• Search Research Projects
  • Search Researchers
  • How to Use
  1. Back to previous page

MITSUISHI Kazutaka  三石 和貴

… Alternative Names

三石 和貴  ミツイシ カズタカ

Less
Researcher Number 40354328
Other IDs
  • ORCIDhttps://orcid.org/0000-0002-9361-4057
External Links
Affiliation (Current) 2025: 国立研究開発法人物質・材料研究機構, マテリアル基盤研究センター, 副センター長
Affiliation (based on the past Project Information) *help 2023 – 2024: 国立研究開発法人物質・材料研究機構, マテリアル基盤研究センター, 副センター長
2023: 国立研究開発法人物質・材料研究機構, マテリアル基盤研究センター, 分野長
2021 – 2022: 国立研究開発法人物質・材料研究機構, 先端材料解析研究拠点, グループリーダー
2015: 国立研究開発法人物質・材料研究機構, 表界面構造・物性ユニット, 主席研究員
2015: 国立研究開発法人物質・材料研究機構, 表界面構造物性ユニット電子顕微鏡グループ, 主席研究員 … More
2013 – 2014: 独立行政法人物質・材料研究機構, その他部局等, その他
2012: 物質材料研究機構, 量子ドットセンター, 主幹研究員
2011: 独立行政法人物質・材料研究機構, 表界面構造・物性ユニット, 主幹研究員
2009 – 2010: National Institute for Materials Science, 量子ドットセンター, 主幹研究員
2007: National Institute for Materials Science, 量子ドットセンター, 主任研究員
2006: 独立行政法人物質・材料研究機構, 量子ドットセンター, 主任研究員
2005: 独立行政法人物質・材料研究機構, 超高圧電子顕微鏡ステーション, 主任研究員 Less
Review Section/Research Field
Principal Investigator
Basic Section 80040:Quantum beam science-related / Basic Section 29020:Thin film/surface and interfacial physical properties-related / Structural/Functional materials / Thin film/Surface and interfacial physical properties / Microdevices/Nanodevices
Except Principal Investigator
Basic Section 30010:Crystal engineering-related / Material processing/treatments
Keywords
Principal Investigator
電子顕微鏡 / 4DSTEM / 電子線タイコグラフィー / 位相回復 / 電子顕微鏡法 / 全固体2次電池 / 3次元観察 / 走査透過電子顕微鏡 / 共焦点電子顕微鏡 / CVD / EBID / ナノ構造作製 / 電子線誘起蒸着 … More
Except Principal Investigator
… More 機械学習 / 密度汎関数法 / 窒化ガリウム / 欠陥構造 / 大規模第一原理計算 / センサー / 電子顕微鏡 / ナノ材料 / 材料加工・処理 / ナノセンサー / ナノワイヤー / ナノプロセス Less
  • Research Projects

    (7 results)
  • Research Products

    (52 results)
  • Co-Researchers

    (3 People)
  •  正則化を取り入れた電子線タイコグラフィー位相回復法の開発と材料応用Principal Investigator

    • Principal Investigator
      三石 和貴
    • Project Period (FY)
      2024 – 2026
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • Review Section
      Basic Section 80040:Quantum beam science-related
    • Research Institution
      National Institute for Materials Science
  •  Structure modeling of defects and impurities in GaN using large-scale DFT calcualtionss

    • Principal Investigator
      宮崎 剛
    • Project Period (FY)
      2023 – 2026
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
    • Review Section
      Basic Section 30010:Crystal engineering-related
    • Research Institution
      National Institute for Materials Science
  •  Reducing the dynamical scattering effect of thick object by multslice electron ptychographyPrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      MITSUISHI Kazutaka
    • Project Period (FY)
      2021 – 2023
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • Review Section
      Basic Section 29020:Thin film/surface and interfacial physical properties-related
    • Research Institution
      National Institute for Materials Science
  •  Electron Microscopy Studyon battery materials using piezo-driven contact, air-tight transfer holderPrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      Mitsuishi Kazutaka
    • Project Period (FY)
      2013 – 2015
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
    • Research Field
      Structural/Functional materials
    • Research Institution
      National Institute for Materials Science
  •  Fabrication of oxide nanostructures using electron beaminduced deposition and their physical properties

    • Principal Investigator
      SHIMOJO Masayuki
    • Project Period (FY)
      2010 – 2012
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • Research Field
      Material processing/treatments
    • Research Institution
      Shibaura Institute of Technology
      Saitama Institute of Technology
  •  Scanning confocal electron microscopy using two dimensional CCDPrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      MITSUISHI Kazutaka
    • Project Period (FY)
      2009 – 2011
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • Research Field
      Thin film/Surface and interfacial physical properties
    • Research Institution
      National Institute for Materials Science
  •  電子線と粒子線の組み合わせによるナノ構造作製と物性評価Principal Investigator

    • Principal Investigator
      三石 和貴
    • Project Period (FY)
      2005 – 2007
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
    • Research Field
      Microdevices/Nanodevices
    • Research Institution
      National Institute for Materials Science

All 2024 2023 2022 2016 2015 2012 2011 2010 2009 2008 2007 2006 2005 Other

All Journal Article Presentation Book

  • [Book] Nanofabrication using electron beam induced deposition technique; Encyclopedia of Nanoscience and Nanotechnology2011

    • Author(s)
      M. Shimojo, K. Mitsuishi, M. Takeguchi, M. Tanaka and K. Furuya
    • Publisher
      H. S. Nalwa ed., American Scienctific Publishers, USA
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22560727
  • [Book] Encyclopedia of Nanoscience and Nanotechnologyのvolume 172011

    • Author(s)
      M.Shimojo, K.Mitsuishi, M.Takeguchi, M.Tanaka, K.Furuya
    • Total Pages
      22
    • Publisher
      American Scientific Publishers, USA
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22560727
  • [Book] Nanofabrication: Fundamentals and Applications 第7章2008

    • Author(s)
      三石和貴
    • Total Pages
      12
    • Publisher
      World Scientific Publishing Co
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17710120
  • [Journal Article] Development of temporal series 4D-STEM and application to relaxation time measurement2023

    • Author(s)
      Nakazawa Katsuaki、Mitsuishi Kazutaka
    • Journal Title

      Microscopy

      Volume: - Issue: 5 Pages: 1-4

    • DOI

      10.1093/jmicro/dfad006

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21K04890, KAKENHI-PROJECT-23K13076
  • [Journal Article] Direct observation of Cu in high-silica chabazite zeolite by electron ptychography using Wigner distribution deconvolution2023

    • Author(s)
      Mitsuishi Kazutaka、Nakazawa Katsuaki、Sagawa Ryusuke、Shimizu Masahiko、Matsumoto Hajime、Shima Hisashi、Takewaki Takahiko
    • Journal Title

      Scientific Reports

      Volume: 13 Issue: 1 Pages: 316-11

    • DOI

      10.1038/s41598-023-27452-3

    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21K04890
  • [Journal Article] Three-dimensional observation of SiO2 hollow spheres with a double-shell structure using aberration-corrected scanning confocal electron microscopy2012

    • Author(s)
      X. Zhang, M. Takeguchi, A. Hashimoto, K. Mitsuishi, P. Wang, P. D. Nellist, A. I. Kirkland, M. Tezuka and M. Shimojo
    • Journal Title

      J. Electron Microsc

      Volume: 61, 3 Issue: 3 Pages: 159-169

    • DOI

      10.1093/jmicro/dfs039

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22560727
  • [Journal Article] Imaging properties of bright-field and annular-dark-field scanning confocal2012

    • Author(s)
      三石和貴, 他
    • Journal Title

      UTRAMICROSCOPY

      Volume: 112 Issue: 1 Pages: 53-60

    • DOI

      10.1016/j.ultramic.2011.10.004

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21560036
  • [Journal Article] Imaging properties of bright-field and annular-dark-field scanning confocal microscopy2012

    • Author(s)
      K. Mitsuishi, et. al., 他4名
    • Journal Title

      Ultramicroscopy

      Volume: 112 Pages: 53-60

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21560036
  • [Journal Article] Application of scanning confocal electron microscopy to nanomaterials and the improvement in resolution by image processing2011

    • Author(s)
      X. Zhang, M. Takeguchi, A. Hashimoto, K. Mitsuishi and M. Shimojo
    • Journal Title

      Mater. Sci. Forum

      Volume: 675-677 Pages: 259-262

    • DOI

      10.4028/www.scientific.net/msf.675-677.259

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22560727
  • [Journal Article] Imaging properties of bright-field and annular-dark-field scanning confocal microscopy II. point spread function analysis2010

    • Author(s)
      K. Mitsuishi, et al., 他4名
    • Journal Title

      Ultramicroscopy

      Volume: 111 Pages: 20-26

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21560036
  • [Journal Article] Imaging properties of bright-fieldandannular-dark-fieldscanningconfocal electron microscopy2010

    • Author(s)
      三石和貴, 他
    • Journal Title

      Ultramicroscopy

      Volume: 111 Pages: 20-26

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21560036
  • [Journal Article] High-resolution electron microscopy of detonation nanodiamond2008

    • Author(s)
      Iakoubovskii. K、三石和貴、古屋一夫
    • Journal Title

      NANOTECHNOLOGY 19

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17710120
  • [Journal Article] Mean free path of inelastic electron scattering in elemental solids and oxides using transmission electron microscopy: Atomic number dependent oscillatory behavior2008

    • Author(s)
      Iakoubovskii. K、三石和貴、中山佳子、古屋一夫
    • Journal Title

      Phys. Rev. B 77

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17710120
  • [Journal Article] Nano-fabrication using electron-beam-induced deposition combined with low energy ion milling2006

    • Author(s)
      三石和貴, 下条雅幸, 田中美代子, 古屋一夫
    • Journal Title

      NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS B 242

      Pages: 244-244

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17710120
  • [Journal Article] TEM sample preparation using a new nanofabrication technique combining electron-beam-induced deposition and low-energy ion milling2006

    • Author(s)
      三石和貴, 下条雅幸, 竹口雅樹, 宋明暉, 古屋一夫
    • Journal Title

      MICROSCOPY AND MICROANALYSIS 12

      Pages: 545-545

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17710120
  • [Journal Article] Cs補正HAADF-STEMによるAlGaAs中のGaAs量子リングの観察2006

    • Author(s)
      三石和貴, 間野高明, 郭行健, 竹口雅樹, 小口信行, 古屋一夫
    • Journal Title

      まてりあ 45

      Pages: 854-854

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17710120
  • [Journal Article] Proximity effect in electron-beam-induced deposition2006

    • Author(s)
      三石和貴, 下条雅幸, 竹口雅樹, 田中美代子, 古屋一夫
    • Journal Title

      JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 45

      Pages: 5517-5517

    • NAID

      10017998899

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17710120
  • [Journal Article] Ultrahigh-vacuum third-order spherical aberration (Cs) corrector for a scanning transmission electron microscope2006

    • Author(s)
      三石和貴, 竹口雅樹, 近藤行人, 細川史夫, 三宮工, 古屋一夫
    • Journal Title

      MICROSCOPY AND MICROANALYSIS 12

      Pages: 456-456

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17710120
  • [Journal Article] 電子線照射効果を用いたナノ構造作製2006

    • Author(s)
      三石和貴, 劉志権, 下条雅幸, 竹口雅樹, 田中美代子, 古屋一夫
    • Journal Title

      顕微鏡 41

      Pages: 164-164

    • NAID

      10018791256

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17710120
  • [Journal Article] 電子線誘起蒸着によるナノ構造の直接描画2005

    • Author(s)
      三石和貴, 下条雅幸, 古屋一夫
    • Journal Title

      セラミックス 40・11

      Pages: 949-949

    • NAID

      10016763925

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17710120
  • [Presentation] Ptychographyによるロードーズ、高分解能観察2024

    • Author(s)
      三石和貴
    • Organizer
      2023年度 日本顕微鏡学会 超高分解能顕微鏡法分科会 研究討論会
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21K04890
  • [Presentation] 電子線タイコグラフィーによる4DSTEMデータからの試料情報抽出2024

    • Author(s)
      三石和貴、中澤克昭
    • Organizer
      日本顕微鏡学会 第80回学術講演会
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21K04890
  • [Presentation] 電子線タイコグラフィーによるゼオライト中の銅原子の直接観察2023

    • Author(s)
      三石和貴、中澤克昭、佐川隆亮、清水雅彦、松本 創、嶋 寿、武脇隆彦
    • Organizer
      日本顕微鏡学会第79回学術講演会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21K04890
  • [Presentation] Direct observation of Cu in high silica chabazite zeolite by electron ptychography2023

    • Author(s)
      Kazutaka Mitsuishi, Katsuaki Nakazawa, Ryusuke Sagawa, Masahiko Shimizu, Hajime Matsumoto, Hisashi Shima & Takahiko Takewaki
    • Organizer
      International Workshop on Advanced and In-situ Microscopies of Functional Nanomaterials and Device
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21K04890
  • [Presentation] 電子線タイコグラフィーによる環境関連材料の観察2022

    • Author(s)
      三石 和貴, 中澤 克昭, 佐川隆亮
    • Organizer
      電子顕微鏡学会第37回分析討論会
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21K04890
  • [Presentation] デフォーカスを活用した電子線効率の高いタイコグラフィー法の開発2022

    • Author(s)
      中澤克昭、三石和貴、佐川隆介
    • Organizer
      第78回日本顕微鏡学会学術講演会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21K04890
  • [Presentation] Ptychographcal phase retrievalの実像による拘束2016

    • Author(s)
      三石和貴、下条雅幸、竹口雅樹
    • Organizer
      応用物理学会第63回春季学術講演会
    • Place of Presentation
      東京工業大学大岡山キャンパス
    • Year and Date
      2016-03-19
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289253
  • [Presentation] 実像を追加の拘束として用いるPtychographyによる位相回復2016

    • Author(s)
      三石和貴、下条雅幸、竹口雅樹
    • Organizer
      日本顕微鏡学会第72回学術講演会
    • Place of Presentation
      仙台国際センター
    • Year and Date
      2016-06-14
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289253
  • [Presentation] Improving the Ptychographical Iterative Phase Retrieval by Adding a Real-Space Constraint2016

    • Author(s)
      三石和貴、下条雅幸、竹口雅樹
    • Organizer
      The 5-th International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations
    • Place of Presentation
      ウインクあいち 名古屋市
    • Year and Date
      2016-05-11
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289253
  • [Presentation] La ordering in epitaxial Li3xLa2/3-xTiO3 films and its effects on Li-ion conduction2016

    • Author(s)
      三石和貴、大西剛、高田和典
    • Organizer
      11th Asia-Pacific Microscopy Conference
    • Place of Presentation
      Phuket graceland, タイ
    • Year and Date
      2016-05-23
    • Invited / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289253
  • [Presentation] 強度輸送方程式による長周期位相情報の取得2015

    • Author(s)
      三石和貴、下条雅幸、竹口雅樹
    • Organizer
      日本顕微鏡学会第71回学術講演会
    • Place of Presentation
      国立京都国際会館,京都
    • Year and Date
      2015-05-13
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289253
  • [Presentation] In-situ transmission electron microscopy studies of all-solid-state rechargeable lithium ion batteries2015

    • Author(s)
      雷丹、三石和貴、大西剛、渡辺賢、大野隆央、竹口雅樹、高田和典
    • Organizer
      The 2nd East-Asia Microscopy Conference
    • Place of Presentation
      姫路商工会議所
    • Year and Date
      2015-11-24
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289253
  • [Presentation] 薄膜2次電池の電子顕微鏡その場充放電計測2015

    • Author(s)
      雷丹、三石和貴、大西剛、渡辺賢、大野隆央、竹口雅樹、高田和典
    • Organizer
      日本顕微鏡学会第71回学術講演会
    • Place of Presentation
      国立京都国際会館,京都
    • Year and Date
      2015-05-13
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289253
  • [Presentation] Influence of La Ordering on Li-ion Conduction in Li3xLa2/3-xTiO3 Epitaxial Films / Influence of La Ordering on Li-ion Conduction in Li3xLa2/3-xTiO3 Epitaxial Films2015

    • Author(s)
      大西剛、三石和貴、西尾和記、高田和典
    • Organizer
      STAC-9 & TOEO-9
    • Place of Presentation
      つくば国際会議場,つくば
    • Year and Date
      2015-10-19
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289253
  • [Presentation] Deposition of magnetic and photoconductive nanostructures2012

    • Author(s)
      M. Shimojo, K. Mitsuishi and M. Takeguchi
    • Organizer
      4th Focused Electron Beam Induced Processing Workshop (FEBIP 2012)
    • Place of Presentation
      Zaragoza, Spain
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22560727
  • [Presentation] 電子顕微鏡を利用したナノ構造作製2012

    • Author(s)
      下条雅幸、三石和貴、竹口雅樹
    • Organizer
      表面技術協会ナノテク部会第46回研究会
    • Place of Presentation
      東京
    • Year and Date
      2012-08-07
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22560727
  • [Presentation] 電子線誘起蒸着により作製した酸化モリブデンナノワイヤーの光伝導特性2010

    • Author(s)
      下条雅幸、牧瀬圭正、三石和貴、竹口雅樹
    • Organizer
      日本顕微鏡学会 第66回学術講演会
    • Place of Presentation
      名古屋
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22560727
  • [Presentation] 共焦点暗視野電子顕微鏡法の結像特性2010

    • Author(s)
      三石和貴
    • Organizer
      日本顕微鏡学会第66回学術講演会
    • Place of Presentation
      名古屋国際会議場(愛知県)
    • Year and Date
      2010-05-23
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21560036
  • [Presentation] 共焦点暗視野電子顕微鏡法の結像特性2010

    • Author(s)
      三石和貴, 他4名
    • Organizer
      日本顕微鏡学会第66回学術講演会
    • Place of Presentation
      名古屋国際会議場
    • Year and Date
      2010-05-23
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21560036
  • [Presentation] STEM像の計算手法の基礎/STEM像の計算手法の基礎2010

    • Author(s)
      三石和貴
    • Organizer
      日本顕微鏡学会電顕技術開発若手研究部会研究会
    • Place of Presentation
      東京大学 山上会館(東京都)
    • Year and Date
      2010-08-23
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21560036
  • [Presentation] STEM像の計算手法の基礎/STEM像の計算手法の基礎2010

    • Author(s)
      三石和貴
    • Organizer
      日本顕微鏡学会電顕技術開発若手研究部会研究会
    • Place of Presentation
      東京大学山上会館
    • Year and Date
      2010-08-23
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21560036
  • [Presentation] 2次元検出器を用いた共焦点電子顕微鏡法2010

    • Author(s)
      三石和貴, 他4名
    • Organizer
      日本物理学会2010年秋季大会
    • Place of Presentation
      大阪府立大学
    • Year and Date
      2010-09-23
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21560036
  • [Presentation] 2次元検出器を用いた共焦点電子顕微鏡法2010

    • Author(s)
      三石和貴
    • Organizer
      日本物理学会2010年秋季大会
    • Place of Presentation
      大阪府立大学(大阪府)
    • Year and Date
      2010-09-23
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21560036
  • [Presentation] Application of scanning confocal electron microscopy to nanomaterials and the improvement in resolution by image processing2010

    • Author(s)
      X. B. Zhang, M. Takeguchi, A. Hashimoto, K. Mitsuishi and M. Shimojo
    • Organizer
      7th International Forum on Advanced Material Science and Technology (IFAMST-7)
    • Place of Presentation
      Dalian, China
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22560727
  • [Presentation] 円環暗視野共焦点STEM像のシミュレーション2009

    • Author(s)
      三石和貴
    • Organizer
      日本顕微鏡学会第65回学術講演会
    • Place of Presentation
      山台国際センター(仙台市)
    • Year and Date
      2009-05-26
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21560036
  • [Presentation] 共焦点走査透過電子顕微鏡法による3次元観察の可能性2009

    • Author(s)
      三石和貴
    • Organizer
      日本顕微鏡学会第53回シンポジウム
    • Place of Presentation
      東京工業大学(東京都)
    • Year and Date
      2009-10-31
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21560036
  • [Presentation] Depth sectioning property of bright-field and annular-dark-field scanning confocal electron microscopy2009

    • Author(s)
      三石和貴
    • Organizer
      FEMMS2009
    • Place of Presentation
      ハウステンボス(九州市)
    • Year and Date
      2009-09-27
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21560036
  • [Presentation] 共焦点走査型透過電子顕微鏡像の結像特性の検討2008

    • Author(s)
      三石和貴、竹口雅樹、下条雅幸、橋本綾子、古屋一夫
    • Organizer
      第55回応用物理学関係連合講演会
    • Place of Presentation
      日本大学理工学部
    • Year and Date
      2008-03-30
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17710120
  • [Presentation] Scanning Confocal Electron Microscopy Image Calculation Based on Bloch Wave Method2007

    • Author(s)
      三石和貴、竹口雅樹、下条雅幸、田中美代子、古屋一夫
    • Organizer
      FEMMS2007
    • Place of Presentation
      アメリカ・ソノマバレー
    • Year and Date
      2007-09-23
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17710120
  • [Presentation] Phase-shifting electron holography fitted with Fresnel affected fringes

    • Author(s)
      雷 丹、三石和貴, 下条雅幸、竹口雅樹
    • Organizer
      日本顕微鏡学会第70回記念学術講演会
    • Place of Presentation
      幕張メッセ
    • Year and Date
      2014-05-11 – 2014-05-13
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289253
  • [Presentation] 強度輸送方程式による長周期位相情報の取得

    • Author(s)
      三石和貴、雷 丹、下条雅幸、竹口雅樹
    • Organizer
      第62回応用物理学会春季学術講演会
    • Place of Presentation
      東海大学湘南キャンパス
    • Year and Date
      2015-03-11 – 2015-03-14
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289253
  • [Presentation] Phase-shifting electron holography fitted with Fresnel affected fringes

    • Author(s)
      雷 丹、 三石和貴, 下条雅幸、竹口雅樹
    • Organizer
      The 9th International Forum on Advanced Materials Science and Technology
    • Place of Presentation
      Xiamen University, Xiamen, 中国
    • Year and Date
      2014-12-01 – 2014-12-03
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25289253
  • 1.  SHIMOJO Masayuki (00242313)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 8 results
  • 2.  宮崎 剛 (50354147)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 3.  小田 将人 (70452539)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 0 results

URL: 

Information User Guide FAQ News Terms of Use Attribution of KAKENHI

Powered by NII kakenhi