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齋藤 渉 (羽田野 渉)  Saito Wataru

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齋藤 渉  Saito Wataru

羽田野渉

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研究者番号 10741770
その他のID
所属 (現在) 2025年度: 九州大学, 応用力学研究所, 教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2023年度 – 2024年度: 九州大学, 応用力学研究所, 教授
2019年度 – 2020年度: 九州大学, 応用力学研究所, 教授
審査区分/研究分野
研究代表者
小区分21060:電子デバイスおよび電子機器関連 / 0302:電気電子工学およびその関連分野
キーワード
研究代表者
パワーデバイス / 過電圧ストレス / アバランシェ降伏 / 高電圧 / GaNトランジスタ / 低損失 / 低耐圧 / スイッチング制御 / パワーMOSFET / 制御 / オン抵抗 / パワーMOSFET
  • 研究課題

    (2件)
  • 研究成果

    (7件)
  •  低損失GaNパワーIC実現に向けた高電圧ストレスによる破壊メカニズムの研究研究代表者

    • 研究代表者
      齋藤 渉 (羽田野渉)
    • 研究期間 (年度)
      2023 – 2026
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 審査区分
      小区分21060:電子デバイスおよび電子機器関連
    • 研究機関
      九州大学
  •  高効率電気自動車に向けた理論限界を超える新規低耐圧パワーMOSFETの構造と制御研究代表者

    • 研究代表者
      齋藤 渉 (羽田野渉)
    • 研究期間 (年度)
      2019 – 2020
    • 研究種目
      研究活動スタート支援
    • 審査区分
      0302:電気電子工学およびその関連分野
    • 研究機関
      九州大学

すべて 2024 2023 2021 2020

すべて 雑誌論文 学会発表

  • [雑誌論文] Overvoltage Failure Process of Cascode GaN Field Effect Transistors2024

    • 著者名/発表者名
      Saito Wataru、Nishizawa Shin‐ichi
    • 雑誌名

      physica status solidi (a)

      巻: 221 号: 21 ページ: 2300791-2300791

    • DOI

      10.1002/pssa.202300791

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23K26163
  • [雑誌論文] Assist Gate MOSFETs for Improvement of On-Resistance and Turn-Off Loss Trade-Off2020

    • 著者名/発表者名
      Saito Wataru、Nishizawa Shin-ichi
    • 雑誌名

      IEEE Electron Device Letters

      巻: 41 ページ: 1060-1062

    • DOI

      10.1109/led.2020.2991927

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K23518
  • [学会発表] GaN-HEMTの過電圧印加時破壊過程のデバイス依存2024

    • 著者名/発表者名
      齋藤 渉,西澤 伸一
    • 学会等名
      応用物理学会2024年春季学術講演会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23K26163
  • [学会発表] Failure Process of GaN-HEMTs by Repetitive Overvoltage Stress2023

    • 著者名/発表者名
      Wataru Saito, Shin-Ichi Nishizawa
    • 学会等名
      The 35th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23K26163
  • [学会発表] GaN-HEMTの過電圧印加時破壊過程2023

    • 著者名/発表者名
      齋藤 渉,西澤 伸一
    • 学会等名
      応用物理学会2023年秋季学術講演会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23K26163
  • [学会発表] Overvoltage Failure Process of Cascode GaN FETs2023

    • 著者名/発表者名
      Wataru Saito, and Shin-ichi Nishizawa
    • 学会等名
      14th International Conference on Nitride Semiconductors (ICNS)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23K26163
  • [学会発表] Power Loss Reduction of Low-Voltage Power MOSFET by Combination of Assist Gate Structure and Gate Control Technology2021

    • 著者名/発表者名
      Wataru Saito and Shin-ichi Nishizawa
    • 学会等名
      International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K23518

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