大澤隆 OHSAWA Takashi

研究者番号	10613391
その他のID
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2020年度 – 2022年度: 早稲田大学, 理工学術院(情報生産システム研究科・センター), 教授(任期付)
審査区分/研究分野	研究代表者小区分21060:電子デバイスおよび電子機器関連
キーワード	研究代表者新機能メモリ / ニューロモルフィックシステム / アンデュアランス / 不揮発性メモリデバイス / ニューラルネットワーク / 閾値電圧ばらつき / MOSFET / トレーニング・プログラム / オペアンプ / オフセット電圧 / 不揮発性メモリ / イン・メモリ・コンピューティング / ディープ・ニューラル・ネットワーク

研究課題
(1件)
研究成果
(11件)

盲目的学習アルゴリズムとそれに基づき自己学習可能なニューラルネットワークエンジン研究代表者
- 研究代表者
  
  大澤隆
- 研究期間 (年度)
  2020 – 2022
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 審査区分
  
  小区分21060:電子デバイスおよび電子機器関連
- 研究機関
  早稲田大学

すべて 2023 2022 2021 2020

すべて雑誌論文学会発表

[雑誌論文] A gate leakage current-powered loadless 4T SRAM with immunity against random dopant fluctuation and surface roughness in silicon-silicon dioxide interface2023
- 著者名/発表者名
  Yihan ZHU, Takashi OHSAWA
- 雑誌名
  
  Jpn. J. Appl. Phys.
  
  巻: 62 号: SC ページ: SC1004-SC1004
- DOI
  10.35848/1347-4065/aca33b
- 査読あり / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K04626
[雑誌論文] A Binarized Spiking Neural Network Based on Auto-Reset LIF Neurons and Large Signal Synapses Using STT-MTJs2023
- 著者名/発表者名
  Haoyan LIU, Takashi OHSAWA
- 雑誌名
  
  Jpn. J. Appl. Phys.
  
  巻: 62 号: 4 ページ: 044501-044501
- DOI
  10.35848/1347-4065/acc9f4
- 査読あり / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K04626
[雑誌論文] A Fully Analog Deep Neural Network Inference Accelerator with Pipeline Registers Based on Master-Slave Switched Capacitors2023
- 著者名/発表者名
  Yaxin MEI, Takashi OHSAWA
- 雑誌名
  
  IEICE Trans. Electron.
  
  巻: vol. E106-C, no.9
- 査読あり / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K04626
[雑誌論文] A Loadless 4T SRAM Powered by Gate Leakage Current with a High Tolerance for Fluctuations in Device Parameters2022
- 著者名/発表者名
  Yihan ZHU, Takashi OHSAWA
- 雑誌名
  
  Jpn. J. Appl. Phys.
  
  巻: 61 号: SC ページ: SC1053-SC1053
- DOI
  10.35848/1347-4065/ac44ce
- 査読あり / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K04626
[雑誌論文] A Low-Cost Training Method of ReRAM Inference Accelerator Chips for Binarized Neural Networks to Recover Accuracy Degradation due to Statistical Variabilities2022
- 著者名/発表者名
  Zian CHEN, Takashi OHSAWA
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Electronics
  
  巻: E105.C 号: 8 ページ: 375-384
- DOI
  10.1587/transele.2021ECP5040
- NAID
  130008149058
- ISSN
  0916-8524, 1745-1353
- 年月日
  2022-08-01
- 言語
  英語
- 査読あり / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K04626
[雑誌論文] Compact Model of Magnetic Tunnel Junctions for SPICE Simulation Based on Switching Probability2021
- 著者名/発表者名
  Haoyan LIU, Takashi OHSAWA
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Electronics
  
  巻: E104.C 号: 3 ページ: 121-127
- DOI
  10.1587/transele.2020ECP5011
- NAID
  130007993130
- ISSN
  0916-8524, 1745-1353
- 年月日
  2021-03-01
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K04626
[雑誌論文] Co-Design of Binary Processing in Memory ReRAM Array andDNN Model Optimization Algorithm2020
- 著者名/発表者名
  Yue GUAN, Takashi OHSAWA
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Electronics
  
  巻: E103-C NO. 11 ページ: 685-692
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K04626
[雑誌論文] Array Design of High-Density Emerging Memories Making Clamped Bit-Line Sense Amplifier Compatible with Dummy Cell Average Read Scheme2020
- 著者名/発表者名
  Ziyue ZHANG, Takashi OHSAWA
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Electronics
  
  巻: E103.C 号: 8 ページ: 372-380
- DOI
  10.1587/transele.2019ECP5039
- NAID
  130007883640
- ISSN
  0916-8524, 1745-1353
- 年月日
  2020-08-01
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K04626
[学会発表] Spin-Transfer Torque Magnetic Tunnel Junction Model Based on Fokker-Planck Equation for Stochastic Circuit Simulations2022
- 著者名/発表者名
  Haoyan Liu, Takashi Ohsawa
- 学会等名
  22nd IEEE International Conference on Nanotechnology
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K04626
[学会発表] Spin-Transfer Torque Magnetic Tunnel Junction Model Based on Fokker-Planck Equation for Stochastic Circuit Simulations2022
- 著者名/発表者名
  Haoyan LIU, Takashi OHSAWA
- 学会等名
  22nd IEEE International Conference on Nanotechnology
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K04626
[学会発表] A Loadless 4T SRAM Cell Powered by Gate Leakage Current and Tolerant of Random Dopant Fluctuation and Surface Roughness at Si-SiO2 Interface2022
- 著者名/発表者名
  Yihan ZHU, Takashi OHSAWA
- 学会等名
  2022 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K04626

大澤 隆 OHSAWA Takashi

研究課題

研究成果

盲目的学習アルゴリズムとそれに基づき自己学習可能なニューラルネットワークエンジン研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

[雑誌論文] A gate leakage current-powered loadless 4T SRAM with immunity against random dopant fluctuation and surface roughness in silicon-silicon dioxide interface2023

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] A Binarized Spiking Neural Network Based on Auto-Reset LIF Neurons and Large Signal Synapses Using STT-MTJs2023

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] A Fully Analog Deep Neural Network Inference Accelerator with Pipeline Registers Based on Master-Slave Switched Capacitors2023

著者名/発表者名

雑誌名

データソース

[雑誌論文] A Loadless 4T SRAM Powered by Gate Leakage Current with a High Tolerance for Fluctuations in Device Parameters2022

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] A Low-Cost Training Method of ReRAM Inference Accelerator Chips for Binarized Neural Networks to Recover Accuracy Degradation due to Statistical Variabilities2022

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

NAID

ISSN

年月日

言語

データソース

[雑誌論文] Compact Model of Magnetic Tunnel Junctions for SPICE Simulation Based on Switching Probability2021

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

NAID

ISSN

年月日

言語

データソース

[雑誌論文] Co-Design of Binary Processing in Memory ReRAM Array andDNN Model Optimization Algorithm2020

著者名/発表者名

雑誌名

データソース

[雑誌論文] Array Design of High-Density Emerging Memories Making Clamped Bit-Line Sense Amplifier Compatible with Dummy Cell Average Read Scheme2020

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

NAID

ISSN

年月日

言語

データソース

[学会発表] Spin-Transfer Torque Magnetic Tunnel Junction Model Based on Fokker-Planck Equation for Stochastic Circuit Simulations2022

著者名/発表者名

学会等名

データソース

[学会発表] Spin-Transfer Torque Magnetic Tunnel Junction Model Based on Fokker-Planck Equation for Stochastic Circuit Simulations2022

著者名/発表者名

学会等名

データソース

[学会発表] A Loadless 4T SRAM Cell Powered by Gate Leakage Current and Tolerant of Random Dopant Fluctuation and Surface Roughness at Si-SiO2 Interface2022

著者名/発表者名

学会等名

データソース

大澤隆 OHSAWA Takashi