横川凌 Yokogawa Ryo

研究者番号	10880619
その他のID
所属 (現在)	2025年度: 広島大学, 半導体産業技術研究所, 助教
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2020年度 – 2024年度: 明治大学, 理工学部, 助教
審査区分/研究分野	研究代表者小区分21050:電気電子材料工学関連 / 0302:電気電子工学およびその関連分野
キーワード	研究代表者界面 / 表面 / X線非弾性散乱 / 熱伝導率 / SiGe / 局在振動モード / 非調和振動 / ナノ構造 / ラマン分光法 / シリコンゲルマニウム … もっと見る / フォノン / ラマンシフト / 温度可変ラマン分光法 / 熱酸化膜 / Ｘ線回折 / Si / 熱電発電デバイス / CTR散乱 / 放射光X線回折 / Si酸化膜 / 放射光 / X線回折 / 酸化膜 / 熱電変換 / シリコン隠す

研究課題
(3件)
研究成果
(24件)

斜入射X線非弾性散乱法によるGeおよびSi表面・界面のフォノン散乱解明に関する研究研究代表者
- 研究代表者
  
  横川凌
- 研究期間 (年度)
  2024 – 2026
- 研究種目
  
  若手研究
- 審査区分
  
  小区分21050:電気電子材料工学関連
- 研究機関
  明治大学
温度可変ラマン分光法によるSiGe混晶の微視的な熱伝導機構解明に関する研究研究代表者
- 研究代表者
  
  横川凌
- 研究期間 (年度)
  2021 – 2023
- 研究種目
  
  若手研究
- 審査区分
  
  小区分21050:電気電子材料工学関連
- 研究機関
  明治大学
温度可変放射光X線回折による熱電発電Siデバイスの局所領域熱特性評価に関する研究研究代表者
- 研究代表者
  
  横川凌
- 研究期間 (年度)
  2020 – 2021
- 研究種目
  
  研究活動スタート支援
- 審査区分
  
  0302:電気電子工学およびその関連分野
- 研究機関
  明治大学

すべて 2024 2023 2022 2021 2020

すべて雑誌論文学会発表

[雑誌論文] Local thermal conductivity properties of a SiGe nanowire observed by laser power sweep Raman spectroscopy2024
- 著者名/発表者名
  Sugawa Sho、Yokogawa Ryo、Ogura Atsushi
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics
  
  巻: 63 号: 2 ページ: 02SP68-02SP68
- DOI
  10.35848/1347-4065/ad1bc0
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K14201
[雑誌論文] Determination of Ge-fraction-shift coefficients for Raman spectroscopy in all vibration modes investigated by single-crystalline bulk SiGe and its application to strain evaluation in SiGe film grown on substrate2024
- 著者名/発表者名
  Yokogawa Ryo、Sugawa Sho、Yonenaga Ichiro、Arai Yasutomo、Ogura Atsushi
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics
  
  巻: 63 号: 3 ページ: 035503-035503
- DOI
  10.35848/1347-4065/ad29db
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K14201
[雑誌論文] Temperature Dependence of Raman Peak Shift in Single-Crystalline Silicon-Germanium2023
- 著者名/発表者名
  Sugawa Sho、Yokogawa Ryo、Yoshioka Kazutoshi、Arai Yasutomo、Yonenaga Ichiro、Ogura Atsushi
- 雑誌名
  
  ECS Journal of Solid State Science and Technology
  
  巻: 12 号: 6 ページ: 064004-064004
- DOI
  10.1149/2162-8777/acdffa
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K14201
[雑誌論文] Origin of carrier lifetime degradation in floating-zone silicon during a high-temperature process for insulated gate bipolar transistor2020
- 著者名/発表者名
  Yokogawa Ryo、Kobayashi Hiroto、Numasawa Yohichiroh、Ogura Atsushi、Nishizawa Shin-ichi、Saraya Takuya、Ito Kazuo、Takakura Toshihiko、Suzuki Shinichi、Fukui Munetoshi、Takeuchi Kiyoshi、Hiramoto Toshiro
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics
  
  巻: 59 号: 11 ページ: 115503-115503
- DOI
  10.35848/1347-4065/abc1d0
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K22418
[学会発表] SiGeラマンスペクトルの非対称ブロードニングに関する考察2024
- 著者名/発表者名
  横川凌, 寿川尚, 前田唯葉, 荒井康智, 米永一郎, 小椋厚志
- 学会等名
  第71回応用物理学会春季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K14201
[学会発表] Local Thermal Conductivity Properties of SiGe Nanowire Observed by Laser Power Sweep Raman Spectroscopy2023
- 著者名/発表者名
  S. Sugawa, R. Yokogawa, A. Ogura
- 学会等名
  36th International Microprocess and Nanotechnology Conference 2023 (MNC2023)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K14201
[学会発表] レーザパワー掃引ラマン分光法によるSiGeナノワイヤの熱伝導特性評価2023
- 著者名/発表者名
  寿川尚, 横川凌, 小椋厚志
- 学会等名
  第7回フォノンエンジニアリング研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K14201
[学会発表] ラマン分光法によるSiGeナノワイヤの熱伝導測定2023
- 著者名/発表者名
  寿川尚, 横川凌, 小椋厚志
- 学会等名
  第84回応用物理学会秋季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K14201
[学会発表] 液浸ラマン分光法による高Ge濃度SiGe薄膜のラマンスペクトルに現れるブロードピークの温度依存性評価2023
- 著者名/発表者名
  前田唯葉, 横川凌, 小椋厚志
- 学会等名
  第7回フォノンエンジニアリング研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K14201
[学会発表] 3次元自己組織化多層SiGeナノドットの熱物性2023
- 著者名/発表者名
  横川凌, 寿川尚, 前田唯葉, 伊藤佑太, 山下雄一郎, Wen Wei-Chen, 山本裕司, 小椋厚志
- 学会等名
  第84回応用物理学会秋季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K14201
[学会発表] 3次元自己組織化多層SiGeナノドットのフォノン散乱評価2023
- 著者名/発表者名
  横川凌, 寿川尚, 前田唯葉, 伊藤佑太, 山下雄一郎, Wen Wei-Chen, 山本裕司, 小椋厚志
- 学会等名
  第7回フォノンエンジニアリング研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K14201
[学会発表] バルクSiGeを用いた無歪ラマンシフト全振動モードの導出2023
- 著者名/発表者名
  横川凌, 寿川尚, 柴山裕貴, 荒井康智, 米永一郎, 小椋厚志
- 学会等名
  第70回応用物理学会春季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K14201
[学会発表] 高Ge組成バルクSiGeにおける局在振動モードラマンスペクトルの温度依存性2023
- 著者名/発表者名
  横川凌, 寿川尚, 荒井康智, 米永一郎, 小椋厚志
- 学会等名
  第70回応用物理学会春季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K14201
[学会発表] Phonon properties of bulk silicon-germanium analyzed by inelastic X-ray scattering2022
- 著者名/発表者名
  Ryo Yokogawa
- 学会等名
  The 8th International Symposium on Advanced Science and Technology of Silicon Materials
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K14201
[学会発表] Temperature Dependence of Raman Peak Shift in Single-Crystalline Si-Rich SiGe2022
- 著者名/発表者名
  Sho Sugawa, Ryo Yokogawa, Yasutomo Arai, Ishiro. Yonenaga, Atsushi Ogura
- 学会等名
  242nd ECS Meeting
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K14201
[学会発表] 放射光技術を利用した次世代熱電発電デバイス用Ⅳ族半導体の微小領域熱特性評価2022
- 著者名/発表者名
  横川凌, 小椋厚志
- 学会等名
  第9回SPring-8次世代先端デバイス研究会/第72回SPring-8先端利用技術ワークショップ「半導体プロセス開発の現状と放射光の役割」
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K22418
[学会発表] SiGe混晶のフォノン物性解明へ向けて2022
- 著者名/発表者名
  横川凌
- 学会等名
  第6回フォノンエンジニアリング研究会
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K14201
[学会発表] 温度可変放射光X線回折による熱酸化およびスパッタSiO2/Si界面の熱特性評価2022
- 著者名/発表者名
  横川凌, 渡辺剛, 廣沢一郎, 富田基裕, 渡邉孝信, 小椋厚志
- 学会等名
  第69回応用物理学会春季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K22418
[学会発表] Evaluation of Strained Group IV Semiconductor Devices by Oil-Immersion Raman Spectroscopy2022
- 著者名/発表者名
  Ryo Yokogawa, Chia-Tsong Chen, Kasidit Toprasertpong, Mitsuru Takenaka, Shinishi Takagi, Atsushi Ogura
- 学会等名
  242nd ECS Meeting
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K14201
[学会発表] Si-rich SiGeバルク単結晶におけるラマン散乱の温度依存性2022
- 著者名/発表者名
  寿川尚, 横川凌, 荒井康智, 米永一郎, 小椋厚志
- 学会等名
  第69回応用物理学会春季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K14201
[学会発表] Ge-rich SiGeバルク単結晶におけるラマンピークの温度依存性2022
- 著者名/発表者名
  寿川尚, 横川凌, 荒井康智, 米永一郎, 小椋厚志
- 学会等名
  第83回応用物理学会秋季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K14201
[学会発表] X線逆格子空間マッピングを用いたメサ構造状カーボンドープシリコンにおける3軸歪評価2021
- 著者名/発表者名
  吉岡和俊, 小原田賢聖, 小笠原凱, 廣沢一郎, 渡辺剛, 横川凌, 小椋厚志
- 学会等名
  第68回応用物理学会春季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K22418
[学会発表] Strain Behaviors and Characteristics of Phonon Transports in Group IV Semiconductors Observed by Synchrotron Radiation Techniques2021
- 著者名/発表者名
  Ryo Yokogawa, Atsushi Ogura
- 学会等名
  Material Research Meeting 2021 (MRM2021)
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K22418
[学会発表] ラマン分光法によるAsイオン注入Siの歪評価2021
- 著者名/発表者名
  小原田賢聖, 佐竹雄太, 横川凌, 小椋厚志
- 学会等名
  第68回応用物理学会春季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K22418

横川 凌 Yokogawa Ryo

研究課題

研究成果

斜入射X線非弾性散乱法によるGeおよびSi表面・界面のフォノン散乱解明に関する研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

温度可変ラマン分光法によるSiGe混晶の微視的な熱伝導機構解明に関する研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

温度可変放射光X線回折による熱電発電Siデバイスの局所領域熱特性評価に関する研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

[雑誌論文] Local thermal conductivity properties of a SiGe nanowire observed by laser power sweep Raman spectroscopy2024

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Determination of Ge-fraction-shift coefficients for Raman spectroscopy in all vibration modes investigated by single-crystalline bulk SiGe and its application to strain evaluation in SiGe film grown on substrate2024

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Temperature Dependence of Raman Peak Shift in Single-Crystalline Silicon-Germanium2023

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Origin of carrier lifetime degradation in floating-zone silicon during a high-temperature process for insulated gate bipolar transistor2020

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[学会発表] SiGeラマンスペクトルの非対称ブロードニングに関する考察2024

著者名/発表者名

学会等名

データソース

[学会発表] Local Thermal Conductivity Properties of SiGe Nanowire Observed by Laser Power Sweep Raman Spectroscopy2023

著者名/発表者名

学会等名

データソース

[学会発表] レーザパワー掃引ラマン分光法によるSiGeナノワイヤの熱伝導特性評価2023

著者名/発表者名

学会等名

データソース

[学会発表] ラマン分光法によるSiGeナノワイヤの熱伝導測定2023

著者名/発表者名

学会等名

データソース

[学会発表] 液浸ラマン分光法による高Ge濃度SiGe薄膜のラマンスペクトルに現れるブロードピークの温度依存性評価2023

著者名/発表者名

学会等名

データソース

[学会発表] 3次元自己組織化多層SiGeナノドットの熱物性2023

著者名/発表者名

学会等名

データソース

[学会発表] 3次元自己組織化多層SiGeナノドットのフォノン散乱評価2023

著者名/発表者名

学会等名

データソース

[学会発表] バルクSiGeを用いた無歪ラマンシフト全振動モードの導出2023

著者名/発表者名

学会等名

データソース

[学会発表] 高Ge組成バルクSiGeにおける局在振動モードラマンスペクトルの温度依存性2023

著者名/発表者名

学会等名

データソース

[学会発表] Phonon properties of bulk silicon-germanium analyzed by inelastic X-ray scattering2022

著者名/発表者名

学会等名

横川凌 Yokogawa Ryo