| Researcher Number |
60906220
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| Other IDs |
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| Affiliation (Current) |
2025: 九州大学, 工学研究院, 准教授
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| Affiliation (based on the past Project Information) *help |
2024 – 2025: 九州大学, 工学研究院, 准教授
2021 – 2024: 九州大学, 工学研究院, 助教
2022: 九州大学, 工学(系)研究科(研究院), 助教
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| Review Section/Research Field |
- Principal Investigator
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Basic Section 19020:Thermal engineering-related /
Medium-sized Section 19:Fluid engineering, thermal engineering, and related fields /
0301:Mechanics of materials, production engineering, design engineering, fluid engineering, thermal engineering, mechanical dynamics, robotics, aerospace engineering, marine and maritime engineering, and related fields
- Except Principal Investigator
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Medium-sized Section 19:Fluid engineering, thermal engineering, and related fields
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| Keywords |
- Principal Investigator
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三相界線 / 接触角ヒステリシス / 白色干渉顕微鏡 / ナノスケール固液界面 / MEMS / 固液界面 / 原子間力顕微鏡 / 濡れ性 / 電気二重層 / 熱流体工学
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/ 周波数シフト・エネルギー散逸カーブ / 周波数変調型原子間力顕微鏡 / 周波数変調原子間力顕微鏡 / 流体のすべり / 濡れ / KPFM / 相界面 / グラフェン / 表面電荷密度 / 帯電 / 接触線 / ケルビンプローブフォース顕微鏡 / 熱工学 / 先行液膜 / ナノ構造 / ピニング / ナノバブル / 核沸騰 / AFM / ナノ計測 / 蒸発 / 凝縮 / ナノ液滴 / 接触線ピニング
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- Except Principal Investigator
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グラフェン / 原子間力顕微鏡 / 接触線 / ナノマイクロ熱工学 / 二次元材料 / 顕微観察 / 三相接触線 / MEMS / 表面電荷密度 / 白色干渉顕微鏡 / ピニング / 走査型白色干渉顕微鏡 / AFM
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