Ichihara Hideyuki 市原英行

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ICHIHARA Hideyuki 市原英行

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Researcher Number	50326427
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Affiliation (Current)	2022: 広島市立大学, 情報科学研究科, 教授
Affiliation (based on the past Project Information) *help	2020 – 2021: 広島市立大学, 情報科学研究科, 教授 2013 – 2019: 広島市立大学, 情報科学研究科, 准教授 2007 – 2009: Hiroshima City University, 情報科学研究科, 准教授 2008: Hiroshima City University, 大学院・情報科学研究科, 准教授 2004 – 2005: 広島市立大学, 情報科学部, 助教授 2003: 広島市立大学, 情報科学部, 助手
Review Section/Research Field	Principal Investigator Computer system/Network / Computer system / Basic Section 60040:Computer system-related Except Principal Investigator Computer system/Network
Keywords	Principal Investigator ディペンダブルコンピューティング / フォールトトレランス / ストカスティックコンピューティング / LSIテスト / 論理回路設計 / 画像処理 / ニューラルネットワーク / Stochastic Computing / Approximate Computing / 計算機システム … More / Dependable Computing / 設計自動化 / BIST / フォールトトレラント / 組込自己テスト / 巡回符号 / MISR / オンラインテスト / ディペンダプルコンピューティング / VLSIテスト / 耐故障設計 / 歩留まり / モデル化 / 設計工学 / アルゴリズム / デジタルフィルタ / 乱数 / 演算精度 / LSI設計 / 相関係数 / 内積演算 / データ圧縮 / 展開器 / テストデータ / 統計型符号 / テストコスト / 再構成可能性 / アーキテクチャ / 圧縮器 / 再構成可能 / テストベクトル / ハフマン符号 / LSIテスター / LSI testing / Data compression / Decompressor / Test data / Statistical coding / Test cost / Reconfigurability / Variable-length coding / 乱数生成 / ディペンダブル・コンピューティング / 確率論 / LSI CAD / 計算機支援設計 … More Except Principal Investigator 設計自動化 / テスト容易化設計 / VLSI-CAD / システムオンチップ.ディペンダブル・コンピューティング / テスト生成 / システムオンチップ / ディペンダブル・コンピューティング Less

Hi-Level Synthesis for Stochastic Computing CircuitPrincipal Investigator
- Principal Investigator
  
  市原英行
- Project Period (FY)
  2019 – 2022
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- Review Section
  
  Basic Section 60040:Computer system-related
- Research Institution
  Hiroshima City University
Three Elemental Technologies and Computer-Aided Design for Stochastic Computing CircuitsPrincipal Investigator
- Principal Investigator
  
  Ichihara Hideyuki
- Project Period (FY)
  2016 – 2019
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- Research Field
  
  Computer system
- Research Institution
  Hiroshima City University
Study on Test and Design for Reliable and Accurate Stochastic Logic CircuitsPrincipal Investigator
- Principal Investigator
  
  Ichihara Hideyuki
- Project Period (FY)
  2013 – 2016
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- Research Field
  
  Computer system
- Research Institution
  Hiroshima City University
Studies on High-Level Synthesis for Testability Based on Combinational Test Generation Complexity
- Principal Investigator
  
  INOUE Tomoo
- Project Period (FY)
  2007 – 2009
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- Research Field
  
  Computer system/Network
- Research Institution
  Hiroshima City University
Analysis of Faulty Test Cricuits and Their Fault Torelant DesignPrincipal Investigator
- Principal Investigator
  
  ICHIHARA Hideyuki
- Project Period (FY)
  2007 – 2008
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
- Research Field
  
  Computer system/Network
- Research Institution
  Hiroshima City University
Studies on Test Architecture for Test Data Compression / DecompressionPrincipal Investigator
- Principal Investigator
  
  ICHIHARA Hideyuki
- Project Period (FY)
  2003 – 2005
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
- Research Field
  
  Computer system/Network
- Research Institution
  Hiroshima City University

[Journal Article] シグモイド関数のゲインに着目した完全ストカスティック計算ニューロンの設計2021
- Author(s)
  可児冬弥, 市原英行, 岩垣剛, 井上智生
- Journal Title
  
  電子情報通信学会論文誌D
  
  Volume: J104-D
- Peer Reviewed / Open Access
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K11882
[Journal Article] Compact and Accurate Digital Filters Based on Stochastic Computing2016
- Author(s)
  Hideyuki Ichihara, Tatsuyoshi Sugino, Shota Ishii, Tsuyoshi Iwagaki, Tomoo Inoue
- Journal Title
  
  Trans. on Emerging Topics in Computer
  
  Volume: 印刷中
- DOI
  10.1109/tetc.2016.2608825
- Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330072
[Journal Article] A Fast Threshold Test Generation Algorithm Based on 5-Valued Logic2010
- Author(s)
  井上, 出水, 吉川, 市原
- Journal Title
  
  IEEE Proc.DELTA
  
  Pages: 345-349
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19500048
[Journal Article] 部分スルー可検査性に基づく順序回路のテスト生成法2009
- Author(s)
  岡, Ooi, 市原, 井上, 藤原
- Journal Title
  
  電子情報通信学会論文誌D Vol.J92-D, No.12
  
  Pages: 2207-2216
- NAID
  110007482414
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19500048
[Journal Article] An Adaptive Decompressor for Test Application with Variable-Length Coding2006
- Author(s)
  H.Ichihara
- Journal Title
  
  IPSJ Journal Vol.47, No.6
- NAID
  130000058362
- Description
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15300021
[Journal Article] An Adaptive Decompressor for Test Application with Variable-Length Coding2006
- Author(s)
  H.Ichihara
- Journal Title
  
  IPSJ Journal Vol.47,No.6
- NAID
  130000058362
- Description
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15300021
[Journal Article] Huffman-Based Test Response Coding2005
- Author(s)
  H.Ichihara
- Journal Title
  
  IEICE Trans.Inf. & Syst. Vol.E88-D, No.1
  
  Pages: 158-161
- NAID
  110003214149
- Description
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15300021
[Journal Article] Huffman-Based Test Response Coding2005
- Author(s)
  H.Ichihara, M.Shintani, T.Inoue
- Journal Title
  
  IEICE Trans.Inf. & Syst. E88-D・1
  
  Pages: 158-161
- NAID
  110003214149
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15300021
[Journal Article] 高圧縮可能かつコンパクトなテスト生成について2005
- Author(s)
  市原英行
- Journal Title
  
  電子情報通信学会論文誌D-1 J88D-1・6
  
  Pages: 1021-1028
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15300021
[Journal Article] テスト圧縮・展開手法におけるバッファ付き展開器について2005
- Author(s)
  新谷道広, 市原英行, 越智正邦, 井上智生
- Journal Title
  
  電子情報通信学会技術研究報告 104・629
  
  Pages: 35-40
- NAID
  110003318242
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15300021
[Journal Article] 高圧縮可能かつコンパクトなテスト生成について2005
- Author(s)
  市原英行, 井上智生
- Journal Title
  
  電子情報通信学会論文誌D-I J88D-I・6
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15300021
[Journal Article] A Test Generation for Compressible and Compact Test Sets2005
- Author(s)
  H.Ichihara
- Journal Title
  
  IEICE Trans.D-I Vol.J88-D-I, No.6
  
  Pages: 1021-1028
- NAID
  110003203375
- Description
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15300021
[Journal Article] A Huffman-based coding with efficient test application2005
- Author(s)
  M.Shintani, T.Ohara, H.Ichihara, T.Inoue
- Journal Title
  
  Proc.ASP-DAC
  
  Pages: 75-78
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15300021
[Journal Article] 高圧縮可能かつコンパクトなテスト生成について2005
- Author(s)
  市原英行
- Journal Title
  
  電子情報通信学会論文誌D-I J88-D-I・6
  
  Pages: 1021-1028
- Description
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15300021
[Journal Article] A Test Compression Algorithm for Reducing Test Application Time2004
- Author(s)
  M.Shintani, T.Ohara, H.Ichihara, T.Inoue
- Journal Title
  
  5th Workshop on RTL and High Level Testing
  
  Pages: 53-58
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15300021
[Journal Article] A Test Decompression Scheme for Variable-Length Coding2004
- Author(s)
  H.Ichihara, M.Ochi, M.Shintani, T.Inoue
- Journal Title
  
  IEEE Proc.Asian Test Symp.
  
  Pages: 426-431
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15300021
[Journal Article] Test Response Compression Based on Huffman Coding2003
- Author(s)
  H.Ichihara
- Journal Title
  
  IEEE Proc.Asian Test Symposium
  
  Pages: 446-449
- Description
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15300021
[Journal Article] Test Response Compression Based on Huffman Coding2003
- Author(s)
  H.Ichihara
- Journal Title
  
  IEEE Proc.Asian Test symposium
  
  Pages: 446-449
- Description
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-15300021
[Journal Article] 部分スルー可検査性に基づく順序回路のテスト生成法
- Author(s)
  岡伸也, Ooi Chia Yee, 市原英行, 井上智生, 藤原秀雄
- Journal Title
  
  電子情報通信学会論文誌D Vol.J92-D,No.12
- NAID
  110007482414
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19500048
[Presentation] A Design of Reliable Linear FSMs with Equivalent States in Stochastic Computing2021
- Author(s)
  Hideyuki Ichihara, Takayuki FUKUDA, Tomoo Inoue
- Organizer
  2021 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)
- Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K11882
[Presentation] ストカスティックコンピューティングにおけるシグモイド関数実装法に関する考察2020
- Author(s)
  可児冬弥, 瀬戸信明, 市原英行, 岩垣剛, 井上智生
- Organizer
  FTC研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K11882
[Presentation] ストカスティックコンピューティングにおけるシグモイド関数実装法に関する考察2020
- Author(s)
  可児冬弥, 瀬戸信明, 市原英行, 岩垣剛, 井上智生
- Organizer
  FTC研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00080
[Presentation] ストカスティック計算に基づくニューラルネットワークにおけるシグモイド関数の演算精度に関する解析2020
- Author(s)
  可児冬弥, 瀬戸信明, 市原英行, 岩垣剛, 井上智生
- Organizer
  DAシンポジウム2020
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19K11882
[Presentation] 線形有限状態機械に基づくストカスティック回路の耐過渡故障設計について2019
- Author(s)
  市原英行, 前田有希, 福田基, 岩垣剛, 井上智生
- Organizer
  機能集積情報システム研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00080
[Presentation] State Encoding with Stochastic Numbers for Transient Fault Tolerant Linear Finite State Machines2019
- Author(s)
  Hideyuki Ichihara, Yuki Maeda, Tsuyoshi Iwagaki, Tomoo Inoue
- Organizer
  IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems
- Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00080
[Presentation] Benefits and Challenges of Stochastic Computing Circuits2019
- Author(s)
  Hideyuki Ichihara
- Organizer
  The 5th International Forum on Advanced Technologies
- Invited / Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00080
[Presentation] 耐過渡故障を指向した線形有限状態機械のストカスティック数による状態符号化2019
- Author(s)
  前田有希, 市原英行, 岩垣剛, 井上智生
- Organizer
  信学技報DC2018-81
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00080
[Presentation] 積の正負分離とシグモイド関数近似を用いたストカスティックニューラルネットワークの演算精度に関する一考察2019
- Author(s)
  可児冬弥, 市原英行, 岩垣剛, 井上智生
- Organizer
  FTC研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00080
[Presentation] ストカスティックコンピューティング回路の利点と課題2018
- Author(s)
  市原英行
- Organizer
  ソサイエティ大会講演論文集
- Invited
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00080
[Presentation] 周辺回路を利用したストカスティック数生成のための信号線選択アルゴリズムの改良2018
- Author(s)
  久保田直弥, 市原英行, 岩垣剛, 井上智生
- Organizer
  FTC研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00080
[Presentation] Stochastic Number Generation with Internal Signals of Peripheral Logic Circuits2017
- Author(s)
  久保田直弥, 藤葉麻紀, 市原英行, 岩垣剛, 井上智生
- Organizer
  デザインガイア
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00080
[Presentation] State Assignment for Fault Tolerant Stochastic Computing with Linear Finite State Machines2017
- Author(s)
  Hideyuki Ichihara, Motoi Fukuda, Tsuyoshi Iwagaki, Tomoo Inoue
- Organizer
  International Test Conference in Asia (ITC-Asia)
- Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00080
[Presentation] ストカスティックコンピューティングのための論理回路の内部信号を利用した乱数生成について2017
- Author(s)
  藤葉麻紀, 久保田直弥, 市原英行, 岩垣剛, 井上智生
- Organizer
  FTC研究会
- Place of Presentation
  ANAホリデイ・インリゾート宮崎，宮崎
- Year and Date
  2017-01-19
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00080
[Presentation] ストカスティックコンピューティングの近年の研究動向（仮）2017
- Author(s)
  市原英行
- Organizer
  DAシンポジウム
- Place of Presentation
  山代温泉　ゆのくに天祥
- Year and Date
  2017-08-30
- Invited
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00080
[Presentation] ストカスティック反復による積和演算アーキテクチャ2017
- Author(s)
  杉野達美, 市原英行, 岩垣剛, 井上智生
- Organizer
  電子情報通信学会VLD研究会
- Place of Presentation
  沖縄県青年会館，那覇
- Year and Date
  2017-03-01
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00080
[Presentation] ストカスティックコンピューティングの研究動向2017
- Author(s)
  市原英行
- Organizer
  DAシンポジウム2017 －システムとLSIの設計技術－
- Invited
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00080
[Presentation] Stochastic Number Generation with Internal Signals of Logic Circuits2016
- Author(s)
  Naoya Kubota, Hideyuki Ichihara, Tsuyoshi Iwagaki, Tomoo Inoue
- Organizer
  The 20th Workshop on Synthesis And System Integration of Mixed Information technologies
- Place of Presentation
  京都リサーチパーク，京都
- Year and Date
  2016-10-24
- Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330072
[Presentation] 連続ビット系列の動的共有によるストカスティックコンピューティングの高速化2016
- Author(s)
  高森研輔, 市原英行, 岩垣剛, 井上智生
- Organizer
  ディペンダブルコンピューティング研究会
- Place of Presentation
  機械振興会館
- Year and Date
  2016-02-17
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330072
[Presentation] Impact of State Assignment on Error Resilient Stochastic Computing with Linear Finite State Machines2016
- Author(s)
  Motoi Fukuda, Hideyuki Ichihara, Tsuyoshi Iwagaki, Tomoo Inoue
- Organizer
  IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- Place of Presentation
  安芸グランドホテル，広島
- Year and Date
  2016-11-24
- Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00080
[Presentation] Stochastic Number Generation with Internal Signals of Logic Circuits2016
- Author(s)
  Naoya Kubota, Hideyuki Ichihara, Tsuyoshi Iwagaki, Tomoo Inoue
- Organizer
  The 20th Workshop on Synthesis And System Integration of Mixed Information technologies
- Place of Presentation
  京都リサーチパーク，京都
- Year and Date
  2016-10-24
- Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16K00080
[Presentation] ストカスティック数生成のための論理回路の内部信号値を利用した乱数列2016
- Author(s)
  久保田直弥, 市原英行, 岩垣剛, 井上智生
- Organizer
  電子情報通信学会総合大会
- Place of Presentation
  九州大学　伊都キャンパス
- Year and Date
  2016-03-15
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330072
[Presentation] 耐ソフトエラーを指向したストカスティックコンピューティングのための有限状態機械の状態割当てについて2016
- Author(s)
  福田基, 市原英行, 岩垣剛, 井上智生
- Organizer
  ディペンダブルコンピューティング研究会
- Place of Presentation
  機械振興会館
- Year and Date
  2016-06-20
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330072
[Presentation] Compact and Accurate Stochastic Circuits with Shared Random Number Sources2016
- Author(s)
  Hideyuki Ichihara, Shota Ishii, Daiki Sunamori, Tsuyoshi Iwagaki, Tomoo Inoue
- Organizer
  Annual Meeting on Advanced Computing System and Infrastructure
- Place of Presentation
  九州大学医学部百年講堂
- Year and Date
  2016-01-18
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330072
[Presentation] 耐ソフトエラーを指向したストカスティックコンピューティングのための有限状態機械の状態割当てについて2016
- Author(s)
  福田基, 市原英行, 岩垣剛, 井上智生
- Organizer
  電子情報通信学会DC研究会
- Place of Presentation
  機械振興会館，東京
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330072
[Presentation] Impact of State Assignment on Error Resilient Stochastic Computing with Linear Finite State Machines2016
- Author(s)
  Motoi Fukuda, Hideyuki Ichihara, Tsuyoshi Iwagaki, Tomoo Inoue
- Organizer
  IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
- Place of Presentation
  安芸グランドホテル，広島
- Year and Date
  2016-11-24
- Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330072
[Presentation] ストカスティックコンピューティングに基づくディジタルフィルタ回路の演算精度と面積に関する考察2015
- Author(s)
  杉野達美, 市原英行, 岩垣剛, 井上智生
- Organizer
  機能集積情報システム研究会
- Place of Presentation
  広島市立大学サテライトキャンパス
- Year and Date
  2015-06-26
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330072
[Presentation] ストカスティックコンピューティングにおける論理縮退故障の演算精度に対する影響2015
- Author(s)
  福田基, 市原英行, 岩垣剛, 井上智生
- Organizer
  FTC研究会
- Place of Presentation
  青森県青森市
- Year and Date
  2015-07-16
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330072
[Presentation] ストカスティックコンピューティングに基づくディジタルフィルタ回路の演算精度と面積に関する考察2015
- Author(s)
  杉野達美，市原英行，岩垣剛，井上智生
- Organizer
  電子情報通信学会機能集積情報システム研究会
- Place of Presentation
  広島市立大学，広島
- Year and Date
  2015-06-26
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330072
[Presentation] 相関を持つストカスティック数の演算精度に与える影響に関する考察2014
- Author(s)
  石井章太, 砂盛大貴, 市原英行, 岩垣剛, 井上智生
- Organizer
  電子情報通信学会VLSI設計技術研究会
- Place of Presentation
  沖縄沖縄県青年会館
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330072
[Presentation] ストカスティックコンピューティングによる画像処理のFPGA実装2013
- Author(s)
  砂盛大貴, 大石卓也, 石井章太, 市原英行, 岩垣剛, 井上智生
- Organizer
  電子情報通信学会機能集積情報システム研究会
- Place of Presentation
  山口大学常盤キャンパス
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330072
[Presentation] スイッチの機能を考慮した部分スルー可検査性に関する考察2010
- Author(s)
  岡伸也, 吉川祐樹, 市原英行, 井上智生
- Organizer
  信学技法(ディペンダブルコンピューティング研究会)
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19500048
[Presentation] 組込み自己テストにおけるテスト可能な応答圧縮器の設計について2009
- Author(s)
  市原英行
- Organizer
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
- Place of Presentation
  東京
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19700044
[Presentation] Test Generation and DFT Based on Partial Thru Testability2009
- Author(s)
  Nobuya Oka, Chia Yee Ooi, Hideyuki Ichihara, Tomoo Inoue, Hideo Fujiwara
- Organizer
  Proc. European Test Symposium
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19500048
[Presentation] 組込み自己テストにおける応答圧縮器の自己診断能力について2009
- Author(s)
  市原英行
- Organizer
  FTC研究会
- Place of Presentation
  山形
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19700044
[Presentation] An Extended Class of Acyclically Testable Circuits2007
- Author(s)
  岡, ウイ, 市原, 井上, 藤原
- Organizer
  Workshop on RTL and High Level Testing
- Place of Presentation
  北京(中国)
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19500048
[Presentation] An Extended Class of Acyclically Testable Circuits2007
- Author(s)
  Nobuya Oka, Chia Yee Ooi, Hideyuki Ichihara, Tomoo Inoue, Hideo Fujiwara
- Organizer
  Dig. of Papers of 8th Workshop on RTL and High-Level Testing (WRTLT '07)
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19500048
[Presentation] スト生成のための最適スルー木集合構成法2007
- Author(s)
  森永広介, 岡伸也, 吉川祐樹, 市原英行, 井上智生
- Organizer
  信学技法
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19500048
[Presentation] ストカスティックコンピューティング回路における論理縮退故障に関する考察
- Author(s)
  福田基，市原英行，岩垣剛，井上智生
- Organizer
  FTC研究会
- Place of Presentation
  青森市，青森
- Year and Date
  2015-07-16 – 2015-07-18
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330072
[Presentation] ompact and Accurate Stochastic Circuits with Shared Random Number Sources
- Author(s)
  Hideyuki Ichihara, Daiki Sunamori, Shota Ishii, Tsuyoshi Iwagaki, Tomoo Inoue
- Organizer
  IEEE International Conference on Computer Design
- Place of Presentation
  Seoul, Korea
- Year and Date
  2014-10-20 – 2014-10-22
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-25330072

1. INOUE Tomoo (40252829)

# of Collaborated Projects: 2 results

# of Collaborated Products: 14 results
2. YOSHIKAWA Yuki (50453212)

# of Collaborated Projects: 2 results

# of Collaborated Products: 3 results

Ichihara Hideyuki 市原 英行

ICHIHARA Hideyuki 市原 英行

Research Projects

Research Products

Co-Researchers

Hi-Level Synthesis for Stochastic Computing CircuitPrincipal Investigator

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Review Section

Research Institution

Three Elemental Technologies and Computer-Aided Design for Stochastic Computing CircuitsPrincipal Investigator

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

Study on Test and Design for Reliable and Accurate Stochastic Logic CircuitsPrincipal Investigator

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

Studies on High-Level Synthesis for Testability Based on Combinational Test Generation Complexity

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

Analysis of Faulty Test Cricuits and Their Fault Torelant DesignPrincipal Investigator

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

Studies on Test Architecture for Test Data Compression / DecompressionPrincipal Investigator

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

[Journal Article] シグモイド関数のゲインに着目した完全ストカスティック計算ニューロンの設計2021

Author(s)

Journal Title

Data Source

[Journal Article] Compact and Accurate Digital Filters Based on Stochastic Computing2016

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[Journal Article] A Fast Threshold Test Generation Algorithm Based on 5-Valued Logic2010

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[Journal Article] 部分スルー可検査性に基づく順序回路のテスト生成法2009

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NAID

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[Journal Article] An Adaptive Decompressor for Test Application with Variable-Length Coding2006

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NAID

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[Journal Article] An Adaptive Decompressor for Test Application with Variable-Length Coding2006

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NAID

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[Journal Article] Huffman-Based Test Response Coding2005

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NAID

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[Journal Article] Huffman-Based Test Response Coding2005

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Ichihara Hideyuki 市原英行

ICHIHARA Hideyuki 市原英行

[Presentation] ストカスティック計算に基づくニューラルネットワークにおけるシグモイド関数の演算精度に関する解析2020