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Masahara Meishoku  昌原 明植

… Alternative Names

昌原 明植  マサハラ メイシヨク

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Researcher Number 50357993
Other IDs
  • ORCIDhttps://orcid.org/0000-0003-4153-3885
Affiliation (Current) 2025: 国立研究開発法人産業技術総合研究所, エレクトロニクス・製造領域, 副研究部門長
Affiliation (based on the past Project Information) *help 2015 – 2016: 国立研究開発法人産業技術総合研究所, ナノエレクトロニクス研究部門, 研究部門付き
2014: 独立行政法人産業技術総合研究所, ナノエレクトロニクス研究部門, 研究グループ長
Review Section/Research Field
Except Principal Investigator
Electron device/Electronic equipment
Keywords
Except Principal Investigator
半導体超微細化 / 先端機能デバイス / FinFET / テラヘルツ波
  • Research Projects

    (1 results)
  • Research Products

    (12 results)
  • Co-Researchers

    (2 People)
  •  CMOS FinFET technologies toward low-cost terahertz generation for safe and secure society

    • Principal Investigator
      Matsukawa Takashi
    • Project Period (FY)
      2014 – 2016
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
    • Research Field
      Electron device/Electronic equipment
    • Research Institution
      National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

All 2017 2016 2015 2014

All Journal Article Presentation

  • [Journal Article] Impact of residual defects caused by extension ion implantation in FinFETs on parasitic resistance and its fluctuation2017

    • Author(s)
      T. Matsukawa, Y. Liu, T. Mori, Y. Morita, S. Otsuka, S. O’uchi, H. Fuketa, S. Migita, and M. Masahara
    • Journal Title

      Solid-State Electronics

      Volume: 132 Pages: 103-108

    • DOI

      10.1016/j.sse.2017.03.014

    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26289113
  • [Journal Article] 先端CMOSトランジスタにおけるフリッカノイズ対策2015

    • Author(s)
      松川 貴、柳 永勛、福田 浩一、大内 真一、昌原 明植
    • Journal Title

      月刊EMC

      Volume: 印刷中

    • Acknowledgement Compliant
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26289113
  • [Journal Article] Impact of granular work function variation in a gate electrodeon low-frequency noise for fin field-effect transistors2015

    • Author(s)
      T. Matsukawa, K. Fukuda, Y.X. Liu, J. Tsukada, H. Yamauchi, K. Endo, Y. Ishikawa, S. O’uchi, S. Migita, Y. Morita, W. Mizubayashi, H. Ota, and M. Masahara
    • Journal Title

      Applied Physics Express

      Volume: 8 Issue: 4 Pages: 044201-044201

    • DOI

      10.7567/apex.8.044201

    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26289113
  • [Journal Article] 先端CMOSトランジスタにおけるフリッカノイズ対策2015

    • Author(s)
      松川 貴、柳 永勛、福田浩一、大内真一、昌原明植
    • Journal Title

      月刊EMC

      Volume: 28巻11号 Pages: 208-213

    • Acknowledgement Compliant
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26289113
  • [Journal Article] 非晶質金属ゲート電極FinFETによるばらつき・低周波ノイズ抑制とアナログ・デジタル回路のスケーリング限界の改善2015

    • Author(s)
      松川 貴、福田浩一、柳 永勛、塚田順一、山内洋美、石川由紀、遠藤和彦、大内真一、右田真司、水林 亘、森田行則、太田裕之、昌原明植
    • Journal Title

      シリコンテクノロジー

      Volume: 177 Pages: 42-45

    • Acknowledgement Compliant
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26289113
  • [Journal Article] Scaling breakthrough for analog/digital circuits by suppressing variability and low-frequency noise for FinFETs by amorphous metal gate technology2014

    • Author(s)
      T. Matsukawa, K. Fukuda, Y.X. Liu, J. Tsukada, H. Yamauchi, Y. Ishikawa, K. Endo, S. O’uchi, S. Migita, W. Mizubayashi, Y. Morita, H. O ta, and M. Masahara
    • Journal Title

      Technical Digest of 2014 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)

      Volume: - Pages: 299-312

    • DOI

      10.1109/iedm.2014.7047035

    • NAID

      110010010022

    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26289113
  • [Presentation] FinFET寄生抵抗ばらつきの解析:エクステンションドーピング条件の影響2016

    • Author(s)
      松川 貴,森 貴洋,森田行則,大塚慎太郎, 柳 永勛,大内真一,更田裕司,右田真司,昌原明植
    • Organizer
      2016年応用物理学会秋期学術講演会
    • Place of Presentation
      朱鷺メッセ(新潟県新潟市)
    • Year and Date
      2016-09-13
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26289113
  • [Presentation] FinFETにおける特性ばらつきと低周波ノイズの抑制技術2015

    • Author(s)
      松川 貴、福田浩一、柳 永勛、塚田順一、山内洋美、石川由紀、遠藤和彦、大内真一、右田真司、水林 亘、森田行則、太田裕之、昌原明植
    • Organizer
      応用物理学会春期学術講演会
    • Place of Presentation
      東海大学湘南キャンパス (神奈川県)
    • Year and Date
      2015-03-11
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26289113
  • [Presentation] 非晶質金属ゲート電極FinFETによるばらつき・低周波ノイズ抑制とアナログ・デジタル回路のスケーリング限界の改善2015

    • Author(s)
      松川 貴、福田浩一、柳 永勛、塚田順一、山内洋美、石川由紀、遠藤和彦、大内真一、右田真司、水林 亘、森田行則、太田裕之、昌原明植
    • Organizer
      電子情報通信学会 シリコン材料・デバイス研究会 (SDM)
    • Place of Presentation
      機械振興会館 (東京都)
    • Year and Date
      2015-01-27
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26289113
  • [Presentation] CMOS FinFETによる低コストテラヘルツ波発生器の検討2014

    • Author(s)
      松川 貴、柳原昌志、柳 永勛、大野守史、田所宏文、昌原明植
    • Organizer
      応用物理学会秋期学術講演会
    • Place of Presentation
      北海道大学(北海道)
    • Year and Date
      2014-09-19
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26289113
  • [Presentation] Scaling breakthrough for analog/digital circuits by suppressing variability and low-frequency noise for FinFETs by amorphous metal gate technology2014

    • Author(s)
      T. Matsukawa, K. Fukuda, Y.X. Liu, J. Tsukada, H. Yamauchi, Y. Ishikawa, K. Endo, S. O’uchi, S. Migita, W. Mizubayashi, Y. Morita, H. Ota, and M. Masahara
    • Organizer
      2014 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)
    • Place of Presentation
      Hilton San Francisco Union Square (San Francisco, USA)
    • Year and Date
      2014-12-16
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26289113
  • [Presentation] 金属ゲートの仕事関数ばらつきによるFinFETのDIBLばらつきの解析2014

    • Author(s)
      松川 貴、福田浩一、柳 永勛、遠藤和彦、塚田順一、山内洋美、石川由紀、大内真一、右田真司、水林 亘、森田行則、太田裕之、昌原明植
    • Organizer
      応用物理学会秋期学術講演会
    • Place of Presentation
      北海道大学(北海道)
    • Year and Date
      2014-09-18
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-26289113
  • 1.  Matsukawa Takashi (70287986)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 12 results
  • 2.  柳 永勲 (90312610)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 12 results

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