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間脇 武蔵  MAWAKI TAKEZO

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 10966328
その他のID
所属 (現在) 2025年度: 東北大学, 未来科学技術共同研究センター, 助教
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2022年度 – 2023年度: 東北大学, 未来科学技術共同研究センター, 助教
審査区分/研究分野
研究代表者
小区分21060:電子デバイスおよび電子機器関連 / 0302:電気電子工学およびその関連分野
キーワード
研究代表者
統計的評価 / アレイテスト回路 / 不揮発性メモリ / 半導体 / 三次元積層 / 計測技術 / メモリ / 電気的特性 / 評価技術 / 次世代メモリ / マイクロバンプ / テスト回路 / 半導体デバイス
  • 研究課題

    (2件)
  • 研究成果

    (9件)
  •  超省電力・短時間処理・低コストの統計的電気計測による次世代メモリ解析・評価技術研究代表者

    • 研究代表者
      間脇 武蔵
    • 研究期間 (年度)
      2023 – 2025
    • 研究種目
      若手研究
    • 審査区分
      小区分21060:電子デバイスおよび電子機器関連
    • 研究機関
      東北大学
  •  次世代メモリの研究を飛躍的に促進する電気的特性の統計的計測プラットフォーム技術研究代表者

    • 研究代表者
      間脇 武蔵
    • 研究期間 (年度)
      2022 – 2023
    • 研究種目
      研究活動スタート支援
    • 審査区分
      0302:電気電子工学およびその関連分野
    • 研究機関
      東北大学

すべて 2023 2022

すべて 学会発表

  • [学会発表] ランダムテレグラフノイズのMOSトランジスタ構造・動作条件依存性の統計的解析2023

    • 著者名/発表者名
      間脇武蔵、黒田理人、秋元瞭、須川 成利
    • 学会等名
      電子デバイス界面テクノロジー研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K20422
  • [学会発表] 抵抗計測プラットフォームを用いたHfOx膜抵抗変化の統計的計測2023

    • 著者名/発表者名
      光田薫未、鈴木達彦、齊藤宏河、間脇武蔵、須川成利、黒田理人
    • 学会等名
      第84回応用物理学会秋季学術講演会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K20422
  • [学会発表] 電流計測プラットフォームを用いた高容量密度トレンチキャパシタのトラップ特性に関する統計的計測2023

    • 著者名/発表者名
      鈴木 達彦、齊藤宏河、光田薫未、間脇武蔵、須川成利、黒田理人
    • 学会等名
      第84回応用物理学会秋季学術講演会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23K13372
  • [学会発表] ランダムテレグラフノイズのMOSトランジスタ形状およびドレイン-ソース間電圧依存性の統計的計測2023

    • 著者名/発表者名
      間脇武蔵、黒田理人
    • 学会等名
      第84回応用物理学会秋季学術講演会
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K20422
  • [学会発表] インピーダンス計測プラットフォーム技術を用いた機能性薄膜に関する電気的特性の統計的計測2023

    • 著者名/発表者名
      齊藤宏河、鈴木達彦、光田薫未、間脇武蔵、諏訪智之、寺本章伸、須川成利,、黒田理人
    • 学会等名
      第84回応用物理学会秋季学術講演会
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23K13372
  • [学会発表] ランダムテレグラフノイズのMOSトランジスタ構造・動作条件依存性の統計的解析2023

    • 著者名/発表者名
      間脇武蔵, 黒田理人, 秋元瞭, 須川 成利
    • 学会等名
      電子デバイス界面テクノロジー研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K20422
  • [学会発表] 半導体素子の統計的評価に向けたインピーダンス計測プラットフォーム技術2023

    • 著者名/発表者名
      齊藤宏河、鈴木達彦、光田薫未、間脇武蔵、諏訪智之、寺本章伸、須川成利,、黒田理人
    • 学会等名
      第35回マイクロエレクトロニクス研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23K13372
  • [学会発表] 電気特性計測プラットフォームを用いたランダムテレグラフの動作条件依存性の統計的解析2023

    • 著者名/発表者名
      間脇武蔵、黒田理人
    • 学会等名
      電子情報通信学会 シリコン材料・デバイス研究会
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K20422
  • [学会発表] 次世代メモリ用薄膜の統計的解析を行う高精度・広範囲抵抗測定技術2022

    • 著者名/発表者名
      光田薫未, 天満亮介, 間脇武蔵, 黒田理人
    • 学会等名
      電子情報通信学会 シリコン材料・デバイス研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K20422

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