FUJIMOTO Daisuke 藤本大介

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Fujimoto Daisuke 藤本大介

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Researcher Number	60732336
Other IDs
Affiliation (Current)	2026: 奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 准教授
Affiliation (based on the past Project Information) *help	2023 – 2025: 奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 准教授 2018 – 2022: 奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 助教 2017: 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助教
Review Section/Research Field	Principal Investigator Basic Section 60070:Information security-related Except Principal Investigator Medium-sized Section 60:Information science, computer engineering, and related fields / Basic Section 21020:Communication and network engineering-related / The Information Society and Trust / Information security
Keywords	Principal Investigator ハードウェアセキュリティ / センサーセキュリティ / 計測セキュリティ / 評価基盤 / 電磁波注入攻撃 / 乱数生成器 / 電磁妨害 / 物理乱数生成器 / 物理乱数生成 / 周波数ロック攻撃 … More / 物理攻撃 / 真性乱数生成器 / 電磁的情報漏えい / 電磁波攻撃 / 電磁環境両立性 / ToF方式センサ / センサセキュリティ … More Except Principal Investigator サイドチャネル攻撃 / 電磁情報セキュリティ / 意図的電磁妨害 / 真正性保証 / 電磁波セキュリティ / 暗号・認証など / 電磁環境 / CT-Scan / FDTD / 基板の誘電率 / SI/EMI / USBコネクタ / 電磁的情報漏えい / ハードウェアセキュリティ / 電磁放射 / 暗号・認証 / 環境電磁工学 / 故障利用解析 / 計測セキュリティ / 暗号・認証等 / 電子デバイス・機器 / 計算機システム / 情報システム / ディスプレイ / スマートデバイス Less

物理攻撃耐性を有する真性乱数生成基盤技術の開発Principal Investigator
- Principal Investigator
  
  藤本大介
- Project Period (FY)
  2024 – 2026
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
- Review Section
  
  Basic Section 60070:Information security-related
- Research Institution
  Nara Institute of Science and Technology
20GHz超の帯域おける構造の不連続問題を含む信号線路の信頼性解析と機能評価
- Principal Investigator
  
  春日貴志
- Project Period (FY)
  2024 – 2026
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- Review Section
  
  Basic Section 21020:Communication and network engineering-related
- Research Institution
  Nagano National College of Technology
物理層のデータ改ざんに対抗する環境電磁工学的アプローチによる対策基盤の開拓
- Principal Investigator
  
  林優一
- Project Period (FY)
  2023 – 2027
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
- Review Section
  
  Medium-sized Section 60:Information science, computer engineering, and related fields
- Research Institution
  Nara Institute of Science and Technology
Acquiring Resistance against Threats of Information Leakage due to Intentional Electromagnetic Irradiation Exposure to Electronic Devices
- Principal Investigator
  
  Hayashi Yuichi
- Project Period (FY)
  2021 – 2022
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Challenging Research (Exploratory)
- Review Section
  
  Medium-sized Section 60:Information science, computer engineering, and related fields
- Research Institution
  Nara Institute of Science and Technology
Evaluation of attack methods through electromagnetic waves on sensors and study of countermeasuresPrincipal Investigator
- Principal Investigator
  
  Fujimoto Daisuke
- Project Period (FY)
  2020 – 2021
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
- Review Section
  
  Basic Section 60070:Information security-related
- Research Institution
  Nara Institute of Science and Technology
Advancing Device Design Techniques to Obfuscate the Measurement of Electromagnetic Information Leakage
- Principal Investigator
  
  Hayashi Yuichi
- Project Period (FY)
  2019 – 2022
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
- Review Section
  
  Medium-sized Section 60:Information science, computer engineering, and related fields
- Research Institution
  Nara Institute of Science and Technology
Establishment of a Trusted Platform at the Physical Layer to Guarantee the Authenticity of Sensing Information
- Principal Investigator
  
  Hayashi Yuichi
- Project Period (FY)
  2018 – 2020
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
- Research Field
  
  The Information Society and Trust
- Research Institution
  Nara Institute of Science and Technology
Fundamental study on security requirements for measuring devices and development of countermeasure technologyPrincipal Investigator
- Principal Investigator
  
  Fujimoto Daisuke
- Project Period (FY)
  2018 – 2019
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
- Review Section
  
  Basic Section 60070:Information security-related
- Research Institution
  Nara Institute of Science and Technology
Development of Countermeasures against Remote Visualization of Screen Images Using EM Emanation from Smart Devices in Public Space
- Principal Investigator
  
  Hayashi Yuichi
- Project Period (FY)
  2016 – 2018
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
- Research Field
  
  Information security
- Research Institution
  Nara Institute of Science and Technology
  Tohoku Gakuin University

All 2025 2024 2023 2022 2021 2020 2019 2018 2017

All Journal Article Presentation

[Journal Article] Fundamental Study on Detection of Counterfeit Parts with Abnormal Aging Characteristics Using Electromagnetic Backscattering from I/O Circuits2024
- Author(s)
  Kaji Shugo、Kinugawa Masahiro、Fujimoto Daisuke、Hayashi Yuichi
- Journal Title
  
  Proceedings of 2024 14th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo)
  
  Volume: - Pages: 185-188
- DOI
  10.1109/emceurope59828.2024.10722575
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-22H04999, KAKENHI-PROJECT-23H00472
[Journal Article] Controlling Faulty Byte Outputs with IEMI againstCryptographic ICs2024
- Author(s)
  Hikaru Nishiyama,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi
- Journal Title
  
  EMC COMPO
  
  Volume: EMC Compo 2024 Pages: 131-135
- DOI
  10.1109/emccompo61192.2024.10742058
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23H00472
[Journal Article] Timing-Controlled EM Fault Injection Method Focusing on EM Leakage from Communication Channel2024
- Author(s)
  Hikaru Nishiyama,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi
- Journal Title
  
  EMC Europe
  
  Volume: Proc. EMC Europe 2024 Pages: 193-197
- DOI
  10.1109/emceurope59828.2024.10722180
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23H00472
[Journal Article] Fault Injection Caused by Phase-Locked Loop Compromised With IEMI2024
- Author(s)
  H. Nishiyama, D. Fujimoto and Y. Hayashi
- Journal Title
  
  IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility
  
  Volume: 67 Issue: 2 Pages: 538-544
- DOI
  10.1109/temc.2024.3468337
- Peer Reviewed / Open Access
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23H00472
[Journal Article] 情報基盤を支えるハードウェアセキュリティ技術2024
- Author(s)
  林優一、藤本大介
- Journal Title
  
  電波技術協会誌
  
  Volume: 2023 Pages: 26-29
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23H00472
[Journal Article] Fundamental Study on Detecting Hardware Trojans in Printed Circuit Boards Using Ring Oscillators2024
- Author(s)
  Abe Koki、Fujimoto Daisuke、Hayashi Yuichi
- Journal Title
  
  Proceedings of 2024 14th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo)
  
  Volume: - Pages: 1-4
- DOI
  10.1109/emccompo61192.2024.10742048
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-22H04999, KAKENHI-PROJECT-23H00472
[Journal Article] Echo TEMPEST: EM Information Leakage Induced by IEMI for Electronic Devices2023
- Author(s)
  Kaji Shugo、Fujimoto Daisuke、Kinugawa Masahiro、Hayashi Yuichi
- Journal Title
  
  IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility
  
  Volume: 2023 Issue: 3 Pages: 1-12
- DOI
  10.1109/temc.2023.3252636
- Peer Reviewed / Open Access
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104, KAKENHI-PROJECT-21K19772, KAKENHI-PROJECT-22K12031, KAKENHI-PROJECT-22H04999
[Journal Article] Improvement of IEMI Fault Injection from Outside Cryptographic Devices2023
- Author(s)
  Hikaru Nishiyama, Daisuke Fujimoto, Hideaki Sone, Yuichi Hayashi
- Journal Title
  
  2023 XXXVth URSI General Assembly and Scientific Symposium (URSI GASS 2023)
  
  Volume: 2023 Pages: 1-1
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23H00472
[Journal Article] Enhanced Modulation Degree of Leakage Wave Induced by IEMI via Nonlinear Circuit Elements2023
- Author(s)
  Kaji Shugo、Fujimoto Daisuke、Hayashi Yuichi
- Journal Title
  
  Proceedings of 2023 IEEE Symposium on Electromagnetic Compatibility & Signal/Power Integrity (EMC SIPI)
  
  Volume: - Pages: 487-487
- DOI
  10.1109/emcsipi50001.2023.10241593
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-22H04999, KAKENHI-PROJECT-23H00472
[Journal Article] Evaluation of Statistical Fault Analysis Using Input Timing Violation of Sequential Circuit on Cryptographic Module Under IEMI2023
- Author(s)
  Fujimoto Daisuke、Okamoto Takumi、Li Yang、Kim Youngwoo、Hayashi Yuichi
- Journal Title
  
  IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility
  
  Volume: 65 Issue: 1 Pages: 51-57
- DOI
  10.1109/temc.2022.3215583
- Peer Reviewed / Open Access
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104, KAKENHI-PROJECT-21K19772
[Journal Article] Remote Fault Injection Attack against Cryptographic Modules via Intentional Electromagnetic Interference from an Antenna2023
- Author(s)
  Nishiyama Hikaru、Fujimoto Daisuke、Hayashi Yuichi
- Journal Title
  
  2023 Workshop on Attacks and Solutions in Hardware Security(ASHES 2023)
  
  Volume: 2023 Pages: 93-102
- DOI
  10.1145/3605769.3623991
- Peer Reviewed / Open Access
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23H00472
[Journal Article] Efficient Noninvasive Fault Injection Method Utilizing Intentional Electromagnetic Interference2023
- Author(s)
  Nishiyama Hikaru、Fujimoto Daisuke、Sone Hideaki、Hayashi Yuichi
- Journal Title
  
  IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility
  
  Volume: 2023 Issue: 4 Pages: 1-9
- DOI
  10.1109/temc.2023.3264586
- Peer Reviewed / Open Access
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104, KAKENHI-PROJECT-21K19772, KAKENHI-PROJECT-21K03995
[Journal Article] A Novel Remote Visualization of Screen Images Against High-Resolution Display With Divided Screens Focusing on the Difference of Transfer Function of Multiple Emanations2022
- Author(s)
  Kitazawa Taiki、Arai Kimihiro、Kim Youngwoo、Fujimoto Daisuke、Hayashi Yuichi
- Journal Title
  
  IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility
  
  Volume: 64 Issue: 6 Pages: 1941-1948
- DOI
  10.1109/temc.2022.3204357
- Peer Reviewed / Open Access
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104
[Journal Article] Simultaneous Security and EMC Evaluations Based on Measuring Electromagnetic Field Distribution on PCBs2022
- Author(s)
  Kim Youngwoo、Fujimoto Daisuke、Hayashi Yuichi
- Journal Title
  
  IEEE Electromagnetic Compatibility Magazine
  
  Volume: 11 Issue: 3 Pages: 84-92
- DOI
  10.1109/memc.2022.9982569
- Peer Reviewed / Open Access
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104
[Journal Article] Electromagnetic Side-Channel Analysis Against TERO-Based TRNG2022
- Author(s)
  Osuka Saki、Fujimoto Daisuke、Kawamura Shinichi、Hayashi Yuichi
- Journal Title
  
  IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility
  
  Volume: 64 Issue: 5 Pages: 1288-1295
- DOI
  10.1109/temc.2022.3189372
- Peer Reviewed / Open Access
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104
[Journal Article] TEMPEST attack against high-resolution displays using differences in the transfer function of EM waves2022
- Author(s)
  Kitazawa Taiki、Kitamura Yoshiki、Kim Yougwoo、Fujimoto Daisuke、Sone Hideaki、Hayashi Yuichi
- Journal Title
  
  2022 3rd URSI Atlantic and Asia Pacific Radio Science Meeting
  
  Volume: 2022 Pages: 1-4
- DOI
  10.23919/at-ap-rasc54737.2022.9814293
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-21K19772
[Journal Article] Measurement and Analysis of Electromagnetic Information Leakage From Printed Circuit Board Power Delivery Network of Cryptographic Devices2021
- Author(s)
  Wada Shinpei、Hayashi Yuichi、Fujimoto Daisuke、Homma Naofumi、Kim Youngwoo
- Journal Title
  
  IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility
  
  Volume: 2021 Issue: 5 Pages: 1-11
- DOI
  10.1109/temc.2021.3062417
- Peer Reviewed / Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104, KAKENHI-PROJECT-20K14719
[Journal Article] A Fundamental Evaluation of EM Information Leakage Induced by IEMI for a Device with Differential Signaling2021
- Author(s)
  Kaji Shugo、Fujimoto Daisuke、Kim Youngwoo、Hayashi Yuichi
- Journal Title
  
  2021Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility
  
  Volume: 2021 Pages: 1-4
- DOI
  10.1109/apemc49932.2021.9597081
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104
[Journal Article] Comparison of Pearson correlation coefficient and distance correlation in Correlation Power Analysis on Digital Multiplier2020
- Author(s)
  Kundrata Jurica、Fujimoto Daisuke、Hayashi Yuichi、Baric Adrijan
- Journal Title
  
  2020 43rd International Convention on Information, Communication and Electronic Technology
  
  Volume: 2020 Pages: 146-151
- DOI
  10.23919/mipro48935.2020.9245325
- Peer Reviewed / Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104
[Journal Article] Statistical Eye-Diagram Estimation Method Considering Power/Ground Noise Induced by Simultaneous Switching Output (SSO) Buffers2020
- Author(s)
  Youngwoo Kim , Daisuke Fujimoto, Shugo Kaji, Shinpei Wada, HyunwookPark, Daehwan Lho, Joungho Kim, and Yuichi Hayashi
- Journal Title
  
  IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility
  
  Volume: 2020 Issue: 6 Pages: 1-11
- DOI
  10.1109/temc.2020.2975202
- Peer Reviewed / Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104, KAKENHI-PROJECT-20K14719
[Journal Article] Fundamental Study on Influence of Intentional Electromagnetic Interference on IC Communication2019
- Author(s)
  Hikaru Nishiyama, Takumi Okamoto, Kim Young Woo, Daisuke Fujimoto and Yuichi Hayashi
- Journal Title
  
  2019 12th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo)
  
  Volume: 2019 Pages: 201-203
- DOI
  10.1109/emccompo.2019.8919838
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18KT0050
[Journal Article] Electromagnetic Information Extortion from Electronic Devices Using Interceptor and Its Countermeasure2019
- Author(s)
  Masahiro Kinugawa, Daisuke Fujimoto and Yuichi Hayashi
- Journal Title
  
  IACR Transactions on Cryptographic Hardware and Embedded Systems
  
  Volume: 2019 Pages: 62-90
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18K18050
[Journal Article] Electromagnetic Information Extortion from Electronic Devices Using Interceptor and Its Countermeasure2019
- Author(s)
  Masahiro Kinugawa, Daisuke Fujimoto and Yuichi Hayashi
- Journal Title
  
  IACR Transactions on Cryptographic Hardware and Embedded Systems (TCHES)
  
  Volume: 2019 Pages: 62-90
- Peer Reviewed / Open Access
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18KT0050
[Journal Article] Method for Identifying Individual Electronic Devices Focusing on Differences in Spectrum Emissions2019
- Author(s)
  Shugo Kaji, Masahiro Kinugawa, Daisuke Fujimoto, Laurent Sauvage, Jean-Luc Danger, Yuichi Hayashi
- Journal Title
  
  2019 Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility
  
  Volume: 2019 Pages: 670-670
- Peer Reviewed / Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18KT0050
[Journal Article] Fundamental Study on the Effects of Connector Torque Value on the Change of Inductance at the Contact Boundary2019
- Author(s)
  Daisuke FUJIMOTO, Takashi NARIMATSU, Yuichi HAYASHI
- Journal Title
  
  IEICE Trans. Electron.
  
  Volume: E102.C Issue: 9 Pages: 636-640
- DOI
  10.1587/transele.2019EMP0005
- NAID
  130007699870
- ISSN
  0916-8524, 1745-1353
- Year and Date
  2019-09-01
- Language
  English
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18KT0050, KAKENHI-PROJECT-18K18050
[Journal Article] Statistical Analysis of Simultaneous Switching Output (SSO) Impacts on Steady State Output Responses and Signal Integrity2019
- Author(s)
  Young Woo Kim, Daisuke Fujimoto, Hikaru Nishiyama, Daehwan Lho, Hyunwook Park, Joungho Kim and Yuichi Hayashi
- Journal Title
  
  2019 12th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo)
  
  Volume: 2019 Pages: 138-140
- DOI
  10.1109/emccompo.2019.8919652
- Peer Reviewed / Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104
[Journal Article] Data Injection Attack Against Electronic Devices With Locally Weakened Immunity Using a Hardware Trojan2018
- Author(s)
  S. Kaji, M. Kinugawa, D. Fujimoto, and Y. Hayashi
- Journal Title
  
  IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility
  
  Volume: 99 Issue: 4 Pages: 1-7
- DOI
  10.1109/temc.2018.2849105
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16H02831
[Journal Article] EM Information Security Threats Against RO-Based TRNGs: The Frequency Injection Attack Based on IEMI and EM Information Leakage2018
- Author(s)
  S. Osuka, D. Fujimoto, Y. Hayashi, N. Homma, A. Beckers, J. Balasch, B. Gierlichs and I. Verbauwhede
- Journal Title
  
  IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility
  
  Volume: 99 Issue: 4 Pages: 1-7
- DOI
  10.1109/temc.2018.2844027
- NAID
  130007887912
- Peer Reviewed / Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16H02831
[Journal Article] Noise Monitoring Method Inside IC using Full-digital Circuits under Actual Environment2018
- Author(s)
  藤本大介, 林優一
- Journal Title
  
  IEEJ Transactions on Fundamentals and Materials
  
  Volume: 138 Issue: 6 Pages: 335-340
- DOI
  10.1541/ieejfms.138.335
- NAID
  130007382648
- ISSN
  0385-4205, 1347-5533
- Year and Date
  2018-06-01
- Language
  Japanese
- Peer Reviewed
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16H02831
[Presentation] 暗号モジュールへの故障注入対策に向けた複数の位相同期回路の構成法に関する検討2025
- Author(s)
  西山輝,藤本大介,林優一
- Organizer
  ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23K28087
[Presentation] ケーブル幾何構造の操作により構成されるハードウェアトロージャンにより引き起こされる電磁情報漏えい評価2025
- Author(s)
  井出隼人,松本匠平,北澤太基,鍛治秀伍,藤本大介,春日貴志,林優一
- Organizer
  暗号と情報セキュリティシンポジウム
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23H00472
[Presentation] 暗号モジュールへの故障注入対策に向けた複数の位相同期回路の構成法に関する検討2025
- Author(s)
  西山輝,藤本大介,林優一
- Organizer
  ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23H00472
[Presentation] TRNG On-the-fly Testを実装したPLL-TRNGに対する振幅変調波を用いた周波数注入攻撃2025
- Author(s)
  西山輝,藤本大介,林優一
- Organizer
  暗号と情報セキュリティシンポジウム
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23H00472
[Presentation] RNG On-the-fly Testを実装したPLL-TRNGに対する振幅変調波を用いた周波数注入攻撃2025
- Author(s)
  西山輝,藤本大介,林優一
- Organizer
  暗号と情報セキュリティシンポジウム
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23K28087
[Presentation] A Feasibility of Self-Interference Suppression Method in Echo TEMPEST Using Frequency Conversion2024
- Author(s)
  Ryo Nagoshi,Shugo Kaji,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi
- Organizer
  EMC Joint Workshop 2024, Bangkok
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23H00472
[Presentation] サイドチャネル情報を用いた誤りバイト数推定に基づく故障利用攻撃の効率化に関する基礎検討2024
- Author(s)
  大貫和基,西山輝,藤本大介,林優一
- Organizer
  ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23K28087
[Presentation] ICからのバックスキャッタを用いた経年劣化評価の高速化の検討2024
- Author(s)
  渡辺　諒,鍛治秀伍,藤本大介,林優一
- Organizer
  ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23K28087
[Presentation] 位相同期回路を用いた真性乱数生成器に対する振幅変調波を用いた乱数性操作に関する検討2024
- Author(s)
  西山輝,藤本大介,林優一,川村信一
- Organizer
  ハードウェアセキュリティフォーラム
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23H00472
[Presentation] Timing-Controlled EM Fault Injection Method Focusing on EM Leakage from Communication Channel2024
- Author(s)
  Hikaru Nishiyama,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi
- Organizer
  EMC Europe
- Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23K28087
[Presentation] オンチップ測定によるリングオシレータの周波数変動を用いたプリント基板上のハードウェアトロージャン検知2024
- Author(s)
  阿部虹稀,藤本大介,林優一
- Organizer
  ハードウェアセキュリティフォーラム
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23H00472
[Presentation] ケーブル幾何構造の操作により構成されるハードウェアトロージャンにより引き起こされる電磁情報漏えい評価2024
- Author(s)
  井出隼人・松本匠平・北澤太基・鍛治秀伍・藤本大介・春日貴志・林優一
- Organizer
  SCIS2025
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-24K07498
[Presentation] ICからのバックスキャッタを用いた経年劣化評価の高速化の検討2024
- Author(s)
  渡辺　諒,鍛治秀伍,藤本大介,林優一
- Organizer
  ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23H00472
[Presentation] Controlling Faulty Byte Outputs with IEMI againstCryptographic ICs2024
- Author(s)
  Hikaru Nishiyama,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi
- Organizer
  EMC COMPO
- Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23K28087
[Presentation] 誤り検出符号と振幅分布に着目した漏えい電磁波からのビット列復元に関する基礎検討2024
- Author(s)
  阿部虹稀, 北澤太基, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  ハードウェアセキュリティ研究会 (HWS)
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23H00472
[Presentation] A Feasibility of Self-Interference Suppression Method in Echo TEMPEST Using Frequency Conversion2024
- Author(s)
  Ryo Nagoshi,Shugo Kaji,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi
- Organizer
  EMC Joint Workshop 2024
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23K28087
[Presentation] 20GHz超におけるFR-4基板の複素誘電率と信号伝送特性の検討2024
- Author(s)
  赤塚優輝・内藤さくら・北澤太基・富岡雅弘・藤本大介・CHAKAROTHAI Jerdvisanop・林優一・春日貴志
- Organizer
  電子情報通信学会技術研究報告 EMCJ2024-42
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-24K07498
[Presentation] 入出力回路からのバックスキャッタリングを用いた経年劣化検出手法に関する基礎検討2024
- Author(s)
  鍛治秀伍,衣川昌宏,藤本大介,林優一
- Organizer
  ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23H00472
[Presentation] リングオシレータを用いたプリント基板上のハードウェアトロージャン検知に関する基礎検討2024
- Author(s)
  阿部虹稀,藤本大介,林優一
- Organizer
  ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23K28087
[Presentation] 入出力回路からのバックスキャッタリングを用いた経年劣化検出手法に関する基礎検討2024
- Author(s)
  鍛治秀伍,衣川昌宏,藤本大介,林優一
- Organizer
  ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23K28087
[Presentation] 20GHz超におけるBCDRとフリースペース法を用いたプリント基板の複素誘電率測定2024
- Author(s)
  内藤さくら・赤塚優輝・北澤太基・富岡雅弘・藤本大介・CHAKAROTHAI Jerdvisanop・林優一・春日貴志
- Organizer
  電子情報通信学会技術研究報告 EMCJ2024-41
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-24K07498
[Presentation] Fundamental Study on Detecting Hardware Trojans in Printed Circuit Boards Using Ring Oscillators2024
- Author(s)
  Koki Abe,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi
- Organizer
  EMC COMPO
- Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23K28087
[Presentation] リングオシレータを用いたプリント基板上のハードウェアトロージャン検知に関する基礎検討2024
- Author(s)
  阿部虹稀,藤本大介,林優一
- Organizer
  ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23H00472
[Presentation] Detection Method for Hardware Trojans in PCBs and Peripherals Using Oscillation Frequency Changes in Digital Ring Oscillators2024
- Author(s)
  Koki Abe,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi
- Organizer
  Asian Hardware Oriented Security and Trust Symposium
- Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23H00472
[Presentation] 位相同期回路を用いた真性乱数生成器に対する周波数注入攻撃に関する基礎検討2024
- Author(s)
  西山　輝,藤本大介,林優一
- Organizer
  ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23K28087
[Presentation] Fundamental Study on Detection of Counterfeit Parts with Abnormal Aging Characteristics Using Electromagnetic Backscattering from I/O Circuits2024
- Author(s)
  Shugo Kaji,Masahiro Kinugawa,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi
- Organizer
  EMC Europe
- Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23K28087
[Presentation] Detection Method for Hardware Trojans in PCBs and Peripherals Using Oscillation Frequency Changes in Digital Ring Oscillators2024
- Author(s)
  Koki Abe,Daisuke Fujimoto,Yuichi Hayashi
- Organizer
  Asian Hardware Oriented Security and Trust Symposium
- Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23K28087
[Presentation] 位相同期回路を用いた真性乱数生成器に対する周波数注入攻撃に関する基礎検討2024
- Author(s)
  西山　輝,藤本大介,林優一
- Organizer
  ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23H00472
[Presentation] 高速通信用基板材料の複素誘電率測定2024
- Author(s)
  大日方快至・内藤さくら・赤塚優輝・富岡雅弘・春日貴志・藤本大介・林優一
- Organizer
  高速信号伝送評価センター学生研究発表会, HSTE-2024-03
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-24K07498
[Presentation] オンチップ測定によるリングオシレータの周波数変動を用いたプリント基板上のハードウェアトロージャン検知2024
- Author(s)
  阿部虹稀,藤本大介,林優一
- Organizer
  ハードウェアセキュリティフォーラム
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23K28087
[Presentation] 位相同期回路を用いた真性乱数生成器に対する振幅変調波を用いた乱数性操作に関する検討2024
- Author(s)
  西山輝,藤本大介,林優一,川村信一
- Organizer
  ハードウェアセキュリティフォーラム
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23K28087
[Presentation] サイドチャネル情報を用いた誤りバイト数推定に基づく故障利用攻撃の効率化に関する基礎検討2024
- Author(s)
  大貫和基,西山輝,藤本大介,林優一
- Organizer
  ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23H00472
[Presentation] ケーブル周辺構造の操作により発現するハードウェアトロージャンによる電磁的情報漏えいに関する検討2024
- Author(s)
  井出隼人・北澤太基・鍛治秀伍・藤本大介・春日貴志・林優一
- Organizer
  2025年電子情報通信学会総合大会, A-19-04, 2025.03
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-24K07498
[Presentation] X線CTによる高速伝送用コネクタの3次元モデル化と電磁界解析評価2024
- Author(s)
  内藤さくら・新村奨・赤塚優輝・富岡雅弘・春日貴志・藤本大介・林優一・中村篤
- Organizer
  電子情報通信学会技術研究報告 EMD2024-34
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-24K07498
[Presentation] 意図的な電磁波照射に対するカメラシステムのイミュニティ評価2023
- Author(s)
  田中美優, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23K28087
[Presentation] 漏えい電磁波に含まれる符号化された情報に対する復元と外来雑音による影響の考察2023
- Author(s)
  阿部虹稀, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  ハードウェアセキュリティフォーラム
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23H00472
[Presentation] 複数の位相同期回路を用いた暗号モジュールへの故障注入の抑制手法に関する検討2023
- Author(s)
  西山輝, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  ハードウェアセキュリティフォーラム
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23H00472
[Presentation] ROベースのTRNGに対する振幅確率分布を用いた乱数性評価手法2023
- Author(s)
  尾崎慧一, 藤本大介, 大須賀彩希, 川村信一, 林優一
- Organizer
  2023年暗号と情報セキュリティシンポジウム
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-21K19772
[Presentation] ROベースのTRNGに対する振幅確率分布を用いた乱数性評価手法2023
- Author(s)
  尾崎慧一, 藤本大介, 大須賀彩希, 川村信一, 林優一
- Organizer
  2023年暗号と情報セキュリティシンポジウム
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104
[Presentation] 相同期回路の周波数逓倍比が暗号モジュールへの故障注入に与える影響に関する基礎検討2023
- Author(s)
  西山輝, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  電磁環境工学研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23K28087
[Presentation] スイッチングレギュレータからのバックスキャッタリングに着目したサイドチャネル攻撃に関する基礎検討2023
- Author(s)
  北澤太基, 鍛治秀伍, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  環境電磁工学研究会 (EMCJ)
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23H00472
[Presentation] 漏えいと妨害電磁波を用いた暗号モジュールに対する統計故障解析2023
- Author(s)
  西山輝, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  2023年暗号と情報セキュリティシンポジウム
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-21K19772
[Presentation] Remote Fault Injection Attack against Cryptographic Modules via Intentional Electromagnetic Interference from an Antenna2023
- Author(s)
  Hikaru Nishiyama, Daisuke Fujimoto, Yuichi Hayashi
- Organizer
  the 2023 Workshop on Attacks and Solutions in Hardware Security
- Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23K28087
[Presentation] 漏えいと妨害電磁波を用いた暗号モジュールに対する統計故障解析2023
- Author(s)
  西山輝, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  2023年暗号と情報セキュリティシンポジウム
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104
[Presentation] 意図的な電磁波照射に対するカメラシステムのイミュニティ評価2023
- Author(s)
  田中美優, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  ハードウェアセキュリティ研究会 (HWS)
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23H00472
[Presentation] 位相同期回路へのグリッチ注入に基づく故障利用解析の基礎検討2023
- Author(s)
  西山輝, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23K28087
[Presentation] 漏えい電磁波に含まれる符号化された情報の復元に関する基礎検討2023
- Author(s)
  阿部虹稀, 北澤太基, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  2023年電子情報通信学会ソサイエティ大会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23H00472
[Presentation] 位相同期回路へのグリッチ注入に基づく故障利用解析の基礎検討2023
- Author(s)
  西山輝, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  ハードウェアセキュリティ研究会 (HWS)
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23H00472
[Presentation] 位相同期回路の周波数逓倍比が暗号モジュールへの故障注入に与える影響に関する基礎検討2023
- Author(s)
  西山輝, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  環境電磁工学研究会 (EMCJ)
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-23H00472
[Presentation] 静電容量センサの出力分布に着目したID生成手法に関する基礎検討2022
- Author(s)
  鍛治秀伍, 太刀掛彩希, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  電子情報通信学会ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104
[Presentation] IEMI Fault Injection Method using Continuous sinusoidal Wave with Controlled Frequency , Amplitude, and Phase2022
- Author(s)
  Hikaru Nishiyama, Daisuke Fujimoto, Youngwoo Kim, Yuichi Hayashi
- Organizer
  The 13th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo 2021)
- Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-20K19800
[Presentation] 音声の周波数スペクトルに着目したスピーカーフォンからの電磁的情報漏えい評価法2022
- Author(s)
  上田浩行, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  電子情報通信学会ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-20K19800
[Presentation] 通信線路上のハードウェアトロイによる電磁情報漏えい評価法の検討～変調度と放射強度に着目した評価～2022
- Author(s)
  湯川大雅, 鍛治秀伍, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104
[Presentation] 意図的な電磁妨害により生ずる情報漏えいのモデル化に向けた評価環境の構築2022
- Author(s)
  高野誠也, 鍛治秀伍, 衣川昌宏, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  電子情報通信学会環境電磁工学研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-21K19772
[Presentation] 暗号機器のプリント基板上の電源供給ネットワークにおける電磁的情報漏えい抑制に関する基礎検討2022
- Author(s)
  和田慎平, 藤本大介, 林優一, キムヨンウ
- Organizer
  電子情報通信学会環境電磁工学研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104
[Presentation] 位相限定相関法を用いた意図的な電磁情報漏えい耐性評価法2022
- Author(s)
  鍛治秀伍, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  電子情報通信学会総合大会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-21K19772
[Presentation] オンチップセンサを用いた線路上のハードウェアトロージャン検知に関する基礎検討2022
- Author(s)
  西鳥羽陽, 鍛治秀伍, 衣川昌宏, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104
[Presentation] 意図的な電磁妨害により生ずる情報漏えいのモデル化に向けた評価環境の構築2022
- Author(s)
  高野誠也, 鍛治秀伍, 衣川昌宏, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  電子情報通信学会環境電磁工学研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104
[Presentation] ERO-TRNGに対する振幅確率分布を用いた乱数性評価に関する基礎検討2022
- Author(s)
  尾崎慧一, 藤本大介, 大須賀彩希, 川村信一, 林優一
- Organizer
  電子情報通信学会ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104
[Presentation] 利用環境を考慮したディスプレイからの電磁的漏えい強度の評価2022
- Author(s)
  北村圭輝, 北澤太基, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  電子情報通信学会ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104
[Presentation] 薄膜高誘電率基板を用いた低インピーダンスPDNによるクロストーク抑制効果の解析2022
- Author(s)
  北澤太基, キムヨンウ, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  電子情報通信学会環境電磁工学研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104
[Presentation] マトリクス型Direct ToF Lidarの攻撃耐性評価環境の構築2022
- Author(s)
  鈴木雅人, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  電子情報通信学会ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-20K19800
[Presentation] Investigation of the Effect of Temperature on Fault Injection Using Intentional Electromagnetic Interference2021
- Author(s)
  Daisuke Fujimoto, Yuichi Hayashi
- Organizer
  2021 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility (APEMC)
- Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-20K19800
[Presentation] 複数の漏えい周波数に着目した高解像度ディスプレイからの画面情報復元に関する検討2021
- Author(s)
  荒井公寛, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  電子情報通信学会・ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104
[Presentation] 接触境界の表面粗さとトルク値がコネクタ高周波特性に与える影響に関する基礎検討2021
- Author(s)
  上田浩行, 鍛治秀伍, 藤本大介, キムヨンウ, 林優一
- Organizer
  電子情報通信学会・機構デバイス研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104
[Presentation] リモートワーク環境におけるスピーカーフォンからの電磁波を通じた情報漏えい評価2021
- Author(s)
  福嶋章悟, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  2021年暗号と情報セキュリティシンポジウム
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104
[Presentation] 利用環境を考慮したラップトップからの電磁的情報漏えい評価2021
- Author(s)
  福嶋章悟, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  2021年電子情報通信学会総合大会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104
[Presentation] 設置環境の異なるスマートスピーカーからの電磁的情報漏えい評価と対策2021
- Author(s)
  福嶋章悟, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  電子情報通信学会・ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104
[Presentation] ディジタル回路の遅延変化を用いた電磁波印加攻撃検知手法2021
- Author(s)
  藤本大介、林優一
- Organizer
  暗号と情報セキュリティシンポジウム
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-20K19800
[Presentation] 漏えい経路の伝達特性の差異に着目した高解像度ディスプレイに対する電磁的情報漏えい評価2021
- Author(s)
  荒井公寛, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  2021年暗号と情報セキュリティシンポジウム
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104
[Presentation] 静電容量センサを用いたプリント基板の個体差の検出に関する基礎検討2021
- Author(s)
  太刀掛彩希, 鍛治秀伍, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104
[Presentation] リモートワーク環境におけるスピーカーフォンからの電磁波を通じた情報漏えい評価2021
- Author(s)
  福嶋章悟、藤本大介、林優一
- Organizer
  暗号と情報セキュリティシンポジウム
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-20K19800
[Presentation] 複数の周波数印加による電磁的情報漏えい誘発に関する検討2021
- Author(s)
  鍛治秀伍, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  2021年暗号と情報セキュリティシンポジウム(SCIS2021)
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18KT0050
[Presentation] 複数の周波数印加による電磁的情報漏えい誘発に関する検討2021
- Author(s)
  鍛治秀伍, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  2021年暗号と情報セキュリティシンポジウム
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104
[Presentation] 周波数注入攻撃に対するROベースのTRNG耐性評価に関する検討2021
- Author(s)
  橋本律紀, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104
[Presentation] 接触境界の表面粗さとトルク値がコネクタ高周波特性に与える影響に関する基礎検討2020
- Author(s)
  上田浩行, 鍛治秀伍, 藤本大介, キムヨンウ, 林優一
- Organizer
  電子情報通信学会・機構デバイス研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18KT0050
[Presentation] Statistical Signal/Power Integrity Analysis of High-BandwidthMemory (HBM) Interposer Channel considering SSO Noise and Data Coding2020
- Author(s)
  Youngwoo Kim , Yu-ichi Hayashi, Fujimoto Daisuke, Hyunwook Park,and Joungho Kim
- Organizer
  DesignCon 2020
- Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104
[Presentation] 製造メーカの異なるコネクタの相互接続時に生ずる接触境界部の高周波特性の基礎評価2020
- Author(s)
  上田浩行、藤本大介、林優一
- Organizer
  電気情報通信学会ソサイエティ大会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-20K19800
[Presentation] Fundamental Evaluation of Impedance Variations in the Connector Caused by High-Frequency Noise Propagation2020
- Author(s)
  上田浩行，鍛治秀伍，藤本大介，北澤太基，春日貴志，林優一
- Organizer
  International Session on Electro-Mechanical Devices
- Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104
[Presentation] 電子機器への連続波注入による強制的な電磁情報漏えい誘発に関する基礎検討2020
- Author(s)
  鍛治秀伍, 藤本大介, 衣川昌宏, 林優一
- Organizer
  暗号と情報セキュリティシンポジウム
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18KT0050
[Presentation] スマートロックに対する電磁波照射を用いた強制的な開錠の脅威2020
- Author(s)
  藤本大介, 中尾文香, 林優一
- Organizer
  暗号と情報セキュリティシンポジウム
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18K18050
[Presentation] 単純電磁波解析を用いたTERO-based TRNGの出力ビット推定2020
- Author(s)
  大須賀彩希, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  暗号と情報セキュリティシンポジウム
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18KT0050
[Presentation] 単純電磁波解析を用いたTERO-based TRNGの出力ビット推定2020
- Author(s)
  大須賀彩希, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  暗号と情報セキュリティシンポジウム
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18K18050
[Presentation] スマートロックに対する電磁波照射を用いた強制的な開錠の脅威2020
- Author(s)
  藤本大介, 中尾文香, 林優一
- Organizer
  暗号と情報セキュリティシンポジウム
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18KT0050
[Presentation] 意図的な電磁妨害時に生ずる情報漏えいの基礎評価2020
- Author(s)
  鍛治秀伍, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  電子情報通信学会・環境電磁工学研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18KT0050
[Presentation] 順序回路への故障注入に起因した不均一な頻度分布を持つ誤り出力を用いた故障利用解析2020
- Author(s)
  岡本拓実, 藤本大介, 崎山一男, 李　陽, 林　優一
- Organizer
  電子情報通信学会・ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18KT0050
[Presentation] 意図的に引き起こされる電磁的情報漏えい評価法の検討～デジタル出力回路のインピーダンス変化に着目した評価～2020
- Author(s)
  鍛治秀伍, 藤本大介, 衣川昌宏, 林優一
- Organizer
  電子情報通信学会・ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18KT0050
[Presentation] 製造メーカの異なるコネクタの相互接続時に生ずる接触境界部の高周波特性の基礎評価2020
- Author(s)
  上田浩行, 藤本大介, キム・ヨンウ, 北澤太基, 春日貴志, 林優一
- Organizer
  電気情報通信学会ソサイエティ大会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-19H01104
[Presentation] TERO-based TRNGの発振回数の変化から推定可能な出力ビットの評価2019
- Author(s)
  大須賀彩希, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  ハードウェアセキュリティフォーラム
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18K18050
[Presentation] TERO-based TRNGの発振回数の変化から推定可能な出力ビットの評価2019
- Author(s)
  大須賀彩希, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  ハードウェアセキュリティフォーラム
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18KT0050
[Presentation] 電磁照射による意図的な情報漏えい誘発時に生ずる自己干渉波の抑制に関する基礎検討2019
- Author(s)
  川上莉穂, 鍛治秀伍, 衣川昌宏, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  電子情報通信学会・ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18KT0050
[Presentation] 意図的な電磁妨害がIC通信に与える影響に関する基礎検討2019
- Author(s)
  西山輝, 岡本拓実, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  電子情報通信学会・環境電磁工学研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18KT0050
[Presentation] Fundamental Study on Influence of Intentional Electromagnetic Interference on IC Communication2019
- Author(s)
  Hikaru Nishiyama, Takumi Okamoto, Kim Young Woo, Daisuke Fujimoto and Yuichi Hayashi
- Organizer
  the 12th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits
- Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18K18050
[Presentation] 複数の信号を含む漏えい電磁波からのターゲット信号の抽出に関する検討2019
- Author(s)
  川上莉穂, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  電子情報通信学会ソサイエティ大会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18KT0050
[Presentation] モータ制御通信へのクロックグリッチ注入の影響に関する基礎検討2019
- Author(s)
  中尾文香, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  電子情報通信学会ソサイエティ大会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18KT0050
[Presentation] 電磁的情報漏えいを強制的に誘発する照射周波数推定法に関する基礎検討2019
- Author(s)
  鍛治秀伍, 衣川昌宏, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  電子情報通信学会・ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18KT0050
[Presentation] Study on Estimation of Sensing Timing Based on Observation of EM Radiation from ToF Range Finder2019
- Author(s)
  Daisuke Fujimoto, Yuichi Hayashi
- Organizer
  Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Sapporo
- Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18K18050
[Presentation] ToF距離センサから生ずる不要電磁放射計測に基づくセンシングタイミング推定を用いた攻撃の検討2019
- Author(s)
  藤本大介
- Organizer
  暗号と情報セキュリティシンポジウム
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18K18050
[Presentation] 意図的な電磁妨害がIC通信に与える影響に関する基礎検討2019
- Author(s)
  西山輝, 岡本拓実, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  電磁環境両立性研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18K18050
[Presentation] 複数のデータ伝送路を有するICから強制的に引き起こされる電磁的情報漏えいに関する検討2019
- Author(s)
  川上莉穂, 鍛治秀伍, 衣川昌宏, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  ハードウェアセキュリティフォーラム
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18KT0050
[Presentation] TERO-based TRNGに対する周波数注入攻撃時の出力ビット推定手法に関する基礎検討2019
- Author(s)
  大須賀彩希, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  電子情報通信学会・ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18KT0050
[Presentation] モータ制御通信へのクロックグリッチ注入の影響に関する基礎検討2019
- Author(s)
  中尾文香, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  電子情報通信学会ソサイエティ大会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18K18050
[Presentation] 製造・実装ばらつきに起因する放射スペクトルの違いを用いた電子機器の個体識別手法に関する基礎検討2018
- Author(s)
  鍛治秀伍, 衣川昌宏, 藤本大介, Laurent Sauvage, Jean-Luc Danger, 林優一
- Organizer
  電子情報通信学会・HWS・VLD合同研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18KT0050
[Presentation] Fundamental Study on Non-invasive Frequency Injection Attack against RO-based TRNG2018
- Author(s)
  S. Osuka, D. Fujimoto, Y. Hayashi, N. Homma, A. Beckers, J. Balasch, B. Gierlichs and I. Verbauwhede
- Organizer
  2018 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility and 2018 IEEE Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility
- Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16H02831
[Presentation] スマートデバイスからの電磁情報漏えい源特定に関する基礎検討2018
- Author(s)
  仁科泉美, 藤本大介, 衣川昌宏, 林優一
- Organizer
  ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16H02831
[Presentation] 意図的な電磁波注入による漏えい情報の制御に関する基礎検討2018
- Author(s)
  硲マーティン, 衣川昌宏, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  2018年電子情報通信学会ソサイエティ大会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16H02831
[Presentation] IC周囲に分布する電磁雑音を用いた電磁波解析攻撃検知手法の検討2018
- Author(s)
  和田慎平, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  電子情報通信学会・環境電磁工学研究会(EMCJ)
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18KT0050
[Presentation] Fundamental Study on the Effect of Torque Value at Connector on Equivalent Circuit of Contact Boundary2018
- Author(s)
  D. Fujimoto, T. Narimatsu, Y. HAYASHI
- Organizer
  国際セッションIS-EMD2018
- Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16H02831
[Presentation] Detecting Electromagnetic Analysis Attacks Using the Distribution of Electromagnetic Noise2018
- Author(s)
  Shinpei WADA, Daisuke FUJIMOTO, Yuichi HAYASHI
- Organizer
  EMC Joint Workshop 2018 Daejeon
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18KT0050
[Presentation] 超音波測距のなりすまし攻撃対策に向けた変調波を利用した振幅制御の検討2018
- Author(s)
  藤本大介
- Organizer
  ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18K18050
[Presentation] Fundamental Study on the Effect of Torque Value at Connector on Equivalent Circuit of Contact Boundary2018
- Author(s)
  藤本大介
- Organizer
  機構デバイス研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18K18050
[Presentation] ガウス雑音を用いた暗号機器への意図的な電磁妨害に対する耐性評価手法2018
- Author(s)
  岡本拓実, 藤本大介, 林優一, 本間尚文, Arthur Beckers, Josep Balasch, Benedikt Gierlichs, Ingrid Verbauwhede
- Organizer
  ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16H02831
[Presentation] Data Injection Attacks Using a Hardware Trojan on a Transmission Line2018
- Author(s)
  S. Kaji, M. Kinugawa, D. Fujimoto, and Y. Hayashi
- Organizer
  2018 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility and 2018 IEEE Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility
- Int'l Joint Research
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16H02831
[Presentation] 締め付けトルクの減少が接触境界の高周波素子に与える影響に関する検討2018
- Author(s)
  成松貴,藤本大介,林優一
- Organizer
  電子情報通信学会・機構デバイス研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18KT0050
[Presentation] 超音波距離センサから生ずる不要電磁放射計測に基づくセンシングタイミング推定に関する基礎検討2018
- Author(s)
  藤本大介
- Organizer
  ハードウェアセキュリティ研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-18K18050
[Presentation] 周波数選択による暗号機器の情報漏えい評価の効率化に関する検討2017
- Author(s)
  杉本藍莉, 藤本大介, 林優一, 水木敬明, 曽根秀昭
- Organizer
  環境電磁工学研究会
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16H02831
[Presentation] HTを用いて局所的にイミュニティを低下させた電子機器へのデータ注入攻撃2017
- Author(s)
  鍛治秀伍, 衣川昌宏, 藤本大介, 林優一
- Organizer
  2018年暗号と情報セキュリティシンポジウム
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16H02831

1. Hayashi Yuichi (60551918)

# of Collaborated Projects: 7 results

# of Collaborated Products: 125 results
2. Kim YoungWoo (30862403)

# of Collaborated Projects: 2 results

# of Collaborated Products: 13 results
3. 本間尚文 (00343062)

# of Collaborated Projects: 1 results

# of Collaborated Products: 3 results
4. 嶺岸茂樹 (70146116)

# of Collaborated Projects: 1 results

# of Collaborated Products: 0 results
5. 春日貴志 (10344772)

# of Collaborated Projects: 1 results

# of Collaborated Products: 6 results
6. 富岡雅弘 (00838683)

# of Collaborated Projects: 1 results

# of Collaborated Products: 4 results

FUJIMOTO Daisuke 藤本 大介

Fujimoto Daisuke 藤本 大介

Research Projects

Research Products

Co-Researchers

物理攻撃耐性を有する真性乱数生成基盤技術の開発Principal Investigator

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Review Section

Research Institution

20GHz超の帯域おける構造の不連続問題を含む信号線路の信頼性解析と機能評価

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Review Section

Research Institution

物理層のデータ改ざんに対抗する環境電磁工学的アプローチによる対策基盤の開拓

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Review Section

Research Institution

Acquiring Resistance against Threats of Information Leakage due to Intentional Electromagnetic Irradiation Exposure to Electronic Devices

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Review Section

Research Institution

Evaluation of attack methods through electromagnetic waves on sensors and study of countermeasuresPrincipal Investigator

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Review Section

Research Institution

Advancing Device Design Techniques to Obfuscate the Measurement of Electromagnetic Information Leakage

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Review Section

Research Institution

Establishment of a Trusted Platform at the Physical Layer to Guarantee the Authenticity of Sensing Information

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

Fundamental study on security requirements for measuring devices and development of countermeasure technologyPrincipal Investigator

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Review Section

Research Institution

Development of Countermeasures against Remote Visualization of Screen Images Using EM Emanation from Smart Devices in Public Space

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

[Journal Article] Fundamental Study on Detection of Counterfeit Parts with Abnormal Aging Characteristics Using Electromagnetic Backscattering from I/O Circuits2024

Author(s)

Journal Title

DOI

Data Source

[Journal Article] Controlling Faulty Byte Outputs with IEMI againstCryptographic ICs2024

Author(s)

Journal Title

DOI

Data Source

[Journal Article] Timing-Controlled EM Fault Injection Method Focusing on EM Leakage from Communication Channel2024

Author(s)

Journal Title

DOI

Data Source

[Journal Article] Fault Injection Caused by Phase-Locked Loop Compromised With IEMI2024

Author(s)

Journal Title

DOI

Data Source

[Journal Article] 情報基盤を支えるハードウェアセキュリティ技術2024

FUJIMOTO Daisuke 藤本大介

Fujimoto Daisuke 藤本大介