SAKUSABE Takashi 作佐部剛視

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作左部剛視サクサベタカシ

作佐部剛視サクサベタカシ

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Researcher Number	80092485
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Affiliation (based on the past Project Information) *help	2004 – 2006: 拓殖大学, 工学部, 助手 1998 – 2000: 拓殖大学, 工学部, 助手 1990 – 1991: 拓殖大学, 工学部, 助手
Review Section/Research Field	Except Principal Investigator 電力工学・電気機器工学 / 電子デバイス・機器工学 / Applied materials
Keywords	Except Principal Investigator EMC / through-put / performance degradation / intra-equipment interference / near-field measurement / noise immunity / electromagnetic disturbance / ubiquitous equipment / 通信品質(スループット) / パケットエラーレート … More / 基板上の誤動作マップ / ノイズイミュニティ / 電磁干渉(EMC) / 自家中毒 / 誤動作マップ / スループット / 近傍電界測定 / (ノイズ)イミュニティ / 電磁ノイズ妨害 / ユビキタス機器 / Automatic placement with self-organization / Low noise PCB design / PCB design support system / Near field / radiated emission / 低ノイズ設計 / 配線設計 / ピックテール / 電磁放射 / コモンモード電流 / メンバーシップ関数構築ツール / ファジー推論 / 自己組織化による自動配置 / 低ノイズ配線設計 / 配線設計支援システム / 近傍磁界 / 放射エミッション / High electric field / Tunneling effect / Insulator layer / MIM structure / MOS structure / Electron-emission / 酸化膜 / 表面障壁 / 陰極 / フィ-ルドアイオニゼ-ション / 高電界 / 絶縁膜 / トンネル効果 / MIM構造 / MOS構造 / 電子放射 Less

The Evaluation Method of Electromagnetic Disturbance and Interference on Ubiquitous Equipment
- Principal Investigator
  
  SCHIBUYA Noboru
- Project Period (FY)
  2004 – 2006
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- Research Field
  
  電力工学・電気機器工学
- Research Institution
  Takushoku University
DEVELOPMENT OF EMC CONSTRAINT DESIGN SUPPORT SYSTEM FOR ELECTRIC AND ELECTORONIC EQUIPMENT
- Principal Investigator
  
  SCHIBUYA Noboru
- Project Period (FY)
  1998 – 2000
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- Research Field
  
  電子デバイス・機器工学
- Research Institution
  TAKUSHOKU University
Investigation of Gate-controled Electron-Emittor
- Principal Investigator
  
  KIUCHI Yuji
- Project Period (FY)
  1990 – 1991
- Research Category
  
  Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
- Research Field
  
  Applied materials
- Research Institution
  Takushoku University

All 2007 2006 2005 Other

All Journal Article

[Journal Article] Comparison between near field radiation and EM immunity on Electronic equipment2007
- Author(s)
  Y.Ohkubo, T.Takahashi, T.Sakusabe, N.Schibuya
- Journal Title
  
  IEICE Technical report on EMC EMCJ2006-112
  
  Pages: 81-84
- Description
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253
[Journal Article] Comparison of near field radiation and performance degradation by electromagnetic disturbance2007
- Author(s)
  Y.Ohkubo, T.Takahashi, T.Sakusabe, N.Schibuya
- Journal Title
  
  JIEP Proc. of Annual Conf. 15B-11
  
  Pages: 2-2
- Description
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253
[Journal Article] ノイズによる電子機器の性能低下と近傍放射との比較2007
- Author(s)
  大久保義和, 高橋丈博, 作左部剛視, 渋谷昇
- Journal Title
  
  エレクトロニクス実装学会,学術講演論文集
- NAID
  10018782327
- Description
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253
[Journal Article] ノイズによる電子機器の性能低下と近傍放射との比較2007
- Author(s)
  大久保義和, 高橋丈博, 作佐部剛視, 渋谷昇
- Journal Title
  
  エレクトロニクス実装学会、学術講演論文集
- NAID
  10018782327
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253
[Journal Article] 電子機器内の近傍放射とノイズ耐力の比較2007
- Author(s)
  大久保義和, 高橋丈博, 作左部剛視, 渋谷昇
- Journal Title
  
  電子情報通信学会信学技報 EMCJ2006-112
  
  Pages: 81-84
- NAID
  110006202447
- Description
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253
[Journal Article] 電子機器内の近傍放射とノイズ耐力の比較2007
- Author(s)
  大久保義和, 高橋丈博, 作佐部剛視, 渋谷昇
- Journal Title
  
  電子情報通信学会信学技報 EMCJ2006-112
  
  Pages: 81-84
- NAID
  110006202447
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253
[Journal Article] 電磁ノイズ干渉によるユビキタス機器の通信性能への影響に関する研究2006
- Author(s)
  岡庭弘典, 高橋丈博, 作左部剛視, 渋谷昇
- Journal Title
  
  エレクトロニクス実装学会講演論文集
  
  Pages: 111-112
- NAID
  130004588914
- Description
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253
[Journal Article] Evaluation Method of Electromagnetic Disturbance and Interference on Ubiquitous Equipment2006
- Author(s)
  H.Okaniwa, T.Takahashi, T.Sakusabe, N.Schibuya
- Journal Title
  
  PROCEEDINGS of 2nd Pan-Pacific EMC Joint Meeting, Okayama Japan
  
  Pages: 32-33
- Description
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253
[Journal Article] 電子機器のエミッションとイミュニティの比較検討2006
- Author(s)
  大久保義和, 高橋丈博, 作左部剛視, 渋谷昇
- Journal Title
  
  八王子産学公連携機構第6回研究成果発表講演要旨集
  
  Pages: 144-145
- Description
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253
[Journal Article] Measurement of Communication Performance Degradation By Electromagnetic Interference on Ubiquitous Equipment2006
- Author(s)
  H.Okaniwa, T.Takahashi, T.Sakusabe, N.Schibuya
- Journal Title
  
  JIEP Proc. of Annual Conf. 23B-02
  
  Pages: 111-112
- NAID
  110006405613
- Description
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253
[Journal Article] Self-Degradation of performance of Electronic equipment2006
- Author(s)
  Y.Ohkubo, T.Takahashi, T.Sakusabe, N.Schibuya
- Journal Title
  
  JIEE Technical report on Electronic circuits
  
  Pages: 11-16
- Description
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253
[Journal Article] Evaluation Method of Electromagnetic Disturbance and Interference on Ubiquitous Equipment2006
- Author(s)
  H.Okaniwa, T.Takahashi, T.Sakusabe, N.Schibuya
- Journal Title
  
  Proceedings of 2nd Pan-Pacific Joint Meeting, Okayama Japan
  
  Pages: 32-33
- Description
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253
[Journal Article] 自家中毒による電子機器の性能低下の検討2006
- Author(s)
  大久保義和, 高橋丈博, 作佐部剛視, 渋谷昇
- Journal Title
  
  電気学会電子回路研究会
  
  Pages: 11-16
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253
[Journal Article] ノイズによる電子機器の性能低下と近傍放射との比較2006
- Author(s)
  大久保義和, 高橋丈博, 作左部剛視, 渋谷昇
- Journal Title
  
  電気学会電子回路研究会
  
  Pages: 11-16
- NAID
  10018782327
- Description
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253
[Journal Article] 電磁ノイズ干渉によるユビキタス機器の通信性能への影響に関する研究2006
- Author(s)
  岡庭弘典, 高橋丈博, 作佐部剛視, 渋谷昇
- Journal Title
  
  エレクトロニクス実装学会講演論文集
  
  Pages: 111-112
- NAID
  130004588914
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253
[Journal Article] Evaluation Method of Electromagnetic Disturbance and Interference on Ubiquitous Equipment2006
- Author(s)
  H.Ikaniwa, T.Takahashi, T.Sakusabe, N.Schibuya
- Journal Title
  
  Proceedings of 2nd Pan-Pacific Joint Meeting, Okayama Japan
  
  Pages: 32-33
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253
[Journal Article] 電子機器のエミッションとイミュニティの比較検討2006
- Author(s)
  大久保義和, 高橋丈博, 作佐部剛視, 渋谷昇
- Journal Title
  
  八王子産学公連携機構第6回研究成果発表講演要旨集
  
  Pages: 144-145
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253
[Journal Article] 電磁ノイズ干渉によるユビキタス機器の通信性能への影響に関する研究2006
- Author(s)
  岡庭弘典, 高橋丈博, 作左部剛視, 渋谷昇
- Journal Title
  
  第20回エレクトロニクス実装学会講演大会講演論文集
- NAID
  130004588914
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253
[Journal Article] Measurement of Communication Performance Degradation By Electromagnetic Interference on Ubiquitous Equipment2005
- Author(s)
  H.Okaniwa, T.Takahashi, T.Sakusabe, N.Schibuya
- Journal Title
  
  JIEP Technical report on High-speed, High-Frequency Electronics mounting Technology Vol.4, No.4
  
  Pages: 27-30
- NAID
  110006405613
- Description
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253
[Journal Article] ユビキタス機器のノイズ干渉の測定2005
- Author(s)
  岡庭弘典, 高橋丈博, 作左部剛視, 渋谷昇
- Journal Title
  
  電子情報通信学会全国大会講演論文集
- Description
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253
[Journal Article] 電磁ノイズ干渉によるユビキタス機器の通信性能への影響の測定2005
- Author(s)
  岡庭弘典, 高橋丈博, 作左部剛視, 渋谷昇
- Journal Title
  
  エレクトロニクス実装学会超高速高周波エレクトロニクス実装研究会 4・4
  
  Pages: 27-30
- NAID
  110006405613
- Description
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253
[Journal Article] ユビキタス機器のノイズ干渉の測定2005
- Author(s)
  岡庭弘典, 高橋丈博, 作佐部剛視, 渋谷昇
- Journal Title
  
  電子情報通信学会2005年総合大会講演論文集
  
  Pages: 432-432
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253
[Journal Article] 電磁ノイズ干渉によるユビキタス機器の通信性能への影響の測定2005
- Author(s)
  岡庭弘典, 高橋丈博, 作左部剛視, 渋谷昇
- Journal Title
  
  エレクトロニクス実装学会講演論文集
  
  Pages: 153-154
- NAID
  110006405613
- Description
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253
[Journal Article] 電機ノイズ干渉によるユビキタス機器の通信性能への影響の測定2005
- Author(s)
  岡庭弘典, 高橋丈博, 作佐部剛視, 渋谷昇
- Journal Title
  
  回路実装学会超高速高周波エレクトロニクス実装研究会 Vol.4,No.4
  
  Pages: 27-30
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253
[Journal Article] Measurement of Communication Performance Degradation By Electromagnetic Interference on Ubiquitous Equipment2005
- Author(s)
  H.Okaniwa, T.Takahashi, T.Sakusabe, N.Schibuya
- Journal Title
  
  Proceedings of International Conf. on EMC, Phuket, Thailand
- NAID
  110006405613
- Description
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253
[Journal Article] Measurement of Communication Performance Degradation By Electromagnetic Interference on Ubiquitous Equipment2005
- Author(s)
  H.Okaniwa, T.Takahashi, T.Sakusabe, N.Schibuya
- Journal Title
  
  Proceedings of International Conf. on EMC, Phuket Thailand
- NAID
  110006405613
- Description
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253
[Journal Article] Measurement of Communication Performance Degradation By Electromagnetic Interference on Ubiquitous Equipment2005
- Author(s)
  H.Okaniwa, T.Takahashi, T.Sakusabe, N.Schibuya
- Journal Title
  
  JIEP Proc. of Annual Conf.
  
  Pages: 153-154
- NAID
  110006405613
- Description
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253
[Journal Article] 電磁ノイズ干渉によるユビキタス機器の通信性能への影響の測定2005
- Author(s)
  岡庭弘典, 高橋丈博, 作左部剛視, 渋谷昇
- Journal Title
  
  八王子産学公連携機構第5回研究成果発表講演要旨集(優秀賞受賞)
  
  Pages: 88-89
- NAID
  110006405613
- Description
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253
[Journal Article] Measurement of Communication Performance Degradation by Electromagnetic Interference on Ubiquitous Equipment2005
- Author(s)
  Okaniwa, Takahashi, Sakusabe, Schibuya
- Journal Title
  
  Proceedings of International Conf.on EMC 2005, Phuket, Thailand
- NAID
  110006405613
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253
[Journal Article] Measurement of Electromagnetic Interference on Ubiquitous Equipment2005
- Author(s)
  H.Okaniwa, T.Takahashi, T.Sakusabe, N.Schibuya
- Journal Title
  
  IEICE Proc. of Annual Conf.
- Description
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253
[Journal Article] 電磁ノイズ干渉によるユビキタス機器の通信性能への影響の測定2005
- Author(s)
  岡庭弘典, 高橋丈博, 作佐部剛視, 渋谷昇
- Journal Title
  
  第19回エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集
  
  Pages: 153-154
- NAID
  110006405613
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253
[Journal Article] A Study on Performance Degradation of Digital Electronic Equipment under Electromagnetic Disturbance
- Author(s)
  H.Okaniwa, T.Takahashi, T.Sakusabe, N.Schibuya
- Journal Title
  
  A Study on Performance Degradation of Digital Electronic Equipment under Electromagnetic Disturbance (accepted)
- NAID
  110007519395
- Description
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253
[Journal Article] A Study on Performance Degradation of Digital Electronic Equipment under Electromagnetic Disturbance
- Author(s)
  T.Takahashi, H.Okaniwa, T.Sakusabe, N.Schibuya
- Journal Title
  
  IEICE Transaction on EMC To be appeared in July (Accepted)
- NAID
  110007519395
- Description
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- Data Source
  KAKENHI-PROJECT-16560253

1. SCHIBUYA Noboru (50114822)

# of Collaborated Projects: 2 results

# of Collaborated Products: 33 results
2. TAKAHASHI Takehiro (10206815)

# of Collaborated Projects: 2 results

# of Collaborated Products: 33 results
3. KIUCHI Yuji (60092483)

# of Collaborated Projects: 1 results

# of Collaborated Products: 0 results

SAKUSABE Takashi 作佐部 剛視

作左部 剛視 サクサベ タカシ

作佐部 剛視 サクサベ タカシ

Research Projects

Research Products

Co-Researchers

The Evaluation Method of Electromagnetic Disturbance and Interference on Ubiquitous Equipment

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

DEVELOPMENT OF EMC CONSTRAINT DESIGN SUPPORT SYSTEM FOR ELECTRIC AND ELECTORONIC EQUIPMENT

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

Investigation of Gate-controled Electron-Emittor

Principal Investigator

Project Period (FY)

Research Category

Research Field

Research Institution

[Journal Article] Comparison between near field radiation and EM immunity on Electronic equipment2007

Author(s)

Journal Title

Description

Data Source

[Journal Article] Comparison of near field radiation and performance degradation by electromagnetic disturbance2007

Author(s)

Journal Title

Description

Data Source

[Journal Article] ノイズによる電子機器の性能低下と近傍放射との比較2007

Author(s)

Journal Title

NAID

Description

Data Source

[Journal Article] ノイズによる電子機器の性能低下と近傍放射との比較2007

Author(s)

Journal Title

NAID

Data Source

[Journal Article] 電子機器内の近傍放射とノイズ耐力の比較2007

Author(s)

Journal Title

NAID

Description

Data Source

[Journal Article] 電子機器内の近傍放射とノイズ耐力の比較2007

Author(s)

Journal Title

NAID

Data Source

[Journal Article] 電磁ノイズ干渉によるユビキタス機器の通信性能への影響に関する研究2006

Author(s)

Journal Title

NAID

Description

Data Source

[Journal Article] Evaluation Method of Electromagnetic Disturbance and Interference on Ubiquitous Equipment2006

Author(s)

Journal Title

Description

Data Source

[Journal Article] 電子機器のエミッションとイミュニティの比較検討2006

Author(s)

Journal Title

Description

Data Source

[Journal Article] Measurement of Communication Performance Degradation By Electromagnetic Interference on Ubiquitous Equipment2006

Author(s)

Journal Title

NAID

Description

Data Source

[Journal Article] Self-Degradation of performance of Electronic equipment2006

Author(s)

SAKUSABE Takashi 作佐部剛視

作左部剛視サクサベタカシ

作佐部剛視サクサベタカシ