鈴木芳文 SUZUKI Yoshifumi

研究者番号	10206550
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所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2014年度 – 2016年度: 九州工業大学, 工学(系)研究科(研究院), 教授 2006年度: 九州工業大学, 大学院工学研究科, 助教授 2004年度 – 2005年度: 九州工業大学, 大学院・工学研究科, 助教授 2003年度: 九州工業大学, 工学研究科, 助教授 1997年度 – 2002年度: 九州工業大学, 工学部, 助教授 1989年度 – 1994年度: 九州工業大学, 工学部, 助教授
審査区分/研究分野	研究代表者応用物性・結晶工学 / 応用物性・結晶工学研究代表者以外応用物性・結晶工学 / 応用物性・結晶工学 / 結晶学 / 量子ビーム科学
キーワード	研究代表者 X-ray Diffraction / Critical angle / Imaging / Extremely Small Incident Angle / Surface and Interface / Semiconductor Epitaxial Film / Lattice Mismatched / Synchrotron / X線回折 / 臨界角 … もっと見る / イメージング / 極微小角入射 / ナノ表面・界面 / 格子不整系半導体薄膜 / シンクロトロン光 / gallium nitride / depth resolution / dynamical diffraction theory / largee lattice mismatch heteroepitaxial layer / topography / X-ray / 深さ分解トポグラフ / 計算機シミュレーション / 窒化ガリウム / 格子不整系半導体エピタキシャル膜 / X線散乱トポグラフ … もっと見る研究代表者以外 X線散乱トポグラフィ / X線トポグラフィ / マイクロビーム / Microbeam / シンクロトロン放射光 / 化合物半導体 / 可視化 / 放射光 / 散乱トポグラフィ / X線方位分布トポグラフィ / 散乱ラジオグラフィ / トモグラフィ / X-Ray Topography / X-Ray Scattering Topography / X-Ray Imaging / X-Ray Visuzlization / Synchrotron Radiation / 素子構造評価 / イメージング / デバイス構造評価 / シンクロトロン光 / X-ray imaging / Synchrotoron radiation / X-ray scattering topography / Syncrotoron radiation / X-ray topography / 白色高エネルギーマイクロビーム / X線錯乱トポグラフィ / High enery white and parallel microbeam / X-Ray scattering topography / syncrotoron radiation / X-Ray topography / 表面トポグラフィ / X-RAY SPECTROSCOPIC TOPOGRAPHY / X-RAY MICROBEAM / SYNCHROTRON RADIATION / X-RAY ORIENTATION TOPOGRAPHY / X-RAY TOPOGRAPHY / X-RAY SCATTERING TOPOGRAPHY / X線回折トポグラフィ / スペクトロスコピートポグラフィ / スペクトロスコピックトポグラフィ / X線スペクトロスコピックトポグラフィ / X線マイクロビーム / 空間解像度 / 3次元画像 / 2次元画像 / 屈折原理 / 医用画像 / 機械研削 / X線動力学理論 / X線回折 / 病理学 / X線光学系 / 画像 / X線 / 超精密計測 / 光学 / 3D像 / 2D像 / 人体軟組織 / 薄板 / シリコン単結晶 / X線医用画像 / X線暗視野法 / 乳がん検診 / 病理学検査 / X線光学 / ボムマン効果CT / CT / ボルマン効果 / X線散乱ラジオグラフィ / X線散乱トモグラフィ / 半導体結晶 / 結晶方位隠す

Ｘ線病理学確立のためのＸ線光学系開発
- 研究代表者
  
  安藤正海
- 研究期間 (年度)
  2014 – 2016
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  量子ビーム科学
- 研究機関
  東京理科大学
高エネルギー白色SR平行マイクロビームの細束化と素子局所スペクトル分布像の可視化
- 研究代表者
  
  近浦吉則
- 研究期間 (年度)
  2004 – 2006
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  応用物性・結晶工学
- 研究機関
  九州工業大学
格子不整系半導体薄膜ナノ表面・界面のシンクロトロン光極微小角出射型イメージング研究代表者
- 研究代表者
  
  鈴木芳文
- 研究期間 (年度)
  2004 – 2005
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  応用物性・結晶工学
- 研究機関
  九州工業大学
高エネルギー白色SR平行マイクロビームの形成と素子局所構造の顕微イメージング
- 研究代表者
  
  近浦吉則
- 研究期間 (年度)
  2002 – 2003
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  応用物性・結晶工学
- 研究機関
  九州工業大学
シンクロトロンX線マイクロビーム入射の局所動力学回折による表面トポグラフィの開発
- 研究代表者
  
  近浦吉則
- 研究期間 (年度)
  1999 – 2001
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  応用物性・結晶工学
- 研究機関
  九州工業大学
砒化ガリウム基板上の窒化ガリウム薄膜結晶の深さ方向分解X線散乱トポグラフィ研究代表者
- 研究代表者
  
  鈴木芳文
- 研究期間 (年度)
  1997 – 1998
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  応用物性・結晶工学
- 研究機関
  九州工業大学
サブミクロン分解能を有するX線スペクトロスコピー散乱トポグラフィ装置の開発
- 研究代表者
  
  近浦吉則
- 研究期間 (年度)
  1992 – 1994
- 研究種目
  
  試験研究(B)
- 研究分野
  
  結晶学
- 研究機関
  九州工業大学
再構成方式X線散乱トモグラフィの機能を有するボルマン効果CTの開発
- 研究代表者
  
  近浦吉則
- 研究期間 (年度)
  1991
- 研究種目
  
  重点領域研究
- 研究機関
  九州工業大学
再構成方式X線散乱トモグラフィの機能を有するボルマン効果CTの開発
- 研究代表者
  
  近浦吉則
- 研究期間 (年度)
  1990
- 研究種目
  
  重点領域研究
- 研究機関
  九州工業大学
トモグラフィ、方位分布トポグラフィの機能を有するX線顕微散乱ラジオグラフィの開発
- 研究代表者
  
  近浦吉則
- 研究期間 (年度)
  1989
- 研究種目
  
  重点領域研究
- 研究機関
  九州工業大学

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すべて雑誌論文学会発表図書

[図書] Crystal-based X-ray Medical Imaging Using Synchrotron Radiation and Its Future Prospect2017
- 著者名/発表者名
  Masami Ando, Naoki Sunaguchi, Yongjin Sung,Daisuke Shimao, Jong-Ki Kim, Gang Li, Yoshifumi Suzuki, Tetsuya Yuasa, Kensaku Mori, Shu Ichihara, and Rajiv Gupta
- 総ページ数
  1000
- 出版者
  World Scientific Publisher
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26286079
[図書] Application of Synchrotron Radiation: 1st chapter: Crystal-based X-ray Medical Imaging Using Synchrotron Radiation and Its Future Prospect2015
- 著者名/発表者名
  Masami Ando, Naoki Sunaguchi, Yongjin Sung, Jong-Ki Kim, Li Gang, Yoshifumi Suzuki, Tetsuya Yuasa, Kensaku Mori Shu Ichihara, and Rajiv Gupta
- 総ページ数
  300
- 出版者
  World Scientific Publisher
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26286079
[雑誌論文] Dark-Field Imaging: Recent Developments and Potential Clinical Application2016
- 著者名/発表者名
  Masami Ando, Naoki Sunaguchi, Daisuke Shimao, Adam Pan, Tetsuya Yuasa, Kensaku Mori, Yoshifumi Suzuki, Ge Jin, Jong-Ki Kim, Jae-Hong Lim, Seung-Jun Seo, Shu Ichihara, Norihiko Ohura and Rajiv Gupta
- 雑誌名
  
  Physics Medical
  
  巻: 32 ページ: 1801-1812
- 査読あり / 謝辞記載あり / オープンアクセス / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26286079
[雑誌論文] X-ray reciprocal space maps and x-ray scattering topographic observation of GaN layer on GaAs (001) in plasma-assisted molecular Beam Epitaxy2007
- 著者名/発表者名
  Y.Suzuki, M.Shinbara, H.Kii, Y.Chikaura
- 雑誌名
  
  J. Appl. Phys. 101・6
- NAID
  120002443198
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16360012
[雑誌論文] Dislocation Elimination in Czochralski Silicon Crystal Growth Revealed by White X-Ray Topography Conbined wuth Topo-Tomographic Technique2007
- 著者名/発表者名
  S.Kawado, S.Iida, K.Kajiwara, Y.Suzuki, Y.Chikaura
- 雑誌名
  
  Synchrotron Radiation Instrumentation CB879
  
  ページ: 1545-1549
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16360012
[雑誌論文] X-ray reciprocal space maps and x-ray scattering topographic oservation of GaN layer on GaAs(001) in plasma-assisted molecular beam2007
- 著者名/発表者名
  鈴木芳文, 新原正和, 城井秀樹, 近浦吉則
- 雑誌名
  
  J. Appl. Phys. 101・6
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16360012
[雑誌論文] X-ray reciprocal space maps and x-ray scattering topographic observation of GaN layer on GaAs (001) in plasma-assisted molecular Beam Epitaxy2007
- 著者名/発表者名
  Y.Suzuki, M.Shinbara, H.Kii, Y.Chikaura
- 雑誌名
  
  J. Appl. Phys. 101
- NAID
  120002443198
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16360012
[雑誌論文] Plane Wave Synchrotron X-ray Topography Observation of Grown-in Microdefects in Slowly Pulled CZ-Silicon Crystals2005
- 著者名/発表者名
  飯田敏, 川戸清爾, 前濱剛廣, 梶原堅太郎, 木村滋, 松井純爾, 鈴木芳文, 近浦吉則
- 雑誌名
  
  J.Phys. D : Appl.Phys. 38
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16560010
[雑誌論文] Three-dimensional structure of dislocations in silicon determined by synchrotron white x-ray topography combined with a topo-tomographic technique2005
- 著者名/発表者名
  川戸清爾, 太子敏則, 飯田敏, 鈴木芳文, 近浦吉則, 梶原堅太郎
- 雑誌名
  
  J.Phys. D : Appl.Phys. 38
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16560010
[雑誌論文] White beam X-ray topographic measurement of spontaneous strain in strontium titanate.2005
- 著者名/発表者名
  尾崎徹, 楠瀬健太, 岡本博之, 梶原堅太郎, 鈴木芳文, 近浦吉則
- 雑誌名
  
  Nuclear instruments and Methods in Physics Research B238
  
  ページ: 255-258
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16360012
[雑誌論文] Plane Wave Synchrotron X-ray Topography Observation of Grown-in Microdefects in a Slowly Pulled CZ-Silicon Crystals2005
- 著者名/発表者名
  S.Iida, S.Kawado, T.Maehama, K.Kajiwara, S.Kimura, J.Matsui, Y.Suzuki, Y.Chikaura
- 雑誌名
  
  J. Phys. D : Appl. Phys. 38
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16360012
[雑誌論文] Lattice Orientation Imaging of C_<60>-Fullerene Single Crystal with Microbeam-Scanning-Type X-ray Scattering Topography Using Charged-Coupled Device Detector2005
- 著者名/発表者名
  鈴木芳文, 近浦吉則
- 雑誌名
  
  Jpn.J.Appl.Phys. 44 No.12
  
  ページ: 8679-8683
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16560010
[雑誌論文] White beam X-ray topographic measurement of spontaneous strain in strontium titanate2005
- 著者名/発表者名
  T.Ozaki, K.Kusunose, H.Sakaue, H.Okamoto, K.Kajiwara, Y.Suzuki, Y.Chikaura
- 雑誌名
  
  Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B238
  
  ページ: 255-258
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16560010
[雑誌論文] Plane Wave Synchrotron X-ray Topography Observation of Grown-in Microdefects in Slowly Pulled CZ-Silicon Crystals2005
- 著者名/発表者名
  S.Iida, S.Kawado, M.Maehama, K.Kajiwara, S.Kimura, J.Matsui, Y.Suzuki, Y.Chikaura
- 雑誌名
  
  J.Phys.D : Appl.Phys. 38
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16560010
[雑誌論文] Lattice Orientation Imaging of C_60-Fullerene Single Crystal with Microbeam-Scanning-Type X-ray Scanning Topography Using Charged-Coupled Device Detector2005
- 著者名/発表者名
  鈴木芳文, 近浦吉則
- 雑誌名
  
  Jpn. J. Appl. Phys. 44 No.12
  
  ページ: 8679-8683
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16560010
[雑誌論文] White beam X-ray topographic measurement of spontaneous strain in strontium titanate.2005
- 著者名/発表者名
  T.Ozaki, K.Kusunose, H.Sakaue, H.Okamoto, K.Kajiwara, Y.Suzuki, Y.Chikaura
- 雑誌名
  
  Nucl. Instr. Methods in Physics Research B B238
  
  ページ: 255-258
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16360012
[雑誌論文] Three-dimensional structure of dislocations in silicon determined by synchrotron white x-ray topography combined with a topo-tomographic technique2005
- 著者名/発表者名
  S.Kawado, T.Taishi, S.Iida, Y.Suzuki, Y.Chikaura, K.Kajiwara
- 雑誌名
  
  J. Phys. D : Appl. Phys. 38
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16360012
[雑誌論文] Lattice Orientation Imaging of C_<60>-Fullerene Single Crystal with Microbeam-Scanning-Type X-ray Scattering Topography Using Charged-Coupled Device Detector2005
- 著者名/発表者名
  鈴木芳文, 近浦吉則
- 雑誌名
  
  Jpn.J.Appl.Phys. 44No.12
  
  ページ: 8679-8683
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16360012
[雑誌論文] Three-dimensional structure of dislocation in silocon determined by synchrotron white x-ray topography combined with a topo-tomographic technique2005
- 著者名/発表者名
  川戸清爾, 太子敏則, 飯田敏, 鈴木芳文, 近浦吉則, 梶原堅太郎
- 雑誌名
  
  J. Phys. D : Apple.Phys. 38
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16560010
[雑誌論文] Plane Wave Synchrotron X-ray Topography Observation of Grown-in Microdefects in Slowly Pulled CZ-Silicon Crystals2005
- 著者名/発表者名
  飯田敏, 川戸清爾, 前濱剛廣, 梶原堅太郎, 木村滋, 松井純爾, 鈴木芳文, 近浦吉則
- 雑誌名
  
  J. Phys. D : Appl.Phys. 38
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16560010
[雑誌論文] Lattice Orientation Imaging of C_<60>-Fullerene Single Crystal with Microbeam-Scanning-Type X-ray Scattering Topography Using Charged-Coupled Device Detector2005
- 著者名/発表者名
  Yoshifumi Suzuki, Yoshinori Chikaura
- 雑誌名
  
  Jpn.J.Appl.Phys. 44-No.12
  
  ページ: 8679-8683
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16560010
[雑誌論文] Lattice Orientation Imaging of C_<60>-Fullerene Single Crystal with Microbeam-Scanning-Type X-ray Scattering Topography Using Charged-Coupled Device Detector2005
- 著者名/発表者名
  Y.Suzuki, Y.Chikaura
- 雑誌名
  
  Jpn. J. Appl. Phys. 44 No. 12
  
  ページ: 8679-8683
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16360012
[雑誌論文] Plane Wave Synchrotron X-ray Topography Observation of Grown-in Microdefects in Slowly Pulled CZ Silicon Crysttals2005
- 著者名/発表者名
  飯田敏, 川戸清爾, 前濱剛廣, 梶原堅太郎, 木村滋, 松井純爾, 鈴木芳文, 近浦吉則
- 雑誌名
  
  J.Phys.D : Appl.Phys. 38
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16360012
[雑誌論文] Three-dimensional structure of dislocations in silicon determined by synchrotron white x-ray topography combined with a topo-tomographic technique2005
- 著者名/発表者名
  川戸清爾, 太子敏則, 飯田敏, 鈴木芳文, 近浦吉則, 梶原堅太郎
- 雑誌名
  
  J.Phys.D : Appl.Phys. 38
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16360012
[雑誌論文] Lattice Orientation Imaging of C60-Fullerene Single Crystal with Microbeam-Scanning-Type X-ray Scattering Topography Using Charged-Coupled Device Detector2005
- 著者名/発表者名
  Y.Suzuki, Y.Chikaura
- 雑誌名
  
  Jpn. J. Appl. Phys. 44
  
  ページ: 8679-8683
- NAID
  130004532972
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16360012
[雑誌論文] Three-dimensional structure of dislocations in silicon determined by synchrotron white x-ray topography combined with a topo-tomographic technique2005
- 著者名/発表者名
  S.Kawado, T.Taishi, S.lida, Y.Suzuki, Y.Chikaura, K.Kajiwara
- 雑誌名
  
  J.Phys.D : Appl.Phys. 38
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16560010
[雑誌論文] White beam X-ray topographic measurement of spontaneous strain in strontium titanate.2005
- 著者名/発表者名
  尾崎徹, 楠瀬健太, 岡本博之, 梶原堅太郎, 鈴木芳文, 近浦吉則
- 雑誌名
  
  Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B238
  
  ページ: 255-258
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16560010
[雑誌論文] Three-dimensional structure of dislocations in silicon determined by synchrotron white x-ray topography combined with a topo-tomographic technique2005
- 著者名/発表者名
  S.Kawado, T.Taishi, S.Iida, Y.Suzuki, Y.Chikaura, K.Kajiwara
- 雑誌名
  
  J. Phys. D : Appl.Phys. 38
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16360012
[雑誌論文] White beam X-ray topographic measurement of spontaneous strain in strontium titanate.2005
- 著者名/発表者名
  T.Ozaki, K.Kusunose, H.Sakaue, H.Okamoto, K.Kajiwara, Y.Suzuki, Y.Chikaura
- 雑誌名
  
  Nucl. Instr. Methods in Physics Research B B 238
  
  ページ: 255-258
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16360012
[雑誌論文] Determination of the three-dimensional structure of dislocations in silicon by synchrotron white X-ray topography combined with a topo-tomographic technique2004
- 著者名/発表者名
  S.Kawado, T.Taishi, S.Iida, Y.Suzuki, Y.Chikaura, K.Kajiwara
- 雑誌名
  
  Journal of Synchrotron Radiation 11
  
  ページ: 304-308
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16360012
[雑誌論文] Determination of the three-dimensional structure of dislocations in silicon by synchrotron white X-ray topography combined with a topo-tomographic technique2004
- 著者名/発表者名
  S.Kawado, T.Taishi, S.Iida, Y.Suzuki, Y.Chikaura, K.Kajiwara
- 雑誌名
  
  Journal of Synchrotron Radiation Vol. 11
  
  ページ: 304-308
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16360012
[雑誌論文] Determination of the three-dimensional structure of dislocations in silicon by synchrotron white X-ray topography combined with a topo-tomographic technique2004
- 著者名/発表者名
  川戸清爾, 太子敏則, 飯田敏, 鈴木芳文, 近浦吉則, 梶原堅太郎
- 雑誌名
  
  Journal of Synchrotron Radiation Vol.11
  
  ページ: 304-308
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16560010
[雑誌論文] Observation of Silocon Front Surface Topographs of a ULSI-Wafer by Synchrotron X-ray Plane Wave2004
- 著者名/発表者名
  鈴木芳文, 塚崎祥充, 川戸清爾, 梶原堅太郎, 飯田敏, 近浦吉則
- 雑誌名
  
  Journal of Applied. Physics Vol.96No.11
  
  ページ: 6259-6261
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16560010
[雑誌論文] Observation of Silicon Front Surface Topographs of aULSI-Wafer by Synchrotron X-ray Plane Wave2004
- 著者名/発表者名
  Yoshifumi Suzuki, Yoshimitsu Tsukasaki, Kentaro Kajiwara, Seiji Kawado, Satoshi lida, Yoshinori Chikaura
- 雑誌名
  
  J.Appl.Phys. 96-No.11
  
  ページ: 6259-6261
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16560010
[雑誌論文] Observation of Silicon Front Surface Topographs of a ULSI-Wafer by Synchrotron X-ray Plane Wave2004
- 著者名/発表者名
  鈴木芳文, 塚崎祥充, 川戸清爾, 梶原堅太郎, 飯田敏, 近浦吉則
- 雑誌名
  
  Journal of Applied.Physics Vol.96 No.12
  
  ページ: 6259-6261
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16560010
[雑誌論文] Determination of the three-dimensional structure of dislocations in silicon by synchrotron white X-ray topography combined with a topo-tomographic technique2004
- 著者名/発表者名
  川戸清爾, 太子敏則, 飯田敏, 鈴木芳文, 近浦吉則, 梶原堅太郎
- 雑誌名
  
  Journal of Synchrotron Radiation Vol.11
  
  ページ: 304-308
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16360012
[雑誌論文] Observation of Silicon Front Surface Topographs of a ULSI-Wafer by Synchrotron X-ray Plane Wave2004
- 著者名/発表者名
  鈴木芳文, 塚崎祥充, 川戸清爾, 梶原堅太郎, 飯田敏, 近浦吉則
- 雑誌名
  
  Journal of Applied.Physics Vol.96 No.12
  
  ページ: 6259-6261
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16360012
[雑誌論文] Observation of Silicon Front Surface Topographs of a ULSI-Wafer by Synchrotron X-ray Plane Wave2004
- 著者名/発表者名
  Y.Suzuki, Y.Tsukasaki, K.Kajiwara, S.Kawado, S.Iida, Y.Chikaura
- 雑誌名
  
  Journal of Applied. Physics Vol.96 No. 12
  
  ページ: 6259-6261
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16360012
[雑誌論文] Determination of the three-dimensional structure of dislocations in silicon by synchrotron white X-ray topography combined with a topo-tomographic technique2004
- 著者名/発表者名
  Seiji Kawado, Toshinori Taishi, Satoshi Iida, Yoshifumi Suzuki, Yoshinori Chikaura, Kentarou Kajiwara
- 雑誌名
  
  Journal of Synchrotron Radiation 11
  
  ページ: 304-308
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16560010
[雑誌論文] Observation of Silicon Front Surface Topographs of a ULSI-Wafer by Synchrotron X-ray Plane Wave2004
- 著者名/発表者名
  Y.Suzuki, Y.Tsukasaki, K.Kajiwara, S.Kawado, S.Iida, Y.Chikaura
- 雑誌名
  
  Journal of Applied. Physics 96
  
  ページ: 6259-6261
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16360012
[学会発表] Operational Experience of X-Ray Dark-Field Imaging Optics for Medicine at BL14C of Photon Factory and at BL6C of Pohang Light Source2015
- 著者名/発表者名
  ANDO M., GUO J., GUPTA R., HAN S.-M., ICHIHARA S., JIN G., KIM J.-K., KIM H., LIM J.-H., SEO S.-J., SUNAGUCHI N., SUZUKI Y., YUASA T.
- 学会等名
  KOSUA (韓国放射光利用者会議)
- 発表場所
  浦項市（韓国）
- 年月日
  2015-11-20
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26286079
[学会発表] Development of X-ray Dark-Field Imaging for Clinical and Pathological Applications2015
- 著者名/発表者名
  M. Ando, T. Yuasa, N. Sunaguchi, Y. Suzuki, G. Jin, S. Ichihara, K. Mori, R. Gupta
- 学会等名
  第54回日本生体医工学会大会
- 発表場所
  名古屋国際会議場
- 年月日
  2015-05-07
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26286079
[学会発表] X-Ray Optics ‘XDFI (x-ray dark-field imaging)’ Suitable for Visualizing Human Soft Tissue and Its Clinical and Pathological Attempt2015
- 著者名/発表者名
  M.Ando, T.Yuasa, N. Sunaguchi, K. Mori, Y. Suzuki, G. Jin, J.-K. Kim, H. Kim, J.H. Lim, S.-J. Seo, G. Jin, G. Li
- 学会等名
  MASR2015 (8TH MADICAL APPLICATION OF SYNCHROTRON RADIATION)
- 発表場所
  グルノーブル（フランス）
- 年月日
  2015-10-05
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26286079
[学会発表] Collaboration between Korea and Japan on Synchrotron Radiation Based Biomedical Imaging2014
- 著者名/発表者名
  安藤正海, Lim J.-H., Seo S.-J., Kim J.-K., Kim H.-T., Kim K.-H., Choi C.-H., Choi G.-H., Park S.-H., Han S.-M., Jheon S.-H., Yuasa T., Suzuki Y., Jin G., Sunaguchi N., Ichihara S., Sugiyama H
- 学会等名
  Pohang Accelerator Laboratory Users Meeting
- 発表場所
  韓国浦項市国際会館
- 年月日
  2014-11-20
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26286079
[学会発表] How to achieve higher spatial resolution in X-ray pathology imaging
- 著者名/発表者名
  安藤正海, Lim J.-H., Seo S.-J., Han S.-M., Kim J.-K., Kim H.-T., Guo J., Li G., Yuasa T., Suzuki Y., Jin G., Sugiyama H., Hirano K., Sunaguchi N., Takahashi T., Sung Y., Ichihara S., Jheon S., Gupta R
- 学会等名
  9th Asian Meeting on Synchrotron Radiation BioMedical Imaging
- 発表場所
  中国雲南省シャングリラ市
- 年月日
  2014-11-05 – 2014-11-08
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26286079

1. 近浦吉則 (40016168)

共同の研究課題数: 9件

共同の研究成果数: 37件
2. 安藤正海 (30013501)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 8件
3. 市原周 (30426499)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 7件
4. 曽我公平 (50272399)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
5. 相川直幸 (60192829)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
6. 湯浅哲也 (30240146)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 8件
7. 砂口尚輝 (60536481)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 8件

鈴木 芳文 SUZUKI Yoshifumi

研究課題

研究成果

共同研究者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

格子不整系半導体薄膜ナノ表面・界面のシンクロトロン光極微小角出射型イメージング研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

砒化ガリウム基板上の窒化ガリウム薄膜結晶の深さ方向分解X線散乱トポグラフィ研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究機関

[図書] Crystal-based X-ray Medical Imaging Using Synchrotron Radiation and Its Future Prospect2017

著者名/発表者名

総ページ数

出版者

データソース

[図書] Application of Synchrotron Radiation: 1st chapter: Crystal-based X-ray Medical Imaging Using Synchrotron Radiation and Its Future Prospect2015

著者名/発表者名

総ページ数

出版者

データソース

[雑誌論文] Dark-Field Imaging: Recent Developments and Potential Clinical Application2016

著者名/発表者名

雑誌名

データソース

[雑誌論文] X-ray reciprocal space maps and x-ray scattering topographic observation of GaN layer on GaAs (001) in plasma-assisted molecular Beam Epitaxy2007

著者名/発表者名

雑誌名

NAID

説明

データソース

[雑誌論文] Dislocation Elimination in Czochralski Silicon Crystal Growth Revealed by White X-Ray Topography Conbined wuth Topo-Tomographic Technique2007

著者名/発表者名

雑誌名

説明

データソース

[雑誌論文] X-ray reciprocal space maps and x-ray scattering topographic oservation of GaN layer on GaAs(001) in plasma-assisted molecular beam2007

著者名/発表者名

鈴木芳文 SUZUKI Yoshifumi