author(s)
  竹田和生，王森レイ，樋上喜信，高橋寛
- Organizer
  平成26年度電気関係学会四国支部大会
- Place of Presentation
  徳島大学(徳島市，徳島），日本
- Year and Date
  2014-09-13
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330063
[Presentation] 消費電力制約下での焼きなまし法を利用したテストパターン変更法2014
- Author(s)
  井上大画，王森レイ，樋上喜信，高橋寛
- Organizer
  平成26年度電気関係学会四国支部大会
- Place of Presentation
  徳島大学(徳島市，徳島），日本
- Year and Date
  2014-09-13
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330063
[Presentation] 遺伝的アルゴリズムを利用した診断用テスト生成2014
- Author(s)
  門田一樹，今村亮太，王森レイ，樋上喜信，高橋寛
- Organizer
  平成26年度電気関係学会四国支部大会
- Place of Presentation
  徳島大学(徳島市，徳島），日本
- Year and Date
  2014-09-13
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330063
[Presentation] マルチサイクルテストでの遷移故障に対するテスト生成2014
- Author(s)
  藤原翼，樋上喜信，王森レイ，高橋寛，小林真也
- Organizer
  電気関係学会四国支部連合大会
- Place of Presentation
  徳島大学
- Year and Date
  2014-09-13
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330062
[Presentation] 0-1整数計画問題を利用した診断用テスト生成システムの開発2014
- Author(s)
  村上陽紀，宮本夏規，王森レイ，樋上喜信，高橋寛
- Organizer
  平成26年度電気関係学会四国支部大会
- Place of Presentation
  徳島大学(徳島市，徳島），日本
- Year and Date
  2014-09-13
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330063
[Presentation] クロック信号線のブリッジ故障に対する遅延を考慮した故障診断2014
- Author(s)
  細川優人，樋上喜信，王森レイ，高橋寛，小林真也
- Organizer
  電気関係学会四国支部連合大会
- Place of Presentation
  徳島大学
- Year and Date
  2014-09-13
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330062
[Presentation] On SAT-based Test Generation for Observing Delay Variation Caused by a Resistive Open Fault and Its Adjacent Lines2013
- Author(s)
  Jun Yamashita, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume, Yoshinobu Higami, and Hiroshi Takahashi
- Organizer
  The 14th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- Place of Presentation
  Yilan, Taiwan
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330063
[Presentation] FTC 研究会2010
- Author(s)
  樋上喜信,高橋寛,小林真也,Kewal K. Saluja
- Organizer
  クロック信号線の遅延故障に対するテスト生成について
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-22500048
[Presentation] クロック信号線の遅延故障に対するテスト生成について2010
- Author(s)
  樋上喜信, 高橋寛, 小林真也, Kewal K.Saluja
- Organizer
  FTC研究会
- Place of Presentation
  埼玉県秩父郡
- Year and Date
  2010-07-16
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-22500048
[Presentation] スキャン回路におけるクロストーク故障の検出可能性について2008
- Author(s)
  樋上喜信, 高橋寛, 廣瀬雅人, 小林真也, 高松雄三
- Organizer
  子情報通信学会総合大会
- Year and Date
  2008-03-18
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19500045
[Presentation] ハードウエアテスト生成ツールを用いた組み込みシステムのテストケース生成について2008
- Author(s)
  高橋寛, 樋上喜信, 阿萬裕久, 釜山天平, 小林真也, 高松雄三
- Organizer
  電子情報通信学会総合大会
- Place of Presentation
  早稲田大学(北九州市)
- Year and Date
  2008-03-18
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18500055
[Presentation] 原因-結果グラフを用いた組込みシステムに対する自動テストケース生成法2008
- Author(s)
  藤尾昇平, 阿萬裕久, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三
- Organizer
  電気関係学科四国支部連合大会
- Place of Presentation
  徳島
- Year and Date
  2008-09-27
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18500055
[Presentation] 原因-結果グラフを用いた組込みシステムに対する自動テストケール生成法2008
- Author(s)
  藤尾昇平, 阿萬裕久, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三
- Organizer
  電気関係学科四国支部連合大会論文集, p. 300
- Year and Date
  2008-09-27
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18500055
[Presentation] Increasing Defect Coverage by Generating Test Vectors for Stuck-open Faults2008
- Author(s)
  Y. Higami, K.K. Saluja, H. Takahashi, K. Kobayashi, Y. Takamatsu
- Organizer
  Proc. IEEE Seventeenth Asian Test Symposium
- Year and Date
  2008-11-26
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19500045
[Presentation] スキャン回路におけるクロストーク故障の検出可能性について2008
- Author(s)
  樋上喜信, 高橋寛, 廣瀬雅人, 小林真也, 高松雄三
- Organizer
  電子情報通信学会総合大会
- Place of Presentation
  早稲田大学(北九州市)
- Year and Date
  2008-03-18
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19500045
[Presentation] Increasing Defect Coverage by Generating Test Vectors for Stuck-open Faults2008
- Author(s)
  Y. Higami, K. K. Saluja, H. Takahasi, K. Kobayashi, Y. Takamatsu
- Organizer
  アジアテストシンポジウム
- Place of Presentation
  札幌
- Year and Date
  2008-11-25
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19500045
[Presentation] ハードウエアテスト生成ツールを用いた組み込みシステムのテストケース生成について2008
- Author(s)
  高橋寛, 樋上喜信, 阿萬裕久, 釜山天平, 小林真也, 高松雄三
- Organizer
  電子情報通信学会総合大会
- Year and Date
  2008-03-18
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18500055
[Presentation] ゲートレベルを用いたトランジスタショートに対するテスト生成法2007
- Author(s)
  樋上喜信, K. K. Saluja, 高橋寛, 小林真也, 高松雄三
- Organizer
  電子情報通信学会技術報告(DC研究会), vol. 106, no. 476, pp. 34-39
- Year and Date
  2007-02-09
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18500055
[Presentation] ハードウエア設計に対するソフトウェアメトリクスの適用2007
- Author(s)
  阿萬裕久, 池田裕輔, 市川直樹, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三
- Organizer
  電子情報通信学会総合大会
- Year and Date
  2007-03-21
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18500055
[Presentation] Diagnosis of Transistor Shorts in Logic Test Environment2006
- Author(s)
  Y. Higami, K. K. Saluja, H. Takahasi, K. Kobayashi and Y. Takamatsu
- Organizer
  Proc. IEEE Fifteenth Asian Test Symposium, pp. 354-359
- Year and Date
  2006-11-26
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18500055
[Presentation] 抵抗性オープン故障に対する診断用テスト生成
- Author(s)
  松川翔平, 高橋寛, 樋上喜信, 四柳浩之, 橋爪正樹
- Organizer
  平成25年度電気関係学会四国支部連合大会　講演論文集
- Place of Presentation
  徳島大学
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330063
[Presentation] クロック信号線の遅延故障に対する故障診断用テスト生成
- Author(s)
  江口拓弥，樋上喜信，高橋寛，小林真也
- Organizer
  電気関係学会四国支部連合大会
- Place of Presentation
  徳島大学
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330062
[Presentation] SAT手法による隣接線影響を考慮した微小遅延故障検査用テストパターン生成に関する一考察
- Author(s)
  山下淳, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛
- Organizer
  平成25年度電気関係学会四国支部連合大会　講演論文集
- Place of Presentation
  徳島大学
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330063
[Presentation] 抵抗性オープン故障診断のための後方追跡
- Author(s)
  竹田和生, 樋上喜信，高橋　寛
- Organizer
  平成25年度電気関係学会四国支部連合大会　講演論文集
- Place of Presentation
  徳島大学
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330063

1. TAKAHASHI Hiroshi (80226878)

# of Collaborated Projects: 12 results

# of Collaborated Products: 124 results
2. 王森レイ (90735581)

# of Collaborated Projects: 6 results

# of Collaborated Products: 49 results
3. TAKAMATSU Yuzo (80039255)

# of Collaborated Projects: 2 results

# of Collaborated Products: 21 results
4. AMAN Hirohisa (50333513)

# of Collaborated Projects: 1 results

# of Collaborated Products: 8 results
5. 四柳浩之 (90304550)

# of Collaborated Projects: 1 results

# of Collaborated Products: 9 results
6. 大竹哲史 (20314528)

# of Collaborated Projects: 1 results

# of Collaborated Products: 1 results
7. 稲元勉 (10379513)

# of Collaborated Projects: 1 results

# of Collaborated Products: 12 results

HIGAMI Yoshinobu 樋上 喜信

Research Projects

Research Products

Co-Researchers

Field Testing for Structure-Oriented Computing Architectures

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Review Section

Research Institution

メモリ型再構成エッジデバイスにおける高信頼性知的処理機能の設計法に関する研究

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Review Section

Research Institution

Study on Adaptive Fault Diagnosis for Reducing Fault Diagnosis TimePrincipal Investigator

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Review Section

Research Institution

Study of Design for Trust for Field Test of Connected Devices

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Review Section

Research Institution

Built-In Self Diagnosis for Functional Safety Assurance

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

Research on Test and Diagnosis for Delay Faults by Accurate Delay Fault SimulatorPrincipal Investigator

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

Study on test and diagnosis for defects on vias in 3D-LSIsPrincipal Investigator

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

Timing failure diagnosis using pre-silicon test and post-silicon test

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

Development of methods for testing and diagnosing faults on clock lines in system LSIsPrincipal Investigator

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

Research on High Dependable Test for Crosstalk Faults in High Speed VLSIsPrincipal Investigator

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

Development of Soft/Hard Co-Test Method for Embedded Systems

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

Study on Built-in Self Test and Fault Diagnosis for Very High Speed and Deep Sub-micron VLSIs

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

[Journal Article] Testing and Delay-Monitoring for the High Reliability of Memory-Based Programmable Logic Device2024

Author(s)

Journal Title

DOI

HIGAMI Yoshinobu 樋上喜信