新井雅之 Arai Masayuki

研究者番号	10336521
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所属 (現在)	2025年度: 日本大学, 生産工学部, 教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2021年度 – 2023年度: 日本大学, 生産工学部, 教授 2019年度 – 2020年度: 日本大学, 生産工学部, 准教授 2016年度 – 2017年度: 日本大学, 生産工学部, 准教授 2013年度 – 2015年度: 日本大学, 生産工学部, 助教 2013年度: 首都大学東京, システムデザイン学部, 助教 … もっと見る 2011年度 – 2012年度: 首都大学東京, システムデザイン研究科, 助教 2007年度 – 2008年度: 首都大学東京, システムデザイン研究科, 助教 2006年度: 首都大学東京, システムデザイン研究科, 助手 2005年度: 首都大学東京, システムデザイン学部, 助手 2004年度: 東京都立大学, 工学研究科, 助手隠す
審査区分/研究分野	研究代表者小区分60040:計算機システム関連 / 電力工学・電力変換・電気機器 / 計算機システム・ネットワーク研究代表者以外計算機システム・ネットワーク
キーワード	研究代表者クリティカルエリア / 重み付き故障カバレージ / クリティカルエリアサンプリング / 欠陥レベル / ブリッジ故障モデル / LSIテストパターン生成 / LSI欠陥位置推定 / DPPM / 欠陥レベル見積り / 欠陥レベル削減 … もっと見る / ウェハマップ / ウェハマップ欠陥パターン / マルチモデルサンプリング / オンライン誤りマスク / オンラインマスク / 多重過渡故障 / 高電磁環境 / インバータスイッチングノイズ / 双対近似回路 / 同時多重過渡故障 / ディペンダブルプロセッサ / SoC高信頼設計 / SoC欠陥レベル削減 / 欠陥レベル見積 / VLSIテスト / 重みつき故障カバレージ … もっと見る研究代表者以外 SoC / NAS / SAN / Convolutional Codes / Coordinated Checkpointing / Uncoodinated Checkpointing / Quorum / Data Replication Protocol / Distributed System / リカバリライン / グリッドプロトコル / ツリークォーラム / ロールバックリカバリ / 分散チェックポインティング / 台形プロトコル / 確率的クォーラム / SANINAS / 並列システム / 畳込み符号 / 連携チェックポインティング / 非連携チェックポインティング / クォーラム / データ複製プロトコル / 分散システム / DC-DC コンバータ / 周期的な多重故障 / 組み込み自己テスト / ディペンダブルコンピューティング / 故障モデル / 高電磁環境 / テストパターン / LSIテスト / ディペンダブルプロセッサ / SoC高信頼設計 / SoC欠陥レベル削減 / TMR / 故障カバレージ / レイアウト情報 / VLSIテスト / 市場不良率 / 集積回路 / 電磁波 / コンデンサ放電 / 時間冗長プロセッサ / FPGA / 確率モデル / 信頼性評価尺度 / 性能評価尺度 / 時空間冗長プロセッサ / 同時多重故障 / ソフトエラー / 過渡故障隠す

マルチモデルサンプリングに基づくSoCの欠陥レベル見積り及び削減法研究代表者
- 研究代表者
  
  新井雅之
- 研究期間 (年度)
  2019 – 2023
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 審査区分
  
  小区分60040:計算機システム関連
- 研究機関
  日本大学
高電磁環境下での周期的多重過渡故障のオンラインマスク法研究代表者
- 研究代表者
  
  新井雅之
- 研究期間 (年度)
  2015 – 2017
- 研究種目
  
  若手研究(B)
- 研究分野
  
  電力工学・電力変換・電気機器
- 研究機関
  日本大学
高電磁環境下の新しい過渡故障モデルに対する耐故障順序回路の検討
- 研究代表者
  
  福本聡
- 研究期間 (年度)
  2012 – 2014
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  計算機システム・ネットワーク
- 研究機関
  首都大学東京
レイアウト情報を用いたＳＯＣ市場不良率予測の高精度化手法に関する研究
- 研究代表者
  
  岩崎一彦
- 研究期間 (年度)
  2011 – 2013
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  計算機システム・ネットワーク
- 研究機関
  首都大学東京
クリティカルエリアサンプリングによるＳｏＣの欠陥レベル削減に関する研究研究代表者
- 研究代表者
  
  新井雅之
- 研究期間 (年度)
  2011 – 2013
- 研究種目
  
  若手研究(B)
- 研究分野
  
  計算機システム・ネットワーク
- 研究機関
  日本大学
   首都大学東京
誤りからの自己回復機能を持つSoCベース・ディペンダブル・プロセッサの基礎的検討
- 研究代表者
  
  福本聡
- 研究期間 (年度)
  2006 – 2008
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  計算機システム・ネットワーク
- 研究機関
  首都大学東京
SAN/NASを用いたSoC設計システム向け高信頼分散ストレージクラスタの研究
- 研究代表者
  
  福本聡
- 研究期間 (年度)
  2003 – 2005
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  計算機システム・ネットワーク
- 研究機関
  首都大学東京

[図書] ``Chapter 11: Hybrid Checkpointing Technique Using Incremental Snapshots,'' Reliability Modeling with Applications2014
- 著者名/発表者名
  Mamoru Ohara, Masayuki Arai, Satoshi Fukumoto and Kazuhiko Iwasaki
- 総ページ数
  364
- 出版者
  World Scientific
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24500070
[雑誌論文] Layout Feature Extraction using CNN Classification in Root Cause Analysis of LSI Defects2021
- 著者名/発表者名
  Yoshikazu Nagamura, Koji Arima, Masayuki Arai, Satoshi Fukumoto
- 雑誌名
  
  IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
  
  巻: Early Access 号: 2 ページ: 153-160
- DOI
  10.1109/tsm.2021.3056717
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K11884
[雑誌論文] CNN-based Layout Segment Classification for Analysis of Layout-induced Failures2020
- 著者名/発表者名
  Yoshikazu Nagamura, Takashi Ide, Masayuki Arai, Satoshi Fukumoto
- 雑誌名
  
  IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
  
  巻: 33 号: 4 ページ: 597-605
- DOI
  10.1109/tsm.2020.3029049
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K11884
[雑誌論文] Layout-Based Test Coverage Verification for High-Reliability Devices2017
- 著者名/発表者名
  Yoshikazu Nagamura, Kenji Shiozawa, Toru Koyama, Jun Matsushima, Kazuhiko Tomonaga, Yutaka Hoshi, Shuji Nomura, Masayuki Arai, Kazuhiko Iwasaki
- 雑誌名
  
  IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
  
  巻: 30 号: 4 ページ: 317-322
- DOI
  10.1109/tsm.2017.2746089
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K21413
[雑誌論文] Fault masking issue on a dependable processor using BIST under highly electromagnetic environment2017
- 著者名/発表者名
  Aromhack Saysanasongkham, Satoshi Fukumoto, Masayuki Arai
- 雑誌名
  
  International Journal of Computational Science and Engineering
  
  巻: 14 号: 4 ページ: 309-320
- DOI
  10.1504/ijcse.2017.084681
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K21413
[雑誌論文] A Low Capture Power Test Generation Method Based on Capture Safe Test Vector Manipulation2017
- 著者名/発表者名
  Toshinori HOSOKAWA, Atsushi HIRAI, Yukari YAMAUCHI, Masayuki ARAI
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Information and Systems
  
  巻: E100.D 号: 9 ページ: 2118-2125
- DOI
  10.1587/transinf.2016EDP7418
- NAID
  130006038489
- ISSN
  0916-8532, 1745-1361
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K21413
[雑誌論文] Reordering-Based Test Pattern Reduction Considering Critical Area-Aware Weighted Fault Coverage2017
- 著者名/発表者名
  Masayuki Arai, Kazuhiko Iwasaki
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences
  
  巻: E100.A 号: 7 ページ: 1488-1495
- DOI
  10.1587/transfun.E100.A.1488
- NAID
  130007311790
- ISSN
  0916-8508, 1745-1337
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K21413
[雑誌論文] ファイルバージョニング機能を備えた分散データレプリケーションプロトコルの提案2015
- 著者名/発表者名
  池田貴彦, 大原衛, 福本聡, 新井雅之, 岩崎一彦, 木村光宏
- 雑誌名
  
  電子情報通信学会論文誌D 情報・システム
  
  巻: J98-D 号: 4 ページ: 684-699
- DOI
  10.14923/transinfj.2014JDP7061
- ISSN
  1880-4535, 1881-0225
- 年月日
  2015-04-01
- 言語
  日本語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24500070, KAKENHI-PROJECT-15K01208, KAKENHI-PROJECT-15K06073
[雑誌論文] A Highly Reliable Digital Current Control using an Adaptive Sampling Method2014
- 著者名/発表者名
  Aromhack Saysanasongkham, Masayuki Arai, Satoshi Fukumoto, Shun Takeuchi and Keiji Wada
- 雑誌名
  
  IEEJ Journal of Industry Applications
  
  巻: 3 号: 4 ページ: 296-303
- DOI
  10.1541/ieejjia.3.296
- NAID
  130004597586
- ISSN
  2187-1094, 2187-1108
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24500070
[雑誌論文] A Highly Reliable Digital Current Control using an Adaptive Sampling Method2014
- 著者名/発表者名
  A. Saysanasongkham, M. Arai, Satoshi Fukumoto, S. Takeuchi, and K. Wada
- 雑誌名
  
  IEEJ Journal of Industry Applications
  
  巻: Vol.3, No.4 (掲載決定)
- NAID
  130004597586
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700062
[雑誌論文] Checkpoint Time Arrangement Rotation in Hybrid State Saving with a Limited Number of Periodical Checkpoints2013
- 著者名/発表者名
  R. Suzuki, M. Ohara, M. Arai, S. Fukumoto, and K. Iwasaki
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Information and Systems
  
  巻: E96.D 号: 1 ページ: 141-145
- DOI
  10.1587/transinf.E96.D.141
- NAID
  10031167391
- ISSN
  0916-8532, 1745-1361
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23500063, KAKENHI-PROJECT-23700062
[雑誌論文] Checkpoint Time Arrangement Rotation in Hybrid State Saving with Limited Number of Periodical Checkpoints2013
- 著者名/発表者名
  R. Suzuki, M. Ohara, M. Arai, S. Fukumoto, and K. Iwasaki
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Information and Systems
  
  巻: Vol. E96-D, No. 1 ページ: 141-145
- NAID
  10031167391
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24500070
[雑誌論文] Checkpoint Time Arrangement Rotation in Hybrid State Saving with a Limited Number of Periodical Checkpoints2013
- 著者名/発表者名
  R. Suzuki, M. Ohara, M. Arai, S. Fukumoto, and K. Iwasaki
- 雑誌名
  
  IEIEC Trans. Inf.&Syst.
  
  巻: Vol. E96-D, No. 1 ページ: 141-145
- NAID
  10031167391
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23500063
[雑誌論文] Checkpoint Time Arrangement Rotation in Hybrid State Saving with Limited Number of Periodical Checkpoints2013
- 著者名/発表者名
  R. Suzuki, M. Ohara, M. Arai, S. Fukumoto, and K. Iwasaki
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Information and Systems
  
  巻: Vol.E96-D, No.1 ページ: 141-145
- NAID
  10031167391
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700062
[雑誌論文] Time Redundancy Processor with a Tolerance to Transient Faults Caused by ElectromagneticWaves2007
- 著者名/発表者名
  M. Kimura, M. Arai, S. Fukumoto, and K. Iwasaki
- 雑誌名
  
  Proceedings of Workshop on Dependable and Secure Nanocomputing
  
  ページ: 248-254
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18500041
[雑誌論文] 安全・安心のための半導体設計・テスト技術2007
- 著者名/発表者名
  福本聡, 新井雅之, 岩崎一彦
- 雑誌名
  
  日本オペレーションズリサーチ学会第57回シンポジウム No.57
  
  ページ: 71-78
- NAID
  110006317655
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18500041
[雑誌論文] 安全・安心のための半導体設計・テスト技術2007
- 著者名/発表者名
  福本聡, 新井雅之, 岩崎一彦
- 雑誌名
  
  OR学会誌 Vol.52
  
  ページ: 409-415
- NAID
  110006317655
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18500041
[雑誌論文] Time Redundancy Processor with the Tolerance to Transient Faults Caused by Electromagnetic Waves2007
- 著者名/発表者名
  M.Kimura, M.Arai, S.Fukumoto, K.Iwasaki
- 雑誌名
  
  Proceedings in Workshop on Dependable and Secure Nanocomputing in the framework of DSN-2007. (掲載決定)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18500041
[雑誌論文] A note on Reliable Multicast Applying Convolutional-Code-Based FEC over Finite Field2006
- 著者名/発表者名
  M.Arai, S.Fukumoto, K.Iwasaki
- 雑誌名
  
  International Journal of Reliability,Quality and Safety Engineering Vol.12,No3
  
  ページ: 203-212
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15500046
[雑誌論文] Analytical Model on Hybrid State Saving with a Limited Number of Checkpoints and Bound Rollbacks2006
- 著者名/発表者名
  M.Ohara, M.Arai, S.Fukumoto, K.Iwasaki
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences (to appear)
- NAID
  110007537954
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15500046
[雑誌論文] Analytical Model on Hybrid State Saving with a Limited Number of Checkpoints and Bound Rollbacks2006
- 著者名/発表者名
  M, Ohara, M.Arai, S.Fukumoto, K.Iwasaki
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics,Communications and Computer Sciences (採録決定済み)
- NAID
  110007537954
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15500046
[雑誌論文] 過度故障に耐性を持つ時間冗長プロセッサの検討2006
- 著者名/発表者名
  木村真琴, 新井雅之, 福本聡, 岩崎一彦
- 雑誌名
  
  電子情報通信学会技術研究報告書(DC 研究会) DC2006-14(2006-8)
  
  ページ: 13-18
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18500041
[雑誌論文] ディペンダブルVLSI2006
- 著者名/発表者名
  福本聡, 新井雅之, 岩崎一彦
- 雑誌名
  
  第10回システムLSIワークショップ講演資料集 No.10
  
  ページ: 171-180
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18500041
[雑誌論文] Analytical Model on Hybrid State Saving with a Limited Number of Checkpoints and Bound Rollbacks2006
- 著者名/発表者名
  M.Ohara, M.Arai, S.Fukumoto, K.Iwasaki
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences (採録決定済み)
- NAID
  110007537954
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15500046
[雑誌論文] Proposal and Evaluation of a Coordinated Checkpointing Technique Using Incremental Snapshots (Japanese Edition)2006
- 著者名/発表者名
  M.Ohara, M.Arai, S.Fukumoto, K.Iwasaki
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences (to appear)
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15500046
[雑誌論文] 差分スナップショットを伴う連携チェックポインティングの提案と評価2006
- 著者名/発表者名
  大原衛, 新井雅之, 福本聡, 岩崎一彦
- 雑誌名
  
  電子情報通信学会論文誌基礎・境界 Vol.J89-A, No.5(掲載予定)
- NAID
  110007384374
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15500046
[雑誌論文] 多世代データ保持のためのデータ複製プロトコル2006
- 著者名/発表者名
  池田貴彦, 新井雅之, 福本聡, 岩崎一彦
- 雑誌名
  
  電子情報通信学会技術研究報告 CPSY2006-4, DC2006-4(掲載予定)
- NAID
  110004718862
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15500046
[雑誌論文] 差分スナップショットを伴う連携チェックポンティングの提案と評価2006
- 著者名/発表者名
  大原衛, 新井雅之, 福本聡, 岩崎一彦
- 雑誌名
  
  電子情報通信学会論文誌基礎・境界 Vol.J89-A,No.5(掲載予定)
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15500046
[雑誌論文] A Note on Reliable Multicast Applying Convolutional-Code-Based FEC over Finite Field2006
- 著者名/発表者名
  M.Arai, S.Fukumoto, K.Iwasaki
- 雑誌名
  
  International Journal of Reliability, Quality and Safety Engineering Vol.12, No.3
  
  ページ: 203-212
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15500046
[雑誌論文] Rsliability Analysis of a Convolutional-Code-Based Packet Level FEC under Limited Buffer Size2005
- 著者名/発表者名
  M.Arai, S.Fukummoto, K.Iwasaki
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics,Communications and Conmputer Sciences Vol. E88-A,No.4
  
  ページ: 1047-1054
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15500046
[雑誌論文] On the Optimal Checkpoint Interval for Uncoordinated Checkpointing with a Limited Number of Checkpoints and Bound Rollbacks2005
- 著者名/発表者名
  M.Ohara, M.Arai, S.Fukumoto, K.Iwasaki
- 雑誌名
  
  Proceedings of 2005 International Workshop on Recent Advances in Stochastic Operations Research
  
  ページ: 187-194
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15500046
[雑誌論文] Analysis of Probabilistic Trapezoid Protocol for Data Replication2005
- 著者名/発表者名
  T.Suzuki, M.Ohara, M.Arai, S.Fukumoto, K.Iwasaki
- 雑誌名
  
  Proceedings of the International Conference on Dependable Systems and-Networks
- NAID
  130000058166
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15500046
[雑誌論文] Analysis of probabilistic Trapezoid protocol for Data Replication2005
- 著者名/発表者名
  T.Suzuki, M.Ohara, M.Arai, S.Fukumoto, K.Iwasaki
- 雑誌名
  
  Proceedings of International Conference on Dependable Systems and Networks(DSN2005)
  
  ページ: 782-791
- NAID
  130000058166
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15500046
[雑誌論文] Design of Dependable VLSI Processor Using Triple Modular Redundancy2004
- 著者名/発表者名
  Masayuki Arai, Satosi Fukumoto, Kazuhiko Iwasaki
- 雑誌名
  
  Proceedings of 2004 International Conference on Dependable Systems and Networks, Fast Abstract Session
  
  ページ: 8-8
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15500046
[雑誌論文] データリプリケーション用台形プロトコルの設計と実装2004
- 著者名/発表者名
  鈴木旅人, 田中保夫, 大原衛, 新井雅之, 福本聡, 岩崎一彦
- 雑誌名
  
  電子情報通信学会技術研究報告 CPSY2004-2,DC2004-2
  
  ページ: 7-12
- NAID
  110003173698
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15500046
[雑誌論文] データ複製用確率的台形プロトコルの解析と実装2004
- 著者名/発表者名
  鈴木旅人, 大原衛, 新井雅之, 福本聡, 岩崎一彦
- 雑誌名
  
  電子情報通信学会技術研究報告 DE2004-107,DC2004-22
  
  ページ: 5-10
- NAID
  110003204294
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15500046
[雑誌論文] ハイブリッドチェックポインティングの回復能力の評価2004
- 著者名/発表者名
  大原衛, 田中保夫, 新井雅之, 福本聡, 岩崎一彦
- 雑誌名
  
  電子情報通信学会技術研究報告 CPSY2004-2,DC2004-2
  
  ページ: 13-18
- NAID
  110003173699
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15500046
[雑誌論文] (n,k,m)畳込み符号を用いたバケット損回復方式の提案2004
- 著者名/発表者名
  山口アンナ, 新井雅彦, 福本聡, 岩崎一彦
- 雑誌名
  
  電子情報通信学会和文論文誌(基礎・境界) Vol.J87-A,No.8
  
  ページ: 1120-1132
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15500046
[雑誌論文] 制限されたリカバリ間隔に対する非連携チェックポインティングの評価
- 著者名/発表者名
  大原衛, 新井雅之, 福本聡, 岩崎一彦
- 雑誌名
  
  第52回FTC研究会資料(セッション3)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15500046
[雑誌論文] Method to Recover Lost Internet Packets Using (n, k, m) Convolutional Codes (Japanese Edition)
- 著者名/発表者名
  A.Yamaguchi, M.Arai, S.Fukumoto, K.Iwasaki
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences J87-A, No.8
  
  ページ: 1120-1132
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15500046
[雑誌論文] A Note on Reliable Multicast Applying Convolutional-Code-Based FEC over Finite Field
- 著者名/発表者名
  M.Arai, S.Fukumoto, K.Iwasaki
- 雑誌名
  
  International Journal of Reliability, Quality and Safety Engineering Vol.12,No.3
  
  ページ: 203-212
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15500046
[雑誌論文] Reliability Analysis of a Convolutional-Code-Based Packet Level FEC under Limited Buffer Size
- 著者名/発表者名
  M.Arai, S.Fukumoto, K.Iwasaki
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences Vol.E88-A, No.4
  
  ページ: 1047-1054
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15500046
[雑誌論文] Analysis of Probabilistic Trapezoid Protocol for Data Replication
- 著者名/発表者名
  T.Suzuki, M.Ohara, M.Arai, S.Fukumoto, K.Iwasaki
- 雑誌名
  
  Proceedings of International Conference on Dependable Systems and Networks (DSN2005)
  
  ページ: 782-791
- NAID
  130000058166
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15500046
[学会発表] An Estimation Method of Defect Types Using Artificial Neural Networks and Fault Detection Information2023
- 著者名/発表者名
  Natsuki Ota , Toshinori Hosokawa , Koji Yamazaki , Yukari Yamauchi , Masayuki Arai
- 学会等名
  IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT 2023)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K11884
[学会発表] CapsNetを用いた高解像度ウェハマップの欠陥パターン分類法におけるScratch再構成に関する考察2023
- 著者名/発表者名
  山中祐輝,永村美一,新井雅之,福本聡
- 学会等名
  組込み技術とネットワークに関するワークショップ (ETNET2023)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K11884
[学会発表] レイアウト起因LSI欠陥検出のためのFSGANを用いたデータ拡張に関する検討2023
- 著者名/発表者名
  杉岡拓海,永村美一,新井雅之,福本聡
- 学会等名
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K11884
[学会発表] Toward Improvement and Evaluation of Reconstruction Capability of CapsNet-Based Wafer Map Defect Pattern Classifier2023
- 著者名/発表者名
  Yuki Yamanaka , Masayuki Arai , Yoshikazu Nagamura , Satoshi Fukumoto
- 学会等名
  THE 7TH IEEE INTERNATIONAL TEST CONFERENCE IN ASIA (ITC-ASIA) 2023
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K11884
[学会発表] CapsNetを用いた高解像度ウェハマップの欠陥パターン分類法に関する考察2022
- 著者名/発表者名
  山中祐輝,永村美一,新井雅之,福本聡
- 学会等名
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会，コンピュータシステム研究会，情報処理学会システム・アーキテクチャ研究会合同研究会(HotSPA2022)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K11884
[学会発表] Note on CapsNet-Based Wafer Map Defect Pattern Classification2021
- 著者名/発表者名
  Itsuki Fujita, Yoshikazu Nagamura, Masayuki Arai, Satoshi Fukumoto
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symposium
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K11884
[学会発表] An Estimation Method of Defect Types for Suspected Logical Faulty Lines Using Artificial Neural Networks and Fault Detection Information of Universal Logical Fault Model2021
- 著者名/発表者名
  Natsuki Ohta, Toshinori Hosokawa, Koji Yamazaki, Yukari Yamauchi and Masayuki Arai
- 学会等名
  IEEE Workshop on RTL and High Level Test (WRTLT 2021)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K11884
[学会発表] Evaluation of CNN-Based Defect Location Estimation on LSI Layouts2020
- 著者名/発表者名
  Yoshikazu Nagamura, Masayuki Arai and Satoshi Fukumoto
- 学会等名
  IEEE Workshop on RTL & High Level Testing (WRTLT 2020)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K11884
[学会発表] Multiple Target Test Generation Method for Gate-Exhaustive Faults to Reduce the Number of Test Patterns Using Partial MaxSAT2020
- 著者名/発表者名
  Ryuki Asami, Toshinori Hosokawa, Masayoshi Yoshimura, Masayuki Arai
- 学会等名
  The 33rd IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT 2020)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K11884
[学会発表] パーシャルMAX-SATを用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法2020
- 著者名/発表者名
  山崎紘史，石山悠太，松田竜馬，細川利典，吉村正義，新井雅之，四柳浩之，橋爪正樹
- 学会等名
  電子情報通信学会ハードウェアセキュリティ研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K11884
[学会発表] SATを用いたSDNルールテーブル分割法の高速化に関する検討2019
- 著者名/発表者名
  好川雄太郎，新井雅之
- 学会等名
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K11884
[学会発表] A Low Capture Power Oriented X-filling Method Using Partial MaxSAT Iteratively2019
- 著者名/発表者名
  T. Hosokawa, K. Misawa, Y. Hirama, H.Yamazaki, M. Yoshimura and M. Arai
- 学会等名
  The 32nd IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT 2019)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K11884
[学会発表] A Don't Care Identification-Filling Co-Optimization Method for Low Capture Power Testing Using Partial MaxSAT2019
- 著者名/発表者名
  Kenichiro Misawa, Toshinori Hosokawa, Hiroshi Yamazaki, Masayoshi Yoshimura and Masayuki Arai
- 学会等名
  IEEE Workshop on RTL & High Level Testing (WRTLT 2019)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K11884
[学会発表] A Fine-Grained SDN Rule Table Partitioning and Distribution2019
- 著者名/発表者名
  Yutaro Yoshikawa, Masayuki Arai
- 学会等名
  IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC 2019)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K11884
[学会発表] Spare-Tile-Based Dependable Logic Design for Sea-of-Tiles Architecture with Ambipolar Devices2017
- 著者名/発表者名
  Dan Takahashi, Masayuki Arai
- 学会等名
  IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC 2017)
- 発表場所
  Christchurch, New Zealand
- 年月日
  2017-01-22
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K21413
[学会発表] Data Aggregation on Smart Grid Communications Considering Fault Tolerance and Privacy2017
- 著者名/発表者名
  Ryota Ogasawara, Masayuki Arai
- 学会等名
  International Future Energy Electronics Conference (IFEEC) - ECCE Asia
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K21413
[学会発表] A Dynamic Test Compaction Method on Low Power Test Generation Based on Capture Safe Test Vectors2017
- 著者名/発表者名
  Toshinori Hosokawa, Atsushi Hirai, Hiroshi Yamazaki and Masayuki Arai
- 学会等名
  IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K21413
[学会発表] Erasure-Code-Based DTN Multi-Path Routing for Contact Avoidance2017
- 著者名/発表者名
  Hironori Arai, Masayuki Arai
- 学会等名
  IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC 2017)
- 発表場所
  Christchurch, New Zealand
- 年月日
  2017-01-22
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K21413
[学会発表] Layout-Aware 2-Step Window-based Pattern Reordering for Fast Bridge/Open Test Generation2017
- 著者名/発表者名
  Masayuki Arai, Shingo Inuyama, Kazuhiko Iwasaki
- 学会等名
  International Test Conference
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K21413
[学会発表] Critical-Area-Aware Test Pattern Generation and Reordering2016
- 著者名/発表者名
  Shingo Inuyama, Kazuhiko Iwasaki, Masayuki Arai
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symposium (ATS 2016)
- 発表場所
  Hiroshima, Japan
- 年月日
  2016-11-22
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K21413
[学会発表] Layout-Based Test Coverage Verification for High-Reliability Devices2016
- 著者名/発表者名
  Yoshikazu Nagamura, Kenji Shiozawa, Toru Koyama, Jun Matsushima, Kazuhiro Tomonaga, Yutaka Hoshi, Shuji Nomura, Masayuki Arai, Kazuhiko Iwasaki
- 学会等名
  International Symposium on Semiconductor Manufacturing (ISSM)
- 発表場所
  Tokyo, Japan
- 年月日
  2016-12-12
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K21413
[学会発表] Note on Fast Bridge Fault Test Generation Based on Critical Area2015
- 著者名/発表者名
  Masayuki Arai, Shingo Inuyama, Kazuhiko Iwasaki
- 学会等名
  15th International Conference on Algorithms and Architectures for Parallel Processing
- 発表場所
  Zhanjiajie, P.R. China
- 年月日
  2015-11-18
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K21413
[学会発表] 物理的なテストカバレッジ (物理カバー率) の検証方法の開発2015
- 著者名/発表者名
  永村美一, 小山徹, 松嶋潤, 朝永和洋, 星豊, 野村周司, 岩崎一彦, 新井雅之
- 学会等名
  第36回ナノテスティングシンポジウム
- 発表場所
  千里ライフサイエンスセンター（大阪府豊中市)
- 年月日
  2015-11-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K21413
[学会発表] Note on Dependable Logic Design by Ambipolar Device and Its Fault Modeling2015
- 著者名/発表者名
  Dan Takahashi, Masayuki Arai
- 学会等名
  IEEE Workshop on RTL & High Level Testing (WRTLT 2015)
- 発表場所
  Mumbai, India
- 年月日
  2015-11-25
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K21413
[学会発表] A low capture power test generation method using capture safe test vectors2015
- 著者名/発表者名
  Atsushi Hirai, Toshinori Hosokawa, Yukari Yamauchi, Masayuki Arai
- 学会等名
  IEEE European Test Symposium
- 発表場所
  Cluj-Napoca, Romania
- 年月日
  2015-05-23
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K21413
[学会発表] Testbeds of a Hybrid-ARQ-Based Reliable Communication for CANs in Highly Electromagnetic Environments2015
- 著者名/発表者名
  Muneyuki Nakamura, Mamoru Ohara, Aromhack Saysanasongkham, Masayuki Arai, Kazuya Sakai, Satoshi Fukumoto, Keiji Wada
- 学会等名
  IEEE Future Energy Electronics Conference (IFEEC 2015)
- 発表場所
  Taipei, ROC
- 年月日
  2015-11-01
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K21413
[学会発表] CANにおけるDC-DCコンバータノイズに対処したハイブリッドARQの一考察2014
- 著者名/発表者名
  中村宗幸, 大原衛, サイサナソンカムアロムハック, 新井雅之, 酒井和哉, 福本聡
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告DC2014-25
- 発表場所
  機械振興会館（東京）
- 年月日
  2014-10-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24500070
[学会発表] 重み付き故障カバレージ算出に向けたクリティカルエリアの推定に関する一検討2014
- 著者名/発表者名
  中山裕太, 佐久間俊介, 新井雅之, 史紅波, 岩崎一彦
- 学会等名
  電子情報通信学会総合大会
- 発表場所
  新潟大学
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23500063
[学会発表] Application-Layer Hybrid ARQ in CAN Networks for Tolerating DC-DC Converter Noise2014
- 著者名/発表者名
  Masahiko Negishi, Aromhack Saysanasongkam, Muneyuki Nakamura, Mamoru Ohrara, Masayuki Arai, Satoshi Fukumoto
- 学会等名
  Fast Abstracts of The 44nd Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks (DSN 2014)
- 発表場所
  Atlanta (USA)
- 年月日
  2014-06-25
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24500070
[学会発表] 福本聡，遠藤知輝，大原衛，新井雅之ビザンチン故障的に振舞うノードを考慮した構造化P2Pネットワークの探索プロトコル2014
- 著者名/発表者名
  福本聡，遠藤知輝，大原衛，新井雅之
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告DC2014-9
- 発表場所
  機械振興会館（東京都）
- 年月日
  2014-04-25
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24500070
[学会発表] 高電磁ノイズに対するCANプロトコルの耐故障手法2014
- 著者名/発表者名
  根岸正彦, サイサナソンカムアロムハック, 中村宗幸, 大原衛, 新井雅之, 福本聡
- 学会等名
  第70回FTC研究会セッション4
- 発表場所
  宝荘ホテル（松山市）
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24500070
[学会発表] 日和見主義的なモバイルネットワークにおけるキャッシュ・データの鮮度維持手法の検討2014
- 著者名/発表者名
  六川恵，福本聡，新井雅之，酒井和哉
- 学会等名
  第13回情報科学技術フォーラム(FIT2014) C-009
- 発表場所
  筑波大学（茨城県）
- 年月日
  2014-09-03
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24500070
[学会発表] 異なる欠陥粒径とビアオープンを考慮した重み付き故障カバレージに関する一考察2014
- 著者名/発表者名
  中山裕太, 新井雅之, 史紅波, 岩崎一彦
- 学会等名
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, DC2013-84
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23500063
[学会発表] 分散レプリケーションの性能・可用性・一貫性に関する評価尺度の検討2014
- 著者名/発表者名
  福本聡，神田一平，新井雅之
- 学会等名
  電子情報通信学会技術報告R2014-14
- 発表場所
  スマイルホテル函館（北海道）
- 年月日
  2014-08-01
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24500070
[学会発表] An Adaptive Sampling Method for a Highly Reliable Digital Control Power Converter2013
- 著者名/発表者名
  Aromhack Saysanasongkam, Masayuki Arai, Satoshi Fukumoto, Shun Takeuchi and Keiji Wada
- 学会等名
  Proceedings of International Future Energy Electronics Conference 2013 (IFEEC 2013) pp. 716-721
- 発表場所
  Taipei, Taiwan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24500070
[学会発表] A Note on Influence of DC-DC Converter Noise in CAN Networks2013
- 著者名/発表者名
  M. Ohara, M. Arai, S. Fukumoto
- 学会等名
  fast abstract of The 19th IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC 2013)
- 発表場所
  Vancouver, Canada
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24500070
[学会発表] Note on Test Pattern Reordering for Weighted Fault Coverage Improvement2013
- 著者名/発表者名
  M. Arai, Y. Nakayama, and K. Iwasaki
- 学会等名
  Workshop on High-Level and RTL
- 発表場所
  Yilan, Taiwan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23500063
[学会発表] An Adaptive Sampling Method for a Highly Reliable Digital Control Power Converter2013
- 著者名/発表者名
  K. Wada, A. Saysanasongkham, S. Fukumoto, S. Takeuchi, M. Arai
- 学会等名
  International Future Energy Electronics Conference 2013 (IFEEC 2013)
- 発表場所
  Taichu, Taiwan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700062
[学会発表] Note on Test Pattern Reordering for Weighted Fault Coverage Improvement2013
- 著者名/発表者名
  M. Arai, Y. Nakayama, K. Iwasaki
- 学会等名
  Workshop on RTL and High Level Testing 2013 (WRTLT 2013) 出版者
- 発表場所
  Jiaosi, Taiwan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700062
[学会発表] LSIのオープン欠陥クリティカルエリアに関する一検討2013
- 著者名/発表者名
  中山裕太，清水貴弘，新井雅之
- 学会等名
  電子情報通信学会総合大会
- 発表場所
  Tokyo, Japan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700062
[学会発表] An Adaptive Approach to Dependable Circuits for a Digital Power Control2013
- 著者名/発表者名
  A. Saysanasongkham, K. Imai, M. Arai, S. Fukumoto, K. Wada
- 学会等名
  International Conference on Dependable Systems and Networks
- 発表場所
  Budapest, Hungary
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700062
[学会発表] An Adaptive Approach to Dependable Circuits for a Digital Power Control2013
- 著者名/発表者名
  Aromhack Saysanasongkam, Kenta Imai, Masayuki Arai, Satoshi Fukumoto
- 学会等名
  Fast Abstracts of The 43nd Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks (DSN 2013)
- 発表場所
  Budapest, Hungary
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24500070
[学会発表] レジスタ多重化による耐過渡故障高信頼プロセッサの評価2013
- 著者名/発表者名
  緑川直樹, 小山善史, 新井雅之, 福本聡
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告, DC2013-20, pp.21-25
- 発表場所
  北九州国際会議場（北九州市）
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24500070
[学会発表] Layout-Aware Weighted Bridge/Open Fault Coverage Considering Multiple Defect Sizes2013
- 著者名/発表者名
  M. Arai and K. Iwasaki
- 学会等名
  International Test Conference
- 発表場所
  Anaheim, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23500063
[学会発表] ディジタル・パワー制御の高信頼化に関する試み2013
- 著者名/発表者名
  今井健太, サイサナソンカムアロムハック, 新井雅之, 福本聡, 和田圭二
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告 CPSY2013-1/DC2013-1, pp.1-6
- 発表場所
  首都大学東京秋葉原サテライトキャンパス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24500070
[学会発表] クリティカルエリア解析に基づく故障カバレージ見積りに関する一考察2013
- 著者名/発表者名
  清水貴弘, 新井雅之, 岩崎一彦
- 学会等名
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, DC2012-82
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23500063
[学会発表] Note on Test Pattern Reordering for Weighted Fault Coverage Improvement2013
- 著者名/発表者名
  M. Arai, Y. Nakayama, and K. Iwasaki
- 学会等名
  Workshop on High-Level and RTL (WRTLT)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23500063
[学会発表] 高電磁環境下におけるCANプロトコルの高信頼化に関する考察2013
- 著者名/発表者名
  根岸正彦, サイサナソンカムアロムハック, 大原衛, 新井雅之, 福本聡
- 学会等名
  第69回FTC研究会セッション4
- 発表場所
  かんぽの宿湯田（山口市）
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24500070
[学会発表] Layout-Aware Weighted Bridge/Open Fault Coverage Considering Multiple Defect Sizes2013
- 著者名/発表者名
  M. Arai and K. Iwasaki
- 学会等名
  International Test Conference (ITC)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23500063
[学会発表] A Note on Influence of DC-DC Converter Noise in CAN Networks2013
- 著者名/発表者名
  M. Ohara, M. Arai, S. Fukumoto
- 学会等名
  The 19th IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC 2013)
- 発表場所
  Vancouver, Canada
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700062
[学会発表] パイプラインプロセッサ向けカスケードTMRにおける遺伝的アルゴリズムを用いた構成探索2012
- 著者名/発表者名
  新井　雅之，井出　創，岩崎　一彦
- 学会等名
  組込み技術とネットワークに関するワークショップ
- 発表場所
  ホテル松島大観荘，宮城県
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700062
[学会発表] A Processor Tolerating Periodical Transient Faults under Highly Electromagnetic Environment by Using Built in Self Test2012
- 著者名/発表者名
  Aromhack Saysanasongkam, Masahiko Negishi, Masayuki Arai, Satoshi Fukumoto
- 学会等名
  The International symposium of the Interfaculty Initiative in Electrical Energy and Communications, Tokyo Metropolitan University
- 発表場所
  Tokyo Metropolitan University
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24500070
[学会発表] CANプロトコルによる車載LANにおける高電磁ノイズ下での耐故障性2012
- 著者名/発表者名
  根岸正彦, サイサナソンカムアロムハック, 新井雅之, 大原衛, 福本聡
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告 DC2012-75, pp.11-15
- 発表場所
  アオッサ（福井）
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24500070
[学会発表] パイプラインプロセッサ向けカスケード TMR における遺伝的アルゴリズムを用いた構成探索2012
- 著者名/発表者名
  新井雅之, 井出創, 岩崎一彦
- 学会等名
  電子情報通信学会コンピュータシステム研究会, CPSY2011-94, 電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, DC2011-98
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23500063
[学会発表] レイアウトを考慮したブリッジ/オープン故障カバレージの高精度見積法2012
- 著者名/発表者名
  新井雅之, 清水貴弘, 岩崎一彦
- 学会等名
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, DC2012-13
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23500063
[学会発表] Note on Layout-Aware Weighted Probabilistic Bridge Fault Coverage2012
- 著者名/発表者名
  M. Arai, Y. Shimizu, and K. Iwasaki
- 学会等名
  Asian Test Symposium (ATS)
- 発表場所
  Niigata
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23500063
[学会発表] A Dependable Processor by Using Built in Self Test to Tolerate Periodical Transient Faults under Highly Electromagnetic Environment2012
- 著者名/発表者名
  A. Saysanasongkham, M. Negishi, M. Arai, S. Fukumoto
- 学会等名
  IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computig
- 発表場所
  Niigata, Japan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700062
[学会発表] A Dependable Processor by Using Built in Self Test to Tolerate Periodical Transient Faults under Highly Electromagnetic Environment2012
- 著者名/発表者名
  Aromhack Saysanasongkam, Masahiko Negishi, Masayuki Arai, Satoshi Fukumoto
- 学会等名
  The 18th IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC 2012), pp.127-134
- 発表場所
  Niigata, Japan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24500070
[学会発表] Note on Layout-Aware Weighted Probabilistic Bridge Fault Coverage2012
- 著者名/発表者名
  M. Arai, Y. Shimizu, K. Iwasaki
- 学会等名
  IEEE Asian Test Symposium
- 発表場所
  Niigata, Japan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700062
[学会発表] パイプラインプロセッサ向けカスケードTMRにおける遺伝的アルゴリズムを用いた構成探索2012
- 著者名/発表者名
  新井　雅之，井出　創，岩崎　一彦
- 学会等名
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  ホテル松島大観荘，宮城県
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23500063
[学会発表] レイアウトを考慮した故障カバレージの高精度見積りに関する一考察2012
- 著者名/発表者名
  新井　雅之，清水　貴弘，岩崎　一彦
- 学会等名
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  機械振興会館，東京都
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700062
[学会発表] A Note on Dependable Processor for Periodical Transient Faults under High Electromagnetic Environment2012
- 著者名/発表者名
  Aromhack Saysanasongkam, Masahiko Negishi, Masayuki Arai, Satoshi Fukumoto
- 学会等名
  Fast Abstracts III of The 42nd Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks (DSN 2012)
- 発表場所
  Boston, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24500070
[学会発表] 組込み自己テストによって高電磁環境下の周期的過渡故障を回避するプロセッサ2012
- 著者名/発表者名
  根岸正彦, サイサナソンカムアロムハック, 新井雅之, 福本聡
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告 CPSY2012-1/DC2012-1, pp.1-6
- 発表場所
  東工大，大岡山キャンパス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24500070
[学会発表] レイアウトを考慮した故障カバレージの高精度見積りに関する一考察2012
- 著者名/発表者名
  新井　雅之，清水　貴弘，岩崎　一彦
- 学会等名
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  機械振興会館，東京都
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23500063
[学会発表] Note on Layout-Aware Weighted Probabilistic Bridge Fault Coverage2012
- 著者名/発表者名
  M. Arai, Y. Shimizu, K. Iwasaki
- 学会等名
  2012 IEEE 21st Asian Test Symposium (ATS 2012)
- 発表場所
  Niigata, Japan(pp. 89-94)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700062
[学会発表] 高電磁環境下で論理回路に発生する過渡故障の実験的評価2012
- 著者名/発表者名
  永島一磨, 今井健太, 新井雅之, 福本聡, 和田圭二
- 学会等名
  第11回情報科学技術フォーラム(FIT2012), C-024, pp. 317-318
- 発表場所
  法政大学，小金井キャンパス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24500070
[学会発表] Note on Dependable Processor for Periodical Transient Faults under High Electromagnetic Environment2012
- 著者名/発表者名
  A. Saysanasongkham, M. Negishi, M. Arai, S. Fukumoto
- 学会等名
  International Conference on Dependable Systems and Networks (Fast Abstract)
- 発表場所
  Boston, MA, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700062
[学会発表] Area Per Yield and Defect Level of Cascaded TMR for Pipelined Processors2011
- 著者名/発表者名
  Masayuki Arai and Kazuhiko Iwasaki
- 学会等名
  17th IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing
- 発表場所
  Westin Pasadena, CA, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23500063
[学会発表] 過渡故障を対象とした高信頼化プロセッサの研究動向2011
- 著者名/発表者名
  小山　善文，今井　健太，サイサナソンカム　アロムハック，新井　雅之，福本　聡
- 学会等名
  2011年並列/分散/協調処理に関する『鹿児島』サマー・ワークショップ
- 発表場所
  かごしま県民交流センター，鹿児島県
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700062
[学会発表] パイプラインプロセッサ向けカスケードTMRの欠陥レベル評価に関する一考察2011
- 著者名/発表者名
  新井　雅之，岩崎　一彦
- 学会等名
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  首都大学東京秋葉原サテライトキャンパス，東京都
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23500063
[学会発表] Area-Per-Yield and Defect Level of Cascaded TMR for Pipelined Processors2011
- 著者名/発表者名
  M. Arai, and K. Iwasaki
- 学会等名
  Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23500063
[学会発表] パイプラインプロセッサ向けカスケードTMRの欠陥レベル評価に関する一考察2011
- 著者名/発表者名
  新井　雅之，岩崎　一彦
- 学会等名
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  首都大学東京秋葉原サテライトキャンパス，東京都
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700062
[学会発表] Self-Calibration Using Functional BIST for Transient-Fault-Tolerant Sequential Circuits in Severe Electromagnetic Environment2011
- 著者名/発表者名
  M. Arai, A. Saysanasongkham, K. Imai,Y. Koyama, S. Fukumoto
- 学会等名
  IEEE 12th International Workshop on RTL and High-Level Testing
- 発表場所
  Jaipur, India(pp. 90-93)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700062
[学会発表] Area-Per-Yield and Defect Level of Cascaded TMR for Pipelined Processors2011
- 著者名/発表者名
  M. Arai, K. Iwasaki
- 学会等名
  IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC 2011)
- 発表場所
  Pasadena, CA, USA(pp. 264-271)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700062
[学会発表] パイプラインプロセッサ向けカスケード TMR の欠陥レベル評価に関する一考察2011
- 著者名/発表者名
  新井雅之, 岩崎一彦
- 学会等名
  電子情報通信学会コンピュータシステム研究会, 電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, CPSY2011-6, DC2011-6
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23500063
[学会発表] Area Per Yield and Defect Level of Cascaded TMR for Pipelined Processors2011
- 著者名/発表者名
  Masayuki Arai and Kazuhiko Iwasaki
- 学会等名
  International Test Conference
- 発表場所
  Disneyland Hotel, Anaheim, CA, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700062
[学会発表] Self-Calibration Using Functional BIST for Transient-Fault-Tolerant Sequential Circuits in Severe Electromagnetic Environment2011
- 著者名/発表者名
  Masayuki Arai, Aromhack Saysanasongkham, Kenta Imai, Yoshifumi Koyama, and Satoshi Fukumoto
- 学会等名
  IEEE 12th International Workshop on RTL and High Level Testing
- 発表場所
  MNIT, Jaipur, India
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700062
[学会発表] ランダムパターンテストにおける故障検出率分布に関する考察2011
- 著者名/発表者名
  福本聡, 新井雅之, 原慎哉, 岩崎一彦
- 学会等名
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, DC2011-6
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23500063
[学会発表] Area Per Yield and Defect Level of Cascaded TMR for Pipelined Processors2011
- 著者名/発表者名
  Masayuki Arai and Kazuhiko Iwasaki
- 学会等名
  17th IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing
- 発表場所
  Westin Pasadena, CA, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700062
[学会発表] Area Per Yield and Defect Level of Cascaded TMR for Pipelined Processors2011
- 著者名/発表者名
  Masayuki Arai and Kazuhiko Iwasaki
- 学会等名
  International Test Conference
- 発表場所
  Disneyland Hotel, Anaheim, CA, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23500063
[学会発表] Area Per Yield and Defect Level of Cascaded TMR for Pipelined Processors2011
- 著者名/発表者名
  M. Arai and K. Iwasaki
- 学会等名
  International Test Conference (ITC)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23500063
[学会発表] 同時多重に発生する過渡故障を前提にレジスタを二重化した順序回路2009
- 著者名/発表者名
  丸本耕平, 新井雅之, 福本聡, 岩崎一彦
- 学会等名
  電子情報通信学会総合大会
- 発表場所
  電子情報通信学会総合大会
- 年月日
  2009-03-17
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18500041
[学会発表] 同時多重に発生する過渡故障を前提にレジスタを重化した陣所回路2009
- 著者名/発表者名
  丸本耕平, 新井雅之, 福本聡, 岩崎一彦
- 学会等名
  電子情報通信学会総合大会
- 発表場所
  愛媛大学
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18500041
[学会発表] 耐故障プロセッサ評価モデルの解析について2008
- 著者名/発表者名
  福本聡, 新井雅之, 岩崎一彦
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告
- 発表場所
  サンライフ萩
- 年月日
  2008-12-12
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18500041
[学会発表] 耐故障プロセッサ評価モデルの解析について2008
- 著者名/発表者名
  福本聡, 新井雅之, 岩崎一彦
- 学会等名
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  サンライフ萩
- 年月日
  2008-12-12
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18500041
[学会発表] 耐故障プロセッサの信頼性・性能評価手法に関する-考察2008
- 著者名/発表者名
  福本聡, 新井雅之, 岩崎一彦
- 学会等名
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  国立情報学研究所
- 年月日
  2008-10-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18500041
[学会発表] CMOSLSIのESD/Latch-up故障の解析-実データでの故障モード解析2008
- 著者名/発表者名
  小日向秀雄, 新井雅之, 福本聡
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告
- 発表場所
  機械振興会館
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18500041
[学会発表] 同時多重に発生する過渡故障を前提とした高信頼プロセッサ設計2008
- 著者名/発表者名
  木村真琴, 新井雅之, 福本聡, 岩崎一彦
- 学会等名
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  機械振興会館
- 年月日
  2008-06-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18500041
[学会発表] CMOS LSIのESD/Latch-up故障の解析-実データでの故障モード解析-2008
- 著者名/発表者名
  小日向秀雄, 新井雅之, 福本聡
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告
- 発表場所
  機械振興会館
- 年月日
  2008-02-08
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18500041
[学会発表] 耐故障プロセッサの信頼性・性能評価手法に関する一考察2008
- 著者名/発表者名
  福本聡, 新井雅之, 岩崎一彦
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告
- 発表場所
  国立情報学研究所
- 年月日
  2008-10-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18500041
[学会発表] 同時多重に発生する過渡故障を前提とした高信頼プロセッサ設計2008
- 著者名/発表者名
  木村真琴, 新井雅之, 福本聡, 岩崎一彦
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告
- 発表場所
  機械振興会館
- 年月日
  2008-06-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18500041
[学会発表] Time Redundancy Processor with the Tolerance to Transient Faults Caused by Electromagnetic Waves2007
- 著者名/発表者名
  M. Kimura, M. Arai, S. Fukumoto, K. Iwasaki
- 学会等名
  Workshop on Dependable and Secure Nanocomputing
- 発表場所
  Edinburgh, UK
- 年月日
  2007-06-01
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18500041
[学会発表] 安全・安心のための半導体設計・テスト技術2007
- 著者名/発表者名
  福本聡, 新井雅之, 岩崎一彦
- 学会等名
  日本オペレーションズリサーチ学会第57回シンポジウム
- 発表場所
  鳥取大学(No.57)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18500041
[学会発表] 故障挿入によるTMRプロセッサの耐縮退故障性評価2007
- 著者名/発表者名
  丸本耕平, 新井雅之, 福本聡, 岩崎一彦
- 学会等名
  第6回情報科学技術フォーラム(FIT2007)
- 発表場所
  中京大学
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18500041
[学会発表] ディペンダブルVLSI2006
- 著者名/発表者名
  福本聡, 新井雅之, 岩崎一彦
- 学会等名
  第10回システムLSIワークショップ講演資料集
- 発表場所
  北九州(No.10)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18500041
[学会発表] 過渡故障に耐性を持つ時間冗長プロセッサの検討2006
- 著者名/発表者名
  木村真琴, 新井雅之, 福本聡, 岩崎一彦
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告書
- 発表場所
  高知
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18500041
[学会発表] レイアウトを考慮したブリッジ/オープン故障カバレージの高精度見積法
- 著者名/発表者名
  新井雅之, 清水貴弘, 岩崎一彦
- 学会等名
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  東京
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23500063
[学会発表] レイアウトを考慮したブリッジ/オープン故障カバレージの高精度見積法
- 著者名/発表者名
  新井雅之, 清水貴弘, 岩崎一彦
- 学会等名
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  Tokyo, Japan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700062
[学会発表] Study on Routing Protocol for Structured P2P Network Taking Account of the Nodes Which Behave Like a Byzantine Fault
- 著者名/発表者名
  Satoshi Fukumoto, Tomoki Endo, Mamoru Ohara, and Masayuki Arai
- 学会等名
  fast abstract of The 20th IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC 2014)
- 発表場所
  Singapore (Public of Singapore)
- 年月日
  2014-11-19 – 2014-11-21
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24500070
[学会発表] クリティカルエリア解析に基づく故障カバレージ見積りに関する一考察
- 著者名/発表者名
  清水貴弘, 中山裕太, 新井雅之, 岩崎一彦
- 学会等名
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  Gifu, Japan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23700062
[学会発表] LSIのオープン欠陥クリティカルエリアに関する一検討
- 著者名/発表者名
  中山裕太, 清水貴弘, 新井雅之, 岩崎一彦
- 学会等名
  電子情報通信学会総合大会
- 発表場所
  岐阜市
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23500063
[学会発表] 異なる欠陥粒径とビアオープンを考慮した重み付き故障カバレージに関する一考察
- 著者名/発表者名
  中山裕太, 新井雅之, 史紅波, 岩崎一彦
- 学会等名
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  機械振興会館
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23500063
[学会発表] クリティカルエリア解析に基づく故障カバレージ見積りに関する一考察
- 著者名/発表者名
  清水貴弘, 新井雅之, 岩崎一彦
- 学会等名
  電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
- 発表場所
  東京
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23500063
[学会発表] Hybrid ARQ for DC-DC Converter Noise in Controller Area Networks
- 著者名/発表者名
  Muneyuki Nakamura, Mamoru Ohara, Aromhack Saysansongkham, Masayuki Arai, Kazuya Sakai, and Satoshi Fukumoto
- 学会等名
  Proceedings of International Workshop on Applications of Wireless Ad hoc and Sensor Networks (AWASN'14)
- 発表場所
  Minneapolis (USA)
- 年月日
  2014-09-09 – 2014-09-12
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24500070
[学会発表] Note on Layout-Aware Weighted Probabilistic Bridge Fault Coverage
- 著者名/発表者名
  M. Arai, Y. Shimizu, and K. Iwasaki
- 学会等名
  Asian Test Symposium
- 発表場所
  Niigata City
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23500063

1. 福本聡 (50247590)

共同の研究課題数: 3件

共同の研究成果数: 65件
2. 岩崎一彦 (40232649)

共同の研究課題数: 3件

共同の研究成果数: 67件

新井 雅之 Arai Masayuki

研究課題

研究成果

共同研究者

マルチモデルサンプリングに基づくSoCの欠陥レベル見積り及び削減法研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

高電磁環境下での周期的多重過渡故障のオンラインマスク法研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

高電磁環境下の新しい過渡故障モデルに対する耐故障順序回路の検討

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

レイアウト情報を用いたＳＯＣ市場不良率予測の高精度化手法に関する研究

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

クリティカルエリアサンプリングによるＳｏＣの欠陥レベル削減に関する研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

誤りからの自己回復機能を持つSoCベース・ディペンダブル・プロセッサの基礎的検討

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

SAN/NASを用いたSoC設計システム向け高信頼分散ストレージクラスタの研究

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

[図書] ``Chapter 11: Hybrid Checkpointing Technique Using Incremental Snapshots,'' Reliability Modeling with Applications2014

著者名/発表者名

総ページ数

出版者

データソース

[雑誌論文] Layout Feature Extraction using CNN Classification in Root Cause Analysis of LSI Defects2021

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] CNN-based Layout Segment Classification for Analysis of Layout-induced Failures2020

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Layout-Based Test Coverage Verification for High-Reliability Devices2017

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Fault masking issue on a dependable processor using BIST under highly electromagnetic environment2017

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] A Low Capture Power Test Generation Method Based on Capture Safe Test Vector Manipulation2017

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

NAID

ISSN

言語

データソース

[雑誌論文] Reordering-Based Test Pattern Reduction Considering Critical Area-Aware Weighted Fault Coverage2017

新井雅之 Arai Masayuki