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yotsuyanagi hiroyuki  四柳 浩之

… Alternative Names

四柳 浩之  ヨツヤナギ ヒロユキ

YOTSUYANAGI Hiroyuki  四柳 浩之

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Researcher Number 90304550
Other IDs
  • ORCIDhttps://orcid.org/0000-0002-4223-3705
Affiliation (Current) 2025: 徳島大学, 大学院社会産業理工学研究部(理工学域), 教授
Affiliation (based on the past Project Information) *help 2023: 徳島大学, 大学院社会産業理工学研究部(理工学域), 准教授
2017 – 2021: 徳島大学, 大学院社会産業理工学研究部(理工学域), 准教授
2016: 徳島大学, 大学院理工学研究部, 准教授
2012 – 2015: 徳島大学, ソシオテクノサイエンス研究部, 准教授
Review Section/Research Field
Principal Investigator
Basic Section 60040:Computer system-related / Computer system / Computer system/Network
Except Principal Investigator
Computer system / Basic Section 60040:Computer system-related
Keywords
Principal Investigator
LSIテスト / ディペンダブル・コンピューティング / 遅延故障 / 検査容易化設計 / VLSIの検査技術 / VLSI / 故障検出 / VLSIの検査容易化設計 / VLSIのテスト技術 / ディペンダブルコンピューティング … More / 3次元積層IC / 3次元積層チップ / VLSIの検査技術 / テスト生成 … More
Except Principal Investigator
組込型検査回路 / フィールドテスト / 電気検査 / ダイ間配線 / テスト容易化設計 / 破断検出 / 抵抗断線 / 予兆検出 / 電子デバイス・機器 / ディペンダブル・コンピューティング / 計算機システム / 電気的検査法 / 欠陥検出法 / 実装基板回路 / インターコネクトテスト / アセンブリ基板 / 3次元積層IC / 電流テスト / 断線 / 電気検査法 / 組込み自己診断 / 組込み自己テスト / 遅延故障 / 診断用テスト / 故障診断法 / プリシリコンテスト / ポストシリコンテスト / 抵抗性オープン故障 / オンチップセンサー / 診断 / テスト / タイミング不良 / オープン故障 / 故障診断 / 故障検査 / ディペンダブルコンピューティング Less
  • Research Projects

    (6 results)
  • Research Products

    (91 results)
  • Co-Researchers

    (5 People)
  •  Design for Testability for Electrical Tests of Interconnects between Dies after Shipment

    • Principal Investigator
      橋爪 正樹
    • Project Period (FY)
      2023 – 2025
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • Review Section
      Basic Section 60040:Computer system-related
    • Research Institution
      The Open University of Japan
  •  On design-for-testability circuit design of pattern generation and propagation for detecting faults at interconnects in stacked ICsPrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      YOTSUYANAGI Hiroyuki
    • Project Period (FY)
      2018 – 2020
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • Review Section
      Basic Section 60040:Computer system-related
    • Research Institution
      The University of Tokushima
  •  Open Defect Detection at Interconnects among IC Chips with Relaxation Oscilators

    • Principal Investigator
      HASHIZUME Masaki
    • Project Period (FY)
      2017 – 2020
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
    • Research Field
      Computer system
    • Research Institution
      The University of Tokushima
  •  Design-for-testability circuit for detecting delay faults at interconnects in 3D stacked ICsPrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      Yotsuyanagi Hiroyuki
    • Project Period (FY)
      2015 – 2017
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • Research Field
      Computer system
    • Research Institution
      The University of Tokushima
  •  Timing failure diagnosis using pre-silicon test and post-silicon test

    • Principal Investigator
      Takahashi Hiroshi
    • Project Period (FY)
      2013 – 2016
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • Research Field
      Computer system
    • Research Institution
      Ehime University
  •  Design and evaluation of design-for-testability circuits for delay faults using built-in time-to-digital converterPrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      YOTSUYANAGI Hiroyuki
    • Project Period (FY)
      2012 – 2014
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • Research Field
      Computer system/Network
    • Research Institution
      The University of Tokushima

All 2023 2021 2020 2019 2018 2017 2016 2015 2014 2013 2012 Other

All Journal Article Presentation

  • [Journal Article] A DfT Technique for Electrical Interconnect Testing of Circuit Boards with 3D Stacked SRAM ICs2023

    • Author(s)
      Yuki Ikiri, Hiroyuki Yotsuyanagi, Fara Ashikin Binti Ali, Shyue-Kung Lu, Masaki Hashizume
    • Journal Title

      Proc. of 12th IEEE CPMT Symposium Japan (ICSJ2023)

      Volume: - Pages: 113-116

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K11039
  • [Journal Article] Open Defect Detection in Assembled Circuit Boards with Built-In Relaxation Oscillators2021

    • Author(s)
      Ikiri Yuki, Fumiya Sako, Hashizume Masaki, Yotsuyanagi Hiroyuki, Shyue-Kung Lu, Toru Yazaki, Yasuhiro Ikeda and Yutaka Uematsu
    • Journal Title

      IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology

      Volume: 11 Issue: 6 Pages: 931-943

    • DOI

      10.1109/tcpmt.2021.3079159

    • Peer Reviewed / Open Access / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [Journal Article] Detectable Resistance Increase of Open Defects in Assembled PCBs by Quiescent Currents through Embedded Diodes2021

    • Author(s)
      Yuya Okumoto, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume and Shyue-Kung Lu
    • Journal Title

      Proc. of 2021 International Conference on Electronics Packaging (ICEP)

      Volume: -

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [Journal Article] Temperature Sensing with a Relaxation Oscillator in CMOS ICs2020

    • Author(s)
      Fumiya Sako, Yuki Ikiri, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi, Hiroshi Yokoyama and Shyue-Kung Lu
    • Journal Title

      Proc. of The 35th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications

      Volume: - Pages: 141-144

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [Journal Article] Current Research Topics on Boundary-Scan Technology2020

    • Author(s)
      バウンダリスキャン研究会, 四柳浩之
    • Journal Title

      Journal of The Japan Institute of Electronics Packaging

      Volume: 23 Issue: 6 Pages: 539-542

    • DOI

      10.5104/jiep.23.539

    • NAID

      130007894820

    • ISSN
      1343-9677, 1884-121X
    • Year and Date
      2020-09-01
    • Language
      Japanese
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [Journal Article] Open Defect Detection Not Utilizing Boundary Scan Flip-Flops in Assembled Circuit Boards2020

    • Author(s)
      Michiya Kanda, Masaki Hashizume, Binti ALI Fara Ashikin, Hiroyuki Yotsuyanagi, Shyue-Kung Lu
    • Journal Title

      IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology

      Volume: 10 Issue: 5 Pages: 895-907

    • DOI

      10.1109/tcpmt.2020.2973182

    • Peer Reviewed / Open Access / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [Journal Article] Electrical Field Test Method of Resistive Open Defects between Dies by Quiescent Currents through Embedded Diodes2019

    • Author(s)
      Soneda Hanna、Hashizume Masaki、Yotsuyanagi Hiroyuki、Lu Shyue-Kung
    • Journal Title

      Proc. of The IEEE 2019 International 3D Systems Integration Conference

      Volume: 1 Pages: 1-5

    • DOI

      10.1109/3dic48104.2019.9058777

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [Journal Article] TDC 組込み型バウンダリスキャンにおける遅延付加部の分割による検査時間の削減2018

    • Author(s)
      平井 智士, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Journal Title

      電子情報通信学会技術研究報告

      Volume: 118 Pages: 119-124

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [Journal Article] TDC組込み型バウンダリスキャンにおける遅延付加部のリオーダによる配線長の低減2018

    • Author(s)
      平井 智士, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Journal Title

      電子情報通信学会技術研究報告

      Volume: 117 Pages: 13-18

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [Journal Article] 自動生成パターンの微小遅延故障検査用回路への適用性検討2018

    • Author(s)
      谷口 公貴, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Journal Title

      電子情報通信学会技術研究報告

      Volume: 118 Pages: 131-136

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [Journal Article] Stand-by Mode Test Method of Interconnects between Dies in 3D ICs with IEEE 1149.1 Test Circuits2018

    • Author(s)
      Kanda Michiya、Yabui Daisuke、Hashizume Masaki、Yotsuyanagi Hiroyuki、Lu Shyue-Kung
    • Journal Title

      Proc. of IEEE CPMT Symposium Japan 2018

      Volume: 1 Pages: 189-192

    • DOI

      10.1109/icsj.2018.8602560

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [Journal Article] A Design for Testability of Open Defects at Interconnects in 3D Stacked ICs2018

    • Author(s)
      ASHIKIN Fara、HASHIZUME Masaki、YOTSUYANAGI Hiroyuki、LU Shyue-Kung、ROTH Zvi
    • Journal Title

      IEICE Trans. Inf. & Syst.

      Volume: E101.D Issue: 8 Pages: 2053-2063

    • DOI

      10.1587/transinf.2018EDP7093

    • NAID

      130007429462

    • ISSN
      0916-8532, 1745-1361
    • Year and Date
      2018-08-01
    • Language
      English
    • Peer Reviewed / Open Access / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [Journal Article] 微小遅延故障テストのためのTDC組込み型スキャンFFの設計について2016

    • Author(s)
      河塚信吾, 四柳浩之, 橋爪正樹
    • Journal Title

      電子情報通信学会技術研究報告

      Volume: 116 Pages: 105-110

    • Acknowledgement Compliant
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [Journal Article] 論理値割当隣接線の選択による断線故障用テスト生成時間の削減2015

    • Author(s)
      藤谷 和依, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 樋上 喜信, 高橋 寛
    • Journal Title

      電子情報通信学会技術研究報告

      Volume: 115 Pages: 13-18

    • Acknowledgement Compliant
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [Journal Article] 隣接線の信号遷移による遅延変動を用いる半断線故障の判別法について2015

    • Author(s)
      伊勢 幸太郎, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 樋上 喜信, 高橋 寛
    • Journal Title

      電子情報通信学会技術研究報告

      Volume: 115 Pages: 31-36

    • Acknowledgement Compliant
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [Journal Article] On SAT-based Test Generation for Resistive Open Using Delay Variation Caused by Effect of Adjacent Lines2014

    • Author(s)
      Jun Yamashita, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume, Yoshinobu Higami and Hiroshi Takahashi
    • Journal Title

      WRTLT2014

      Volume: - Pages: 49-54

    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [Journal Article] On Detecting Delay Faults Using Time-to-Digital Converter Embedded in Boundary Scan2013

    • Author(s)
      Hiroyuki Yotsuyanagi, Hiroyuki Makimoto, Takanobu Nimiya, Masaki Hashizume
    • Journal Title

      IEICE Trans. Inf. & Syst.

      Volume: E96.D Issue: 9 Pages: 1986-1993

    • DOI

      10.1587/transinf.E96.D.1986

    • NAID

      130003370987

    • ISSN
      0916-8532, 1745-1361
    • Language
      English
    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24500067
  • [Journal Article] Diagnosing Resistive Open Faults Using Small Delay Fault Simulation2013

    • Author(s)
      Koji Yamazaki, Toshiyuki Tsutsumi, Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Hironobu Yotsuyanagi, Masaki Hashizume, and Kewal K. Saluja
    • Journal Title

      Proc. IEEE 22nd Asian Test Symposium

      Volume: - Pages: 79-84

    • DOI

      10.1109/ats.2013.23

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [Presentation] アナログ素子のみで構成する弛緩発振器によるIC間抵抗断線の検出可能性調査2023

    • Author(s)
      大松 正男, 大寺 佑都, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, Shyue-Kung Lu
    • Organizer
      エレクトロニクス実装学会第33回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K11039
  • [Presentation] オフセットキャンセル型コンパレータ内インバータゲートの増幅度の温度依存性2023

    • Author(s)
      小松原 滉人, 大松 正男, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K11039
  • [Presentation] Recovery of Defective TSVs with A Small Number of Redundant TSVs in 3D Stacked ICs2021

    • Author(s)
      Yuki Ikiri, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi, Hiroshi Yokoyama and Shyue-Kung Lu
    • Organizer
      The 21st IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [Presentation] TDC組込み型バウンダリスキャンの観測セル部分選択による検査時間削減について2021

    • Author(s)
      有元 康滋, 牧野 紘史, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      第35回エレクトロニクス実装学会春季講演大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [Presentation] 微小遅延故障検査容易化設計用テストクロック制御回路の検討2021

    • Author(s)
      福田 康介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      第35回エレクトロニクス実装学会春季講演大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [Presentation] 3D IC における遅延故障検査容易化設計用のクロック制御回路について2020

    • Author(s)
      福田 康介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [Presentation] 電流テストによるダイ間断線検出のためのpMOSのオン抵抗値を用いた断線抵抗値の推定2020

    • Author(s)
      奥本 裕也, 曽根田 伴奈, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, Shyue-Kung Lu
    • Organizer
      電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [Presentation] アナログ素子で構成する弛緩発振器によるCMOS IC内温度測定2020

    • Author(s)
      大寺 佑都, 硲 文弥, 伊喜利 勇貴, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, Shyue-Kung Lu
    • Organizer
      電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [Presentation] TDC 組込み型バウンダリスキャンを用いる信号遅延監視システムの検討2020

    • Author(s)
      知野 遥香,菊池 愁也,四柳 浩之,橋爪 正樹
    • Organizer
      第34回エレクトロニクス実装学会春季講演大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [Presentation] 遅延故障検査容易化設計を用いる検査対象経路の選択手法2020

    • Author(s)
      長田 奏美, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [Presentation] Test Time Reduction of Small Delay Testing for Scan Design with Embedded TDC2020

    • Author(s)
      Kanami Nagata, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume
    • Organizer
      the 21st IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [Presentation] 3D ICの検査容易化設計における遅延故障検査用ダイ選択回路の開発2020

    • Author(s)
      牧野 紘史, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [Presentation] 遅延故障検査容易化設計の同時観測経路の選択によるテスト時間短縮2020

    • Author(s)
      長田 奏美, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      第34回エレクトロニクス実装学会春季講演大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [Presentation] 弛緩発振器を用いた組込み型温度センサによる温度推定の可能性2020

    • Author(s)
      硲 文弥, 伊喜利 勇貴, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, 横山 洋之, Shyue-Kung Lu
    • Organizer
      電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [Presentation] On Delay Elements in Boundary Scan Cells for Delay Testing of 3D IC Interconnection2019

    • Author(s)
      Toshiaki Satoh, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
    • Organizer
      IEEE 2019 International 3D Systems Integration Conference
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [Presentation] 電気試験法による実装基板内抵抗断線の出荷後検出法2019

    • Author(s)
      曽根田 伴奈, 神田 道也, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, Shyue-Kung Lu
    • Organizer
      第29回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [Presentation] 微小遅延故障検査への PLL 回路の適用についての一考察2019

    • Author(s)
      大塚 諒哉, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, Chia-Yu Yao
    • Organizer
      電子情報通信学会総合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [Presentation] TDC組込型バウンダリスキャン設計を用いる微小遅延故障検査における遅延ばらつき影響調査2019

    • Author(s)
      菊池 愁也, 新開 颯馬, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      第33回エレクトロニクス実装学会春季講演大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [Presentation] On Delay Measurement under Delay Variations in Boundary Scan Circuit with Embedded TDC2019

    • Author(s)
      Shuya Kikuchi, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
    • Organizer
      2019 IEEE International Test Conference in Asia
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [Presentation] 検査容易化設計手法を用いた複数検査対象経路の同時選択による検査時間の削減2019

    • Author(s)
      長田 奏美, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      電気関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [Presentation] バウンダリスキャンテストによる3D IC内ダイ間抵抗断線検出可能性調査2019

    • Author(s)
      池内 康祐, 神田 道也, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, Shyue-Kung Lu
    • Organizer
      第29回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [Presentation] TDC 組込み型バウンダリスキャンにおけるバウンダリスキャンセルのスタンダードセル設計と評価2019

    • Author(s)
      河野 潤平, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      電気関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [Presentation] バウンダリスキャンテスト回路を用いた待機モード時電気試験を可能にするTAPCの開発2019

    • Author(s)
      池内 康祐, 神田 道也, 平井 智士, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      第33回エレクトロニクス実装学会春季講演大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [Presentation] TDC 組込み型スキャン設計の遅延付加部の遅延検出能力評価2018

    • Author(s)
      新開 颯馬, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      第78回FTC研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [Presentation] On Design and Evaluation of a TDC Cell Embedded in the Boundary Scan Circuit for Delay Fault Testing of 3D ICs2018

    • Author(s)
      Jumpei Kawano, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
    • Organizer
      33rd International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC 2018)
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [Presentation] Oscillation Frequency Estimation of Ring Oscillator for Interconnect Tests in 3D Stacked ICs2018

    • Author(s)
      Miyatake Noriko, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi, Hiroshi Yokoyama and Tetsuo Tada
    • Organizer
      2018 RISP International Workshop on Nonlinear Circuits, Communications
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [Presentation] Test Time Reduction on Testing Delay Faults in 3D ICs Using Boundary Scan Design2018

    • Author(s)
      Satoshi Hirai, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
    • Organizer
      IEEE 27th Asian Test Symposium
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [Presentation] MOS製造ばらつきに対するダイオード組込型検査用回路を用いた検査法の抵抗断線検出能力2018

    • Author(s)
      曽根田 伴奈, 神田 道也, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, Shyue-Kung Lu
    • Organizer
      電気関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [Presentation] 遅延故障検査容易化設計を用いた複数経路同時検査時のATPG パターンの有効性について2018

    • Author(s)
      佐藤 聡観, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      第79回FTC研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-18K11218
  • [Presentation] Effect of Routing in Testing a TSV Array Using Boundary Scan Circuit with Embedded TDC2018

    • Author(s)
      Jumpei Kawano, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
    • Organizer
      International Forum on Advanced Technologies 2018
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [Presentation] リングオシレータを用いた3D IC内ダイ間断線検出のMOS製造ばらつきによる影響2018

    • Author(s)
      宮武 典子, 四柳 浩之, 横山 洋之, 橋爪 正樹, 多田 哲生
    • Organizer
      電気関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [Presentation] Reordering Delay Elements in Boundary Scan Circuit with Embedded TDC2017

    • Author(s)
      Satoshi Hirai, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
    • Organizer
      the 18th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [Presentation] Design-for-testability circuit for interconnect test of 3D IC2017

    • Author(s)
      Hiroyuki Yotsuyanagi
    • Organizer
      IEEE CASS Shikoku and Hong Kong Chapters Joint Workshop
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [Presentation] 3 次元実装 IC におけるマイクロバンプ欠損時の遅延解析2017

    • Author(s)
      柴田 駿介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      電子情報通信学会第64回機能集積情報システム研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [Presentation] リングオシレータを用いた3D IC内ダイ間配線検査法の発振周波数の温度依存性調査2017

    • Author(s)
      宮武 典子, 四柳 浩之, 横山 洋之, 橋爪 正樹, 多田 哲生
    • Organizer
      電気関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [Presentation] TDC組込み型スキャンFFの微小遅延故障検出能力評価2017

    • Author(s)
      河塚 信吾, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      DAシンポジウム2017
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [Presentation] A Defective Level Monitor of Open Defects in 3D ICs with a Comparator of Offset Cancellation Type2017

    • Author(s)
      Michiya Kanda, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi and Shyue-Kung Lu
    • Organizer
      2017 IEEE Int. Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [Presentation] On design for reducing delay variation in design-for-testability circuit for delay fault2017

    • Author(s)
      Satoshi Hirai, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
    • Organizer
      2017 Taiwan and Japan Conference on Circuits and Systems
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [Presentation] TSV検査のためのTDC組込み型バウンダリスキャン制御回路の設計2017

    • Author(s)
      河口 巧, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      DAシンポジウム2017
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [Presentation] 試作した遅延故障検査容易化回路による 2 経路同時検査について2017

    • Author(s)
      谷口 公貴, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      電子情報通信学会第64回機能集積情報システム研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [Presentation] BC1タイプのバウンダリスキャンテスト回路を用いた実装基板のオンライン配線検査法2017

    • Author(s)
      薮井 大輔, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      第27回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [Presentation] 遅延故障検査容易化設計のための遅延付加ゲートの設計2017

    • Author(s)
      新開 颯馬, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      電子情報通信学会第64回機能集積情報システム研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [Presentation] 隣接線の信号遷移を用いる半断線故障判別法の断線位置に対する有効性調査2016

    • Author(s)
      伊勢幸太郎,四柳浩之,橋爪正樹,樋上喜信,高橋寛
    • Organizer
      電気関係学会四国支部連合大会
    • Place of Presentation
      徳島大学,徳島県・徳島市
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [Presentation] TDC組込み型スキャンFFの遅延分解能へのばらつきの影響調査2016

    • Author(s)
      河塚信吾, 四柳浩之, 橋爪正樹
    • Organizer
      平成28年度電気関係学会四国支部連合大会
    • Place of Presentation
      徳島大学(徳島県徳島市)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [Presentation] On Control Circuit and Observation Conditions for Testing Multiple TSVs Using Boundary Scan Circuit with Embedded TDC2016

    • Author(s)
      T. Kawaguchi, H. Yotsuyanagi, and M. Hashizume
    • Organizer
      the 17th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • Place of Presentation
      安芸グランドホテル(広島県廿日市市)
    • Year and Date
      2016-11-24
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [Presentation] TDC 組込み型バウンダリスキャンを用いる遅延故障検査でのチップ間ばらつき補正2016

    • Author(s)
      森亮介, 四柳浩之, 橋爪正樹
    • Organizer
      平成28年度電気関係学会四国支部連合大会
    • Place of Presentation
      徳島大学(徳島県徳島市)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [Presentation] TDC 組込み型バウンダリスキャンを用いた複数 TSV の検査用信号の印加と観測について2016

    • Author(s)
      河口巧, 四柳浩之, 橋爪正樹
    • Organizer
      第75回FTC研究会
    • Place of Presentation
      ホテル木暮(群馬県渋川市)
    • Year and Date
      2016-07-14
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [Presentation] TSV故障検出回路におけるVDL回路部の遅延検出能力評価2015

    • Author(s)
      宮本 陽平, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      平成27年度電気関係学会四国支部連合大会
    • Place of Presentation
      高知工科大学(高知県香美市)
    • Year and Date
      2015-09-26
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [Presentation] On Generating Test Patterns for Time-to-digital Converter Embedded in Boundary-scan2015

    • Author(s)
      Keigo Hamada, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume
    • Organizer
      2015 Kyutech, UT, and Taiwan Tech Joint Workshop on Advanced VLSI Design Technologies
    • Place of Presentation
      台湾科技大学(台北,台湾)
    • Year and Date
      2015-03-05
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24500067
  • [Presentation] 微小遅延故障検査用遅延測定回路内の遅延付加部の改良2015

    • Author(s)
      石場 隆之, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      平成27年度電気関係学会四国支部連合大会
    • Place of Presentation
      高知工科大学(高知県香美市)
    • Year and Date
      2015-09-26
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [Presentation] On Multiple Path Testability of Delay Fault Design-for-testability Circuit2015

    • Author(s)
      Ryosuke Mori, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume
    • Organizer
      2015 Kyutech, UT, and Taiwan Tech Joint Workshop on Advanced VLSI Design Technologies
    • Place of Presentation
      台湾科技大学(台北,台湾)
    • Year and Date
      2015-03-05
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24500067
  • [Presentation] 隣接線の信号遷移を用いる多変量解析による半断線故障の検出可能性について2015

    • Author(s)
      伊勢 幸太郎, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, 樋上 喜信, 高橋 寛
    • Organizer
      電気関係学会四国支部連合大会講演論文集
    • Place of Presentation
      高知県香美市土佐山田町,高知工科大学
    • Year and Date
      2015-09-26
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [Presentation] Design-for-testability circuit for delay faults in sequential circuits2015

    • Author(s)
      Hiroyuki Yotsuyanagi
    • Organizer
      2015 Kyutech, UT, and Taiwan Tech Joint Workshop on Advanced VLSI Design Technologies
    • Place of Presentation
      台湾科技大学(台北,台湾)
    • Year and Date
      2015-03-05
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24500067
  • [Presentation] 断線故障検査における並走距離を考慮した隣接線の論理値割当候補の削減2015

    • Author(s)
      藤谷 和依, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      電気関係学会四国支部連合大会講演論文集
    • Place of Presentation
      高知県香美市土佐山田町,高知工科大学
    • Year and Date
      2015-09-26
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [Presentation] 遅延故障検査容易化回路を用いる同時検査対象経路選択条件の検討2015

    • Author(s)
      森 亮介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • Place of Presentation
      長崎県勤労福祉会館(長崎県長崎市)
    • Year and Date
      2015-12-01
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [Presentation] TDC組込み型バウンダリスキャンを用いた 2 経路同時遅延測定の実測による評価2015

    • Author(s)
      森 亮介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      平成27年度電気関係学会四国支部連合大会
    • Place of Presentation
      高知工科大学(高知県香美市)
    • Year and Date
      2015-09-26
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [Presentation] 遅延故障用バウンダリスキャンによるTSV検査法に関する研究2015

    • Author(s)
      濱田 圭吾, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      平成27年度電気関係学会四国支部連合大会
    • Place of Presentation
      高知工科大学(高知県香美市)
    • Year and Date
      2015-09-26
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [Presentation] On TSV Array Defect Detection Method Using Two Ring-oscillators Considering Signal Transitions at Adjacent TSVs2015

    • Author(s)
      Hiroyuki Yotsuyanagi, Akihiro Fujiwara and Masaki Hashizume
    • Organizer
      IEEE 3D System Integration Conference 2015
    • Place of Presentation
      仙台国際センター(宮城県仙台市)
    • Year and Date
      2015-08-31
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-15K00079
  • [Presentation] TDC組込み型バウンダリスキャン回路を用いた実測によるタイミング余裕の検証2014

    • Author(s)
      櫻井 浩希, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • Place of Presentation
      徳島大学(徳島県徳島市)
    • Year and Date
      2014-09-23
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24500067
  • [Presentation] 順序回路におけるパスの微小遅延故障を測定する遅延付加回路設計2014

    • Author(s)
      石場 隆之, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      電気関係学会四国支部連合大会
    • Place of Presentation
      徳島大学(徳島県徳島市)
    • Year and Date
      2014-09-13
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24500067
  • [Presentation] 遅延故障検査容易化設計用タイミング余裕計測回路の提案2014

    • Author(s)
      濱田 圭吾, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      電気関係学会四国支部連合大会
    • Place of Presentation
      徳島大学(徳島県徳島市)
    • Year and Date
      2014-09-13
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24500067
  • [Presentation] Delay Line Embedded in Boundary Scan for Testing TSVs2014

    • Author(s)
      Hiroyuki Yotsuyanagi, Hiroki Sakurai, Masaki Hashizume
    • Organizer
      Fifth IEEE International Workshop on Testing Three-Dimensional Stacked Integrated Circuits
    • Place of Presentation
      Washington State Convention Center (シアトル,アメリカ合衆国)
    • Year and Date
      2014-10-24
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24500067
  • [Presentation] Time-to-Digital Converter Embedded in Boundary-Scan Circuit and Its Application to 3D IC Testing2013

    • Author(s)
      Hiroki Sakurai, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masanori Nakamura, Masaki Hashizume
    • Organizer
      International Test Conference
    • Place of Presentation
      Disneyland Hotel (Anaheim, U.S.A.)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24500067
  • [Presentation] On SAT-based Test Generation for Observing Delay Variation Caused by a Resistive Open Fault and Its Adjacent Lines2013

    • Author(s)
      Jun Yamashita, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume, Yoshinobu Higami, and Hiroshi Takahashi
    • Organizer
      The 14th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • Place of Presentation
      Yilan, Taiwan
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [Presentation] 隣接TSVを考慮したTSV遅延故障検出法について2013

    • Author(s)
      四柳 浩之
    • Organizer
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • Place of Presentation
      機械振興会館(東京都)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24500067
  • [Presentation] 遅延故障検査容易化設計におけるSTAを用いる必要付加遅延量の導出2012

    • Author(s)
      四柳 浩之
    • Organizer
      電気関係学会四国支部連合大会
    • Place of Presentation
      四国電力株式会社 総合研修所(香川県)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24500067
  • [Presentation] TDCを組み込んだバウンダリスキャンを用いる複数パスの遅延検査について2012

    • Author(s)
      四柳浩之
    • Organizer
      第67回FTC研究会
    • Place of Presentation
      KKRホテルびわこ(滋賀県)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24500067
  • [Presentation] 抵抗性オープン故障に対する診断用テスト生成

    • Author(s)
      松川翔平, 高橋寛, 樋上喜信, 四柳浩之, 橋爪正樹
    • Organizer
      平成25年度電気関係学会四国支部連合大会 講演論文集
    • Place of Presentation
      徳島大学
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • [Presentation] 遅延故障検査容易化回路を用いた複数経路の同時検査可能性調査

    • Author(s)
      池地 大輔, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      電気関係学会四国支部連合大会
    • Place of Presentation
      徳島大学(徳島県徳島市)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24500067
  • [Presentation] TDC組込み型バウンダリスキャン回路による実測実験評価

    • Author(s)
      櫻井 浩希, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      第70回FTC研究会
    • Place of Presentation
      宝荘ホテル(愛媛県松山市)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24500067
  • [Presentation] TDC組込み型バウンダリスキャン回路による遅延検出能力評価

    • Author(s)
      櫻井 浩希, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • Place of Presentation
      機械振興会館(東京都港区)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24500067
  • [Presentation] TDC組込み型バウンダリスキャンを用いる製造ばらつきを考慮した遅延故障検査法

    • Author(s)
      二宮 孝暢, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • Organizer
      電気関係学会四国支部連合大会
    • Place of Presentation
      徳島大学(徳島県徳島市)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-24500067
  • [Presentation] SAT手法による隣接線影響を考慮した微小遅延故障検査用テストパターン生成に関する一考察

    • Author(s)
      山下淳, 四柳浩之, 橋爪正樹, 樋上喜信, 高橋寛
    • Organizer
      平成25年度電気関係学会四国支部連合大会 講演論文集
    • Place of Presentation
      徳島大学
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-25330063
  • 1.  HASHIZUME Masaki (40164777)
    # of Collaborated Projects: 2 results
    # of Collaborated Products: 22 results
  • 2.  Takahashi Hiroshi (80226878)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 9 results
  • 3.  樋上 喜信 (40304654)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 9 results
  • 4.  横山 洋之 (80250900)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 6 results
  • 5.  多田 哲生 (40368832)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 2 results

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