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池田 誠  Ikeda Makoto

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 00282682
その他のID
所属 (現在) 2025年度: 東京大学, 大学院工学系研究科(工学部), 教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2013年度: 東京大学, 工学(系)研究科(研究院), 教授
2012年度: 東京大学, 大規模集積システム設計教育研究センター, 准教授
2011年度: 東京大学, 大規模集積シスアム設計教育研究センター, 准教授
2007年度 – 2008年度: 東京大学, 大規模集積システム設計教育研究センター, 准教授
2006年度: 東京大学, 大規模集積システム設計教育研究センター, 助教授
2000年度: 東京大学, 大学院・工学系研究科, 講師
1997年度 – 1999年度: 東京大学, 大規模集積システム設計教育研究センター, 講師
審査区分/研究分野
研究代表者
電子デバイス・電子機器 / 電子デバイス・機器工学
研究代表者以外
電子デバイス・機器工学
キーワード
研究代表者
歩留まり / 背景光 / 二次元構造光 / 三角測量 / 全画素並列 / 注目点のみ検波 / 背景光除去 / イメージセンサ / 時間符号化二次元パタン / 二進木探索 … もっと見る / ピクセル読み出し回路共有 / 光走行時間法 / 検波 / ROI / 検波回路 / 背景光抑圧 / TOF / 光切断法 / 三次元形状計測 / 設計製造性 / セルレイアウト / 光学近接効果補正 / 光学近接効果 / レイアウト設計 / クリティカルエリア / セルレイアウト自動合成 / 露光時間 / 焦点深度 / セル歩留まり / セルリーク電流最小化 / 網羅的セルレイアウト生成 / OPC / マスクレイアウト設計 / 電子機器 / 電子デバイス / 製造ばらつき / 動作速度 / デジタルLSI / 自動設計 / winner-take-all回路 / 距離最小探索回路 / 時間領域方式 / 自己相関 / 疑似バスデータ系列 / 統計的処理 / 最小ハミング距離検出 / データ圧縮 / 消費電力削減 / 大規模集積回路 / 符号化アルゴリズム / チップインターフェース / 適応型 / コード帳符号化 … もっと見る
研究代表者以外
data encoding / chip interface / microprocessor / power reduction / average operation speed / pseudo-asynchronous / completion prediction / adder / 終了予測型加算器 / LSI IP / 加算器 / シフトレジスタ / 疑似非同期 / データ符号化 / チップインターフェース / マイクロプロセッサ / 消費電力削減 / 平均演算速度 / 擬似非同期 / 演算終了予測 / 加算回路 / open / short / Voltage scan-path / voltage sampler / Power line noise / Design rule / Power supply lines / VLSI / 電源線ノイズ / 断線 / 短絡 / 電圧スキャンパス / 電圧サンプラ / 電源線雑音 / 設計規則 / 電源配線 / 大規模集積回路 隠す
  • 研究課題

    (6件)
  • 研究成果

    (53件)
  • 共同研究者

    (3人)
  •  背景光の変動に強い微弱光を用いた高精度・高速三次元形状計測システムの構築研究代表者

    • 研究代表者
      池田 誠
    • 研究期間 (年度)
      2011 – 2013
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      電子デバイス・電子機器
    • 研究機関
      東京大学
  •  光学近接効果を考慮した歩留まり最適レイアウト生成研究代表者

    • 研究代表者
      池田 誠
    • 研究期間 (年度)
      2006 – 2008
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      電子デバイス・電子機器
    • 研究機関
      東京大学
  •  最短距離探索機構を有する機能メモリーの研究研究代表者

    • 研究代表者
      池田 誠
    • 研究期間 (年度)
      1999 – 2000
    • 研究種目
      奨励研究(A)
    • 研究分野
      電子デバイス・機器工学
    • 研究機関
      東京大学
  •  大規模集積回路設計データの知的検証に関する研究

    • 研究代表者
      浅田 那博 (浅田 邦博)
    • 研究期間 (年度)
      1998 – 1999
    • 研究種目
      基盤研究(A)
    • 研究分野
      電子デバイス・機器工学
    • 研究機関
      東京大学
  •  新しい同期概念を用いたマイクロプロセッサアーキテクチャの研究

    • 研究代表者
      浅田 邦博
    • 研究期間 (年度)
      1998 – 1999
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      電子デバイス・機器工学
    • 研究機関
      東京大学
  •  大規模集積システムのチップインターフェースにおける消費電力削減に関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      池田 誠
    • 研究期間 (年度)
      1997 – 1998
    • 研究種目
      奨励研究(A)
    • 研究分野
      電子デバイス・機器工学
    • 研究機関
      東京大学

すべて 2014 2013 2012 2011 2009 2008 2007

すべて 雑誌論文 学会発表 産業財産権

  • [雑誌論文] A Structured Light 3-D Acquisition System with a CMOS Image Sensor for Background Suppression and Frequency and Phase Detection2014

    • 著者名/発表者名
      Hiroki Yabe, Makoto Ikeda
    • 雑誌名

      ITE Transactions on Media Technology and Applications

      巻: Vol. 2, No.2 ページ: 154-160

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [雑誌論文] A Structured Light 3-D Acquisition System with a CMOS Image Sensor for Background Suppression and Frequency and Phase Detection2014

    • 著者名/発表者名
      H. Yabe, M. Ikeda
    • 雑誌名

      ITE Transactions on Media Technology and Applications

      巻: Vol. 2, No. 2 ページ: 154-160

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [雑誌論文] 3-D Range Map Acquisition System Based on CMOS Image Sensor Using Time-Multiplexing Structured Pattern2012

    • 著者名/発表者名
      H. Yabe and M. Ikeda
    • 雑誌名

      IEICE Trans. on Electronics

      巻: Vol. E95-C, No. 4 ページ: 635-642

    • NAID

      10030940886

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [雑誌論文] Cascaded Time Difference Amplifier With Differential Logic Delay Cell2011

    • 著者名/発表者名
      S. Mandai, T. Nakura, T. Iizuka, M. Ikeda and K. Asada
    • 雑誌名

      IEICE Trans. on Electronics

      巻: Vol. E94-C, No.4 ページ: 654-662

    • NAID

      10029505749

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [雑誌論文] 3次元形状計測カメラ~Smart Image Sensorを用いた高性能3次元形状測定システムの実現例~2011

    • 著者名/発表者名
      池田誠
    • 雑誌名

      映像情報メディア学会誌

      巻: Vol.66, No.3 ページ: 204-208

    • NAID

      110009668969

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [雑誌論文] 1.0ps Resolution Time-to-Digital Converter based on Cascaded Time-Difference-Amplifier utilizing Differential Logic Delay Cells2011

    • 著者名/発表者名
      S. Mandai, T. Iizuka, T. Nakura, M. Ikeda and K. Asada
    • 雑誌名

      IEICE Trans. on Electronics

      巻: Vol. E94-C, No.6 ページ: 1098-1104

    • NAID

      10029804423

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [雑誌論文] A Temperature Sensor With an Inaccuracy of-1/+0.8℃ Using 90-nm 1-V CMOS for Online Thermal Monitoring of VLSI Circuits2008

    • 著者名/発表者名
      M. Sasaki, M. Ikeda and K. Aasada
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing Vol.21

      ページ: 201-208

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18560327
  • [雑誌論文] A Temperature Sensor With an Inaccuracy of -1/+0.8℃ Using 90-nm 1-V CMOS for Online Thermal Monitoring of VLSI Circuits2008

    • 著者名/発表者名
      M. Sasaki M. Ikeda and K. Aasada
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Semiconductor Manufact uring 21

      ページ: 201-208

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18560327
  • [雑誌論文] Timing-Aware Cell Layout De-Compaction for Yield Optimization by Critical Area Minimization2007

    • 著者名/発表者名
      T. Iizuka, M. Ikeda and K. Asada,
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Very Large Scale Intergration(VLSI) Systems Vol.15,No.6

      ページ: 716-720

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18560327
  • [雑誌論文] Timing-Aware Cell Layout De-Compactionfor Yield Optimization by Critical Area Minimization2007

    • 著者名/発表者名
      T. Iizuka, M. Ikeda and K. Asada
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Very Large Scale Integration(VLSI)Systems Vol.15, No.6

      ページ: 716-720

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18560327
  • [産業財産権] 固体撮像素子による高速三次元計測2013

    • 発明者名
      池田 誠, 太田 宗吾, 山口 琢己
    • 権利者名
      株式会社Rosnes,国立大学法人東京大学
    • 産業財産権種類
      特許
    • 産業財産権番号
      2013-156472
    • 出願年月日
      2013-07-29
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [産業財産権] イメージセンサ2013

    • 発明者名
      池田誠他
    • 権利者名
      池田誠他
    • 産業財産権種類
      特許
    • 産業財産権番号
      2013-256973
    • 出願年月日
      2013-12-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [産業財産権] イメージセンサ2013

    • 発明者名
      池田 誠, 松島多佳彦
    • 権利者名
      国立大学法人東京大学
    • 産業財産権種類
      特許
    • 産業財産権番号
      2013-256973
    • 出願年月日
      2013-12-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [学会発表] A Proposal for A Method of High Speed Texture Mapping with Dual Imager Core Chip(デュアル・イメージャコア・チップを用いた高速テクスチャマッピング手法の提案)2014

    • 著者名/発表者名
      R. Ishikawa, M. Ikeda
    • 学会等名
      IEICE General Conference
    • 発表場所
      C-12-14
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [学会発表] デュアル・イメージャコア・チップを用いた高速テクスチャマッピング手法の提案2014

    • 著者名/発表者名
      R.Ishikawa, M. Ikeda
    • 学会等名
      電子情報通信学会2014年総合大会
    • 発表場所
      新潟大学,新潟市
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [学会発表] ピクセル面上での最小電圧回路を用いた線位置検出2014

    • 著者名/発表者名
      H. Yabe and M. Ikeda
    • 学会等名
      電子情報通信学会2014年総合大会
    • 発表場所
      新潟大学,新潟市
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [学会発表] ビニング読み出し処理と高速エッジ検出によるToF 法および光切断法に基づく3 次元撮像用CMOS イメージセンサ2014

    • 著者名/発表者名
      松島, 池田
    • 学会等名
      電子情報通信学会総合大会
    • 発表場所
      C-12-16
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [学会発表] ピクセル面上での最小電圧回路を用いた線位置検出2014

    • 著者名/発表者名
      矢部, 池田
    • 学会等名
      IEICE Society Conference
    • 発表場所
      C-12-15
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [学会発表] A 3D Image Sensor with Binning Readout and Fast Edge Detection Using ToF Method and Light-Section Method2014

    • 著者名/発表者名
      T. Matsushima and M. Ikeda
    • 学会等名
      IEICE Society Conference
    • 発表場所
      C-12-16
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [学会発表] ビニング読み出し処理と高速エッジ検出によるToF法および光切断法に基づく3次元撮像用CMOSイメージセンサ2014

    • 著者名/発表者名
      松島多佳彦, 池田誠
    • 学会等名
      電子情報通信学会2014年総合大会
    • 発表場所
      新潟大学,新潟市
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [学会発表] CMOS Image Sensor for 3-D Range Map Acquisition With Pixel-Parallel Correlation In Region of Interest2013

    • 著者名/発表者名
      T. Mastsushima and M. Ikeda
    • 学会等名
      Proceedings of the 2013 International Image Sensor Workshop
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [学会発表] System LSI Design and VDEC Activities toward More Than Moore2013

    • 著者名/発表者名
      M. Ikeda
    • 学会等名
      The 60th JSAP Spring Meeting, 2013
    • 発表場所
      神奈川県・神奈川工科大学
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [学会発表] A CMOS Image Sensor for In-Pixel Background Suppression and Frequency and Phase Detection for Structured Light 3-D Acquisition Systems2013

    • 著者名/発表者名
      H. Yabe and M. Ikeda
    • 学会等名
      International Image Sensor Workshop(IISW)
    • 発表場所
      Snowbird Resort, Utah, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [学会発表] Introduction2013

    • 著者名/発表者名
      M. Ikeda
    • 学会等名
      IEEE International Solid-State Circuits Conference (ISSCC 2013), Scientific Imaging Forum
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [学会発表] Measurement of a Pulse Frequency Modulator for Correlation Image Sensor2013

    • 著者名/発表者名
      H. Yabe and M. Ikeda
    • 学会等名
      IEICE General Conference 2013
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [学会発表] ¥A CMOS Image Sensor for In-Pixel Background Suppression and Frequency and Phase2013

    • 著者名/発表者名
      H. Yabe and M. Ikeda
    • 学会等名
      Detection for Structured Light III-D Acquisition Systems in Proceedings of the 2013 International Image Sensor Workshop
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [学会発表] A CMOS Image Sensor for In-Pixel Background Suppression and Frequency Fig. 2 Reconstructed 3-D image of a 1cm step Fig. 3 Detection of stripes for a plane and Phase Detection for Structured Light 3-D Acquisition Systems2013

    • 著者名/発表者名
      H. Yabe and M. Ikeda
    • 学会等名
      Report on IISW
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [学会発表] CMOS Image Sensor for 3-D Range Map Acquisition With Pixel-Parallel Correlation In Region of Interest2013

    • 著者名/発表者名
      T. Mastsushima and M. Ikeda
    • 学会等名
      International Image Sensor Workshop(IISW)
    • 発表場所
      Snowbird Resort, Utah, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [学会発表] Introduction2012

    • 著者名/発表者名
      Makoto Ikeda
    • 学会等名
      IEEE International Solid-state Circuits Conference (ISSCC), Computational Imaging Forum
    • 発表場所
      米国サンフランシスコ(招待講演)
    • 年月日
      2012-02-23
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [学会発表] System LSI Design and VDEC2012

    • 著者名/発表者名
      M. Ikeda
    • 学会等名
      IEEJ 29th Symposium on Sensors, Micro-Machines and Application Systems
    • 発表場所
      福岡県・北九州国際会議場/西日本総合展示場
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [学会発表] "Evaluation of Background Light Suppression Characteristic and Range Finding Accuracy for 3-D Measurement using Smart Image Sensor2012

    • 著者名/発表者名
      X. Hu and M. Ikeda
    • 学会等名
      ITE Technical Report
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [学会発表] A study on improving modulated light detection performance in the presence of background light2012

    • 著者名/発表者名
      H. Yabe and M. Ikeda
    • 学会等名
      ITE Technical Group on Information Sensing Technologies
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [学会発表] Evaluation of Background Light Suppression Characteristics and Range Accuracy for Time-of-Flight Image Sensors2012

    • 著者名/発表者名
      X. Hu and M. Ikeda
    • 学会等名
      ITE Technical Group on Information Sensing Technologies
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [学会発表] Introduction2012

    • 著者名/発表者名
      M. Ikeda
    • 学会等名
      IEEE International Solid-State Circuits Conference (ISSCC) Computational Imaging Forum
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [学会発表]2012

    • 著者名/発表者名
      H. Yabe and M. Ikeda
    • 学会等名
      IEEE International Solid-State Circuit Conference (ISSCC) Student Research Preview
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [学会発表] High-Speed Real-Time Range-finding based on Triangulation by Focal Plane Image Processing2011

    • 著者名/発表者名
      Makoto Ikeda
    • 学会等名
      4^<th> Int.Symp.On Pohotoelectronic Detection and Imaging (ISPDI 2011)
    • 発表場所
      中国北京市(招待講演)
    • 年月日
      2011-05-25
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [学会発表] CMOS Image Sensor for 3-D range map acquisition Using Time Encoded 2-D Structured Pattern2011

    • 著者名/発表者名
      H. Yabe and M. Ikeda
    • 学会等名
      International Image Sensor Workshop
    • 発表場所
      Hokkaido, Japan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [学会発表] Overview of SoC Design2011

    • 著者名/発表者名
      池田誠
    • 学会等名
      電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • 発表場所
      北海道(招待講演)
    • 年月日
      2011-09-15
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [学会発表] High-Speed Real-Time Range-finding based on Triangulation by Focal Plane Image Processing2011

    • 著者名/発表者名
      M. Ikeda
    • 学会等名
      4th Int. Symp. On Pohotoelectronic Detection and Imaging (ISPDI 2011)
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23360147
  • [学会発表] Variation Tolerant Transceiver Design for System -on-Glass2009

    • 著者名/発表者名
      J. Kim J. Kim, K. Ikai, T. Nakura, M. Ikeda, K. Asada
    • 学会等名
      IEEE 34th European Solid-State Circuits Conference (ESSCIRC) Fringe
    • 発表場所
      イギリス・エジンバラ
    • 年月日
      2009-09-15
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18560327
  • [学会発表] Circuit Design using Stripe-Shaped TFTson Glass2009

    • 著者名/発表者名
      K. Ikai, J. Kim, M. Ikeda, and K. Asada
    • 学会等名
      IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference
    • 発表場所
      Yokohama
    • 年月日
      2009-01-20
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18560327
  • [学会発表] Circuit Design using Stripe2009

    • 著者名/発表者名
      K. Ikai, J. Kim, M. Ikeda, and K. Asada
    • 学会等名
      IEEE Asia and South Pacific Design Automati on Conference
    • 発表場所
      横浜市
    • 年月日
      2009-01-20
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18560327
  • [学会発表] Delay Variation Measurements on DCVSL Using Logic Tester2008

    • 著者名/発表者名
      M. Ikeda
    • 学会等名
      University of Tokyo-UC Santa Barbara Joi nt Workshop
    • 発表場所
      米国・カリフォルニア州・サンタバーバラ市
    • 年月日
      2008-09-08
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18560327
  • [学会発表] Delay Variation Measurements on DCVSL Using Logic Tester2008

    • 著者名/発表者名
      M. Ikeda
    • 学会等名
      University of Tokyo-UC Santa Barbara Joint Workshop
    • 発表場所
      Santa Barbara, USA
    • 年月日
      2008-09-08
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18560327
  • [学会発表] Variation Tolerant Transceiver Design for System-on-Glass2008

    • 著者名/発表者名
      J.Kim, K.Ikai, T.Nakura, M.Ikeda, K.Asada,
    • 学会等名
      IEEE 34th European Solid-State Circuits Conference(ESSCIRC)Fringe
    • 発表場所
      Edinburgh,UK
    • 年月日
      2008-09-15
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18560327
  • [学会発表] Analysis of Noise Margins Due to Device Parameter Variations in Sub-100nm CMOS Technology2007

    • 著者名/発表者名
      Z. Liang, M. Ikeda and K. Asada
    • 学会等名
      IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS)
    • 発表場所
      Krakow, Poland
    • 年月日
      2007-04-11
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18560327
  • [学会発表] Datapath Delay Distributions for Data/Instruction Against PVT Variations in 90nm CMOS2007

    • 著者名/発表者名
      M. Ikeda, K. Ishi, T. Sokabe and K. Asada
    • 学会等名
      IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS)
    • 発表場所
      Marrakech, Morrocco
    • 年月日
      2007-12-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18560327
  • [学会発表] Process Variation Aware Comprehensive Layout Synthesis for Yield Enhancement in Nano-Meter CMOS2007

    • 著者名/発表者名
      M. Ikeda, K. Ishi, T. Sokabe and K. Asada
    • 学会等名
      IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems(ICECS)
    • 発表場所
      Marrakech, Morocco
    • 年月日
      2007-12-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18560327
  • [学会発表] Process Variation Aware Comprehensive Layout Synthesis for YieldEnhancement in Nano-Meter CMOS2007

    • 著者名/発表者名
      K. Kurihara, T. Iizuka, M. Ikeda and K. Asada
    • 学会等名
      IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems(ICECS)
    • 発表場所
      Marrakech, Morocco
    • 年月日
      2007-12-14
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18560327
  • [学会発表] 40 Frames/sec 16×16 Temperature Probe Array using 90nm 1V CMOS for On line Thermal Monitoring on VLSI Chip2007

    • 著者名/発表者名
      M. Sasaki, T. Inoue, M. Ikeda and K. Asada
    • 学会等名
      IEEE Asian Solid-State Circuits Conference(A-SSCC)
    • 発表場所
      Jeju, Korea
    • 年月日
      2007-11-14
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18560327
  • [学会発表] 40 Frames/sec 16x16 Temperature Probe Array using 90nm 1V CMOS for On line Thermal Monitoring on VLSI Chip2007

    • 著者名/発表者名
      M. Sasaki, T. Inoue, M. Ikeda and K.Asada
    • 学会等名
      IEEE Asian Solid-State Circuits Conference(A-SSCC)
    • 発表場所
      Jeju, Korea
    • 年月日
      2007-11-14
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18560327
  • [学会発表] Process Variation Aware Comprehensive Layout Synthesis for Yield Enhancement in Nano-Neter CMOS2007

    • 著者名/発表者名
      K. Kurihara, T. Iizuka, M. Ikeda and K. Asada
    • 学会等名
      IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS)
    • 発表場所
      Marrakech, Morrocco
    • 年月日
      2007-12-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18560327
  • [学会発表] Analysis of Noise Margins Due to Device Parameter Variations in Sub-100nm CMOS Technology2007

    • 著者名/発表者名
      Z. Liang, M. Ikeda and K. Asada
    • 学会等名
      IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems(DDECS)
    • 発表場所
      Krakow,Poland
    • 年月日
      2007-04-11
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18560327
  • 1.  浅田 那博 (70142239)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 2.  佐々木 昌浩 (50339701)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 4件
  • 3.  鄭 若とう (50292959)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件

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