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渡部 杏太  Watanabe Kyota

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 00871518
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2020年度 – 2021年度: 国立研究開発法人宇宙航空研究開発機構, 研究開発部門, 研究開発員
審査区分/研究分野
研究代表者
0302:電気電子工学およびその関連分野
キーワード
研究代表者
ナノスケール / スピンホール効果 / パルスレーザ照射 / 異常ホール効果 / ソフトエラー / 放射線 / 重粒子イオン照射 / 異常Hall効果 / ナノテクノロジー / 強磁性体 … もっと見る / 放射線影響 / 不揮発性メモリ / 宇宙応用 / スピントロニクス 隠す
  • 研究課題

    (1件)
  • 研究成果

    (1件)
  •  微細スピントロニクス素子における放射線影響評価とそのメカニズムの解明研究代表者

    • 研究代表者
      渡部 杏太
    • 研究期間 (年度)
      2020 – 2021
    • 研究種目
      研究活動スタート支援
    • 審査区分
      0302:電気電子工学およびその関連分野
    • 研究機関
      国立研究開発法人宇宙航空研究開発機構

すべて 2022

すべて 学会発表

  • [学会発表] Design and Heavy-Ion Testing of MTJ/CMOS Hybrid LSIs for Space-Grade Soft-Error Reliability2022

    • 著者名/発表者名
      K. Watanabe, T. Tanigawa, S. Ikeda, T. Shinada, H. Koike, T. Makino, T. Ohshima, T. Shimada, K. Hirose, H. Shindo, D. Kobayashi, T. Endoh
    • 学会等名
      International Reliability Physics Symposium
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20K22424

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