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ITOH Yukihiro  伊藤 幸弘

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ITO Yukihiro  伊藤 幸弘

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Researcher Number 80431972
Other IDs
Affiliation (Current) 2025: 東京都立産業技術高等専門学校, ものづくり工学科, 教授
Affiliation (based on the past Project Information) *help 2021 – 2024: 東京都立産業技術高等専門学校, ものづくり工学科, 准教授
2023: 東京都立産業技術高等専門学校, ものづくり工学科, 教授
2010: 東京農工大学, 大学院・工学研究院, 助手
2007 – 2009: Tokyo University of Agriculture and Technology, 大学院・共生科学技術研究院, 助手
2008: Tokyo University of Agriculture and Technology, 大学院共生科学技術研究院, 助手
Review Section/Research Field
Principal Investigator
Basic Section 18020:Manufacturing and production engineering-related / Production engineering/Processing studies
Except Principal Investigator
Basic Section 62030:Learning support system-related / Production engineering/Processing studies
Keywords
Principal Investigator
形状測定 / シリコンウェーハ / 三角測量式光学センサー / オートコリメート / 三角測量式 / シミュレーション / 測定原理実験装置 / 測定偏差補正 / オートコリメータ / 三角測量式光学センサ … More / 弾性定数 / 単結晶シリコン / 三点支持裏返し法 / 異方性 / 弾性率 / 反り / 板厚 / ナノ形状測定 … More
Except Principal Investigator
運動学習論 / 社会的承認 / 身体操作 / 介入型学習支援 / 加工学習のDX化 / 微細放電加工 / アーク柱 / 静電誘導給電 / 高速回転主軸 / 放電痕 / 電極消耗 / 放電加工 Less
  • Research Projects

    (4 results)
  • Research Products

    (6 results)
  • Co-Researchers

    (6 People)
  •  Verification of digital system to support interventional learning in DX processing learning with physical manipulation.

    • Principal Investigator
      橋本 洋志
    • Project Period (FY)
      2024 – 2026
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
    • Review Section
      Basic Section 62030:Learning support system-related
    • Research Institution
      Advanced Institute of Industrial Technology
  •  Improving measurement accuracy of triangulation type optical sensor by detecting normal vector to measurement surfacePrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      ITO Yukihiro
    • Project Period (FY)
      2021 – 2023
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • Review Section
      Basic Section 18020:Manufacturing and production engineering-related
    • Research Institution
      Tokyo Metropolitan College of Industrial Technology
  •  電極上のアーク柱の滑りを利用した無消耗放電加工

    • Principal Investigator
      國枝 正典
    • Project Period (FY)
      2009 – 2010
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
    • Research Field
      Production engineering/Processing studies
    • Research Institution
      The University of Tokyo
      Tokyo University of Agriculture and Technology
  •  Study on Shape Measurement of Large-Thin Panel with Nanometer order accuracyPrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      ITO Yukihiro
    • Project Period (FY)
      2007 – 2008
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
    • Research Field
      Production engineering/Processing studies
    • Research Institution
      Tokyo University of Agriculture and Technology

All 2022 2021 2008

All Presentation

  • [Presentation] 大口径シリコンウェーハの形状測定における三角測量式光学センサの測定原理により生じる偏差の実験的検証2022

    • Author(s)
      馬場浩史郎,伊藤幸弘,深津拡也
    • Organizer
      精密工学会第29回学生会員卒業研究発表講演会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21K03796
  • [Presentation] 大口径シリコンウェーハの高精度形状測定方法の開発2021

    • Author(s)
      伊藤幸弘
    • Organizer
      電気加工学会第232回電気加工研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-21K03796
  • [Presentation] シリコンウェーハの異方性が形状測定に与える影響2008

    • Author(s)
      伊藤幸弘,夏恒,国枝正典
    • Organizer
      第7 回生産加工・工作機械部門講演会
    • Place of Presentation
      長良川国際会議場
    • Year and Date
      2008-11-22
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19760083
  • [Presentation] 三点支持裏返し法によるシリコンウェーバ板厚測定精度の向上2008

    • Author(s)
      伊藤 幸弘
    • Organizer
      精密工学会春季大会学術講演会
    • Place of Presentation
      明治大学生田キャンパス
    • Year and Date
      2008-03-18
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19760083
  • [Presentation] シリコンウェーハの異方性が形状測定に与える影響2008

    • Author(s)
      伊藤幸弘
    • Organizer
      第7回生産加工・工作機械部門講演会
    • Place of Presentation
      長良川国際会議場
    • Year and Date
      2008-11-22
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19760083
  • [Presentation] 三点支持裏返し法によるシリコンウェーハ板厚測定精度の向上2008

    • Author(s)
      伊藤幸弘,夏恒,国枝正典
    • Organizer
      2008 年度精密工学会春季大会学術講演会
    • Place of Presentation
      明治大学生田キャンパス
    • Year and Date
      2008-03-18
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19760083
  • 1.  國枝 正典 (90178012)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 2.  橋本 洋志 (60208460)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 3.  田部井 賢一 (60609684)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 4.  張 晁逢 (00859043)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 5.  河西 大介 (90865289)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 0 results
  • 6.  中後 大輔 (90401322)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 0 results

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