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白樫 淳一  SHIRAKASHI Jun-ichi

ORCIDORCID連携する *注記
… 別表記

自樫 淳一  シラカシ ジュンイチ

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研究者番号 00315657
その他のID
所属 (現在) 2025年度: 東京農工大学, 工学(系)研究科(研究院), 教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2015年度 – 2022年度: 東京農工大学, 工学(系)研究科(研究院), 教授
2014年度: 東京農工大学, 大学院工学研究院, 准教授
2012年度 – 2014年度: 東京農工大学, 工学(系)研究科(研究院), 准教授
2010年度 – 2012年度: 東京農工大学, 大学院・工学研究院, 准教授
2009年度: 東京農工大学, 大学院・共生科学技術研究, 准教授 … もっと見る
2006年度 – 2009年度: 東京農工大学, 大学院・共生科学技術研究院, 准教授
2006年度: 東京農工大学, 大学院共生科学技術研究院, 助教授
2005年度: 東京農工大学, 大学院・共生科学技術研究部, 助教授
2004年度: 国立大学法人東京農工大学, 大学院・共生科学技術研究部, 助教授
2000年度 – 2003年度: 秋田県立大学, システム科学技術学部, 助教授 隠す
審査区分/研究分野
研究代表者
電子・電気材料工学 / 中区分21:電気電子工学およびその関連分野 / 小区分21050:電気電子材料工学関連 / 応用物性 / ナノ材料・ナノバイオサイエンス / マイクロ・ナノデバイス / 応用物理学一般 / 電子・電気材料工学
研究代表者以外
理工系 / 電子・電気材料工学
キーワード
研究代表者
エレクトロマイグレーション / ナノギャップ / マイクロ・ナノデバイス / 強磁性単電子トランジスタ / 少数電子素子 / トンネル磁気抵抗効果 / FPGA / スピンエレクトロニクス / 磁性 / ナノテクノロジー … もっと見る / 走査型プローブ顕微鏡 / 原子接合 / 電子・電気材料 / 単電子トランジスタ / ナノ構造形成・制御 / 超微細加工技術 / シナプス素子 / リザバーコンピューティング / 物理リザバー / シナプス可塑性 / 人工シナプス / Auナノギャップ / ナノデバイス / 人工知能 / 原子ギャップ / 単原子トランジスタ / 原子接点 / リアルタイムオペレーティングシステム / 単電子素子 / マイグレーション / 電気・電子材料 / ナノ材料 / 原子移動制御 / 電界放射電流 / ナノギヤップ / 強磁性トンネル接合ダイオード / 操作型プローブ顕微鏡 / 絶縁体接合ダイオード / 強磁性金属 / 強磁性体 / ナノ構造 … もっと見る
研究代表者以外
弾道電子 / 原子間力顕微鏡(AFM) / 強磁性トンネル接合 / トンネル磁気抵抗効果 / 磁気メモリ(MRAM) / 表面・界面物性 / 超薄膜 / 電解還元効果 / シリコンナノドット / 電子デバイス・機器 / 電子・電気材料 / 電解還元 / 薄膜素子 / プリンティング / 還元 / 薄膜デバイス / 薄膜堆積 / 還元効果 / 弾道電子放出 / ナノシリコン / 熱音響効果 / 集積回路 / 電子デバイス / 弾道電子効果 / 可視発光 / 表面終端 / 超音波放出 / 光集積 / 発光 / 量子サイズ効果 / シリコン / ナノ構造 / 磁気力顕微鏡(MFM) / クーロンブロッケイド / クローンブロッケイド 隠す
  • 研究課題

    (15件)
  • 研究成果

    (182件)
  • 共同研究者

    (4人)
  •  Auナノギャップを用いた人工シナプスによる可塑性表現と物理リザバーへの応用研究代表者

    • 研究代表者
      白樫 淳一
    • 研究期間 (年度)
      2021 – 2022
    • 研究種目
      挑戦的研究(萌芽)
    • 審査区分
      中区分21:電気電子工学およびその関連分野
    • 研究機関
      東京農工大学
  •  FPGAに実装された人工知能の支援による原子接合の作製技術と量子状態の制御研究代表者

    • 研究代表者
      白樫 淳一
    • 研究期間 (年度)
      2018 – 2020
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 審査区分
      小区分21050:電気電子材料工学関連
    • 研究機関
      東京農工大学
  •  リアルタイムOSによる時間確定型エレクトロマイグレーション制御系と単一原子駆動研究代表者

    • 研究代表者
      白樫 淳一
    • 研究期間 (年度)
      2015 – 2016
    • 研究種目
      挑戦的萌芽研究
    • 研究分野
      応用物性
    • 研究機関
      東京農工大学
  •  FPGAによるエレクトロマイグレーション原子の高速移動制御と原子接合構造の作製研究代表者

    • 研究代表者
      白樫 淳一
    • 研究期間 (年度)
      2015 – 2017
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      電子・電気材料工学
    • 研究機関
      東京農工大学
  •  ナノギャップでのエレクトロマイグレーションを利用した原子の移動操作制御手法の開発研究代表者

    • 研究代表者
      白樫 淳一
    • 研究期間 (年度)
      2013 – 2014
    • 研究種目
      挑戦的萌芽研究
    • 研究分野
      電子・電気材料工学
    • 研究機関
      東京農工大学
  •  ナノシリコン弾道電子源の還元効果を用いた薄膜堆積

    • 研究代表者
      越田 信義
    • 研究期間 (年度)
      2012 – 2014
    • 研究種目
      基盤研究(A)
    • 研究分野
      電子・電気材料工学
    • 研究機関
      東京農工大学
  •  エレクトロマイグレーションを用いた原子移動機構による強磁性単電子帯電構造の集積化研究代表者

    • 研究代表者
      白樫 淳一
    • 研究期間 (年度)
      2012 – 2014
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      電子・電気材料工学
    • 研究機関
      東京農工大学
  •  エレクトロマイグレーションによるナノギャップの原子移動制御と単電子機能発現研究代表者

    • 研究代表者
      白樫 淳一
    • 研究期間 (年度)
      2010 – 2011
    • 研究種目
      挑戦的萌芽研究
    • 研究分野
      ナノ材料・ナノバイオサイエンス
    • 研究機関
      東京農工大学
  •  単電子帯電構造を用いた磁性ナノデバイスの作製とゲート電界による磁気抵抗の変調制御研究代表者

    • 研究代表者
      白樫 淳一
    • 研究期間 (年度)
      2008 – 2010
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      電子・電気材料工学
    • 研究機関
      東京農工大学
  •  ナノ構造誘起物性の制御と新機能シリコンデバイス

    • 研究代表者
      越田 信義
    • 研究期間 (年度)
      2006 – 2009
    • 研究種目
      特定領域研究
    • 審査区分
      理工系
    • 研究機関
      東京農工大学
  •  トンネル磁気抵抗変調型強磁性単電子トランジスタメモリー技術の研究開発研究代表者

    • 研究代表者
      白樫 淳一
    • 研究期間 (年度)
      2004 – 2007
    • 研究種目
      若手研究(A)
    • 研究分野
      マイクロ・ナノデバイス
    • 研究機関
      東京農工大学
  •  プレーナ型集積磁気メモリの設計試作と帯電効果による機能向上の探求

    • 研究代表者
      竹村 泰司
    • 研究期間 (年度)
      2002 – 2003
    • 研究種目
      特定領域研究
    • 審査区分
      理工系
    • 研究機関
      横浜国立大学
  •  強磁性単電子トランジスタ技術の研究開発研究代表者

    • 研究代表者
      白樫 淳一
    • 研究期間 (年度)
      2002 – 2003
    • 研究種目
      若手研究(B)
    • 研究分野
      応用物理学一般
    • 研究機関
      秋田県立大学
  •  プレーナ型強磁性トンネル接合を用いた集積磁気メモリの設計

    • 研究代表者
      竹村 泰司
    • 研究期間 (年度)
      2001
    • 研究種目
      特定領域研究(A)
    • 審査区分
      理工系
    • 研究機関
      横浜国立大学
  •  走査型プローブ顕微鏡を用いた局所反応場制御リソグラフィー技術の開発研究代表者

    • 研究代表者
      白樫 淳一
    • 研究期間 (年度)
      2000 – 2001
    • 研究種目
      奨励研究(A)
    • 研究分野
      電子・電気材料工学
    • 研究機関
      秋田県立大学

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すべて 雑誌論文 学会発表 図書 産業財産権

  • [図書] Nanoelectronic Device Applications Handbook, "Chapter 13: Simultaneously Controlled Tuning of Tunneling Properties of Integrated Nanogaps Using Field-Emission-Induced Electromigration"2013

    • 著者名/発表者名
      M. Ito, S. Akimoto, R. Suda and J. Shirakashi
    • 出版者
      CRC Press, Taylor and Francis Group, LLC
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24360117
  • [図書] Encyclopedia of Nanoscience and Nanotechnology(Nanofabrication Using Atomic Force Microscopy, Chapter 287)(Edited by Hari Singh Nalwa)2010

    • 著者名/発表者名
      A.A.Tseng, L.Pellegrino, J.Shirakashi
    • 出版者
      American Scientific Publishers
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360136
  • [図書] ナノシリコンの最新技術と応用展開(越田信義監修)(第5章プロセス技術第2節ナノシリコン構造形成SPM技術)2010

    • 著者名/発表者名
      白樫淳一
    • 出版者
      シーエムシー出版
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360136
  • [雑誌論文] Variational Ansatz Preparation to Avoid CNOT-Gates on Noisy Quantum Devices for Combinatorial Optimizations2022

    • 著者名/発表者名
      T. Miki, R. Okita, M. Shimada, D. Tsukayama and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      AIP Advances

      巻: 12 号: 3 ページ: 035247-035247

    • DOI

      10.1063/5.0077706

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18713
  • [雑誌論文] Mimicking of Thermal Spin Dynamics by Controlling Sparsity of Interactions in Ising Spin Computing with Digital Logic Circuits2022

    • 著者名/発表者名
      A. Yoshida, T. Miki, M. Shimada, Y. Yoneda and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      Appl. Phys. Express

      巻: 15 号: 6 ページ: 067002-067002

    • DOI

      10.35848/1882-0786/ac6b84

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18713
  • [雑誌論文] Multiple Connected Artificial Synapses Based on Electromigrated Au Nanogaps2022

    • 著者名/発表者名
      K. Sakai, M. Yagi, M. Ito and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      J. Vac. Sci. Technol. B

      巻: 40 号: 5 ページ: 053202-053202

    • DOI

      10.1116/6.0002081

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18713
  • [雑誌論文] 論理ゲートイジング計算機における交換相互作用のスパース化によるスピン更新手法2021

    • 著者名/発表者名
      吉田朝輝、三木司、島田萌絵、米田優里、白樫淳一
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術研究報告

      巻: 121 ページ: 27-30

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18713
  • [雑誌論文] Combinatorial Optimization with Variational Approaches on Noisy Quantum Devices2021

    • 著者名/発表者名
      T. Miki, R. Okita, M. Shimada and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      Conference Proceedings, 2021 IEEE International Conference on Manipulation, Manufacturing and Measurement on the Nanoscale (3M-NANO)

      巻: - ページ: 214-217

    • DOI

      10.1109/3m-nano49087.2021.9599740

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18713
  • [雑誌論文] Memory Properties of Electromigrated Au Nanogaps to Realize Reservoir Computing2021

    • 著者名/発表者名
      K. Sakai, M. Yagi, M. Ito and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      Appl. Phys. Lett.

      巻: 119 号: 8 ページ: 084101-084101

    • DOI

      10.1063/5.0055352

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18713
  • [雑誌論文] Gold nanogap-based artificial synapses (STAP Article)2020

    • 著者名/発表者名
      Keita Sakai, Tomomi Sato, Riku Kiyokawa, Ryoya Koyama, Mamiko Yagi, Mitsuki Ito and Jun-ichi Shirakashi
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys.

      巻: 59 号: 5 ページ: 050601-050601

    • DOI

      10.35848/1347-4065/ab8168

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H01471
  • [雑誌論文] Machine learning-based approach for automatically tuned feedback-controlled electromigration (Featured Article)2020

    • 著者名/発表者名
      Yuma Iwata, Takuya Sakurai and Jun-ichi Shirakashi
    • 雑誌名

      AIP Advances

      巻: 10 号: 6 ページ: 065301-065301

    • DOI

      10.1063/1.5143051

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H01471
  • [雑誌論文] Synaptic behaviors of electromigrated Au nanogaps2019

    • 著者名/発表者名
      Keita Sakai, Tomomi Sato, Soki Tani, Mitsuki Ito, Mamiko Yagi, Jun-ichi Shirakashi
    • 雑誌名

      AIP Advances

      巻: 9 号: 5 ページ: 055317-055317

    • DOI

      10.1063/1.5096817

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H01471
  • [雑誌論文] Fabrication of atomic junctions with experimental parameters optimized using ground-state searches of Ising spin computing2019

    • 著者名/発表者名
      Shotaro Sakai, Yosuke Hirata, Mitsuki Ito, Jun-ichi Shirakashi
    • 雑誌名

      Scientific Reports

      巻: 9 号: 1 ページ: 16211-16211

    • DOI

      10.1038/s41598-019-52438-5

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H01471
  • [雑誌論文] GAを用いた実験パラメータ進化手法とAu原子接合の自動形成2019

    • 著者名/発表者名
      櫻井拓哉、竹林敬太、平田鷹介、白樫淳一
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術研究報告

      巻: 119 ページ: 43-46

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H01471
  • [雑誌論文] Simultaneous arrayed formation of single-electron transistors using electromigration in series-connected nanogaps2018

    • 著者名/発表者名
      Ito Mitsuki、Yagi Mamiko、Shimada Moe、Shirakashi Jun-ichi
    • 雑誌名

      AIP Advances

      巻: 8 号: 10 ページ: 105005-105005

    • DOI

      10.1063/1.5043449

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H01471
  • [雑誌論文] 人工知能により支援されたAu原子接合の作製と量子状態の観測2018

    • 著者名/発表者名
      岩田侑馬、酒井正太郎、沼倉憲彬、白樫淳一
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術研究報告

      巻: 117 ページ: 45-50

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H01471
  • [雑誌論文] Fabrication of single-electron transistors with electromigrated Ni nanogaps2018

    • 著者名/発表者名
      Ito Mitsuki、Yagi Mamiko、Shirakashi Jun-ichi
    • 雑誌名

      AIP Advances

      巻: 8 号: 7 ページ: 075210-075210

    • DOI

      10.1063/1.5031822

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H01471
  • [雑誌論文] Evolution of local temperature in Au nanowires during feedback-controlled electromigration observed by atomic force microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      Yagi Mamiko、Shirakashi Jun-ichi
    • 雑誌名

      Applied Physics Letters

      巻: 110 号: 20 ページ: 203105-203105

    • DOI

      10.1063/1.4984024

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15H03970
  • [雑誌論文] 自然収束動作を利用したイジングコンピューティング技術の開発とFPGAへの実装2017

    • 著者名/発表者名
      木原裕介、伊藤光樹、齋藤孝成、塩村真幸、酒井正太郎、白樫淳一
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術研究報告

      巻: 116 ページ: 23-28

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15H03970
  • [雑誌論文] Investigation of electromigration induced by field emission current flowing through Au nanogaps in ambient air2017

    • 著者名/発表者名
      Inoue Kazuki、Yagi Mamiko、Ito Mitsuki、Ito Tomoyuki、Shirakashi Jun-ichi
    • 雑誌名

      Journal of Applied Physics

      巻: 122 号: 8 ページ: 084303-084303

    • DOI

      10.1063/1.4999831

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15H03970
  • [雑誌論文] 論理ゲートで表現された2次元イジング計算機の組合せ最適化問題への適用2017

    • 著者名/発表者名
      塩村真幸、齋藤孝成、伊藤光樹、木原裕介、酒井正太郎、白樫淳一
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術研究報告

      巻: 116 ページ: 29-34

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K13333
  • [雑誌論文] Wearable strain sensors based on thin graphite films for human activity monitoring2017

    • 著者名/発表者名
      Saito Takanari、Kihara Yusuke、Shirakashi Jun-ichi
    • 雑誌名

      Journal of Physics: Conference Series

      巻: 939 ページ: 012006-012006

    • DOI

      10.1088/1742-6596/939/1/012006

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15H03970
  • [雑誌論文] Reductive Deposition of Thin Cu Films Using Ballistic Hot Electrons as a Printing Beam2016

    • 著者名/発表者名
      R. Suda, M. Yagi, A. kojima, N. Mori, J. Shirakashi, and N. Koshida
    • 雑誌名

      J. Electrochem. Soc.

      巻: 163 号: 6 ページ: E162-E165

    • DOI

      10.1149/2.0921606jes

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-14J08599, KAKENHI-PROJECT-15H03970
  • [雑誌論文] Field-Emission-Induced Electromigration Method for Precise Tuning of Electrical Properties of Ni-Based Single-Electron Transistors2015

    • 著者名/発表者名
      M. Kase, K. Okada M. Ito and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      Conference Proceedings, 2015 International Conference on Manipulation, Manufacturing and Measurement on the Nanoscale (3M-NANO)

      巻: Year 2015 ページ: 202-205

    • DOI

      10.1109/3m-nano.2015.7425487

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K13333, KAKENHI-PROJECT-15H03970
  • [雑誌論文] Structural Tuning of Nanogaps Using Electromigration Induced by Field Emission Current with Bipolar Biasing2015

    • 著者名/発表者名
      M. Yagi, M. Ito and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      J. Appl. Phys.

      巻: 118 号: 1 ページ: 014306-014306

    • DOI

      10.1063/1.4923347

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K13333
  • [雑誌論文] Tuning of Channel Conductance of Au Nanowires Using Ultrafast Electromigration Controlled by a Field-Programmable Gate Array2015

    • 著者名/発表者名
      Y. Katogi, Y. Kanamaru, S. Sato, T. Saito and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      Conference Proceedings, 2015 International Conference on Manipulation, Manufacturing and Measurement on the Nanoscale (3M-NANO)

      巻: Year 2015 ページ: 198-201

    • DOI

      10.1109/3m-nano.2015.7425485

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15H03970, KAKENHI-PROJECT-16J08669
  • [雑誌論文] Controlling the tunnel resistance of suspended Ni nanogaps using field-emission-induced electromigration2015

    • 著者名/発表者名
      T.:Toyonaka, K. Morihara, K. Takikawa, M. Ito, and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      J. Vac. Sci. & Technol.

      巻: 33 号: 2

    • DOI

      10.1116/1.4904731

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24246053, KAKENHI-PROJECT-25630122
  • [雑誌論文] Development of Ballistic Hot Electron Emitter and its Applications to Parallel Processing: Active-Matrix Massive Direct-Write Lithography in Vacuum and Thin Films Deposition in Solutions2015

    • 著者名/発表者名
      N. Koshida, A. Kojima, N. Ikegami, R. Suda, M. Yagi, J. Shirakashi, T. Yoshida, H. Miyaguchi, M. Muroyama, H. Nishino, S. Yoshida, M. Sugata, K. Totsu, and M. Esashi
    • 雑誌名

      Proc. SPIE Symp. on Advanced Lithography)

      巻: 9423 ページ: 942313-942313

    • DOI

      10.1117/12.2085782

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24246053
  • [雑誌論文] Ultrafast Feedback-Controlled Electromigration Using a Field-Programmable Gate Array2015

    • 著者名/発表者名
      Y. Kanamaru, M. Ando and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      J. Vac. Sci. Technol. B

      巻: 33 号: 2

    • DOI

      10.1116/1.4903929

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24360117
  • [雑誌論文] Deposition of thin Si and Ge films by ballistic hot electron reduction under a solution dripping mode and its application to the growth of thin SiGe films2015

    • 著者名/発表者名
      R. Suda, M. Yagi, A. Kojima, R. Mentek, N., J. Shirakashi, and N. Koshida
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys.

      巻: 54 号: 4S ページ: 04DH11-04DH11

    • DOI

      10.7567/jjap.54.04dh11

    • 査読あり / 謝辞記載あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24246053
  • [雑誌論文] Simultaneous Fabrication of Nanogap Electrodes Using Field-Emission-Induced Electromigration2015

    • 著者名/発表者名
      M. Ito, M. Yagi, K. Morihara and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      J. Appl. Phys.

      巻: 118 号: 1 ページ: 014301-014301

    • DOI

      10.1063/1.4923411

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15H03970
  • [雑誌論文] High-Throughput Nanogap Formation by Field-Emission-Induced Electromigration2015

    • 著者名/発表者名
      M. Ito, K. Morihara, T. Toyonaka, K. Takikawa and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      J. Vac. Sci. Technol. B

      巻: 33 号: 5 ページ: 051801-051801

    • DOI

      10.1116/1.4927443

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15H03970
  • [雑誌論文] In Situ Atomic Force Microscopy Imaging of Structural Changes in Metal Nanowires during Feedback-Controlled Electromigration2015

    • 著者名/発表者名
      M. Yagi, M. Ito and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      J. Vac. Sci. Technol. B

      巻: 33 号: 5 ページ: 051806-051806

    • DOI

      10.1116/1.4929444

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K13333
  • [雑誌論文] Electrical Properties of Nanogap-Based Single-Electron Transistors Fabricated by Field-Emission-Induced Electromigration2014

    • 著者名/発表者名
      R. Suda, S. Akimoto, K. Morihara and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      Proc. 13th IEEE Int. Conf. on Nanotechnology (IEEE-NANO)

      巻: 13 ページ: 87-90

    • DOI

      10.1109/nano.2013.6720862

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24246053, KAKENHI-PROJECT-24360117
  • [雑誌論文] A Fully Customized Hardware System for Ultra-Fast Feedback-Controlled Electromigration Using FPGA2014

    • 著者名/発表者名
      Y. Kanamaru, M. Ando, R. Suda and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      2014 IEEE 14th International Conference on Nanotechnology (IEEE-NANO)

      巻: 14778995 ページ: 719-722

    • DOI

      10.1109/nano.2014.6968058

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-14J08599, KAKENHI-PROJECT-24360117
  • [雑誌論文] Electro-Deposition of Thin Si and Ge Films Based on Ballistic Hot Electron Injection2014

    • 著者名/発表者名
      N. Koshida, A. Kojima, T. Ohta, R. Mentek, B. Gelloz, N. Mori, J. Shirakashi
    • 雑誌名

      ECS Solid State Letters

      巻: 3 (5) 号: 5 ページ: P57-P60

    • DOI

      10.1149/2.002405ssl

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23560388, KAKENHI-PROJECT-24246053, KAKENHI-PROJECT-25630122
  • [雑誌論文] FPGAを用いた超高速フィードバック制御型エレクトロマイグレーション2014

    • 著者名/発表者名
      金丸祐真、安藤昌澄、齋藤孝成、白樫淳一
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術研究報告

      巻: 113 ページ: 83-87

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25630122
  • [雑誌論文] Simultaneous Fabrication of Nanogaps Using Field-Emission-Induced Electromigration2014

    • 著者名/発表者名
      M. Ito, M. Yagi, K. Morihara and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      Conference Proceedings, 2014 International Conference on Manipulation, Manufacturing and Measurement on the Nanoscale (3M-NANO)

      巻: INSPEC Accession #: 14983576 ページ: 312-315

    • DOI

      10.1109/3m-nano.2014.7057331

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25630122
  • [雑誌論文] Low-temperature deposition of thin Si, Ge, and SiGe films using reducing activity of ballistic hot electrons2014

    • 著者名/発表者名
      N. Koshida, R. Suda, M. Yagi, A. Kojima, R. Mentek, B. Gelloz, N. Mori, and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      ECS Trans.

      巻: 64 号: 6 ページ: 405-410

    • DOI

      10.1149/06406.0405ecst

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24246053, KAKENHI-PROJECT-24360117
  • [雑誌論文] Ballistic hot electron effects in nanosilicon dots and their photonic applications (Invited)2014

    • 著者名/発表者名
      N. Koshida, N. Ikegami, A. Kojima, R. Mentek, R. Suda, M. Yagi, J. Shirakashi, B. Gelloz, and N. Mori
    • 雑誌名

      ECS Trans.

      巻: 61 号: 5 ページ: 47-54

    • DOI

      10.1149/06105.0047ecst

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24246053, KAKENHI-PROJECT-24360117
  • [雑誌論文] ナノギャップでの原子のマイグレーション現象により作製したNi系ナノスケールデバイス2014

    • 著者名/発表者名
      須田隆太郎、伊藤光樹、森原康平、豊中貴大、滝川主喜、白樫淳一
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術研究報告

      巻: 113 ページ: 95-100

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25630122
  • [雑誌論文] Resistive Switching Effects in Electromigrated Ni Nanogaps2014

    • 著者名/発表者名
      K. Takikawa, R. Suda, M. Ito, T. Toyonaka and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      2014 IEEE 14th International Conference on Nanotechnology (IEEE-NANO)

      巻: 14778966 ページ: 715-718

    • DOI

      10.1109/nano.2014.6968014

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-14J08599, KAKENHI-PROJECT-24360117
  • [雑誌論文] Structural Tuning of Nanogaps Using Field-Emission-Induced Electromigration with Bipolar Biasing2014

    • 著者名/発表者名
      M. Yagi, M. Ito and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      Conference Proceedings, 2014 International Conference on Manipulation, Manufacturing and Measurement on the Nanoscale (3M-NANO)

      巻: INSPEC Accession #: 14983607 ページ: 134-138

    • DOI

      10.1109/3m-nano.2014.7057332

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25630122
  • [雑誌論文] In-Situ Observation of Temperature Distribution of Microheaters Using Near-Infrared Charge Coupled Device Imaging System2013

    • 著者名/発表者名
      T. Saito, W. Lin and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      Nanosci. Nanotechnol. Lett.

      巻: 5 号: 10 ページ: 1076-1080

    • DOI

      10.1166/nnl.2013.1671

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24360117
  • [雑誌論文] Tuning of Resistance of Nanogaps Using Field-Emission-Induced Electromigration with Feedback Control Scheme2013

    • 著者名/発表者名
      M. Ando, S. Akimoto, R. Suda and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      Conference Proceedings, 2013 13th IEEE International Conference on Nanotechnology (IEEE-NANO)

      巻: Year 2013 ページ: 1141-1144

    • DOI

      10.1109/nano.2013.6721060

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24360117
  • [雑誌論文] Control Parameters for Fabrication of Single-Electron Transistors Using Field-Emission-Induced Electromigration2013

    • 著者名/発表者名
      S. Akimoto, M. Ito, S. Ueno and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      J. Nanosci. Nanotechnol.

      巻: 13 号: 2 ページ: 993-996

    • DOI

      10.1166/jnn.2013.6073

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24246053, KAKENHI-PROJECT-24360117
  • [雑誌論文] Formation Scheme of Quantum Point Contacts Based on Nanogaps Using Field-Emission-Induced Electromigration2013

    • 著者名/発表者名
      R. Suda, M. Yagi, T. Watanabe and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      J. Nanosci. Nanotechnol.

      巻: 13 号: 2 ページ: 883-887

    • DOI

      10.1166/jnn.2013.6072

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24246053, KAKENHI-PROJECT-24360117
  • [雑誌論文] Nanoscale Scratching of Platinum Thin Films Using Atomic Force Microscopy with DLC Tips2012

    • 著者名/発表者名
      X. Jiang, G Wu, Z. Du, K. J. Ma, J. Shirakashi and A. A. Tseng
    • 雑誌名

      J. Vac. Sci. Technol.

      巻: 30 号: 2

    • DOI

      10.1116/1.3694242

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24360117
  • [雑誌論文] Integration of Single-Electron Transistors Using Field-Emission-Induced Electromigration2011

    • 著者名/発表者名
      S.Ueno, Y.Tomoda, W.Kume, M.Hanada, K.Takiya, J.Shirakashi
    • 雑誌名

      J.Nanosci.Nanotechnol.

      巻: 11 号: 7 ページ: 6258-6261

    • DOI

      10.1166/jnn.2011.4328

    • NAID

      110008001136

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22651039
  • [雑誌論文] Tuning of Tunnel Resistance of Nanogaps by Field-Emission-Induced Electromigration Using Current Source Mode2011

    • 著者名/発表者名
      K.Takiya, Y.Tomoda, W.Kume, S.Ueno, T. Watanabe, J.Shirakashi
    • 雑誌名

      J.Nanosci.Nanotechnol.

      巻: 11 号: 7 ページ: 6266-6270

    • DOI

      10.1166/jnn.2011.4336

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22651039
  • [雑誌論文] Scratch Direction and Threshold Force in Nanoscale Scratching Using Atomic Force Microscopes2011

    • 著者名/発表者名
      A. A. Tseng, C. J. Kuo, S. Jou, S. Nishimura and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      Appl. Surf. Sci

      巻: 257 ページ: 9243-9250

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22651039
  • [雑誌論文] Fabrication of Planar-Type Ni/Vacuum/Ni Tunnel Junctions Based on Ferromagnetic Nanogaps Using Field-Emission-Induced Electromigration2011

    • 著者名/発表者名
      T.Watanabe, K.Takiya, J.Shirakashi
    • 雑誌名

      J.Appl.Phys.

      巻: 109 号: 7

    • DOI

      10.1063/1.3565198

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22651039
  • [雑誌論文] Integration of Single-Electron Transistors Using Field-Emission-Induced Electromigration2011

    • 著者名/発表者名
      S. Ueno, Y. Tomoda, W. Kume, M. Hanada, K. Takiya and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      J. Nanosci. Nanotechnol

      巻: 11 ページ: 6258-6261

    • NAID

      110008001136

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22651039
  • [雑誌論文] 分割型電圧フィードバックエレクトロマイグレーション法を用いた室温動作可能なプレナー型強磁性トンネル接合素子の作製2011

    • 著者名/発表者名
      安武龍太朗、渡邉敬登、上野俊介、北川潤、白樫淳一
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術研究報告

      巻: vol.110, no.423 ページ: 19-23

    • NAID

      110008688779

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22651039
  • [雑誌論文] Scratch Properties of Nickel Thin Films Using Atomic Force Microscopy2010

    • 著者名/発表者名
      A. A. Tseng, J. Shirakashi, S. Jou, J. C. Huang and T. P. Chen
    • 雑誌名

      J. Vac. Sci. Technol

      巻: B28 ページ: 202-210

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22651039
  • [雑誌論文] Fabrication of Single-Electron Transistors Using Field-Emission-Induced Electromigration2010

    • 著者名/発表者名
      W.Kume, Y.Tomoda, M.Hanada J.Shirakashi
    • 雑誌名

      J.Nanosci.Nanotechnol.

      巻: 10 ページ: 7239-7243

    • NAID

      110007131563

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360136
  • [雑誌論文] 10 Micrometer-Scale SPM Local Oxidation Lithography2010

    • 著者名/発表者名
      T.Toyofuku, S.Nishimura, K.Miyashita, J.Shirakashi.
    • 雑誌名

      J.Nanosci.Nanotechnol.

      巻: 10 ページ: 4543-4547

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22651039
  • [雑誌論文] 電界放射電流誘起型エレクトロマイグレーション法によるプレナー型強磁性トンネル接合の作製2010

    • 著者名/発表者名
      滝谷和聡、友田悠介、渡邉敬登、久米彌、上野俊介、白樫淳一
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術研究報告

      巻: 422 ページ: 41-45

    • NAID

      110008001137

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22651039
  • [雑誌論文] Nanomachining of Permalloy for Fabricating Nanoscale Ferromagnetic Structures Using Atomic Force Microscopy2010

    • 著者名/発表者名
      A. A. Tseng, J. Shirakashi, S. Nishimura, K. Miyashita and Z. Li
    • 雑誌名

      J. Nanosci. Nanotechnol

      巻: 10 ページ: 456-466

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22651039
  • [雑誌論文] Fabrication of Planar-Type Ferromagnetic Tunnel Junctions Using Electromigration Method and Its Magnetoresistance Properties2010

    • 著者名/発表者名
      Y.Tomoda, M.Hanada, W.Kume, S.Itami, T.Watanabe, J.Shirakashi
    • 雑誌名

      J.Phys.Conf.Ser. 200

      ページ: 62035-62035

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360136
  • [雑誌論文] Scanning Probe Microscope Lithography at the Micro- and Nano-Scales2010

    • 著者名/発表者名
      J.Shirakashi (Invited)
    • 雑誌名

      J.Nanosci.Nanotechnol. 10

      ページ: 4486-4494

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360136
  • [雑誌論文] 電界放射電流誘起型エレクトロマイグレーションによる単電子トランジスタの集積化2010

    • 著者名/発表者名
      上野俊介、友田悠介、久米彌、花田道庸、滝谷和聡、白樫淳一
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術研究報告

      巻: 422 ページ: 35-39

    • NAID

      110008001136

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22651039
  • [雑誌論文] Influence of Feedback Parameters on Resistance Control of Metal Nanowires by Stepwise Feedback-Controlled Electromigration2010

    • 著者名/発表者名
      S.Itami, Y.Tomoda, R.Yasutake J.Shirakashi
    • 雑誌名

      J.Nanosci.Nanotechnol.

      巻: 10 ページ: 7464-7468

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360136
  • [雑誌論文] Fabrication of Single-Electron Transistors Using Field-Emission-Induced Electro- migration2010

    • 著者名/発表者名
      W.Kume, Y.Tomoda, M.Hanada, J.Shirakashi
    • 雑誌名

      J.Nanosci.Nanotechnol. 10

      ページ: 7239-7243

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360136
  • [雑誌論文] Influence of Feedback Parameters on Resistance Control of Metal Nanowires by Stepwise Feedback-Controlled Electromigration2010

    • 著者名/発表者名
      S.Itami, Y.Tomoda, R.Yasutake, J.Shirakashi
    • 雑誌名

      J.Nanosci.Nanotechnol.

      巻: 10 ページ: 7464-7468

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22651039
  • [雑誌論文] Fabrication of Single-Electron Transistors Using Field-Emission-Induced Electromigration2010

    • 著者名/発表者名
      W.Kume, Y.Tomoda, M.Hanada, J.Shirakashi
    • 雑誌名

      J.Nanosci.Nanotechnol.

      巻: 10 ページ: 7239-7243

    • NAID

      110007131563

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22651039
  • [雑誌論文] Scanning Probe Microscope Lithography at the Micro- and Nano-Scales2010

    • 著者名/発表者名
      J.Shirakashi
    • 雑誌名

      J.Nanosci.Nanotechnol.

      巻: 10 ページ: 4486-4494

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360136
  • [雑誌論文] Influence of Feedback Parameters on Resistance Control of Metal Nanowires by Stepwise Feedback-Controlled Electro- migration2010

    • 著者名/発表者名
      S.Itami, Y.Tomoda, R.Yasutake, J.Shirakashi
    • 雑誌名

      J.Nanosci.Nanotechnol. 10

      ページ: 7464-7468

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360136
  • [雑誌論文] Scratching Properties of Nickel-Iron Thin Film and Silicon Using Atomic Force Microscopy2009

    • 著者名/発表者名
      A.A.Tseng, J.Shirakashi, S.Nishimura, K.Miyashita A.Notargiacomo
    • 雑誌名

      J.Appl.Phys. 106

      ページ: 44314-44314

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360136
  • [雑誌論文] Control of Channel Resistance on Metal Nanowires by Electromigration Patterning Method2009

    • 著者名/発表者名
      K. Takahashi, Y. Tomoda, S. Itami, J. Shirakashi
    • 雑誌名

      J. Vac. Sci. Technol. B 27

      ページ: 805-809

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360136
  • [雑誌論文] Nanoscale Patterning of NiFe Surface by SPM Scratch Nanolithography2009

    • 著者名/発表者名
      K. Miyashita, S. Nishimura, T. Toyofuku, J. Shirakashi
    • 雑誌名

      J. Vac. Sci. Technol. B 27

      ページ: 953-957

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360136
  • [雑誌論文] Magnetoresistance Properties of Planar-Type Tunnel Junctions with Ferromagnetic Nanogap System Fabricated by Electromigration Method2009

    • 著者名/発表者名
      Y.Tomoda, K.Takahashi, M.Hanada, W.Kume, S.Itami, T.Watanabe, J.Shirakashi
    • 雑誌名

      IEEE Trans.Mag. 45

      ページ: 3480-3483

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063007
  • [雑誌論文] Magnetoresistance Properties of Planar-Type Tunnel Junctions with Ferromagnetic Nanogap System Fabricated by Electromigration Method2009

    • 著者名/発表者名
      Y.Tomoda, K.Takahashi, M.Hanada, W.Kume, S.Itami, T.Watanabe, J.Shirakashi
    • 雑誌名

      IEEE Trans.Mag. 45

      ページ: 3480-3483

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360136
  • [雑誌論文] Nanomachining of Permalloy for Fabricating Nanoscale Ferromagnetic Structures Using Atomic Force Microscopy2009

    • 著者名/発表者名
      A.A.Tseng, J.Shirakashi, S.Nishimura, K.Miyashita, Z.Li
    • 雑誌名

      J.Vac.Sci.Technol.B 10

      ページ: 456-466

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063007
  • [雑誌論文] Fabrication of Nanogap Electrodes by Field-Emission-Induced Electromigration2009

    • 著者名/発表者名
      Y.Tomoda, K.Takahashi, M.Hanada, W.Kume, J.Shirakashi
    • 雑誌名

      J.Vac.Sci.Technol.B 27

      ページ: 813-816

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360136
  • [雑誌論文] Scratching properties of nickel-iron thin film and silicon using atomic force microscopy2009

    • 著者名/発表者名
      A.A. Tseng, J. Shirakashi, S. Nishimura, K. Miyashita, A. Notargiacomo
    • 雑誌名

      J. Appl. Phys. 106

      ページ: 44314-44314

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063007
  • [雑誌論文] Control of Channel Resistance on Metal Nanowires by Electromigration Patterning Method2009

    • 著者名/発表者名
      K.Takahashi, Y.Tomoda, S.Itami, J.Shirakashi
    • 雑誌名

      J.Vac.Sci.Technol.B 27

      ページ: 805-809

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360136
  • [雑誌論文] Scratching Properties of Nickel-Iron Thin Film and Silicon Using Atomic Force Microscopy2009

    • 著者名/発表者名
      A.A.Tseng, J.Shirakashi, S.Nishimura, K.Miyashita, A.Notargiacomo
    • 雑誌名

      J.Appl.Phys. 106

      ページ: 44314-44314

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360136
  • [雑誌論文] Control of channel resistance on metal nanowires by electromigration patterning method2009

    • 著者名/発表者名
      K.Takahashi, Y.Tomoda, S.Itami, J.Shirakashi
    • 雑誌名

      J.Vac.Sci.Technol.B 27

      ページ: 805-809

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063007
  • [雑誌論文] Magnetoresistance properties of planar-type tunnel junctions with ferromagnetic nanogap system fabricated by electromigration method2009

    • 著者名/発表者名
      Y. Tomoda, K. Takahashi, M. Hanada, W. Kume, S. Itami, T. Watanabe, J. Shirakashi
    • 雑誌名

      IEEE Trans. Mag. 45

      ページ: 3480-3483

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063007
  • [雑誌論文] Micrometer-scale local-oxidation lithography using scanning probe microscopy2008

    • 著者名/発表者名
      S. Nishimura, T. Ogino, J. Shirakashi
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys. 47

      ページ: 715-717

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063007
  • [雑誌論文] Wide-Range Control of Tunnel Resistance on Metallic Nanogaps Using Migration2008

    • 著者名/発表者名
      S.Kayashima, K.Takahashi, M.Motoyama, J.Shirakashi
    • 雑誌名

      J.Phys.Conf.Ser. 100

      ページ: 52022-52022

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360136
  • [雑誌論文] Scratch nanolithography on Si surface using scanning probe microscopy : Influence of scanning parameters on groove size2008

    • 著者名/発表者名
      T. Ogino, S. Nishimura, and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys. 47

      ページ: 712-714

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063007
  • [雑誌論文] Local oxidation of Si surfaces by tapping-mode scanning probe microscopy: Size dependence of oxide wires on dynamic properties of cantilever2008

    • 著者名/発表者名
      S. Nishimura, T. Ogino, Y. Takemura, J. Shirakashi
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys. 47

      ページ: 718-720

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063007
  • [雑誌論文] Micrometer-scale local-oxidation lithography using scanning probe microscopy2008

    • 著者名/発表者名
      S. Nishimura, T. Ugino, and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys. 47

      ページ: 715-717

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063007
  • [雑誌論文] Local oxidation of Si surfaces by tapping-mode scanning probe microscopy : Size dependence of oxide wires on dynamic properties of cantilever2008

    • 著者名/発表者名
      S. Nishimura, T. Ogino, Y. Takemura, and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys. 47

      ページ: 718-720

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063007
  • [雑誌論文] Measurement of reaction current during atomic force microscope local oxidation of conductive surfaces capped with insulating layers2008

    • 著者名/発表者名
      Y. Shimada, T. Yamada, and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys. 47

      ページ: 768-770

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063007
  • [雑誌論文] Wide-Range Control of Tunnel Resistance on Metallic Nanogaps Using Migration2008

    • 著者名/発表者名
      S. Kayashima, K. Takahashi, M. Motoyama, J. Shirakashi
    • 雑誌名

      J. Phys. Conf. Ser. 100

      ページ: 52022-52022

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360136
  • [雑誌論文] Measurement of reaction current during atomic force microscope local oxidation of conductive surfaces capped with insulating layers2008

    • 著者名/発表者名
      Y. Shimada, T. Yamada an J. Shirakashi
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys. 47

      ページ: 768-770

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063007
  • [雑誌論文] Scratch nanolithography on Si surface using scanning probe microscopy: Influence of scanning parameters on groove size2008

    • 著者名/発表者名
      T. Ogino, S. Nishimura, J. Shirakashi
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys. 47

      ページ: 712-714

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063007
  • [雑誌論文] Sub-20 nm Scratch Nanolithography for Si Using Scanning Probe Microscopy2007

    • 著者名/発表者名
      T. Ogino, S. Nishimura and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys. 46

      ページ: 6908-6910

    • NAID

      40015642904

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16681011
  • [雑誌論文] Measurement of Faradaic Current during AFM Local Oxidation of Magnetic Metal Thin Films2007

    • 著者名/発表者名
      Y. Takemura, Y. Shimada, G. Watanabe, T. Yamada and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      J. Phys. Conf. Ser. 61

      ページ: 1147-1151

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16681011
  • [雑誌論文] SPM Local Oxidation Nanolithography with Active Control of Cantilever Dynamics2007

    • 著者名/発表者名
      S. Nishimura, Y. Takemura and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      J. Phys. Conf. Ser. 61

      ページ: 1066-1070

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16681011
  • [雑誌論文] Control of Tunnel Resistance of Nanogaps by Field-Emission-lnduced Electromigration2007

    • 著者名/発表者名
      S. Kayashima, K. Takahashi, M. Motoyama and J. Shirakashi
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys. 46

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16681011
  • [雑誌論文] Control of tunnel resistance of nanogaps by field-emission-induced electromigration2007

    • 著者名/発表者名
      S. Kayashima, K. Takahashi, M. Motoyama, J. Shirakashi
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys. 46

    • NAID

      210000064124

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063007
  • [雑誌論文] AFM Lithography for Fabrication of Magnetic Nanostructures and Devices2006

    • 著者名/発表者名
      Y.Takemura, J.Shirakashi
    • 雑誌名

      J.Magn.Magn.Mat. (印刷中)

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16681011
  • [雑誌論文] Magnetoresistance Effect of Planar-Type Ferromagnetic Tunnel Junctions2006

    • 著者名/発表者名
      Y.Tomoda, Y.Shibata, J.Shirakashi, Y.Takemura
    • 雑誌名

      J.Appl.Phys. (印刷中)

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16681011
  • [雑誌論文] Fabrication of Magnetic Nanostructures and Devices by AFM Nano-Lithography Technique2005

    • 著者名/発表者名
      Y.Takemura, J.Shirakashi (Invited)
    • 雑誌名

      Proc.SPIE (印刷中)

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16681011
  • [雑誌論文] Magnetoresistance of Patterned NiFe Thin Films with Structures Modified by Atomic Force Microscope Nanolithography2005

    • 著者名/発表者名
      G.Watanabe, S.Koizumi, K.Watanabe, T.Yamada, Y.Takemura, J.Shirakashi
    • 雑誌名

      J.Vac.Sci.& Technol. B23

      ページ: 2390-2393

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16681011
  • [雑誌論文] Direct Modification of Magnetic Domains in Co Nanostructures by AFM-Lithography2005

    • 著者名/発表者名
      Y.Takemura, S.Hayashi, F.Okazaki, T.Yamada, J.Shirakashi
    • 雑誌名

      Jap.J.Appl.Phys. (印刷中)

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16681011
  • [雑誌論文] Modification of Electrical Properties and Magnetic Domain Structures in Magnetic Nanostructures by AFM Nano-Lithography2005

    • 著者名/発表者名
      Y.Takemura, J.Shirakashi
    • 雑誌名

      Adv.Eng.Mat. 7

      ページ: 170-173

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16681011
  • [雑誌論文] Direct Modification of Magnetic Domains in Co Nanostructures by Atomic Force Microscope Lithography2005

    • 著者名/発表者名
      Y.Takemura, S.Hayashi, F.Okazaki, T.Yamada, J.Shirakashi
    • 雑誌名

      Jpn.J.Appl.Phys. 44

    • NAID

      10014505822

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16681011
  • [雑誌論文] SPM Fabrication of Nanometerscale Ferromagnetic Metal-Oxide Devices2004

    • 著者名/発表者名
      J.Shirakashi, Y.Takemura
    • 雑誌名

      J.Magn.Magn.Mat. 272-276P2

      ページ: 1581-1583

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16681011
  • [雑誌論文] Ferromagnetic Ultra-Small Tunnel Junction Devices Fabricated by Scanning Probe Microscope (SPM) Local Oxidation2004

    • 著者名/発表者名
      J.Shirakashi, Y.Takemura
    • 雑誌名

      IEEE Trans.Mag. 40

      ページ: 2640-2642

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16681011
  • [雑誌論文] Magnetic Nanostructures Fabricated by the Atomic Force Microscopy Nano-Lithography Technique2004

    • 著者名/発表者名
      K.Watanabe, Y.Takemura, Y.Shimazu, J.Shirakashi
    • 雑誌名

      Nanotechnology 15

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16681011
  • [雑誌論文] Finite-Element Capacitance Calculation and Spin-dependent Transport Modeling of Double Magnetic Tunnel Junctions2004

    • 著者名/発表者名
      M.B.A.Jalil, C.W.Kim, Y.Takemura, J.Shirakashi
    • 雑誌名

      Transactions of the Magnetics Society of Japan Vol.4,No.1

      ページ: 28-33

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16681011
  • [産業財産権] 処理装置及び薄膜の製造方法2015

    • 発明者名
      越田信義・白樫淳一・須田隆太郎・八木麻実子
    • 権利者名
      東京農工大学
    • 産業財産権種類
      特許
    • 産業財産権番号
      2015-031822
    • 出願年月日
      2015-02-20
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24246053
  • [学会発表] Reservoir Computing-Based Real-Time Prediction for Quantized Conductance of Au Atomic Junctions2022

    • 著者名/発表者名
      Y. Shimada, M. Shimada, T. Miki and J. Shirakashi
    • 学会等名
      17th IEEE Nanotechnology Materials and Devices Conference (IEEE NMDC 2022), November 18-20, 2022, Nanjing, China. (in Combination with Online Conference)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18713
  • [学会発表] Experimental Evaluation of Performance Improvement by Sparse Operation in Ising Spin Computing2022

    • 著者名/発表者名
      A. Yoshida, T. Miki, M. Shimada, Y. Yoneda and J. Shirakashi
    • 学会等名
      17th IEEE Nanotechnology Materials and Devices Conference (IEEE NMDC 2022), November 18-20, 2022, Nanjing, China. (in Combination with Online Conference)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18713
  • [学会発表] Efficient Ground-State Searches by Scheduling Sparsity of Interactions of Physical Spin Dynamics for Ising Spin Computing2022

    • 著者名/発表者名
      A. Yoshida, T. Miki, M. Shimada, Y. Yoneda and J. Shirakashi
    • 学会等名
      2022 IEEE International Conference on Manipulation, Manufacturing and Measurement on the Nanoscale (IEEE 3M-NANO 2022), August 8-12, 2022, Tianjin, China. (in Combination with Online Conference)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18713
  • [学会発表] Hybridization of Spin Decision Logics for Ising Machine with Logic Circuits2021

    • 著者名/発表者名
      T. Miki, A. Yoshida, M. Shimada and J. Shirakashi
    • 学会等名
      21st IEEE International Conference on Nanotechnology (IEEE NANO 2021), July 28-31, 2021, Virtual Format. (Online Conference)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18713
  • [学会発表] Sparsifying Connected Spins in Majority Voting Method of Ising Spin Computing Based on Logic Gates2021

    • 著者名/発表者名
      A. Yoshida, T. Miki, M. Shimada, Y. Yoneda and J. Shirakashi
    • 学会等名
      2021 International Conference on Nanoscience & Technology (ICN+T 2021), July 12-15, 2021, Virtual Event. (Online Conference)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18713
  • [学会発表] Application of Electromigrated Au Nanogaps to Artificial Synaptic Devices and Physical Reservoir Computing2021

    • 著者名/発表者名
      K. Sakai and J. Shirakashi
    • 学会等名
      2021 Asia-Pacific Workshop on Fundamentals and Applications of Advanced Semiconductor Devices (AWAD 2021), August 26-27, 2021, Virtual. (Online Conference)
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K18713
  • [学会発表] Spin Connection Topology and Multi-Bit Spin Interaction Coefficients of Ising Spin Model with Digital Logic Gates2020

    • 著者名/発表者名
      T. Miki, M. Shimada and J. Shirakashi
    • 学会等名
      2020 IEEE International Conference on Design & Test of Integrated Micro & Nano-Systems (IEEE DTS), June 7-10, 2020, Hammamet, Tunisia. (Online Conference)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H01471
  • [学会発表] Information Processing Using Reservoir Computing with Dynamical Node of Electromigrated Au Nanogaps2020

    • 著者名/発表者名
      K. Sakai, T. Miki, R. Kiyokawa, R. Koyama, K. Watanabe and J. Shirakashi
    • 学会等名
      2020 International Symposium on Nonlinear Theory and Its Applications (NOLTA2020), November 16-19, 2020, Okinawa, Japan. (Online Conference)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H01471
  • [学会発表] Computational Properties of Ising Spin Model on Spin Connection Parameters2019

    • 著者名/発表者名
      T. Miki, M. Ito, Y. Hirata, Y. Kushitani, M. Shimada and J. Shirakashi
    • 学会等名
      19th IEEE International Conference on Nanotechnology (IEEE NANO 2019), July 22-26, 2019, Macao, China.
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H01471
  • [学会発表] Synaptic Learning Behavior of Multiple-Connected Au Nanogaps Using Electromigration2019

    • 著者名/発表者名
      T. Sato, K. Sakai, K. Minami, S. Tani, M. Ito, M. Yagi and J. Shirakashi
    • 学会等名
      3rd International Conference on Applied Surface Science (ICASS 2019), June 17-20, 2019, Pisa, Italy.
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H01471
  • [学会発表] Calculation Behavior of 2D Ising Spin Computing with Different Spin Decision Logics2019

    • 著者名/発表者名
      M. Shimada, M. Ito, Y. Hirata, Y. Kushitani, T. Miki and J. Shirakashi
    • 学会等名
      19th IEEE International Conference on Nanotechnology (IEEE NANO 2019), July 22-26, 2019, Macao, China.
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H01471
  • [学会発表] Fabrication of Au Atomic Junctions Using Artificial Intelligence Implemented on FPGA2018

    • 著者名/発表者名
      T. Sakurai, Y. Hirata, K. Takebayashi, Y. Iwata and J. Shirakashi
    • 学会等名
      AVS Pacific Rim Symposium on Surfaces, Coatings and Interfaces (PacSurf 2018), December 2-6, 2018, Waikoloa, HI, USA.
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H01471
  • [学会発表] Electromigration-Induced Structural Modification of Series-Parallel-Connected Au Nanogaps2018

    • 著者名/発表者名
      K. Minami, S. Tani, K. Sakai, T. Sato, M. Ito, M. Yagi and J. Shirakashi
    • 学会等名
      AVS Pacific Rim Symposium on Surfaces, Coatings and Interfaces (PacSurf 2018), December 2-6, 2018, Waikoloa, HI, USA.
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H01471
  • [学会発表] Single-Electron Tunneling Effects in Electromigrated Coulomb Island between Au Nanogaps2018

    • 著者名/発表者名
      S. Tani, M. Ito, M. Yagi, M. Shimada, K. Sakai, K. Minami and J. Shirakashi
    • 学会等名
      13th IEEE Nanotechnology Materials and Devices Conference (IEEE NMDC 2018), October 14-17, 2018, Portland, OR, USA.
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H01471
  • [学会発表] Single-Electron Transistors with Electromigrated Au Nanogaps2017

    • 著者名/発表者名
      S. Tani, M. Ito, K. Minami and J. Shirakashi
    • 学会等名
      2nd International Conference on Applied Surface Science (ICASS 2017), June 12-15, 2017, Dalian, China.
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15H03970
  • [学会発表] Optimization of Experimental Parameters for Fabrication of Atomic Junctions Using Ground-State Searches of Ising Spin Computing2017

    • 著者名/発表者名
      S. Sakai, Y. Iwata, Y. Katogi, M. Shiomura, Y. Kihara, M. Ito and J. Shirakashi
    • 学会等名
      17th IEEE International Conference on Nanotechnology (IEEE NANO 2017), July 25-28, 2017, Pittsburgh, PA, USA.
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15H03970
  • [学会発表] Intelligent Control Approach of Quantized Conductance of Au Atomic Junctions Formed by Feedback-Controlled Electromigration2017

    • 著者名/発表者名
      Y. Iwata, Y. Katogi, N. Numakura, S. Sakai and J. Shirakashi
    • 学会等名
      2nd International Conference on Applied Surface Science (ICASS 2017)
    • 発表場所
      Dalian, China.
    • 年月日
      2017-06-12
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K13333
  • [学会発表] Optimization of Experimental Parameters for Fabrication of Atomic Junctions Using Ground-State Searches of Ising Spin Computing2017

    • 著者名/発表者名
      S. Sakai, Y. Iwata, Y. Katogi, M. Shiomura, Y. Kihara, M. Ito and J. Shirakashi
    • 学会等名
      17th IEEE International Conference on Nanotechnology (IEEE NANO 2017)
    • 発表場所
      Pittsburgh, PA, USA.
    • 年月日
      2017-07-25
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K13333
  • [学会発表] リアルタイムOSを用いたFCE法によるAu原子接合での制御パラメータの自律設定手法2017

    • 著者名/発表者名
      岩田侑馬、加藤木悠、沼倉憲彬、酒井正太郎、白樫淳一
    • 学会等名
      第64回応用物理学会春季学術講演会
    • 発表場所
      パシフィコ横浜、神奈川
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K13333
  • [学会発表] Local Joule Heating in Electromigrated Au Nanowires Imaged by In Situ Atomic Force Microscopy2017

    • 著者名/発表者名
      M. Yagi and J. Shirakashi
    • 学会等名
      12th IEEE Nanotechnology Materials and Devices Conference (NMDC 2017), October 2-4, 2017, Singapore.
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15H03970
  • [学会発表] Controlled Electromigration Method for the Fabrication of Nanoscale Junction Devices2016

    • 著者名/発表者名
      J. Shirakashi
    • 学会等名
      Emerging Technologies 2016
    • 発表場所
      Montreal, QC, Canada.
    • 年月日
      2016-05-25
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15H03970
  • [学会発表] Time-Deterministic Control of Quantized Conductance of Au Nanowires Using Feedback-Controlled Electromigration with Real-Time Operating System2016

    • 著者名/発表者名
      S. Sato, Y. Kanamaru, Y. Katogi and J. Shirakashi
    • 学会等名
      43rd International Conference on the Physics and Chemistry of Surfaces and Interfaces (PCSI-43)
    • 発表場所
      Palm Springs, CA, USA.
    • 年月日
      2016-01-17
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K13333
  • [学会発表] Feedback-Controlled Electromigration (FCE) Method with Automatically Optimized Parameters2016

    • 著者名/発表者名
      N. Numakura, Y. Iwata and J. Shirakashi
    • 学会等名
      Pacific Rim Symposium on Surfaces, Coatings and Interfaces (PacSurf 2016)
    • 発表場所
      Hawaii, USA.
    • 年月日
      2016-12-11
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15H03970
  • [学会発表] Channel Conductance of Au Nanowires Tuned by Ultrafast Electromigration Using a Field-Programmable Gate Array2015

    • 著者名/発表者名
      Y. Katogi, Y. Kanamaru, S. Sato and J. Shirakashi
    • 学会等名
      10th International Conference on Surfaces, Coatings and Nanostructured Materials (NANOSMAT 2015)
    • 発表場所
      Manchester, UK.
    • 年月日
      2015-09-13
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15H03970
  • [学会発表] Thin Film Deposition Based on Reduction Effect of Ballistic Hot Electrons2015

    • 著者名/発表者名
      N. Koshida, R. Suda, M. Yagi, N. Mori , and J. Shirakashi
    • 学会等名
      Int. Conf. on Nanotechnol., Nanomater. & Thin Films for Energy Applications
    • 発表場所
      Manchester, UK
    • 年月日
      2015-06-02
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24246053
  • [学会発表] Tuning of Channel Conductance of Au Nanowires Using Ultrafast Electromigration Controlled by a Field-Programmable Gate Array2015

    • 著者名/発表者名
      Y. Katogi, Y. Kanamaru, S. Sato, T. Saito and J. Shirakashi
    • 学会等名
      5th International Conference on Manipulation, Manufacturing and Measurement on the Nanoscale (3M-NANO 2015)
    • 発表場所
      Changchun, China.
    • 年月日
      2015-10-05
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15H03970
  • [学会発表] Precise Tuning of Electrical Properties of Nanogap-Based Single-Electron Transistors Using Field-Emission-Induced Electromigration Method2015

    • 著者名/発表者名
      M. Kase, K. Okada, K. Morihara and J. Shirakashi
    • 学会等名
      10th International Conference on Surfaces, Coatings and Nanostructured Materials (NANOSMAT 2015)
    • 発表場所
      Manchester, UK.
    • 年月日
      2015-09-13
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K13333
  • [学会発表] ナノシリコン弾道電子源を用いたCu薄膜のプリンティング堆積2015

    • 著者名/発表者名
      須田 隆太郎、八木 麻実子、小島 明、Romain Mentek、白樫 淳一、越田 信義
    • 学会等名
      応用物理学会
    • 発表場所
      東海大学(神奈川県平塚市)
    • 年月日
      2015-03-11
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24246053
  • [学会発表] Functional applications of nanostructured silicon2015

    • 著者名/発表者名
      N. Koshida, R. Mentek, A. Kojima, N. Ikegami, R. Suda, M. Yagi, N. Mori, and J. Shirakashi
    • 学会等名
      2015 Collaborative Conf. on 3D and Mater. Res.
    • 発表場所
      Busan, Korea
    • 年月日
      2015-06-16
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24246053
  • [学会発表] Field-Emission-Induced Electromigration Method for Precise Tuning of Electrical Properties of Ni-Based Single-Electron Transistors2015

    • 著者名/発表者名
      M. Ito, M. Kase, K. Okada and J. Shirakashi
    • 学会等名
      5th International Conference on Manipulation, Manufacturing and Measurement on the Nanoscale (3M-NANO 2015)
    • 発表場所
      Changchun, China.
    • 年月日
      2015-10-05
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K13333
  • [学会発表] Low-Temperature Deposition of Thin Si, Ge, and SiGe Films Using Reducing Activity of Ballistic Hot Electrons2014

    • 著者名/発表者名
      N. Koshida, R. Suda, M. Yagi, A. Kojima, R. Mentek, B. Gelloz, N. Mori, and J. Shirakashi
    • 学会等名
      Electrochem. Soc. Int. Symp. on SiGe, Ge, and Related Compounds: Materials, Processing, and Devices 6
    • 発表場所
      Cancun, Mexico
    • 年月日
      2014-10-07
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24246053
  • [学会発表] Deposition of Thin Si, Ge, and SiGe Films by Ballistic Electro-Reduction2014

    • 著者名/発表者名
      N. Koshida, R. Suda, M. Yagi, A. Kojima, R. Mentek, B. Gelloz, N. Mori, and J. Shirakashi
    • 学会等名
      The 15th Int. Union of Mater. Res. Soc., Int. Conf. in Asia 2014
    • 発表場所
      福岡大学(福岡市城南区)
    • 年月日
      2014-08-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24246053
  • [学会発表] ナノギャップでの原子のマイグレーション現象により作製したNi系ナノスケールデバイス2014

    • 著者名/発表者名
      須田隆太郎、伊藤光樹、森原康平、豊中貴大、滝川主喜、白樫淳一
    • 学会等名
      電子情報通信学会 電子デバイス研究会(ED)/シリコン材料・デバイス研究会(SDM)「機能ナノデバイスおよび関連技術」
    • 発表場所
      北海道大学
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25630122
  • [学会発表] Deposition of thin Si, Ge, and SiGe films by ballistic hot electron reduction2014

    • 著者名/発表者名
      M. Yagi, R. Suda, A. Kojima, R. Mentek, N. Mori, J. Shirakashi, and N. Koshida
    • 学会等名
      Int. Conf. Solid State Devices and Materials,
    • 発表場所
      つくば国際会議場(茨城県つくば市)
    • 年月日
      2014-09-11
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24246053
  • [学会発表] Ballistic hot electron effects in nanosilicon dots and their photonic applications2014

    • 著者名/発表者名
      N. Koshida, N. Ikegami, A. Kojima, R. Mentek, R. Suda, M. Yagi, J. Shirakashi, B. Gelloz, and N. Mori
    • 学会等名
      Electrochem. Soc. Int. Symp. on Nanoscale Luminescent Materials 3
    • 発表場所
      Orlando, USA
    • 年月日
      2014-05-12
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24246053
  • [学会発表] FPGAを用いた超高速フィードバック制御型エレクトロマイグレーション2014

    • 著者名/発表者名
      金丸祐真、安藤昌澄、齋藤孝成、白樫淳一
    • 学会等名
      電子情報通信学会 電子デバイス研究会(ED)/シリコン材料・デバイス研究会(SDM)「機能ナノデバイスおよび関連技術」
    • 発表場所
      北海道大学
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25630122
  • [学会発表] ナノシリコン弾道電子源を用いたⅣ族半導体薄膜の堆積2014

    • 著者名/発表者名
      八木麻実子, 須田隆太郎, 小島明, M. Romain, 白樫淳一, 越田信義
    • 学会等名
      応用物理学会
    • 発表場所
      北海道大学(札幌市北区)
    • 年月日
      2014-09-19
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24246053
  • [学会発表] Nanoscale Mechanical Scratching of Graphene Using Scanning Probe Microscopy2013

    • 著者名/発表者名
      R. Suda, T. Saito, A. A. Tseng and J. Shirakashi
    • 学会等名
      5th IEEE International Nanoelectronics Conference (INEC 2013)
    • 発表場所
      Sentosa Island, Singapore
    • 年月日
      2013-01-03
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24360117
  • [学会発表] Tuning of Resistance of Nanogaps Using Field-Emission-Induced Electromigration with Feedback Control Scheme2013

    • 著者名/発表者名
      M. Ando, S. Akimoto, R. Suda and J. Shirakashi
    • 学会等名
      IEEE NANO 2013 (2013 IEEE International Conference on Nanotechnology)
    • 発表場所
      Beijing, China
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24360117
  • [学会発表] tic Electro-Deposition of Thin Si, Ge, and SiGe Films2013

    • 著者名/発表者名
      R. Suda, M. Ito, M. Yagi, A. Kojima, R. Mentek, N. Mori, J. Shirakashi and N. Koshida
    • 学会等名
      2013 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM 2013)
    • 発表場所
      Fukuoka, Japan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25630122
  • [学会発表] Electrical Properties of Nanogap-Based Single-Electron Transistors Fabricated by Field-Emission-Induced Electromigration2013

    • 著者名/発表者名
      R. Suda, S. Akimoto, K. Morihara and J. Shirakashi
    • 学会等名
      IEEE NANO 2013 (2013 IEEE International Conference on Nanotechnology)
    • 発表場所
      Beijing, China
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24360117
  • [学会発表] Electromigration-Based Fabrication Methods for Single-Electron Transistors2013

    • 著者名/発表者名
      J. Shirakashi
    • 学会等名
      CMOS Emerging Technologies Research, 2013 Symposium
    • 発表場所
      Whistler, BC, Canada
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24360117
  • [学会発表] In-Situ Control of Quantum Point Contacts Using Scanning Probe Microscopy Scratch Lithography2012

    • 著者名/発表者名
      R. Suda, T. Ohyama, A. A. Tseng and J. Shirakashi
    • 学会等名
      IEEE NANO 2012 (12th International Conference on Nanotechnology)
    • 発表場所
      Birmingham, UK.(招待講演)
    • 年月日
      2012-08-23
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24360117
  • [学会発表] Investigation of Nanogap Formation Process Using Field-Emission-Induced Electromigration with Alternating Current Bias2012

    • 著者名/発表者名
      M. Yagi, S. Akimoto, M. Ito and J. Shirakashi
    • 学会等名
      2012 International Conference on Nanoscience +Technology (ICN+T 2012)
    • 発表場所
      Paris, France.
    • 年月日
      2012-07-25
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24360117
  • [学会発表] Fabrication of Nanogaps Using Field-Emission-Induced Electromigration with Alternating Current Bias2011

    • 著者名/発表者名
      M. Yagi, R. Suda, T. Watanabe and J. Shirakashi
    • 学会等名
      International Conference on Nanoscience and Technology, China 2011(ChinaNANO 2011)
    • 発表場所
      Beijing, China
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22651039
  • [学会発表] Simultaneous Tuning of Tunnel Resistance of Integrated Nanogaps by Field-Emission-Induced Electromigration2011

    • 著者名/発表者名
      M.Ito, S.Ueno, T.Watanabe, S.Akimoto, J.Shirakashi
    • 学会等名
      The IEEE NANO 2011 Conference (11th International Conference on Nanotechnology)
    • 発表場所
      Portland, OR, USA(招待講演)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22651039
  • [学会発表] Field-Emission-Induced Electromigration Method for the Integration of Single-Electron Transistors2010

    • 著者名/発表者名
      S.Ueno, Y.Tomoda, W.Kume, M.Hanada, K.Takiya, J.Shirakashi
    • 学会等名
      International Conference on Nanoscience and Technology (ICN+T 2010)
    • 発表場所
      Beijing, China.
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360136
  • [学会発表] A Newly Investigated Approach for the Control of Tunnel Resistance of Nanogaps Using Field-Emission-Induced Electromigration2010

    • 著者名/発表者名
      K. Takiya, Y. Tomoda, W. Kume, S. Ueno, T. Watanabe and J. Shirakashi
    • 学会等名
      International Conference on Nanoscience and Technology(ICN-T 2010)
    • 発表場所
      Beijing, China
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22651039
  • [学会発表] Fabrication of Planar-Type Ni/Vacuum/Ni Tunnel Junctions Based on Ferromagnetic Nanogaps Using Field-Emission-Induced Electromigration2010

    • 著者名/発表者名
      K.Takiya, T.Watanabe, J.Shirakashi
    • 学会等名
      55th Annual Conference on Magnetism and Magnetic Materials (MMM-2010)
    • 発表場所
      Atlanta, GA, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22651039
  • [学会発表] Integration of Single-Electron Transistors Using Field-Emission-Induced Electromigration2010

    • 著者名/発表者名
      S. Ueno, Y. Tomoda, W. Kume, M. Hanada, K. Takiya and J. Shirakashi
    • 学会等名
      10th International Conference on Nanotechnology(IEEE NANO 2010)-Joint Symposium with NANO KOREA 2010
    • 発表場所
      Seoul, Korea
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22651039
  • [学会発表] Fabrication of Planar-Type Ni/Vacuum/Ni Tunnel Junctions Based on Ferromagnetic Nanogaps Using Field-Emission-Induced Electromigration2010

    • 著者名/発表者名
      K. Takiya, T. Watanabe and J. Shirakashi
    • 学会等名
      55th Annual Conference on Magnetism and Magnetic Materials(MMM-2010)
    • 発表場所
      Atlanta, GA, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22651039
  • [学会発表] Tuning of Tunnel Resistance of Nanogaps by Field-Emission-Induced Electromigration Using Current Source Mode2010

    • 著者名/発表者名
      K. Takiya, Y. Tomoda, W. Kume, S. Ueno, T. Watanabe and J. Shirakashi
    • 学会等名
      10th International Conference on Nanotechnology(IEEE NANO 2010)-Joint Symposium with NANO KOREA 2010
    • 発表場所
      Seoul, Korea
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22651039
  • [学会発表] Field-Emission-Induced Electromigration Method for the Integration of Single-Electron Transistors2010

    • 著者名/発表者名
      S.Ueno, Y.Tomoda, W.Kume, M.Hanada, K.Takiya J.Shirakashi
    • 学会等名
      International Conference on Nanoscience and Technology(ICN+T 2010)
    • 発表場所
      Beijing, China
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360136
  • [学会発表] Magnetoresistance Properties of Planar-Type Tunnel Junctions with Ferromagnetic Nanogap System Fabricated by Electromigration Method2009

    • 著者名/発表者名
      J.Shirakashi
    • 学会等名
      International Magnetics Conference 2009
    • 発表場所
      Sacramento, USA
    • 年月日
      2009-05-07
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063007
  • [学会発表] Constriction of Ferromagnetic Patterned Thin Film by Scratch Process Using Atomic Force Microscope(Invited)2009

    • 著者名/発表者名
      J.Shirakashi
    • 学会等名
      International Conference on Composites/Nano Engineering
    • 発表場所
      Honolulu, USA
    • 年月日
      2009-07-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063007
  • [学会発表] Fabrication of Single-Electron Transistors Using Field-Emission-Induced Electromigration2009

    • 著者名/発表者名
      W.Kume, Y.Tomoda, M.Hanada, J.Shirakashi
    • 学会等名
      International Conference on Nanoscience and Technology China 2009 (ChinaNANO 2009)
    • 発表場所
      Beijing, China
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360136
  • [学会発表] Fabrication of Single-Electron Transistors Using Field-Emission-Induced Electro- migration2009

    • 著者名/発表者名
      W.Kume, Y.Tomoda, M.Hanada, J.Shirakashi
    • 学会等名
      International Conference on Nanoscience and Technology China 2009 (ChinaNANO 2009)
    • 発表場所
      Beijing, China.
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360136
  • [学会発表] Fabrication of Single-Electron Transistors Using Field-Emission-Induced Electromigration2009

    • 著者名/発表者名
      W.Kume, Y.Tomoda, M.Hanada, J.Shirakashi
    • 学会等名
      Int.Conf.on Nanosci.and Technol.
    • 発表場所
      Beijing, China
    • 年月日
      2009-09-02
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063007
  • [学会発表] Fabrication of Nanogap Electrodes by Field-Emission-Induced Electromigration2008

    • 著者名/発表者名
      Y. Tomoda, K. Takahashi, M. Hanada, W. Kume, J. Shirakashi
    • 学会等名
      The 2008 International Conference on Nanoscience +Technology (ICN+T 2008)
    • 発表場所
      Keystone, CO, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360136
  • [学会発表] Fabrication of Nanogap Electrodes by Field-Emission-Induced Electromigration2008

    • 著者名/発表者名
      Y.Tomoda, K.Takahashi, M.Hanada, W.Kume, J.Shirakashi
    • 学会等名
      The 2008 International Conference on Nanoscience + Technology (ICN+T 2008)
    • 発表場所
      Keystone, CO, USA.
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20360136
  • [学会発表] Control of Tunnel Resistance of Suspended Ni Nanogaps Using Field-Emission-Induced Electromigration

    • 著者名/発表者名
      T. Toyonaka, R. Suda, M. Ito, K. Takikawa and J. Shirakashi
    • 学会等名
      2014 International Conference on Nanoscience + Technology (ICN+T 2014)
    • 発表場所
      Vail, Colorado, USA.
    • 年月日
      2014-07-20 – 2014-07-25
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25630122
  • [学会発表] A Fully Customized Hardware System for Ultra-Fast Feedback-Controlled Electromigration Using FPGA

    • 著者名/発表者名
      Y. Kanamaru, M. Ando, R. Suda and J. Shirakashi
    • 学会等名
      IEEE NANO 2014 (2014 IEEE International Conference on Nanotechnology)
    • 発表場所
      Toronto, ON, Canada.
    • 年月日
      2014-08-18 – 2014-08-21
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24360117
  • [学会発表] Investigation of Nanogap Formation Process Using Field-Emission-Induced Electromigration with Alternating Current Bias

    • 著者名/発表者名
      M. Yagi, S. Akimoto, M. Ito and J. Shirakashi
    • 学会等名
      2012 International Conference on Nanoscience + Technology
    • 発表場所
      Paris, France
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24246053
  • [学会発表] Simultaneous Fabrication of Nanogaps Using Field-Emission-Induced Electromigration

    • 著者名/発表者名
      M. Ito, M. Yagi, K. Morihara and J. Shirakashi
    • 学会等名
      4th International Conference on Manipulation, Manu-facturing and Measurement on the Nanoscale (3M-NANO 2014)
    • 発表場所
      Taipei, Taiwan.
    • 年月日
      2014-10-27 – 2014-10-31
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24360117
  • [学会発表] Nanoscale Mechanical Scratching of Graphene Using Scanning Probe Microscopy

    • 著者名/発表者名
      R. Suda, T. Saito, A. A. Tseng and J. Shirakashi
    • 学会等名
      5th IEEE International Nanoelectronics Conference
    • 発表場所
      Sentosa Island, Singapore
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24246053
  • [学会発表] Ultra-Fast Feedback-Controlled Electromigration Using FPGA

    • 著者名/発表者名
      Y. Kanamaru, M. Ando, R. Suda and J. Shirakashi
    • 学会等名
      2014 International Conference on Nanoscience + Technology (ICN+T 2014)
    • 発表場所
      Vail, Colorado, USA.
    • 年月日
      2014-07-20 – 2014-07-25
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25630122
  • [学会発表] Structural Tuning of Nanogaps Using Field-Emission-Induced Electromigration with Bipolar Biasing

    • 著者名/発表者名
      M. Yagi, M. Ito and J. Shirakashi
    • 学会等名
      4th International Conference on Manipulation, Manu-facturing and Measurement on the Nanoscale (3M-NANO 2014)
    • 発表場所
      Taipei, Taiwan.
    • 年月日
      2014-10-27 – 2014-10-31
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24360117
  • [学会発表] ナノシリコン弾道電子源を用いたSi, Ge, SiGe薄膜の堆積

    • 著者名/発表者名
      須田隆太郎,八木麻実子,小島明,Mentek Romain,白樫淳一,越田信義
    • 学会等名
      応用物理学会
    • 発表場所
      青山学院大学、相模原
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24246053
  • [学会発表] 弾道電子の直接還元効果を用いた半導体薄膜堆積

    • 著者名/発表者名
      伊藤光樹,須田隆太郎,八木麻実子,小島明, Romain Mentek,白樫淳一,越田信義
    • 学会等名
      応用物理学会
    • 発表場所
      同志社大学、京都
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24246053
  • [学会発表] Resistive Switching Effects in Electromigrated Ni Nanogaps

    • 著者名/発表者名
      K. Takikawa, R. Suda, M. Ito, T. Toyonaka and J. Shirakashi
    • 学会等名
      IEEE NANO 2014 (2014 IEEE International Conference on Nanotechnology)
    • 発表場所
      Toronto, ON, Canada.
    • 年月日
      2014-08-18 – 2014-08-21
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24360117
  • [学会発表] Fabrication of Resistive Switching Devices Based on Ni Nanogaps Using Field-Emission-Induced Electromigration

    • 著者名/発表者名
      K. Takikawa, R. Suda, M. Ito, T. Toyonaka and J. Shirakashi
    • 学会等名
      2014 International Conference on Nanoscience + Technology (ICN+T 2014)
    • 発表場所
      Vail, Colorado, USA.
    • 年月日
      2014-07-20 – 2014-07-25
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25630122
  • [学会発表] Ballistic electro-deposion of thin Si, Ge, and SiGe films

    • 著者名/発表者名
      R. Suda, M. Ito, M.Yagi, A. Kojima, R. Mentek, N. Mori, J. Shirakashi, and N. Koshida
    • 学会等名
      Int. Conf. Solid State Devices and Materials
    • 発表場所
      Hilton Fukuoka Sea Hawk, Fukuoka, Japan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24246053
  • [学会発表] In-Situ Control of Quantum Point Contacts Using Scanning Probe Microscopy Scratch Lithography

    • 著者名/発表者名
      R. Suda, T. Ohyama, A. A. Tseng and J. Shirakashi
    • 学会等名
      IEEE NANO 2012 (12th International Conference on Nanotechnology
    • 発表場所
      Birmingham, UK
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24246053
  • [学会発表] Applications of Nanosilicon Ballistic Electron Emitter to Nanofabrication Process

    • 著者名/発表者名
      N. Koshida, R. Suda, M. Yagi, J. Shirakashi, A. Kojima, N. Ikegami, T. Yoshida, H. Miyaguchi, M. Muroyama, S. Yoshida, K. Totsu, and M. Esashi
    • 学会等名
      Int. IEEE Conf. on Nanotechnology
    • 発表場所
      Rome, Italy
    • 年月日
      2015-07-27 – 2015-07-31
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24246053
  • [学会発表] ナノシリコン弾道電子源の還元効果によるSi 薄膜堆積

    • 著者名/発表者名
      須田隆太郎, 伊藤光樹, 小島明, 白樫淳一,越田信義
    • 学会等名
      第60 回応用物理学会春季学術講演会
    • 発表場所
      神奈川工科大学、神奈川
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24246053
  • 1.  竹村 泰司 (30251763)
    共同の研究課題数: 4件
    共同の研究成果数: 0件
  • 2.  越田 信義 (50143631)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 17件
  • 3.  ジェローズ ベルナール (40343157)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 4.  BERNAD GELLOZ
    共同の研究課題数: 0件
    共同の研究成果数: 1件

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