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岩垣 剛  Iwagaki Tsuyoshi

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 00397845
その他のID
所属 (現在) 2025年度: 広島市立大学, 情報科学研究科, 助教
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2015年度 – 2023年度: 広島市立大学, 情報科学研究科, 助教
2012年度: 広島市立大学, 情報科学研究科, 助教
2010年度 – 2011年度: 北陸先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助教
審査区分/研究分野
研究代表者
小区分60040:計算機システム関連 / 計算機システム / 計算機システム・ネットワーク
キーワード
研究代表者
耐故障設計 / ソフトエラー / 非同期式回路 / 相関強化 / ストカスティックコンピューティング / 確率的演算 / 演算チェイニング / スケジューリング / ハンドシェイク遅延 / 4相2線式 … もっと見る / 演算器バインディング / エラー訂正 / エラー検出 / フォールトトレランス / ディペンダブルコンピューティング / 遅延故障 / 劣化故障 / 一時故障 / 高位合成 / スキャンチェーン順序 / ホールド違反検出 / テストスケジューリング / 集積回路 / 変数割当て順序 / インスタンスの類似度 / 解の再利用 / 消費電力 / ホールド違反 / 検出故障数最大化 / テストパターン数最小化 / 整数計画問題 / ホールドタイム故障 / テスト数最小化 / 電力制約下テスト / ホールドタイム違反 / クロックスキュー / 非同期インターコネクト / 充足可能性問題 / 整数計画法 / テスト生成 隠す
  • 研究課題

    (3件)
  • 研究成果

    (29件)
  •  確率的演算に基づく非同期式回路の設計と高信頼化に関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      岩垣 剛
    • 研究期間 (年度)
      2019 – 2024
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 審査区分
      小区分60040:計算機システム関連
    • 研究機関
      広島市立大学
  •  フィールドでの一時故障への耐性を重視した非同期式回路の高信頼設計に関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      岩垣 剛
    • 研究期間 (年度)
      2015 – 2018
    • 研究種目
      若手研究(B)
    • 研究分野
      計算機システム
    • 研究機関
      広島市立大学
  •  LSIの多様な要求品質に対応できる数理計画的アプローチによる体系的なテスト生成法研究代表者

    • 研究代表者
      岩垣 剛
    • 研究期間 (年度)
      2010 – 2012
    • 研究種目
      若手研究(B)
    • 研究分野
      計算機システム・ネットワーク
    • 研究機関
      広島市立大学
      北陸先端科学技術大学院大学

すべて 2021 2020 2019 2017 2016 2015 2013 2012 2011 2010

すべて 雑誌論文 学会発表

  • [雑誌論文] シグモイド関数のゲインに着目した完全ストカスティック計算ニューロンの設計2021

    • 著者名/発表者名
      可児 冬弥, 市原 英行, 岩垣 剛, 井上 智生
    • 雑誌名

      電子情報通信学会論文誌D 情報・システム

      巻: J104-D 号: 7 ページ: 552-561

    • DOI

      10.14923/transinfj.2020FIP0008

    • ISSN
      1880-4535, 1881-0225
    • 年月日
      2021-07-01
    • 言語
      日本語
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11880
  • [雑誌論文] Transient Fault Tolerant State Assignment for Stochastic Computing Based on Linear Finite State Machines2020

    • 著者名/発表者名
      Hideyuki Ichihara, Motoi Fukuda, Tsuyoshi Iwagaki and Tomoo Inoue
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: E103.A 号: 12 ページ: 1464-1471

    • DOI

      10.1587/transfun.2020VLP0013

    • NAID

      130007948289

    • ISSN
      0916-8508, 1745-1337
    • 年月日
      2020-12-01
    • 言語
      英語
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11880
  • [雑誌論文] Flexible test scheduling for an asynchronous on-chip interconnect through special data transfer2011

    • 著者名/発表者名
      Tsuyoshi Iwagaki, Eiri Takeda and Mineo Kaneko
    • 雑誌名

      IEICE Trans. on Fundamentals

      巻: E94-A ページ: 2563-2570

    • NAID

      10030533654

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22700049
  • [雑誌論文] Fiexible test scheduling for an asynchronous on-chip interconnect through special data transfer2011

    • 著者名/発表者名
      Tsuyoshi Iwagaki
    • 雑誌名

      IEICE Trans.on Fundamentals

      巻: E94-A ページ: 2563-2570

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22700049
  • [学会発表] ドントケア拡大を用いたエラートレラントアプリケーションのための多出力論理関数の簡単化2020

    • 著者名/発表者名
      森川 範茂, 青野 優里, 市原 英行, 岩垣 剛, 井上 智生
    • 学会等名
      第82回FTC研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11880
  • [学会発表] ストカスティック計算に基づくニューラルネットワークにおけるシグモイド関数の演算精度に関する解析2020

    • 著者名/発表者名
      可児 冬弥, 瀬戸 信明, 市原 英行, 岩垣 剛, 井上 智生
    • 学会等名
      DAシンポジウム
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11880
  • [学会発表] ストカスティックコンピューティングにおけるシグモイド関数実装法に関する考察2020

    • 著者名/発表者名
      可児 冬弥, 瀬戸 信明, 市原 英行, 岩垣 剛, 井上 智生
    • 学会等名
      第82回FTC研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11880
  • [学会発表] An empirical approach to RTL scan path design focusing on structural interpretation in logic synthesis2019

    • 著者名/発表者名
      Tsuyoshi Iwagaki, Sho Yuasa, Hideyuki Ichihara and Tomoo Inoue
    • 学会等名
      3rd IEEE International Test Conference in Asia
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11880
  • [学会発表] State encoding with stochastic numbers for transient fault tolerant linear finite state machines2019

    • 著者名/発表者名
      Hideyuki Ichihara, Yuki Maeda, Tsuyoshi Iwagaki and Tomoo Inoue
    • 学会等名
      32nd IEEE Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K11880
  • [学会発表] Impact of operational unit binding on aging-induced degradation in high-level synthesis for asynchronous systems2017

    • 著者名/発表者名
      Tsuyoshi Iwagaki, Kohta Itani, Hideyuki Ichihara and Tomoo Inoue
    • 学会等名
      IEICE Technical Report (DC2016-78)
    • 発表場所
      東京
    • 年月日
      2017-02-21
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15961
  • [学会発表] Exploration of four-phase dual-rail asynchronous RTL design for delay-robustness2016

    • 著者名/発表者名
      Tsuyoshi Iwagaki, Kohta Itani, Hideyuki Ichihara and Tomoo Inoue
    • 学会等名
      17th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT '16)
    • 発表場所
      広島
    • 年月日
      2016-11-25
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15961
  • [学会発表] ハンドシェイク遅延を考慮した4相2線式非同期システムの高位合成におけるスケジューリングアルゴリズム2015

    • 著者名/発表者名
      猪谷孝太,岩垣剛,市原英行,井上智生
    • 学会等名
      電子情報通信学会(デザインガイア,ディペンダブルコンピューティング研究会)
    • 発表場所
      長崎県勤労福祉会館(長崎県長崎市)
    • 年月日
      2015-12-01
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K15961
  • [学会発表] 解の再利用によるテスト生成のためのハードウェアSATソルバの実装2013

    • 著者名/発表者名
      向井俊矢, 上田健司, 岩垣剛, 市原英行, 井上智生
    • 学会等名
      信学技法
    • 発表場所
      東京
    • 年月日
      2013-02-01
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22700049
  • [学会発表] 解の再利用を用いたSATに基づくテスト生成におけるインスタンス順序と変数割当順序の決定法2012

    • 著者名/発表者名
      上田健司, 岩垣剛, 市原英行, 井上智生
    • 学会等名
      信学技法
    • 発表場所
      福岡
    • 年月日
      2012-11-01
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22700049
  • [学会発表] Exact and heuristic methods of generating compact tests for hold-time violations2012

    • 著者名/発表者名
      Tsuyoshi Iwagaki, HideyukiIchihara, Tomoo Inoue and Kewal K. Saluja
    • 学会等名
      Digest of Papers 13th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • 発表場所
      Niigata
    • 年月日
      2012-11-01
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22700049
  • [学会発表] Exact and heuristic methods of generating compact tests for hold-time violations2012

    • 著者名/発表者名
      Tsuyoshi Iwagaki
    • 学会等名
      IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT)
    • 発表場所
      新潟
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22700049
  • [学会発表] A technique for SAT-based testgeneration through history of reusing solutions2012

    • 著者名/発表者名
      Kenji Ueda, Fumiyuki Hafuri, Toshiya Mukai, Tsuyoshi Iwagaki, Hideyuki Ichihara and Tomoo Inoue
    • 学会等名
      Proc. 17th Workshop on Synthesis and System Integration of Mixed Information Technologies (SASIMI '12)
    • 発表場所
      Oita
    • 年月日
      2012-03-01
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22700049
  • [学会発表] On indirect detection of functional hold-time violations using scan shift operations2011

    • 著者名/発表者名
      Tsuyoshi Iwagaki and Kewal K. Saluja
    • 学会等名
      IEICE Technical Report (FIIS-11-298)
    • 発表場所
      Chiba
    • 年月日
      2011-03-01
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22700049
  • [学会発表] Power-constrained test generation for hold-time faults using integer linear programming2011

    • 著者名/発表者名
      Tsuyoshi Iwagaki and Kewal K. Saluja
    • 学会等名
      Proc. 4th IEEE International Workshop on Impact of Low-Power Design on Test and Reliability (LPonTR '11)
    • 発表場所
      Trondheim (Norway)
    • 年月日
      2011-05-01
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22700049
  • [学会発表] Power-constrained test generation for hold-time faults using integer linear programming2011

    • 著者名/発表者名
      Tsuyoshi Iwagaki
    • 学会等名
      4th IEEE International Workshop on Impact of Low-Power Design on Test and Reliability
    • 発表場所
      Gloshaugen Campus, Trondheim, Norway
    • 年月日
      2011-05-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22700049
  • [学会発表] An approach to hardware SAT solvers for test generation based on instance similarity2011

    • 著者名/発表者名
      Tsuyoshi Iwagaki, Fumiyuki Hafuri, Kenji Ueda, Toshiya Mukai, Hideyuki Ichihara and Tomoo Inoue
    • 学会等名
      Digest of Papers 12th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT '11)
    • 発表場所
      Jaipur (India)
    • 年月日
      2011-11-01
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22700049
  • [学会発表] Indirect detection of clock skew induced hold-time violations on functional paths using scan shift operations2011

    • 著者名/発表者名
      Tsuyoshi Iwagaki
    • 学会等名
      14th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
    • 発表場所
      Lindner Congress Hotel, Cottbus, Germany
    • 年月日
      2011-04-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22700049
  • [学会発表] On indirect detection of functional hold-time violations using scan shift operations2011

    • 著者名/発表者名
      岩垣剛
    • 学会等名
      第44回機能集積情報システム研究会
    • 発表場所
      千葉大学(千葉県)
    • 年月日
      2011-03-07
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22700049
  • [学会発表] An approach to hardware SAT solvers for test generation based on instance similarity2011

    • 著者名/発表者名
      Tsuyoshi Iwagaki
    • 学会等名
      12th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • 発表場所
      MNIT Jaipur, India
    • 年月日
      2011-11-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22700049
  • [学会発表] Indirect detection of clock skew induced hold-time violations on functional paths using scan shift operations2011

    • 著者名/発表者名
      Tsuyoshi Iwagaki and Kewal K. Saluja
    • 学会等名
      Proc. 14th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS '11)
    • 発表場所
      Cottbus (Germany)
    • 年月日
      2011-04-01
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22700049
  • [学会発表] An approach to test scheduling for asynchronous on-chip interconnects using integer programming2010

    • 著者名/発表者名
      Tsuyoshi Iwagaki, Eiri Takeda and Mineo Kaneko
    • 学会等名
      Digest of Papers 11th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT '10)
    • 発表場所
      Shanghai (China)
    • 年月日
      2010-12-01
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22700049
  • [学会発表] Test scheduling Algorithms for delay-insensitive chip area interconnects based on cone partitioning2010

    • 著者名/発表者名
      岩垣剛
    • 学会等名
      3^<rd> International Workshop on Impact of Low-Power Design on Test and Reliability
    • 発表場所
      Hotel Don Giovanni, Prague, Czech Republic
    • 年月日
      2010-05-28
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22700049
  • [学会発表] Test scheduling algorithms for delay-insensitive chip area interconnects based on cone partitioning2010

    • 著者名/発表者名
      Tsuyoshi Iwagaki, Eiri Takeda and Mineo Kaneko
    • 学会等名
      Proc. 3rd International Workshop on the Impact of Low-Power Design on Test and Reliability (LPonTR '10)
    • 発表場所
      Prague (Czech republic)
    • 年月日
      2010-05-01
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22700049
  • [学会発表] An approach to test scheduling for asynchronous on-chip interconnects using integer programming2010

    • 著者名/発表者名
      岩垣剛
    • 学会等名
      IEEE 11^<th> Workshop on RTL and High Level Testing
    • 発表場所
      Shanghai Sheraton Hotel, Shanghai, China
    • 年月日
      2010-12-06
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22700049

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