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森川 大輔  Morikawa Daisuke

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 10632416
その他のID
所属 (現在) 2025年度: 東北大学, 多元物質科学研究所, 助教
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2018年度 – 2023年度: 東北大学, 多元物質科学研究所, 助教
審査区分/研究分野
研究代表者
理工系 / 小区分13020:半導体、光物性および原子物理関連
研究代表者以外
中区分26:材料工学およびその関連分野
キーワード
研究代表者
ナノ電子プローブ / 局所構造解析 / 収束電子回折 / 電荷密度分布解析 / 電荷密度分布 / 分極回転 / 強誘電ドメイン壁 / 分極ドメイン / 収束電子回折法 / 界面・ナノドメイン … もっと見る / 電圧印可その場観察 / 電子密度分布解析 / 電場印加その場観察 / 分極ナノドメイン / 大角度ロッキング / ビームロッキング / 界面誘起強誘電性 / 電子顕微鏡 … もっと見る
研究代表者以外
電子線インコヒーレントチャンネリング (ICP) / 電子エネルギー損失分光 (EELS) / 軟X線発光分光 (SXES) / ドープ原子 / 強誘電体 / 電子エネルギー損失分光 / 軟X線発光分光 / 電子線インコヒーレントチャンネリング 隠す
  • 研究課題

    (4件)
  • 研究成果

    (41件)
  • 共同研究者

    (2人)
  •  局所電子密度分布解析による強誘電体ドメイン壁における分極回転の直接観測研究代表者

    • 研究代表者
      森川 大輔
    • 研究期間 (年度)
      2022 – 2023
    • 研究種目
      新学術領域研究(研究領域提案型)
    • 審査区分
      理工系
    • 研究機関
      東北大学
  •  ナノ電子プローブを用いた電子密度分布解析による機能コアの電場応答解明研究代表者

    • 研究代表者
      森川 大輔
    • 研究期間 (年度)
      2020 – 2021
    • 研究種目
      新学術領域研究(研究領域提案型)
    • 審査区分
      理工系
    • 研究機関
      東北大学
  •  ナノ電子プローブによる界面誘起分極構造の発現機構の解明研究代表者

    • 研究代表者
      森川 大輔
    • 研究期間 (年度)
      2019 – 2020
    • 研究種目
      若手研究
    • 審査区分
      小区分13020:半導体、光物性および原子物理関連
    • 研究機関
      東北大学
  •  電子線分光マルチプローブによる強誘電体の原子サイト選択局所構造・電子状態解析

    • 研究代表者
      津田 健治
    • 研究期間 (年度)
      2018 – 2019
    • 研究種目
      挑戦的研究(萌芽)
    • 審査区分
      中区分26:材料工学およびその関連分野
    • 研究機関
      東北大学

すべて 2024 2023 2022 2021 2020 2019

すべて 雑誌論文 学会発表

  • [雑誌論文] Determination of the crystal structures of NdBaMn2O6: Coexisting polar and nonpolar phases2023

    • 著者名/発表者名
      Islam Md Shafiqul、Morikawa Daisuke、Yamada Shigeki、Aryal Bikas、Tsuda Kenji、Terauchi Masami
    • 雑誌名

      Physical Review B

      巻: 108 号: 6

    • DOI

      10.1103/physrevb.108.l060104

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PUBLICLY-22H04495, KAKENHI-PROJECT-23K22421
  • [雑誌論文] Direct observation of rotation of polarization at 90-degree domain walls in BaTiO32023

    • 著者名/発表者名
      Morikawa Daisuke、Noguchi Yuji、Tsuda Kenji
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 62 号: SM ページ: SM1003-SM1003

    • DOI

      10.35848/1347-4065/acde5b

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PUBLICLY-22H04495, KAKENHI-PROJECT-23H00239, KAKENHI-PROJECT-23K22421
  • [雑誌論文] ナノ電子プローブによる局所構造解析2023

    • 著者名/発表者名
      津田 健治、森川 大輔
    • 雑誌名

      顕微鏡

      巻: 58 号: 3 ページ: 111-116

    • DOI

      10.11410/kenbikyo.58.3_111

    • ISSN
      1349-0958, 2434-2386
    • 年月日
      2023-12-30
    • 言語
      日本語
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PUBLICLY-22H04495, KAKENHI-PROJECT-23K22421
  • [雑誌論文] Evaluation of TEM specimen quality prepared by focused ion beam using symmetry breaking index of convergent-beam electron diffraction2021

    • 著者名/発表者名
      Morikawa Daisuke、Ageishi Masaki、Sato Kaori、Tsuda Kenji、Terauchi Masami
    • 雑誌名

      Microscopy

      巻: - 号: 4 ページ: 394-397

    • DOI

      10.1093/jmicro/dfab002

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PUBLICLY-20H05176, KAKENHI-PROJECT-18H03674, KAKENHI-PROJECT-19K14623
  • [雑誌論文] Electric-field response of polar nanodomains in BaTiO32021

    • 著者名/発表者名
      Morikawa D.、Tsuda K.
    • 雑誌名

      Applied Physics Letters

      巻: 119 号: 5 ページ: 052904-052904

    • DOI

      10.1063/5.0058977

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PUBLICLY-20H05176
  • [雑誌論文] Local crystal symmetry and structure at CaTiO3 twin boundaries2021

    • 著者名/発表者名
      Morikawa D.、Tsuda K.
    • 雑誌名

      Applied Physics Letters

      巻: 118 号: 9 ページ: 092901-092901

    • DOI

      10.1063/5.0043851

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PUBLICLY-20H05176, KAKENHI-PROJECT-18H03674, KAKENHI-PROJECT-19K14623
  • [雑誌論文] 収束電子回折法による結晶構造解析の進展2021

    • 著者名/発表者名
      MORIKAWA Daisuke、TSUDA Kenji
    • 雑誌名

      日本結晶学会誌

      巻: 63 号: 2 ページ: 135-142

    • DOI

      10.5940/jcrsj.63.135

    • NAID

      130008049200

    • ISSN
      0369-4585, 1884-5576
    • 年月日
      2021-05-31
    • 言語
      日本語
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PUBLICLY-20H05176
  • [雑誌論文] Improvement of precision in refinements of structure factors using convergent-beam electron diffraction patterns taken at Bragg-excited conditions2021

    • 著者名/発表者名
      Aryal B.、Morikawa D.、Tsuda K.、Terauchi M.
    • 雑誌名

      Acta Crystallographica Section A Foundations and Advances

      巻: 77 号: 4 ページ: 289-295

    • DOI

      10.1107/s2053273321004137

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PUBLICLY-20H05176
  • [雑誌論文] Visualization of ferroaxial domains in an order-disorder type ferroaxial crystal2020

    • 著者名/発表者名
      Hayashida T.、Uemura Y.、Kimura K.、Matsuoka S.、Morikawa D.、Hirose S.、Tsuda K.、Hasegawa T.、Kimura T.
    • 雑誌名

      Nature Communications

      巻: 11 号: 1 ページ: 1-8

    • DOI

      10.1038/s41467-020-18408-6

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01143, KAKENHI-PROJECT-18H03674, KAKENHI-PROJECT-19H01847, KAKENHI-PROJECT-19K14623, KAKENHI-PLANNED-19H05823
  • [雑誌論文] Evaluation of accuracy in the determination of crystal structure factors using large-angle convergent-beam electron diffraction patterns2020

    • 著者名/発表者名
      Morikawa Daisuke、Tsuda Kenji
    • 雑誌名

      Microscopy

      巻: 70 号: 2 ページ: 178-185

    • DOI

      10.1093/jmicro/dfaa041

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H03674, KAKENHI-PROJECT-19K14623
  • [学会発表] 収束電子回折法によるpn接合界面の観察2024

    • 著者名/発表者名
      森川大輔,齋藤桃子,佐々木宏和,津田健治
    • 学会等名
      日本物理学会
    • データソース
      KAKENHI-PUBLICLY-22H04495
  • [学会発表] 4D-STEM法の界面やその場観察への応用2024

    • 著者名/発表者名
      森川大輔,津田健治
    • 学会等名
      その場観察分科会 2024年 新春電子顕微鏡解析技術フォーラム
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PUBLICLY-22H04495
  • [学会発表] 収束電子回折法による界面領域の結晶構造および電子密度分布解析II2023

    • 著者名/発表者名
      森川大輔,津田健治
    • 学会等名
      日本物理学会
    • データソース
      KAKENHI-PUBLICLY-22H04495
  • [学会発表] BaTiO3 の90 度ドメイン壁における分極の空間変化の直接観測2023

    • 著者名/発表者名
      森川大輔,野口祐二,津田健治
    • 学会等名
      第40回強誘電体会議
    • データソース
      KAKENHI-PUBLICLY-22H04495
  • [学会発表] Crystal structure and electron density analysis at twin boundaries using convergent-beam electron diffraction2023

    • 著者名/発表者名
      D. Morikawa, Y. Noguchi, K. Tsuda
    • 学会等名
      20th International Microscopy Congress
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PUBLICLY-22H04495
  • [学会発表] 収束電子回折法を用いた局所結晶構造解析の界面への応用2023

    • 著者名/発表者名
      森川大輔,津田健治
    • 学会等名
      日本結晶学会
    • データソース
      KAKENHI-PUBLICLY-22H04495
  • [学会発表] 収束電子回折法による界面領域の 構造解析手法の開発2023

    • 著者名/発表者名
      森川大輔,津田健治
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会
    • データソース
      KAKENHI-PUBLICLY-22H04495
  • [学会発表] 収束電子回折法による界面領域の結晶構造および電子密度分布解析2023

    • 著者名/発表者名
      森川大輔、野口祐二、津田健治
    • 学会等名
      日本物理学会
    • データソース
      KAKENHI-PUBLICLY-22H04495
  • [学会発表] Crystal structure and charge density analysis at interfaces and domain boundaries using convergent-beam electron diffraction2023

    • 著者名/発表者名
      D. Morikawa, Y. Noguchi, K. Tsuda
    • 学会等名
      26TH CONGRESS AND GENERAL ASSEMBLY OF THE INTERNATIONAL UNION OF CRYSTALLOGRAPHY,
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PUBLICLY-22H04495
  • [学会発表] 強誘電体ドメイン壁における収束電子回折図形の 対称性変化と微細構造解析2022

    • 著者名/発表者名
      森川大輔,野口祐二,津田健治
    • 学会等名
      日本物理学会
    • データソース
      KAKENHI-PUBLICLY-20H05176
  • [学会発表] 強誘電体ドメイン壁における収束電子回折図形の対称性変化と微細構造解析II2022

    • 著者名/発表者名
      森川大輔、野口祐二、津田健治
    • 学会等名
      日本物理学会
    • データソース
      KAKENHI-PUBLICLY-22H04495
  • [学会発表] 収束電子回折法による強誘電体ドメイン壁の微細構造解析2022

    • 著者名/発表者名
      森川大輔、野口祐二、津田健治
    • 学会等名
      日本結晶学会
    • データソース
      KAKENHI-PUBLICLY-22H04495
  • [学会発表] 収束電子回折法によるBaTiO3ナノドメインの電場印可その場観察2021

    • 著者名/発表者名
      森川大輔,津田健治
    • 学会等名
      日本物理学会
    • データソース
      KAKENHI-PUBLICLY-20H05176
  • [学会発表] STEM-CBED法によるBaTiO3分極ナノドメインの電場印可その場観察2021

    • 著者名/発表者名
      森川大輔,津田健治
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会
    • データソース
      KAKENHI-PUBLICLY-20H05176
  • [学会発表] 収束電子回折法によるBaTiO3ナノドメインの電場印可その場観察II2021

    • 著者名/発表者名
      森川大輔,津田健治
    • 学会等名
      日本物理学会
    • データソース
      KAKENHI-PUBLICLY-20H05176
  • [学会発表] 収束電子回折法によるBaTiO3ナノドメインの電場印可その場観察2021

    • 著者名/発表者名
      森川大輔,津田健治
    • 学会等名
      日本物理学会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K14623
  • [学会発表] 収束電子回折法によるBaTiO3分極ナノドメインの電場応答その場観察2021

    • 著者名/発表者名
      森川大輔,津田健治
    • 学会等名
      日本結晶学会
    • データソース
      KAKENHI-PUBLICLY-20H05176
  • [学会発表] STEM-CBED法によるCaTiO3における極性ドメイン境界の観察2020

    • 著者名/発表者名
      森川大輔,津田健治
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会
    • データソース
      KAKENHI-PUBLICLY-20H05176
  • [学会発表] 収束電子回折法を用いたCaTiO3双晶境界における分極構造の解析2020

    • 著者名/発表者名
      森川大輔,津田健治
    • 学会等名
      日本結晶学会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K14623
  • [学会発表] STEM-CBED法によるCaTiO3の界面誘起分極構造の観察2020

    • 著者名/発表者名
      森川大輔,津田健治
    • 学会等名
      日本物理学会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K14623
  • [学会発表] STEM-CBED法によるCaTiO3の界面誘起分極構造の観察2020

    • 著者名/発表者名
      森川大輔,津田健治
    • 学会等名
      日本物理学会
    • データソース
      KAKENHI-PUBLICLY-20H05176
  • [学会発表] STEM-CBED法によるCaTiO3における極性ドメイン境界の観察2020

    • 著者名/発表者名
      森川大輔,津田健治
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K14623
  • [学会発表] 収束電子回折法を用いたCaTiO3双晶境界における分極構造の解析2020

    • 著者名/発表者名
      森川大輔,津田健治
    • 学会等名
      日本結晶学会
    • データソース
      KAKENHI-PUBLICLY-20H05176
  • [学会発表] Accurate determination of low-order crystal structure factors using large-angle rocking CBED patterns2019

    • 著者名/発表者名
      D. Morikawa, and K. Tsuda
    • 学会等名
      Microscopy Conference 2019
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K14623
  • [学会発表] 大角度ロッキングCBED図形を用いた軌道整列状態の静電ポテンシャル分布解析2019

    • 著者名/発表者名
      森川大輔,津田健治
    • 学会等名
      日本結晶学会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K14623
  • [学会発表] 収束電子回折法を用いた試料ダメージ層の定量評価2019

    • 著者名/発表者名
      上石正樹,森川大輔,佐藤 香織,津田 健治,寺内正己
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第75回学術講演会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K18931
  • [学会発表] 大角度ロッキングCBED図形を用いた結晶構造因子決定精度の検証2019

    • 著者名/発表者名
      森川大輔,津田健治
    • 学会等名
      日本物理学会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K14623
  • [学会発表] 大角度ロッキングCBED図形を用いた結晶構造因子決定精度の検証II2019

    • 著者名/発表者名
      森川大輔,津田健治
    • 学会等名
      日本物理学会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K14623
  • [学会発表] 大角度ロッキングCBED図形を用いた軌道整列状態の静電ポテンシャル分布解析2019

    • 著者名/発表者名
      森川大輔,津田健治
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K14623
  • [学会発表] 大角度ロッキングCBED図形を用いた軌道整列状態の静電ポテンシャル分布解析2019

    • 著者名/発表者名
      森川大輔,津田 健治
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第75回学術講演会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K18931
  • [学会発表] 大角度ロッキングCBED図形を用いた結晶構造因子精密化2019

    • 著者名/発表者名
      森川大輔,津田健治
    • 学会等名
      日本物理学会 2019年第74回年次大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K18931
  • 1.  津田 健治 (00241274)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 4件
  • 2.  木村 剛
    共同の研究課題数: 0件
    共同の研究成果数: 1件

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