• Search Research Projects
  • Search Researchers
  • How to Use
  1. Back to previous page

Ou Shinrei  王 森レイ

… Alternative Names

Wang Senling  王 森レイ

Less
Researcher Number 90735581
Other IDs
  • ORCIDhttps://orcid.org/0000-0002-7129-8380
Affiliation (Current) 2025: 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 講師
Affiliation (based on the past Project Information) *help 2025: 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 講師
2017 – 2023: 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 講師
2016: 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 助教
Review Section/Research Field
Principal Investigator
Basic Section 60040:Computer system-related
Except Principal Investigator
Basic Section 60040:Computer system-related / Computer system
Keywords
Principal Investigator
ディペンダブルコンピューティング / 深層強化学習 / テスト / メモリ / シストリックアーキテクチャ / 集積回路回路 / シストリックアレイ / ニューラルネットワーク(NN) / MRP / AI(人工知能) … More / 時空間グラフ畳み込みニューラルネットワーク / テスト容易化 / セキュリティ / バウンダリスキャン / バイナリーニューラルネットワーク / 障害予告 / 故障検知 / エッジデバイス / IoT / フィールドテスト / 論理再構成 / 信頼性 / RO / 劣化 / Edge Device / Field Test / LUT / MRLD / 時間展開回路のテスト容易性 / 劣化遅延計測 / 多重故障 / 劣化検知 / 信頼性設計 / 論理再構成デバイス … More
Except Principal Investigator
組込み自己テスト / フィールドテスト / 故障診断 / テスト容易化設計 / LSIテスト / LSIのテスト / 故障検査 / ディペンダブルコンピューティング / 構造型情報処理アーキテクチャ / 検査容易化設計 / テスト容易化設計法 / 認証方式 / 信頼性強化設計法 / つながるデバイス / 出力応答圧縮 / テストパターン生成 / LSIの故障診断 / アダプティブ故障診断 / テストパターン / ニューラルネットワーク / 出力圧縮 / テストポイント / 機械学習 / 故障辞書 / 故障シミュレーション / ブリッジ故障 / テストパターン数削減 / 信号伝搬遅延変動 / 縮退故障 / マルチサイクルテスト / 遅延故障 / ディペンダブル・コンピューティング / 計算機システム / 先進運転支援システム / 先進自動運転 / 組込み自己診断法 / 機能安全 / 組込み自己診断 Less
  • Research Projects

    (8 results)
  • Research Products

    (110 results)
  • Co-Researchers

    (4 People)
  •  チップレットシステムにおける経年劣化に対する信頼性と安全性強化技術についてPrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      王 森レイ
    • Project Period (FY)
      2025 – 2027
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • Review Section
      Basic Section 60040:Computer system-related
    • Research Institution
      Ehime University
  •  Field Testing for Structure-Oriented Computing Architectures

    • Principal Investigator
      高橋 寛
    • Project Period (FY)
      2023 – 2025
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • Review Section
      Basic Section 60040:Computer system-related
    • Research Institution
      Ehime University
  •  メモリ型再構成エッジデバイスにおける高信頼性知的処理機能の設計法に関する研究Principal Investigator

    • Principal Investigator
      王 森レイ
    • Project Period (FY)
      2022 – 2024
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • Review Section
      Basic Section 60040:Computer system-related
    • Research Institution
      Ehime University
  •  Study on Adaptive Fault Diagnosis for Reducing Fault Diagnosis Time

    • Principal Investigator
      higami Yoshinobu
    • Project Period (FY)
      2019 – 2023
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • Review Section
      Basic Section 60040:Computer system-related
    • Research Institution
      Ehime University
  •  Study of Design for Trust for Field Test of Connected Devices

    • Principal Investigator
      Takahashi Hiroshi
    • Project Period (FY)
      2019 – 2022
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • Review Section
      Basic Section 60040:Computer system-related
    • Research Institution
      Ehime University
  •  Aging Fault Detection and Failure Prediction Technologies within IoT Edge DevicesPrincipal Investigator

    • Principal Investigator
      Wang Senling
    • Project Period (FY)
      2019 – 2022
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
    • Review Section
      Basic Section 60040:Computer system-related
    • Research Institution
      Ehime University
  •  Built-In Self Diagnosis for Functional Safety Assurance

    • Principal Investigator
      Takahashi Hiroshi
    • Project Period (FY)
      2016 – 2018
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • Research Field
      Computer system
    • Research Institution
      Ehime University
  •  Research on Test and Diagnosis for Delay Faults by Accurate Delay Fault Simulator

    • Principal Investigator
      Higami Yoshinobu
    • Project Period (FY)
      2016 – 2019
    • Research Category
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • Research Field
      Computer system
    • Research Institution
      Ehime University

All 2024 2023 2022 2021 2020 2019 2018 2017 2016

All Journal Article Presentation

  • [Journal Article] Testing and Delay-Monitoring for the High Reliability of Memory-Based Programmable Logic Device2024

    • Author(s)
      ZHOU Xihong、WANG Senling、HIGAMI Yoshinobu、TAKAHASHI Hiroshi
    • Journal Title

      IEICE Trans. Inf. & Syst.

      Volume: E107.D Issue: 1 Pages: 60-71

    • DOI

      10.1587/transinf.2023EDP7101

    • ISSN
      0916-8532, 1745-1361
    • Year and Date
      2024-01-01
    • Language
      English
    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [Journal Article] 深層強化学習によるマルチサイクルBIST向けテストポイント選定法2023

    • Author(s)
      塩谷晃平, 西川竜矢, 魏 少奇, 王 森レイ, 甲斐 博, 樋上喜信, 高橋 寛
    • Journal Title

      信学技報,

      Volume: 123 Pages: 23-28

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [Journal Article] SASL-JTAG: A Light-Weight Dependable JTAG2023

    • Author(s)
      Wang Senling、Wei Shaoqi、Ma Jun、Kai Hiroshi、Higami Yoshinobu、Takahashi Hiroshi、Shimizu Akihiro、Wen Xiaoqing、Ni Tianming
    • Journal Title

      Proc. in 2023 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

      Pages: 1-3

    • DOI

      10.1109/dft59622.2023.10313532

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [Journal Article] Improving of Fault Diagnosis Ability by Test Point Insertion and Output Compaction2023

    • Author(s)
      Higami Yoshinobu、Inamoto Tsutomu、Wang Senling、Takahashi Hiroshi、Saluja Kewal K.
    • Journal Title

      Proc. in 2023 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC)

      Volume: - Pages: 1-6

    • DOI

      10.1109/itc-cscc58803.2023.10212844

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22K11955, KAKENHI-PROJECT-19K11877
  • [Journal Article] A Compact TRNG Design for FPGA Based on the Metastability of RO-driven Shift Registers2023

    • Author(s)
      Peng Qingsong、Bian Jingchang、Huang Zhengfeng、Wang Senling、Yan Aibin
    • Journal Title

      ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems

      Volume: 29 Issue: 1 Pages: 1-17

    • DOI

      10.1145/3610295

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [Journal Article] Test Point Selection Using Deep Graph Convolutional Networks and Advantage Actor Critic (A2C) Reinforcement Learning2023

    • Author(s)
      Wei Shaoqi、Shiotani Kohei、Wang Senling、Kai Hiroshi、Higami Yoshinobu、Takahashi Hiroshi、Wang Gang
    • Journal Title

      Proc. in 2023 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC)

      Pages: 1-6

    • DOI

      10.1109/itc-cscc58803.2023.10212888

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [Journal Article] Test Point Selection Using Deep Graph Convolutional Networks and Advantage Actor Critic (A2C) Reinforcement Learning2023

    • Author(s)
      Shaoqi Wei, Kohei Shiotani, Senling Wang, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Gang Wang
    • Journal Title

      2023 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications,

      Volume: - Pages: 1-8

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K11033
  • [Journal Article] メモリ型論理再構成装置におけるニューラルネットワークの実装について2023

    • Author(s)
      笹川健太, 西川竜矢, 周 細紅, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛
    • Journal Title

      信学技報

      Volume: 123 Pages: 112-116

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [Journal Article] グラフニューラルネットワークと深層強化学習による論理回路のテストポイント選択法2023

    • Author(s)
      魏 少奇・塩谷晃平・王 森レイ・甲斐 博・樋上喜信・高橋 寛
    • Journal Title

      電子情報通信学会技術報告

      Volume: DC2022(87) Pages: 27-32

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [Journal Article] メモリズムパターンマッチングアクセラレータのFPGA実装と性能評価2023

    • Author(s)
      本田志遠, 西川竜矢, 周 細紅, 王 森レイ, 甲斐 博, 樋上喜信, 高橋 寛, 井上克己
    • Journal Title

      信学技報

      Volume: 123 Pages: 162-167

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [Journal Article] Enhancing Defect Diagnosis and Localization in Wafer Map Testing Through Weakly Supervised Learning2023

    • Author(s)
      Nie Mu、Jiang Wen、Yang Wankou、Wang Senling、Wen Xiaoqing、Ni Tianming
    • Journal Title

      Proc. in 2023 IEEE 32nd Asian Test Symposium (ATS)

      Pages: 1-6

    • DOI

      10.1109/ats59501.2023.10317989

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [Journal Article] メモリズムパターンマッチングアクセラレータのFPGA 実装と性能評価2023

    • Author(s)
      本田 志遠,西川 竜矢,周 細紅,王 森レイ,甲斐 博,樋上 喜信,高橋 寛,井上 克己
    • Journal Title

      電子情報通信学会信学技報

      Volume: DC2023-68 Pages: 162-167

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K11033
  • [Journal Article] A Lightweight and Machine-Learning-Resistant PUF framework based on Nonlinear Structure and Obfuscating Challenges2023

    • Author(s)
      Ni Tianming、Li Fei、Peng Qingsong、Wang Senling、Wen Xiaoqing
    • Journal Title

      Proc. in 2023 Asian Hardware Oriented Security and Trust Symposium (AsianHOST)

      Pages: 1-6

    • DOI

      10.1109/asianhost59942.2023.10409383

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [Journal Article] 深層強化学習によるマルチサイクルBIST向けテストポイント選定法2023

    • Author(s)
      塩谷 晃平,西川 竜矢,魏 少奇,王 森レイ,甲斐 博,樋上 喜信,高橋 寛
    • Journal Title

      電子情報通信学会信学技報

      Volume: DC2023-98 Pages: 23-28

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K11033
  • [Journal Article] Test Point Insertion for Multi-Cycle Power-On Self-Test2022

    • Author(s)
      Senling Wang, Xihong Zhou, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Iwata, Yoichi Maeda, Jun Matsushima
    • Journal Title

      ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems

      Volume: - Issue: 3 Pages: 1-21

    • DOI

      10.1145/3563552

    • Peer Reviewed / Open Access
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K11878, KAKENHI-PROJECT-19K20234, KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [Journal Article] グラフニューラルネットワークと深層強化学習による論理回路のテストポイント選択法2022

    • Author(s)
      魏 少奇 , 塩谷晃平 , 王 森レイ , 甲斐 博 , 樋上喜信 , 高橋 寛
    • Journal Title

      信学技報

      Volume: vol. 122(no. 393) Pages: 27-32

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Journal Article] ディープニューラルネットワークを利用したシステムに対する高効率な検証法2022

    • Author(s)
      白石忠明 , 高橋寛, WANG Senling
    • Journal Title

      情報科学技術フォーラム講演論文集 (FIT)

      Pages: 269-271

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [Journal Article] Preliminary Study on Noise-Resilient Artificial Neural Networks for On-Chip Test Generation2022

    • Author(s)
      Tsutomu Inamoto, Tomoki Nishino, Senling Wang, Yoshinobu Higami and Hiroshi Takahashi
    • Journal Title

      Proceedings of IEEE 11th Global Conference on Consumer Electronics

      Volume: - Pages: 561-565

    • DOI

      10.1109/gcce56475.2022.10014218

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K11877, KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Journal Article] 軽量なワンタイムパスワード認証方式を用いたJTAGアクセス機構のFPGA実装と面積評価2022

    • Author(s)
      岡本 悠 , 馬 竣 , 王 森レイ , 甲斐 博 , 高橋 寛 , 清水明宏
    • Journal Title

      信学技報

      Volume: vol. 122(no. 285) Pages: 168-173

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Journal Article] Machine Learning Based Fault Diagnosis for Stuck-at Faults and Bridging Faults2022

    • Author(s)
      Yoshinobu Higami, Takaya Yamauchi, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja
    • Journal Title

      Proceedings of International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications

      Volume: - Pages: 477-480

    • DOI

      10.1109/itc-cscc55581.2022.9894966

    • Peer Reviewed / Open Access / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K11877, KAKENHI-PROJECT-22K11955, KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Journal Article] グラフニューラルネットワークと深層強化学習による論理回路のテストポイント選択法2022

    • Author(s)
      魏 少奇 , 塩谷晃平 , 王 森レイ , 甲斐 博 , 樋上喜信 , 高橋 寛
    • Journal Title

      信学技報

      Volume: vol.122(no.393) Pages: 27-32

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [Journal Article] ディープニューラルネットワークを利用したシステムに対する高効率な検証法2022

    • Author(s)
      白石忠明 , 高橋寛, WANG Senling
    • Journal Title

      情報科学技術フォーラム講演論文集 (FIT)

      Volume: 21st Pages: 269-271

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Journal Article] 軽量なワンタイムパスワード認証方式を用いたJTAGアクセス機構のFPGA実装と面積評価2022

    • Author(s)
      岡本 悠 , 馬 竣 , 王 森レイ , 甲斐 博 , 高橋 寛 , 清水明宏
    • Journal Title

      信学技報

      Volume: vol.122(no.285) Pages: 168-173

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [Journal Article] 軽量なワンタイムパスワード認証方式を用いたJTAGアクセス機構のFPGA実装と面積評価2022

    • Author(s)
      岡本 悠, 馬 竣, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛, 清水明宏
    • Journal Title

      電子情報通信学会技術報告

      Volume: DC2022(64) Pages: 168-173

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [Journal Article] JTAGのセキュリティ脅威  ―攻撃の現状とその対策―2021

    • Author(s)
      王シンレイ,亀山修一,高橋寛
    • Journal Title

      エレクトロニクス実装学会学会誌

      Volume: 24 Pages: 668-674

    • NAID

      130008110211

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [Journal Article] Compaction of Fault Dictionary without Degrading Diagnosis Ability,2021

    • Author(s)
      Yoshinobu Higami, Tomokazu Nakamura, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja
    • Journal Title

      Proceedings of International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications

      Volume: - Pages: 51-54

    • DOI

      10.1109/itc-cscc52171.2021.9501474

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K11877, KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Journal Article] JTAG Security Threats: Current Attacks and Countermeasures2021

    • Author(s)
      Wang Senling、Kameyama Shuichi、Takahashi Hiroshi
    • Journal Title

      Journal of The Japan Institute of Electronics Packaging

      Volume: 24 Issue: 7 Pages: 668-674

    • DOI

      10.5104/jiep.24.668

    • NAID

      130008110211

    • ISSN
      1343-9677, 1884-121X
    • Year and Date
      2021-11-01
    • Language
      Japanese
    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Journal Article] Diagnosis for Interconnect Faults in Memory-based Reconfigurable Logic Device2021

    • Author(s)
      Xihong Zhou , Senling Wang , Yoshinobu Higami , Hiroshi Takahashi
    • Journal Title

      IEEE the 22nd Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT)

      Pages: 11-16

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Journal Article] MNN: A Solution to Implement Neural Networks into a Memory-based Reconfigurable Logic Device (MRLD)2021

    • Author(s)
      Zhou Xihong、Wang Senling、Higami Yoshinobu、Takahashi Hiroshi、Katsu Mitsunori、Sekiguchi Shoichi
    • Journal Title

      2021 36th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC)

      Pages: 1-4

    • DOI

      10.1109/itc-cscc52171.2021.9501454

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Journal Article] Reduction of Fault Dictionary Size by Optimizing the Order of Test Patterns Application2020

    • Author(s)
      Yoshinobu Higami; Tsutomu Inamoto; Senling Wang; Hiroshi Takahashi; Kewal K. Saluja
    • Journal Title

      International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications

      Pages: 131-136

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Journal Article] FF-Control Point Insertion (FF-CPI) to Overcome the Degradation of Fault Detection under Multi-Cycle Test for POST2020

    • Author(s)
      Al-AWADHI Hanan T.、AONO Tomoki、WANG Senling、HIGAMI Yoshinobu、TAKAHASHI Hiroshi、IWATA Hiroyuki、MAEDA Yoichi、MATSUSHIMA Jun
    • Journal Title

      IEICE Trans. Inf. & Syst.

      Volume: E103.D Issue: 11 Pages: 2289-2301

    • DOI

      10.1587/transinf.2019EDP7235

    • NAID

      130007933859

    • ISSN
      0916-8532, 1745-1361
    • Year and Date
      2020-11-01
    • Language
      English
    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K11878, KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Journal Article] Aging Monitoring for Memory-based Reconfigurable Logic Device (MRLD)2020

    • Author(s)
      Xihong Zhou; Senling Wang; Yoshinobu Higami; Hiroshi Takahashi
    • Journal Title

      International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications

      Pages: 228-233

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Journal Article] マルチサイクルテストにおける故障検出率の推定法2020

    • Author(s)
      中岡典弘 , 王 森レイ , 樋上喜信 , 高橋 寛 , 岩田浩幸 , 前田洋一 , 松嶋 潤
    • Journal Title

      信学技報

      Volume: vol. 120, no. 358 Pages: 36-41

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Journal Article] マルチサイクルテストにおけるスキャンパターン削減指向制御ポイントの選定法2020

    • Author(s)
      環 輝・王 森レイ・樋上喜信・高橋 寛・岩田浩幸・前田洋一・松嶋 潤
    • Journal Title

      電子情報通信学会技術報告

      Volume: DC2020-35 Pages: 24-29

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [Journal Article] Reduction of Fault Dictionary Size by Optimizing the Order of Test Patterns Application2020

    • Author(s)
      Yoshinobu Higami, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja
    • Journal Title

      Proc. Int. Technical Conf. on Circuits/Systems, Computers and Communications

      Volume: - Pages: 131-136

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K11877
  • [Journal Article] マルチサイクルテストにおけるスキャンパターン削減指向制御ポイントの選定法2020

    • Author(s)
      環 輝,王 森レイ, 樋上喜信,高橋 寛,岩田浩幸,前田洋一,松嶋 潤
    • Journal Title

      信学技報

      Volume: vol. 120, no. 236 Pages: 24-29

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Journal Article] マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのテストポイント挿入法2020

    • Author(s)
      青野智己, 中岡典弘, 周 細紅, 王 森レイ, 樋上喜信, 高橋 寛, 岩田浩幸, 前田洋一, 松嶋 潤
    • Journal Title

      電子情報通信学会技術研究報告

      Volume: 119 Pages: 19-24

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Journal Article] マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのテストポイント挿入法2020

    • Author(s)
      青野智己, 中岡典弘, 周 細紅, 王 森レイ, 樋上喜信, 高橋 寛, 岩田浩幸, 前田洋一, 松嶋 潤
    • Journal Title

      電子情報通信学会技術報告

      Volume: 119 Pages: 19-24

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [Journal Article] マルチサイクルテストにおける故障検出率の推定法2020

    • Author(s)
      中岡典弘・王 森レイ・樋上喜信・高橋 寛・岩田浩幸・前田洋一・松嶋 潤
    • Journal Title

      電子情報通信学会技術報告

      Volume: DC2020-75 Pages: 36-41

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [Journal Article] マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのFFトグル制御ポイントの選択法2019

    • Author(s)
      青野智己, Hanan T.Al-Awadhi, 王 森レイ, 樋上喜信, 高橋 寛, 岩田浩幸, 前田洋一, 松嶋 潤
    • Journal Title

      電子情報通信学会技術研究報告

      Volume: 118 Pages: 49-54

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Journal Article] Feasibility of Machine Learning Algorithm for Test Partitioning2019

    • Author(s)
      Wang Senling、Al-Awadhi Hanan T.、Aohagi Masatoshi、Higami Yoshinobu、Takahashi Hiroshi
    • Journal Title

      International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications

      Volume: - Pages: 1-4

    • DOI

      10.1109/itc-cscc.2019.8793328

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Journal Article] Compact Dictionaries for Reducing Compute Time in Adaptive Diagnosis2019

    • Author(s)
      Yoshinobu Higami, Tomokazu Nakamura, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K Saluja
    • Journal Title

      Proceedings Internationa Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications

      Volume: - Pages: 525-528

    • DOI

      10.1109/itc-cscc.2019.8793429

    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K11877, KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Journal Article] 確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析2019

    • Author(s)
      中岡典弘,青野智己,工藤壮司,王 森レイ,樋上喜信,高橋 寛,岩田浩幸,前田洋一,松嶋 潤
    • Journal Title

      電子情報通信学会技術報告

      Volume: 119 Pages: 145-150

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [Journal Article] 確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析2019

    • Author(s)
      中岡典弘,青野智己,工藤壮司,王 森レイ,樋上喜信,高橋 寛,岩田浩幸,前田洋一,松嶋 潤
    • Journal Title

      電子情報通信学会技術研究報告

      Volume: 119 Pages: 145-150

    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Journal Article] Automotive Functional Safety Assurance by POST with Sequential Observation2018

    • Author(s)
      S. Wang, Y. Higami, H. Iwata, J. Matsushima, H. Takahashi
    • Journal Title

      IEEE Design and Test of Computers

      Volume: -

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [Journal Article] Fault-detection-strengthened method to enable the POST for very-large automotive MCU in compliance with ISO262622018

    • Author(s)
      Senling Wang,Yoshinobu Higami,Hiroshi Takahashi,Hiroyuki Iwata,Yoichi Maeda,Jun Matsushima
    • Journal Title

      Proc. 23rd IEEE European Test Symposium, ETS 2018

      Volume: - Pages: 1-2

    • DOI

      10.1109/ets.2018.8400707

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [Journal Article] Automotive Functional Safety Assurance by POST with Sequential Observation2018

    • Author(s)
      S. Wang, Y. Higami, H. Takahashi, H. Iwata, J. Matsushima
    • Journal Title

      IEEE Design & Test

      Volume: 35(3) Issue: 3 Pages: 39-45

    • DOI

      10.1109/mdat.2018.2799801

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [Journal Article] Fault-Detection-Strengthened Method to Enable the POST for Very-Large Automotive MCU in Compliance with ISO262622018

    • Author(s)
      S. Wang , Y. Higami, H. Iwata, Y. Maeda, J. Matsushima, H. Takahasi
    • Journal Title

      IEEE European Test Symposium

      Volume: -

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [Journal Article] Capture-Pattern-Control to Address the Fault Detection Degradation Problem of Multi-cycle Test in Logic BIST2018

    • Author(s)
      Senling Wang,Tomoki Aono,Yoshinobu Higami,Hiroshi Takahashi,Hiroyuki Iwata,Yoichi Maeda,Jun Matsushima
    • Journal Title

      Proc. 27th IEEE Asian Test Symposium, ATS 2018

      Volume: - Pages: 155-160

    • DOI

      10.1109/ats.2018.00038

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [Journal Article] Pattern Partitioning based Field Testing for Improving the Detection Latency of Aging-induced Delay Faults2017

    • Author(s)
      H.T. Al-Awadhi, S. Wang, Y. Higami, H. Takahashi
    • Journal Title

      International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications

      Volume: - Pages: 1-4

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [Journal Article] A Method for Diagnosing Bridging Fault between a Gate Signal Line and a Clock Line2017

    • Author(s)
      Y. Higami, S. Wang, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. K. Saluja
    • Journal Title

      IEICE Trans. Inf. & Syst.

      Volume: E100.D Issue: 9 Pages: 2224-2227

    • DOI

      10.1587/transinf.2016EDL8210

    • NAID

      130006038431

    • ISSN
      0916-8532, 1745-1361
    • Language
      English
    • Peer Reviewed / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16K00075
  • [Journal Article] Testing of Interconnect Defects in Memory Based Reconfigurable Logic Device (MRLD)2017

    • Author(s)
      Wang Senling、Higami Yoshinobu、Takahashi Hiroshi、Sato Masayuki、Katsu Mitsunori、Sekiguchi Shoichi
    • Journal Title

      IEEE Asian Test Symposium

      Volume: - Pages: 13-18

    • DOI

      10.1109/ats.2017.16

    • Peer Reviewed
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [Journal Article] Structure-Based Methods for Selecting Fault-Detection-Strengthened FF under Multi-cycle Test with Sequential Observation2016

    • Author(s)
      Senling Wang, Hanan T. Al-Awadhi, Soh Hamada, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Iwata, Jun Matsushima
    • Journal Title

      Proc. IEEE Asian Test Symposium

      Volume: - Pages: 209-214

    • DOI

      10.1109/ats.2016.40

    • Peer Reviewed / Acknowledgement Compliant
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [Journal Article] 論理回路の組込み自己診断に関する提案2016

    • Author(s)
      香川 敬祐, 矢野 郁也, 王 森レイ,樋上 喜信,高橋 寛,大竹 哲史
    • Journal Title

      電子情報通信学会技術研究報告

      Volume: DC2016-76 Pages: 11-16

    • Acknowledgement Compliant
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [Presentation] 深層強化学習によるマルチサイクルBIST向けテストポイント選定法2024

    • Author(s)
      塩谷 晃平,西川 竜矢,魏 少奇,王 森レイ,甲斐 博,樋上 喜信,高橋 寛
    • Organizer
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K11033
  • [Presentation] Automotive Functional Safety Assurance with Multi-cycle POST2023

    • Author(s)
      Senling Wang
    • Organizer
      The 1st Workshop on Emerging Test Technologies Workshop on Automotive Functional Safety (ETT-FuSa'23)
    • Invited / Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [Presentation] Test Point Selection Using Deep Graph Convolutional Networks and Advantage Actor Critic (A2C) Reinforcement Learning2023

    • Author(s)
      Senling Wang
    • Organizer
      the International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications, ITC-CSCC
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [Presentation] メモリズムパターンマッチングアクセラレータのFPGA 実装と性能評価2023

    • Author(s)
      本田 志遠,西川 竜矢,周 細紅,王 森レイ,甲斐 博,樋上 喜信,高橋 寛,井上 克己
    • Organizer
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K11033
  • [Presentation] Test Point Selection Using Deep Graph Convolutional Networks and Advantage Actor Critic (A2C) Reinforcement Learning2023

    • Author(s)
      Shaoqi Wei, Kohei Shiotani, Senling Wang, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Gang Wang
    • Organizer
      2023 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications,
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-23K11033
  • [Presentation] SASL-JTAG: A Light-Weight Dependable JTAG2023

    • Author(s)
      Senling Wang
    • Organizer
      the 36th IEEE Int'l Symp. on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems,
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [Presentation] エッジデバイスにおける SAS 認証回路の設計と実装2022

    • Author(s)
      岡本 悠, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛, 清水 明宏
    • Organizer
      電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [Presentation] グラフ構造強化学習を用いたテスト検査点選定法2022

    • Author(s)
      塩谷 晃平, 魏少奇, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛
    • Organizer
      2022年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [Presentation] グラフ構造強化学習を用いたテスト検査点選定法2022

    • Author(s)
      塩谷 晃平, 魏少奇, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛
    • Organizer
      2022年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Presentation] ワンタイムパスワードによるJTAG アクセス認証アーキテクチャのFPGA 実装と機能検証2022

    • Author(s)
      馬 竣, 岡本 悠, 魏 少奇, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛, 清水 明宏
    • Organizer
      第37回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Presentation] JTAG 認証機構の軽量化設計について2022

    • Author(s)
      馬竣 岡本悠 王森レイ 甲斐博 亀山修一 高橋寛 清水明宏
    • Organizer
      第36回エレクトロニクス実装学会春季講演大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [Presentation] ワンタイムパスワードによるJTAG アクセス認証アーキテクチャのFPGA 実装と機能検証2022

    • Author(s)
      馬 竣, 岡本 悠, 魏 少奇, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛, 清水 明宏
    • Organizer
      第37回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [Presentation] SAS-L を用いた JTAG 認証システムのアクセスポートロック機能回路の設計と実装2022

    • Author(s)
      馬 竣, 岡本 悠, 王 森レイ, 甲斐 博, 亀山 修一, 高橋 寛, 清水 明宏
    • Organizer
      2022年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Presentation] マルチサイクルテストによるテストパターン削減2022

    • Author(s)
      中野 潤平, 王 森レイ, 甲斐 博, 樋上 喜信, 高橋 寛
    • Organizer
      電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [Presentation] サイバーフィジカルシステムにおけるセキュリティ脅威と対策について2022

    • Author(s)
      王 森レイ
    • Organizer
      バウンダリスキャン研究会 2022年度公開研究会
    • Invited
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [Presentation] マルチサイクルテストによるテストパターン削減2022

    • Author(s)
      中野 潤平, 王森レイ, 甲斐 博, 樋上喜信, 高橋 寛
    • Organizer
      2022年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [Presentation] シングルボードコンピュータ上でのSAS認証方式の計算時間の評価2022

    • Author(s)
      荻田高史郎 甲斐 博・王 森レイ・高橋 寛・清水明宏
    • Organizer
      電子情報通信学会総合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [Presentation] SAS-L を用いた JTAG 認証システムのアクセスポートロック機能回路の設計と実装2022

    • Author(s)
      馬 竣, 岡本 悠, 王 森レイ, 甲斐 博, 亀山 修一, 高橋 寛, 清水 明宏
    • Organizer
      電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [Presentation] マルチサイクルテストによるテストパターン削減2022

    • Author(s)
      中野 潤平, 王森レイ, 甲斐 博, 樋上喜信, 高橋 寛
    • Organizer
      2022年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Presentation] エッジデバイスにおける SAS 認証回路の設計と実装2022

    • Author(s)
      岡本 悠, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋, 寛, 清水 明宏
    • Organizer
      2022年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [Presentation] マルチサイクルの機能動作による故障診断能力の向上について2022

    • Author(s)
      神崎 壽伯, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛
    • Organizer
      電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [Presentation] マルチサイクルの機能動作による故障診断能力の向 上について2022

    • Author(s)
      神崎壽伯, 王森レイ, 甲斐博, 高橋寛
    • Organizer
      2022年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Presentation] グラフ構造強化学習を用いたテスト検査点選定法2022

    • Author(s)
      塩谷 晃平, 魏 少奇, 王 森レイ, 甲斐 博, 高橋 寛
    • Organizer
      電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [Presentation] ローエンドエッジデバイスにおける SAS 認証方式の処理時間の評価2022

    • Author(s)
      荻田 高史郎, 清水 健吾, 中西 佳菜子, 甲斐 博, 王 森レイ, 高橋 寛, 清水 明宏
    • Organizer
      2022年電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-22K11955
  • [Presentation] 機械学習を用いた複数故障モデルの故障診断2021

    • Author(s)
      山内 崇矢, 稲元 勉, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛
    • Organizer
      令和3年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Presentation] グラフ畳み込みニューラルネットワークを用いたテ ストポイント選定について2021

    • Author(s)
      魏 少奇, 王 森レイ, 甲斐 博, 樋上 喜信, 高橋 寛
    • Organizer
      令和3年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Presentation] 機械学習を用いた複数故障モデルの故障診断2021

    • Author(s)
      山内崇矢,稲元勉,王森レイ,樋上喜信,高橋寛
    • Organizer
      令和3年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K11877
  • [Presentation] マルチサイクルテストの導入による組込自己診断の故障診断能力評価2021

    • Author(s)
      王宇超, 王森レイ, 樋上喜信, 甲斐博, 高橋寛
    • Organizer
      令和3年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [Presentation] グラフ畳み込みニューラルネットワークを用いたテストポイント選定について2021

    • Author(s)
      魏少奇, 王森レイ, 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛
    • Organizer
      令和3年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [Presentation] マルチサイクル機能動作による故障診断用パターン生成2021

    • Author(s)
      神崎 壽伯, 王 森レイ, 樋上 喜, 信, 甲斐 博, 高橋 寛
    • Organizer
      令和3年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Presentation] マルチサイクル機能動作による故障診断用パターン生成2021

    • Author(s)
      神崎壽伯, 王シンレイ, 樋上喜信, 甲斐博, 高橋寛
    • Organizer
      令和3年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [Presentation] マルチサイクルテストの導入による組込自己診断の 故障診断能力評価2021

    • Author(s)
      王 宇超, 王 森レイ, 樋上 喜信, 甲斐 博, 高橋 寛
    • Organizer
      令和3年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Presentation] ハイブリッドテストポイント挿入法のマルチサイクルテストへの適用とその性能評価2020

    • Author(s)
      中岡典弘・青野智己・王 森レイ・高橋 寛・ 松嶋 潤・岩田浩幸・前田洋一
    • Organizer
      電子情報通信学会総合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [Presentation] ハイブリッドテストポイント挿入法のマルチサイクルテストへの適用とその性能評価2020

    • Author(s)
      中岡典弘・青野智己・王 森レイ・高橋 寛(愛媛大)・ 松嶋 潤・岩田浩幸・前田洋一(ルネサスエレクトロニクス)
    • Organizer
      電子情報通信学会総合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Presentation] マルチサイクルテストのテスト容易化のための制御ポイント選定法2020

    • Author(s)
      環 輝・王 森レイ・樋上喜信・高橋 寛
    • Organizer
      令和2年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [Presentation] メモリベース論理再構成デバイス(MRLD)における劣化状態検知のためのリングオシレータ実装2020

    • Author(s)
      周 細紅、王 森レイ、樋上 喜信、高橋 寛
    • Organizer
      第34回エレクトロニクス実装学会春季講演大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Presentation] 圧縮故障辞書を用いたフィールド故障診断2019

    • Author(s)
      中村 友和,稲元 勉, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛
    • Organizer
      電気関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Presentation] マルチサイクルテストにおける故障検出低下問題の解析とその対策2019

    • Author(s)
      青野智己,王 森レイ, 樋上喜信, 高橋 寛
    • Organizer
      電気関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Presentation] 論理再構成デバイス(MRLD)における配置配線を考慮した完全オープン故障に対するテスト手法2019

    • Author(s)
      中岡 典弘,王 森レイ, 高橋 寛
    • Organizer
      電気関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K20234
  • [Presentation] 圧縮故障辞書を用いたフィールド故障診断2019

    • Author(s)
      中村 友和, 稲元 勉, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛
    • Organizer
      電気関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16K00075
  • [Presentation] マルチサイクルテストにおける故障検出低下問題の解析とその対策2019

    • Author(s)
      青野智己,王 森レイ, 樋上喜信, 高橋 寛
    • Organizer
      電気関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-19K11878
  • [Presentation] 機械学習を適用した半断線故障判別法の評価2018

    • Author(s)
      増成紳介,青萩正俊,王森レイ, 樋上喜信,高橋寛,四柳浩之,橋爪正樹
    • Organizer
      電気関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [Presentation] Fault Diagnosis Considering Path Delay Variations in Multi Cycle Test Environment2018

    • Author(s)
      Yoshinobu Higami, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K Saluja
    • Organizer
      International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16K00075
  • [Presentation] キャプチャパターン制御機構を付加したフリップフロップの選択法2018

    • Author(s)
      矢野良典,青野智己,王森レイ, 樋上喜信,高橋 寛
    • Organizer
      電気関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [Presentation] マルチサイクルテストの故障検出率の低下を改善するためのキ ャプチャパターン制御法2018

    • Author(s)
      青野智己,矢野良典,王森レイ, 樋上喜信,高橋寛
    • Organizer
      電気関係学会四国支部連合大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [Presentation] 可変サイクルテストのテスト圧縮効果2017

    • Author(s)
      矢野 良典,王森レイ,樋上喜信,高橋 寛
    • Organizer
      電気関係学会四国支部大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [Presentation] マルチサイクルテストにおける故障検出率最大化のための電力制御法2017

    • Author(s)
      高原 圭太,王森レイ,樋上喜信,高橋 寛
    • Organizer
      電気関係学会四国支部大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [Presentation] 再構成可能デバイスMRLDのための接続欠陥テスト2017

    • Author(s)
      小川達也,王森レイ,高橋 寛,佐藤正幸
    • Organizer
      情報科学技術フォーラム
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [Presentation] Adaptive Field Diagnosis for Reducing the Number of Test Patterns2017

    • Author(s)
      Y. Higami, S. Wang, H. Takahashi and K. K. Saluja
    • Organizer
      International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16K00075
  • [Presentation] 組込み自己診断向けのテストパターン生成法2017

    • Author(s)
      松田 優太,王森レイ,樋上喜信,高橋 寛
    • Organizer
      電気関係学会四国支部大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [Presentation] フィールドテストにおけるテスト集合分割法2017

    • Author(s)
      青萩 正俊,増成 紳介,王森レイ,樋上喜信,高橋 寛
    • Organizer
      電気関係学会四国支部大会
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [Presentation] Multi-Cycle Test Diagnosis for Path Delay Variations2016

    • Author(s)
      Y. Higami, S. Wang, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. K. Saluja
    • Organizer
      Taiwan and Japan Conference on Circuits and Systems
    • Place of Presentation
      Tainan, Taiwan
    • Year and Date
      2016-07-31
    • Int'l Joint Research
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16K00075
  • [Presentation] マルチサイクルテストにおけるクロック信号線のd-故障に対するテストパターン生成について2016

    • Author(s)
      和田祐介, 樋上喜信, 王森レイ, 高橋寛, 小林真也
    • Organizer
      電気関係学会四国支部連合大会
    • Place of Presentation
      徳島大学(徳島県徳島市)
    • Year and Date
      2016-09-17
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16K00075
  • [Presentation] 矢野郁也, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛2016

    • Author(s)
      矢野郁也, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛
    • Organizer
      電気関係学会四国支部大会
    • Place of Presentation
      徳島大学(徳島県・徳島市)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [Presentation] 中間観測FF選択法の大規模ベンチマーク回路に対する評価2016

    • Author(s)
      濱田 宗, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛, 岩田 浩幸, 松嶋 潤
    • Organizer
      電気関係学会四国支部大会
    • Place of Presentation
      徳島大学(徳島県・徳島市)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • [Presentation] マルチサイクテストにおけるFFの接続 情報を用いた中間観測FFの選択法2016

    • Author(s)
      高原 圭太, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛
    • Organizer
      電気関係学会四国支部大会
    • Place of Presentation
      徳島大学(徳島県・徳島市)
    • Data Source
      KAKENHI-PROJECT-16K00074
  • 1.  Takahashi Hiroshi (80226878)
    # of Collaborated Projects: 6 results
    # of Collaborated Products: 71 results
  • 2.  Higami Yoshinobu (40304654)
    # of Collaborated Projects: 6 results
    # of Collaborated Products: 55 results
  • 3.  大竹 哲史 (20314528)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 1 results
  • 4.  稲元 勉 (10379513)
    # of Collaborated Projects: 1 results
    # of Collaborated Products: 6 results

URL: 

Information User Guide FAQ News Terms of Use Attribution of KAKENHI

Powered by NII kakenhi