書誌事項
- タイトル別名
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- X-ray fluorescence holography
- ケイコウ Xセン ホログラフィー
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抄録
<p>蛍光X線ホログラフィーは,蛍光X線を発する原子の周りの三次元原子配置を一義的に決定できる新しい構造解析手法である.筆者らは最先端のX線技術を駆使した専用の蛍光X線ホログラフィー装置を開発し,精度の高いホログラムデータを測定することに成功した.また,薄膜・ドーパントへの応用例を紹介し,局所格子ひずみの定量に対する展望を述べる.</p>
収録刊行物
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- 応用物理
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応用物理 72 (7), 865-871, 2003-07-10
公益社団法人 応用物理学会
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詳細情報
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- CRID
- 1390001277357139200
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- NII論文ID
- 10011244890
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- NII書誌ID
- AN00026679
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- ISSN
- 21882290
- 03698009
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- NDL書誌ID
- 6635906
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可