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Sugino Tadanori  杉野 直規

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SUGINO Tadanori  杉野 直規

杉野 直規  スギノ タダノリ

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Researcher Number 90294529
Other IDs
Affiliation (Current) 2025: 大島商船高等専門学校, 情報工学科, 教授
Affiliation (based on the past Project Information) *help 2011: 独立行政法人国立高等専門学校機構 大島商船高等専門学校, 情報工学科, 准教授
2010 – 2011: 大島商船高等専門学校, 情報工学科, 准教授
2006 – 2007: 大島商船高等専門学校, 情報工学科, 講師
2001 – 2002: 広島大学, 大学院・工学研究科, 助手
Review Section/Research Field
Principal Investigator
Measurement engineering / 機械工作・生産工学
Keywords
Principal Investigator
画像処理 / パターン照明 / 面型照明 / 外観検査 / 表面粗さ / 光沢評価 / 凹凸判定 / 光学シミュレーション / バイナリパターン / 形状推定 … More / レイトレーシング / 欠陥検査 / 形状測定機 / 空間解像度 / パターン投影 / 光線追跡 / 照明むら / 市松模様 / バイナリーパターン / 面光源 / シミュレーション / 液晶 Less
  • Research Projects

    (3 results)
  • Research Products

    (3 results)
  •  Development of Gloss Evaluation Method for Metal using Patterned Area Illumination and Study of Estimation of Surface Roughness by the MethodPrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      SUGINO Tadanori
    • Project Period (FY)
      2010 – 2011
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
    • Research Field
      Measurement engineering
    • Research Institution
      Oshima National College of Maritime Technology
  •  表示デバイスを用いた面型パターン照明による欠陥検査法の開発Principal Investigator

    • Principal Investigator
      杉野 直規
    • Project Period (FY)
      2006 – 2007
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
    • Research Field
      Measurement engineering
    • Research Institution
      Oshima National College of Maritime Technology
  •  パターン投影検査システムにおけるパターン・シミュレータと液晶を用いた照明の開発Principal Investigator

    • Principal Investigator
      杉野 直規
    • Project Period (FY)
      2001 – 2002
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
    • Research Field
      機械工作・生産工学
    • Research Institution
      Hiroshima University

All 2012 2007 2004

All Journal Article Presentation

  • [Journal Article] 面型パターン照明を用いた欠陥検査法の開発-パターンの自動調整-2004

    • Author(s)
      杉野直規, 山根八洲男
    • Journal Title

      2006年度精密工学会高松地方講演会論文集

      Pages: 63-64

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18760312
  • [Presentation] 面型パターン照明を用いた異方性を考慮した光沢評価法の開発-パターンサイズと評価値の検討-2012

    • Author(s)
      杉野直規
    • Organizer
      精密工学会
    • Place of Presentation
      首都大学東京
    • Year and Date
      2012-03-16
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22760308
  • [Presentation] 画型パターン照明を用いた欠陥検査法の開発-非平面検査対象に対する検討-2007

    • Author(s)
      杉野直規
    • Organizer
      第12回 知能メカトロニクスワークショップ
    • Place of Presentation
      広島工業大学広島校舎
    • Year and Date
      2007-08-27
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18760312

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