高橋琢二 Takahashi Takuji

研究者番号	20222086
外部サイト
所属 (現在)	2025年度: 東京大学, 生産技術研究所, 教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2017年度 – 2025年度: 東京大学, 生産技術研究所, 教授 2008年度 – 2011年度: 東京大学, 生産技術研究所, 准教授 2007年度: 東京大学, 准教授 2006年度: 東京大学, 生産技術研究所, 助教授 1999年度 – 2002年度: 東京大学, 生産技術研究所, 助教授 … もっと見る 1998年度: 東京大学, 先端技術研究センター, 助教授 1996年度 – 1998年度: 東京大学, 先端科学技術研究センター, 助教授 1993年度 – 1995年度: 東京大学, 先端科学技術研究センター, 講師 1990年度: 東京大学, 先端科学技術研究センター, 特別研究員隠す
審査区分/研究分野	研究代表者電子・電気材料工学 / 小区分21050:電気電子材料工学関連 / 薄膜・表面界面物性 / 表面界面物性 / 電子デバイス・機器工学 / 電子・電気材料工学 / 薄膜・表面界面物性研究代表者以外電子デバイス・機器工学 / 電子・電気材料工学 / 中区分30:応用物理工学およびその関連分野
キーワード	研究代表者光励起キャリア / 光起電力 / ナノプローブ / 微分コンダクタンス / 太陽電池 / 非発光再結合 / 再結合プロセス / ケルビンプローブフォース顕微鏡 / 自己形成量子ドット / 走査トンネル顕微鏡 … もっと見る / 表面空乏層 / 表面光電位効果 / 空乏層容量 / 光援用ナノプローブ / 時間分解計測 / 多元系化合物半導体 / Photoabsorption property / Differential conductance / Surface potential / Schottky barrier / GaAs giant steps / Laser-illuminated STM / Conductive tip AFM / InAs wires and thin films / 光吸収特性 / 表面電位 / ショットキ障壁 / GaAs巨大ステップ / レーザ光照射STM / 導電性探針AFM / 薄膜構造 / InAs細線 / Self-assembled Dots / Electrostatic Force / AFM with a Conductive Tip / Surface Depletion / Photo-excited Carriers / Laser Irradiation / Semiconductor Tips / Scanning Tunneling Microscopy / 表面光起電力効果 / バンドギャップ / 半導性探針AFM / 静電引力 / 導電性探針 AFM / 表面空乏化 / レーザ光照射 / 半導体探針 / AFM光熱分光計測法 / ケルビン・プローブ・フォース顕微鏡 / AFM 光熱分光計測法 / 少数キャリア / 太陽電池材料 / 多結晶シリコン太陽電池 / 間欠バイアスKFM / 少数キャリアダイナミクス / 少数キャリア拡散長 / 少数キャリア特性 / 電荷蓄積効果 / 量子準位 / ナノ構造中電子状態 / 高精度電位測定 / フォトキャリア / 組成イメージ / 光吸収スペクトル / トンネル電流-電圧スペクトル / フェルミレベル / 走査型トンネル顕微鏡 … もっと見る研究代表者以外 quantum dots / 量子ドット / 量子細線 / 電子散乱 / ナノ構造 / 自己形成 / 逆HEMT構造 / InAs量子箱 / 赤外検出器 / クーロン相互作用 / quantum wires / MOCVD / 量子箱 / 基板接合 / 高電子移動度トランジスタ / 電界効果トランジスタ / 窒化物半導体 / Strain Effect / Band Theory / Metal Organic Vapor Phase Deposition / Molecular Beam Epitaxy / Semiconductor Laser / High Magnetic Field / Quantum Wire / Quantum Box / 半導体レ-ザ / 強磁場 / 歪み効果 / バンド理論 / 有機金属気相成長 / 分子線エピタキシ- / 量子井戸細線 / 量子井戸箱 / nanostructures / Electron relaxation / localization / quantum rings / Electron scattering / anti-dots / Granular materials / プレーナ起格子 / 零次元電子 / InAsドット / 電子緩和 / 局在 / 量子リング / アンチドット / グレイン(粒状)物質 / optical transitions / quantum levels / quantum well films / Nanostructures / 光学フォノン / ボロメータ / メモリ素子 / 伝導特性 / 単一ヘテロ構造 / 光イオン化 / シュタルク効果 / 中赤外光 / エネルギー準位 / 量子(井戸) / 赤外光 / 光学遷移 / 量子準位 / 量子井戸薄膜 / Capacitance-voltage spectroscopy / Resonant tunnel structure / Quantum point contact / Optical detector / Memory function / Inverted HEMT structure / Self-assembly / 10nm InAs quantum dot / 電子状態 / 逆HEMT / ヒステリシス特性 / 量子化コンダクタンス / FET / 自己形成量子箱 / 容量・電圧分光法 / 共鳴トンネル構造 / 量子ポイントコンタクト / 光検出器 / メモリー機能 / 10nm級InAs量子箱 / intersubband excitation / multi-atomic step / memory device / InAs quantum box / negative mutual conductance / infrered detector / velocity modulation / heterocoupling / 非局在状態 / 共鳴散乱 / 非共鳴 / 共鳴 / 2重量子井戸 / 電子速度変調 / トンネル結合 / エッジ状態 / メモリー / インジウム砒素(InAs) / サイクロトロン共鳴 / GaAs(111)B面 / 自己形成InAs量子箱 / 共鳴結合 / 二重量子井戸 / サブバンド間励起 / 多段原子ステップ / メモリー素子 / 負の相互コンダクタンス / 速度変調 / ヘテロカップリング / diamugnetic shift / oscillator strength / one-dimensional exciton / spatially resolved micro-photo luminescence / T-shaped GaAs quantum wire / cleaved overgrowth / atomic force microscope / ridge quantum wire / 束縛エネルギー / へき開再成長法 / リッジ構造 / T型量子細線 / フォトルミネセンス励起スペクトル / 横方向閉じ込め / 空間分解フォトルミネセンス / 一次元状態 / 反磁性シフト / 振動子強度 / 一次元励起子 / 空間分解顕微フォトルミネセンス / T型GaAs量子細線 / へき開再成長 / 原子間力顕微鏡 / リッジ量子細線 / step-edges / microcavities / semiconductor lasers / strained srructures / ステップエッジ / 微小共振器 / 半導体レーザ / 歪構造隠す

窒化物半導体における選択極性反転技術の構築とn型p型領域同時形成への応用の研究
- 研究代表者
  
  末光哲也
- 研究期間 (年度)
  2024 – 2026
- 研究種目
  
  基盤研究(A)
- 審査区分
  
  中区分30:応用物理工学およびその関連分野
- 研究機関
  東北大学
時間分解・光援用ナノプローブの開発と多元系半導体太陽電池評価への応用展開研究代表者
- 研究代表者
  
  高橋琢二
- 研究期間 (年度)
  2022 – 2025
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 審査区分
  
  小区分21050:電気電子材料工学関連
- 研究機関
  東京大学
光援用ナノプローブによる多元系半導体太陽電池中の光励起キャリアダイナミクスの解明研究代表者
- 研究代表者
  
  高橋琢二
- 研究期間 (年度)
  2017 – 2020
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  薄膜・表面界面物性
- 研究機関
  東京大学
光KFMによる太陽電池材料中の少数キャリアダイナミクスの解明研究代表者
- 研究代表者
  
  高橋琢二
- 研究期間 (年度)
  2009 – 2011
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  電子・電気材料工学
- 研究機関
  東京大学
ナノプローブを用いた高精度電位測定とナノ構造中電子状態の解明に関する研究研究代表者
- 研究代表者
  
  高橋琢二
- 研究期間 (年度)
  2006 – 2008
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  薄膜・表面界面物性
- 研究機関
  東京大学
ナノプローブを用いたInAs微細構造の表面近傍電子状態評価と電子伝導機構の解明研究代表者
- 研究代表者
  
  高橋琢二
- 研究期間 (年度)
  2001 – 2002
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  表面界面物性
- 研究機関
  東京大学
半導体ミクロおよびナノ・グレイン物質の物性支配機構の解明と制御の研究
- 研究代表者
  
  榊裕之
- 研究期間 (年度)
  2000 – 2002
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  電子・電気材料工学
- 研究機関
  東京大学
ナノ構造内の電子遷移の新制御法と近赤外・中赤外域光変調機能デバイスの開発
- 研究代表者
  
  榊裕之
- 研究期間 (年度)
  1999 – 2001
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  電子デバイス・機器工学
- 研究機関
  東京大学
10ナノメートル級半導体量子箱の電子状態の解明とメモリー機能の探索
- 研究代表者
  
  榊裕之
- 研究期間 (年度)
  1997 – 1998
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  電子デバイス・機器工学
- 研究機関
  東京大学
機能性半導体探針を有する新しい走査トンネル顕微鏡による電子エネルギ分光計測研究代表者
- 研究代表者
  
  高橋琢二
- 研究期間 (年度)
  1997 – 1998
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  電子デバイス・機器工学
- 研究機関
  東京大学
レーザ光照射・走査型プローブ顕微鏡を用いた半導体極微細構造の特性評価研究代表者
- 研究代表者
  
  高橋琢二
- 研究期間 (年度)
  1996
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  電子・電気材料工学
- 研究機関
  東京大学
レーザ光励起STMによる半導体極微細構造の特性評価研究代表者
- 研究代表者
  
  高橋琢二
- 研究期間 (年度)
  1995
- 研究種目
  
  一般研究(C)
- 研究分野
  
  電子・電気材料工学
- 研究機関
  東京大学
ナノスケール量子細線の構造制御と一次元励起子の光学特性
- 研究代表者
  
  榊裕之
- 研究期間 (年度)
  1995 – 1996
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  電子・電気材料工学
- 研究機関
  東京大学
ヘテロカップリングを用いた電子速度変調効果と赤外線検出器及びFETへの応用
- 研究代表者
  
  榊裕之
- 研究期間 (年度)
  1995 – 1997
- 研究種目
  
  基盤研究(A)
- 研究分野
  
  電子デバイス・機器工学
- 研究機関
  東京大学
歪量子マイクロ構造を有する超高性能半導体レーザの基礎研究
- 研究代表者
  
  荒川泰彦
- 研究期間 (年度)
  1993 – 1994
- 研究種目
  
  一般研究(B)
- 研究分野
  
  電子デバイス・機器工学
- 研究機関
  東京大学
量子井戸細線構造及び量子井戸箱構造を伴う新しい半導体レ-ザに関する研究
- 研究代表者
  
  荒川泰彦
- 研究期間 (年度)
  1988 – 1990
- 研究種目
  
  国際学術研究
- 研究機関
  東京大学

[雑誌論文] Accurate Electrostatic Force Measurements by Atomic Force Microscopy Using Proper Distance Control2023
- 著者名/発表者名
  Fukuzawa Ryota、Kobayashi Daichi、Takahashi Takuji
- 雑誌名
  
  IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
  
  巻: 72 ページ: 1-8
- DOI
  10.1109/tim.2023.3256473
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K22788
[雑誌論文] Effect of Cesium for Cu(In,Ga)(S,Se)$_{2}$ Solar Cells Using Photothermal Atomic Force Microscopy Under Various Photoexcitation Conditions2022
- 著者名/発表者名
  Yamada Ayaka、Takahashi Takuji
- 雑誌名
  
  IEEE Journal of Photovoltaics
  
  巻: 12 号: 6 ページ: 1303-1307
- DOI
  10.1109/jphotov.2022.3208713
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K22788
[雑誌論文] Multi-pulse modulation method in photothermal atomic force microscopy for variable frequency modulation of incident light2021
- 著者名/発表者名
  Yamada Ayaka、Takahashi Takuji
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics
  
  巻: 60 号: SE ページ: SE1003-SE1003
- DOI
  10.35848/1347-4065/abf07b
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[雑誌論文] Dual Bias Modulation Electrostatic Force Microscopy on Cu(In, Ga)Se22020
- 著者名/発表者名
  Fukuzawa Ryota, Minemoto Takashi, Takahashi Takuji
- 雑誌名
  
  Proceedings of 2020 47th IEEE Photovoltaic Specialists Conference (PVSC)
  
  巻: 00 ページ: 0394-0396
- DOI
  10.1109/pvsc45281.2020.9300457
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[雑誌論文] Development of dual bias modulation electrostatic force microscopy for variable frequency measurements of capacitance2020
- 著者名/発表者名
  Fukuzawa Ryota, Takahashi Takuji
- 雑誌名
  
  Review of Scientific Instruments
  
  巻: 91 号: 2 ページ: 023702-023702
- DOI
  10.1063/1.5127219
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[雑誌論文] Direct imaging method of frequency response of capacitance in dual bias modulation electrostatic force microscopy2020
- 著者名/発表者名
  Fukuzawa Ryota, Takahashi Takuji
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics
  
  巻: 59 号: 7 ページ: 078001-078001
- DOI
  10.35848/1347-4065/ab9ae0
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[雑誌論文] Photovoltage Decay Measurements by Photo-Assisted Kelvin Probe Force Microscopy on Cu(In,Ga)Se2 Solar Cells2019
- 著者名/発表者名
  Hyeondeuk Yong, Takashi Minemoto, Takuji Takahashi
- 雑誌名
  
  IEEE Journal of Photovoltaics
  
  巻: 9 号: 2 ページ: 483-491
- DOI
  10.1109/jphotov.2018.2885835
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[雑誌論文] Dependence of Photovoltage on Incident Photon Energies Investigated by Photo-assisted Kelvin Probe Force Microscopy on Cu(In,Ga)Se2 Solar Cells2018
- 著者名/発表者名
  Hyeondeuk Yong, Takashi Minemoto, Takuji Takahashi
- 雑誌名
  
  2018 IEEE 7th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion (WCPEC)
  
  巻: 1 ページ: 1966-1969
- DOI
  10.1109/pvsc.2018.8547957
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[雑誌論文] Local Measurements of Surface Capacitance by Electrostatic Force Microscopy on Cu(In,Ga)Se2 Materials2017
- 著者名/発表者名
  Tomoaki Ishii, Takashi Minemoto, and Takuji Takahashi
- 雑誌名
  
  Proceedings of 2017 IEEE 44th Photovoltaic Specialist Conference (PVSC)
  
  巻: 1 ページ: 455-458
- DOI
  10.1109/pvsc.2017.8366110
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[雑誌論文] An Investigation of Band Profile around the Grain Boundary of Cu(InGa)Se2 Solar Cell Material by Scan- ning Probe Microscopy2013
- 著者名/発表者名
  M. Takihara, T. Minemoto, Y. Wakisa- ka, and T. Takahashi
- 雑誌名
  
  Prog. Photovolt:Res. Appl.
  
  巻: 21 号: 4 ページ: 595-599
- DOI
  10.1002/pip.1235
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[雑誌論文] Photo- thermal Signal and Surface Potential around Grain Boundaries in Multicrys- talline Silicon Solar Cells Investigated by Scanning Probe Microscopy2012
- 著者名/発表者名
  K. Hara and T. Takahashi
- 雑誌名
  
  Appl. Phys. Express
  
  巻: 5 号: 2 ページ: 22301-22301
- DOI
  10.1143/apex.5.022301
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[雑誌論文] Photo- thermal Spectroscopy on Multicrystalline Silicon Solar Cell Materials by Dual Sam- pling Method in Atomic Force Microscopy2012
- 著者名/発表者名
  K. Hara and T. Takahashi
- 雑誌名
  
  Proceedings of 38th IEEE Photovoltaic Specialists Conference PVSC 38
  
  巻: - ページ: 1271-1273
- DOI
  10.1109/pvsc.2012.6317833
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[雑誌論文] Photovoltage Decay Measurements on Cu(In,Ga)Se2 Solar Cells by Photo-assisted Kelvin Probe Force Mi- croscopy2012
- 著者名/発表者名
  Y. Nakajima, M. Takihara, T. Minemoto, and T. Takahashi
- 雑誌名
  
  Proceedings of 38th IEEE Photovoltaic Specialists Conference PVSC 38
  
  巻: - ページ: 1736-1738
- DOI
  10.1109/pvsc.2012.6317930
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[雑誌論文] Photothermal Signal and Surface Potential around Grain Boundaries in Multicrystalline Silicon Solar Cells Investigated by Scanning Probe Microscopy2012
- 著者名/発表者名
  Kenji Hara, Takuji Takahashi
- 雑誌名
  
  Appl.Phys.Express
  
  巻: 5
- NAID
  10030155404
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[雑誌論文] Photoassisted Kelvin Probe Force Microscopy on Multicrystalline Si Solar Cell Materials2011
- 著者名/発表者名
  Takuji Takahashi
- 雑誌名
  
  Jpn.J.Appl.Phys.
  
  巻: 50
- NAID
  210000071129
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[雑誌論文] Photoassisted Kelvin Probe Force Microscopy on Multicrystal- line Si Solar Cell Materials2011
- 著者名/発表者名
  T. Takahashi
- 雑誌名
  
  Jpn. J. Appl. Phys.
  
  巻: 50 号: 8S3 ページ: 1387-1389
- DOI
  10.1143/jjap.50.08la05
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[雑誌論文] Band Pro- file aroundGrain Boundary of Cu(InGa)Se2 Solar CellMaterials Characterized by Scanning Probe Microscopy2010
- 著者名/発表者名
  M. Takihara, T. Minemoto, Y. Wakisaka, and T. Takahashi
- 雑誌名
  
  Proceedings of 35th IEEE Photovoltaic Specialists Con- ference (PVSC)
  
  ページ: 2512-2515
- DOI
  10.1109/pvsc.2010.5614681
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[雑誌論文] Photothermal Characterization by Atomic Force Microscopy around Grain Boundary in Multicrystalline Silicon Material2010
- 著者名/発表者名
  Kenji Hara, Takuji Takahashi
- 雑誌名
  
  Proceedings of 35th IEEE Photovoltaic Specialists Conference (PVSC)
  
  ページ: 1387-1389
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[雑誌論文] Band profile around grain boundary of Cu(InGa) Se2 solar cell materials characterized by scanning probe microscopy2010
- 著者名/発表者名
  Masaki Takihara, Takashi Minemoto, Youichi Wakisaka, Takuji Takahashi
- 雑誌名
  
  Proceedings of 35th IEEE Photovoltaic Specialists Conference (PVSC)
  
  ページ: 2512-2515
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[雑誌論文] Band profile around grain boundary of Cu (InGa) Se2 solar cell materials characterized by scanning probe microscopy2010
- 著者名/発表者名
  Masaki Takihara, Takashi Minemoto, Youichi Wakisaka, Takuji Takahashi
- 雑誌名
  
  Proceedings of 35th IEEE Photovoltaic Specialists Conference (PVSC)
  
  ページ: 2512-2515
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[雑誌論文] Study of minority carrier diffusion length in multicrystalline silicon solar cells using photoassisted Kelvin probe force microscopy2009
- 著者名/発表者名
  Masaki Takihara, Takuji Takahashi, Toru Ujihara
- 雑誌名
  
  Applied Physics Letters 95
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[雑誌論文] Improvement of KFM Performance by Intermittent Bias Application Method and by Sampling Detection of Cantilever Deflection2009
- 著者名/発表者名
  T. Takahashi, T. Matsumoto, S. Ono
- 雑誌名
  
  Ultramicroscopy 109
  
  ページ: 963-967
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[雑誌論文] Study of Minority Carrier Diffusion Length in Multicrystalline Silicon Solar Cells Using Photoassisted Kelvin Probe Force Microscopy2009
- 著者名/発表者名
  Masaki Takihara, Takuji Takahashi, Toru Ujihara
- 雑誌名
  
  Applied Physics Letters
  
  巻: 95
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[雑誌論文] Study of Minority Carrier Dif- fusion Length in Multicrystalline Silicon Solar Cells Using Photoassisted Kelvin Probe Force Microscopy2009
- 著者名/発表者名
  M. Takihara, T. Takahashi, and T. Ujihara
- 雑誌名
  
  Appl. Phys. Lett.
  
  巻: 95 号: 19 ページ: 191908-191908
- DOI
  10.1063/1.3264081
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[雑誌論文] Study of minority carrier diffusion length in multicrystalline silicon solar cells using photoassisted Kelvin probe force microscopy2009
- 著者名/発表者名
  M. Takihara, T. Takahashi, T. Ujihara
- 雑誌名
  
  Appl.Phys.Lett. 95
  
  ページ: 191908-191908
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[雑誌論文] Improvement of KFM Performance by Intermittent Bias Application Method and by Sampling Detection of Cantilever Deflection2009
- 著者名/発表者名
  Takuji Takahashi, Tadahisa Matsumoto, Shiano Ono
- 雑誌名
  
  Ultramicroscopy 109
  
  ページ: 963-697
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[雑誌論文] Minority Carrier Lifetime in Polycrystalline Silicon Solar Cells Studied by Photoassisted Kelvin Probe Force Microscopy2008
- 著者名/発表者名
  Masaki Takihara, Takuji Takahashi, Toru Ujihara
- 雑誌名
  
  Applied Physics Letters 93
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[雑誌論文] Minority carrier lifetime in polycrystalline silicon solar cells studied by photoassisted Kelvin probe force microscopy2008
- 著者名/発表者名
  M. Takihara, T. Ujihara, T. Takahashi
- 雑誌名
  
  Applied Physics Letters 93
  
  ページ: 21902-21902
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[雑誌論文] Minority Carrier Lifetime in Polycrystalline Silicon Solar Cells Studied by Photoassisted Kelvin Probe Force Microscopy2008
- 著者名/発表者名
  M. Takihara, T. Takahashi, T. Ujihara
- 雑誌名
  
  Appl.Phys.Lett. 93
  
  ページ: 21902-21902
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[雑誌論文] Photovoltage Mapping on Polycrystalline Silicon Solar Cells by Kelvin Probe Force Microscopy with Piezoresistive Cantilever2007
- 著者名/発表者名
  M. Takihara, T. Igarashi, T. Ujihara, T. Takahashi
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics 46
  
  ページ: 5548-5551
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[雑誌論文] Photovoltage Mapping on Polycrystalline Silicon Solar Cells by KFM with Piezo-resistive Cantilever2007
- 著者名/発表者名
  M.Takihara, T.Igarashi, T.Ujihara, T.Takahashi
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics (in press)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[雑誌論文] Photovoltage Mapping on Polycrystalline Silicon Solar Cells by Kelvin Probe Force Microscopy with Piezoresistive Cantilever2007
- 著者名/発表者名
  M. Takihara, T. Igarashi, T. Ujihara, T. Takahashi
- 雑誌名
  
  Jpn.J.Appl.Phys. 46
  
  ページ: 5548-5551
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[雑誌論文] Scanning Probe Methods for Characterization of Electrical Properties in Nano-materials2006
- 著者名/発表者名
  Takuji Takahashi
- 雑誌名
  
  Proceedings on 6th Pacific Rim Conference on Ceramic and Glass Technology
  
  ページ: 163-163
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[雑誌論文] Scanning Probe Methods for Characterization of Electrical Properties in Nano-materials2006
- 著者名/発表者名
  T. Takahashi
- 雑誌名
  
  Proceedings on 6th Pacific Rim Conference on Ceramic and Glass Technology 163
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[雑誌論文] Light-illuminated STM Studies on Photoabsorption in InAs Nanowires2003
- 著者名/発表者名
  Takuji Takahashi, Kan Takada, Misaichi Takeuchi
- 雑誌名
  
  Ultramicroscopy 97
  
  ページ: 1-6
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13650024
[雑誌論文] 交流電流が作るGaAs/AlGaAsメサストライブ周辺磁界の磁気万顕微鏡観察2003
- 著者名/発表者名
  才田大輔、高橋琢二
- 雑誌名
  
  電子情報通信学会論文誌C J86
  
  ページ: 204-205
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13650024
[雑誌論文] Current-induced Magnetic Field Detection by Magnetic Force Microscopy around a GaAs/AlGaAs Mesa Stripe2003
- 著者名/発表者名
  Daisuke Saida, Takuji Takahashi
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics 42
  
  ページ: 4874-4877
- NAID
  10011447096
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13650024
[雑誌論文] Current-induced Magnetic Field Detection by Magnetic Force Microscopy around a GaAs/AlGaAs Mesa Stripe2003
- 著者名/発表者名
  Daisuke Saida, Takuji Takahashi
- 雑誌名
  
  Jpn.J.Appl.Phys. Vol.42
  
  ページ: 4874-4877
- NAID
  10011447096
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13650024
[雑誌論文] Current-induced Magnetic Field around a GaAs/AlGaAs Mesa Stripe Studied by Magnetic Force Microscopy2003
- 著者名/発表者名
  Daisuke Saida, Takuji Takahashi
- 雑誌名
  
  Tran.of IEICE, C Vol.J86
  
  ページ: 204-205
- NAID
  110003172116
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13650024
[雑誌論文] Surface Potential Imaging on InAs Quantum Dots and InAs Thin Films by Kelvin Probe Force Microscopy Operated in High Vacuum2003
- 著者名/発表者名
  Shiano Ono, Misaichi Takeuchi, Takuji Takahashi
- 雑誌名
  
  Jpn.J.Appl.Phys. Vol.42
  
  ページ: 4869-4873
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13650024
[雑誌論文] Surface Potential Imaging on InAs Quantum Dots and InAs Thin Films by Kelvin Probe Force Microscopy Operated in High Vacuum2003
- 著者名/発表者名
  Shiano Ono, Misaichi Takeuchi, Takuji Takahashi
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics 42
  
  ページ: 4869-4873
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13650024
[雑誌論文] Light-illuminated STM Studies on Photoabsorption in InAs Nanowires2003
- 著者名/発表者名
  Takuji Takahashi, Kan Takada, Misaichi Takeuchi
- 雑誌名
  
  Ultramicroscopy vol.97
  
  ページ: 1-6
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13650024
[雑誌論文] Current and Potential Characterization on InAs Nanowires by Contact-mode Atomic Force Microscopy and Kelvin Probe Force Microscopy2002
- 著者名/発表者名
  Shiano Ono, Misaichi Takeuchi, Takuji Takahashi
- 雑誌名
  
  Ultramicroscopy Vol.91
  
  ページ: 127-132
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13650024
[雑誌論文] Current and Potential Characterization on InAs Nanowires by Contact-mode Atomic Force Microscopy and Kelvin Probe Force Microscopy2002
- 著者名/発表者名
  Shiano Ono, Misaichi Takeuchi, Takuji Takahashi
- 雑誌名
  
  Ultramicroscopy 91
  
  ページ: 127-132
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13650024
[雑誌論文] Photoabsorption Characterization on Surface InAs Nanostructures Using Light-illuminated STM2002
- 著者名/発表者名
  Kan Takada, Misaichi Takeuchi, Takuji Takahashi
- 雑誌名
  
  Jpn.J.Appl.Phys. Vol.41
  
  ページ: 4990-4993
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13650024
[雑誌論文] Photoabsorptton Characterization on Surface InAs Nanostructures Using Light-Illuminated Scanning Tunneling Microscope2002
- 著者名/発表者名
  Kan Takada, Misaichl Takeuchi, Takuji Takahashi
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics 41
  
  ページ: 4990-4993
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-13650024
[学会発表] AM距離制御を用いたFM-EFMの有効性の検証2023
- 著者名/発表者名
  福澤亮太，小林大地，高橋琢二
- 学会等名
  第70回応用物理学会春季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K22788
[学会発表] Photo-assisted Scanning Probe Microscopy on Solar Cells2022
- 著者名/発表者名
  Takuji Takahashi
- 学会等名
  LIMMS-IEMN Workshop
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K22788
[学会発表] Photo-assisted Scanning Probe Methods on Solar Cells2022
- 著者名/発表者名
  Takuji Takahashi
- 学会等名
  International Workshop on Micro- and Nano-Technologies for Energy, Bio-engineering and Bio-sensing
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K22788
[学会発表] Verification of Time-resolved EFM Combined with KFM2022
- 著者名/発表者名
  Jo Sato and Takuji Takahashi
- 学会等名
  2022 NAMIS Marathon Workshop
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K22788
[学会発表] ケルビン・プローブ・フォース法を併用した時間分解静電引力顕微鏡2022
- 著者名/発表者名
  佐藤捷，高橋琢二
- 学会等名
  第83回応用物理学会秋季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K22788
[学会発表] Investigation of Cs Treatment Effect on Cu(In,Ga)(S,Se)2 Solar Cell from Non-radiative Recombination Distribution under Various Photoexcitation Conditions Using Photothermal Atomic Force Microscopy2022
- 著者名/発表者名
  Ayaka Yamada and Takuji Takahashi
- 学会等名
  the 49th IEEE Photovoltaic Specialists Conference
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K22788
[学会発表] Observation of Nonradiative Recombination on Cu(In,Ga)(S,Se)2 Solar Cells using Photothermal Atomic Force Microscopy2022
- 著者名/発表者名
  Ayaka Yamada and Takuji Takahashi
- 学会等名
  2022 NAMIS Marathon Workshop
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K22788
[学会発表] Cu(In,Ga)(S,Se)2太陽電池に対するCs処理効果の光熱モードAFMによる検討2022
- 著者名/発表者名
  山田綾果、高橋琢二
- 学会等名
  第69回応用物理学会春季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] Photothermal Atomic Force Microscopy on Cu(In,Ga)(S,Se)2 Solar Cell Materials to Investigate CsF Treatment Effect2022
- 著者名/発表者名
  Ayaka Yamada and Takuji Takahashi
- 学会等名
  The 22nd International Vacuum Congress
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K22788
[学会発表] 周波数変調型静電引力顕微鏡法によるキャリア密度の定量測定2022
- 著者名/発表者名
  福澤亮太, 梁剣波, 重川直輝, 高橋琢二
- 学会等名
  第69回応用物理学会春季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] Multi-pulse変調を用いた光熱モードAFMによる非発光再結合の変調周波数依存性測定2021
- 著者名/発表者名
  山田綾果、高橋琢二
- 学会等名
  第68回応用物理学会春季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] Time-resolved photo-assisted Kelvin probe force microscopy on Cu(In,Ga)Se2 solar cells2021
- 著者名/発表者名
  Tomoe Kuroiwa, Takuji Takahashi
- 学会等名
  29th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM29)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] ジュール熱の外部変調を利用した非接触型抵抗原子間力顕微鏡法2021
- 著者名/発表者名
  福澤亮太、高橋琢二
- 学会等名
  第82回応用物理学会秋季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] 二重バイアス変調静電引力顕微鏡による直接貼り合わせp-n接合の断面解析2021
- 著者名/発表者名
  福澤亮太, 梁剣波, 重川直輝, 高橋琢二
- 学会等名
  第68回応用物理学会春季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] Quantitative Capacitance Measurements in Frequency Modulation Electrostatic Force Microscopy2021
- 著者名/発表者名
  Ryota Fukuzawa, Takuji Takahashi
- 学会等名
  29th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM29)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] 光照射ケルビンプローブフォース顕微鏡によるCu(In,Ga)Se2太陽電池での時間分解光起電力計測2021
- 著者名/発表者名
  黒岩朋恵、高橋琢二
- 学会等名
  第82回応用物理学会秋季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] 原子間力顕微鏡を用いた静電引力検出による局所静電容量の定量測定2021
- 著者名/発表者名
  福澤亮太、高橋琢二
- 学会等名
  応用物理学会 KOSEN SC 第3回 VR学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] Time-resolved Photovoltaic Measurements by Photo-assisted Kelvin Probe Force Microscopy2021
- 著者名/発表者名
  Tomoe Kuroiwa, Ryota Ishibashi, Takuji Takahashi
- 学会等名
  The 5th international symposium on “Elucidation of Next Generation Functional Materials・Surface and Interface Properties"
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] 周波数変調型静電引力顕微鏡における静電容量の定量測定に向けた金属-半導体間の静電引力と周波数シフト量の関係の定式化2021
- 著者名/発表者名
  福澤亮太、高橋琢二
- 学会等名
  第82回応用物理学会秋季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] 光熱モードAFMによる非発光再結合局所分布計測を用いたCu(In,Ga)(S,Se)2に対するCs処理効果の検討2020
- 著者名/発表者名
  山田綾果、高橋琢二
- 学会等名
  第81回応用物理学会秋季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] Photo-assisted Scanning Probe Microscopy on Solar Cell Materials2020
- 著者名/発表者名
  Takuji Takahashi
- 学会等名
  Seoul National Univ.(SNU)/IIS, The Univ.of Tokyo Joint Woprkshop on Innovative Micro/Nano systems
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] 導電性ナノプローブ用いた静電引力測定によるCu(In,Ga)Se2中のCd拡散効果の解析2020
- 著者名/発表者名
  福澤亮太、峯元高志、高橋琢二
- 学会等名
  第81回応用物理学会秋季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] 間欠バイアス印加ケルビンプローブフォース顕微鏡による時間分解計測2020
- 著者名/発表者名
  石橋亮太、高橋琢二
- 学会等名
  第81回応用物理学会秋季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] Dual Bias Modulation Electrostatic Force Microscopy on Cu(In,Ga)Se22020
- 著者名/発表者名
  Ryota Fukuzawa, Takashi Minemoto, Takuji Takahashi
- 学会等名
  2020 47th IEEE Photovoltaic Specialists Conference (PVSC)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] Time resolved Kelvin Probe Force Microscopy with Intermittent Bias Application Method2020
- 著者名/発表者名
  Ryota Ishibashi, Takuji Takahashi
- 学会等名
  28th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM28)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] Time-resolved measurements by Kelvin probe force microscopy with intermittent bias application2020
- 著者名/発表者名
  Ryota Ishibashi, Takuji Takahashi
- 学会等名
  2020 NAMIS MARATHON WORKSHOP
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] 二重バイアス変調静電引力顕微鏡における可変周波数静電容量測定2020
- 著者名/発表者名
  福澤亮太、高橋琢二
- 学会等名
  応用物理学会 KOSEN SC 第1回 VR学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] Investigation on local non-radiative recombination property in Cu(In,Ga)(S,Se)2 by photothermal AFM2020
- 著者名/発表者名
  Ayaka Yamada, Takuji Takahashi
- 学会等名
  2020 NAMIS MARATHON WORKSHOP
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] Multi-pulse Modulation Method in Photothermal Atomic Force Microscopy2020
- 著者名/発表者名
  Ayaka Yamada, Takuji Takahashi
- 学会等名
  28th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM28)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] 二重バイアス変調静電引力顕微鏡によるCu(In,Ga)Se2上での局所的容量測定2020
- 著者名/発表者名
  福澤亮太, 峯元高志, 高橋琢二
- 学会等名
  第67回応用物理学会春季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] 光熱モードAFMによる非発光再結合特性評価を通じたCu(In,Ga)(S,Se)2に対するCs処理効果の検討2020
- 著者名/発表者名
  山田綾果、高橋琢二
- 学会等名
  応用物理学会 KOSEN SC 第1回 VR学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] 走査プローブ顕微鏡の基礎と応用2020
- 著者名/発表者名
  高橋琢二
- 学会等名
  応用物理学会 KOSEN SC 第1回 VR学術講演会
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] 光熱モードAFMによるCu(In,Ga)(S,Se)2における非発光再結合特性の評価2019
- 著者名/発表者名
  山田綾果, 高橋琢二
- 学会等名
  第80回応用物理学会秋季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] Dual Bias Modulation Method for Variable Frequency Measurements in Electrostatic Force Microscopy2019
- 著者名/発表者名
  Ryota Fukuzawa and Takuji Takahashi
- 学会等名
  The 21th International Scanning Probe Microscopy Conference (ISPM 2019)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] Dual Bias Modulation Electrostatic Force Microscopy for Variable Frequency2019
- 著者名/発表者名
  Ryota Fukuzawa and Takuji Takahashi
- 学会等名
  NAMIS Marathon Workshop
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] Photo-assisted Scanning Probe Methods on Solar Cell Materials2019
- 著者名/発表者名
  Takuji Takahashi
- 学会等名
  The 8th LIA NextPV International Workshop
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] 二重バイアス変調静電引力顕微鏡における可変周波数測定2019
- 著者名/発表者名
  福澤亮太, 高橋琢二
- 学会等名
  第80回応用物理学会秋季学術講演会
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] Valuable Frequency Measurements of dC/dV by Electrostatic Force Microscopy on Cu(In,Ga)(S,Se)22019
- 著者名/発表者名
  Ryota Fukuzawa and Takuji Takahashi
- 学会等名
  LIMMS-Next PV Joint Energy Workshop
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] 二重バイアス変調静電引力顕微鏡による周波数応答の直接画像化2019
- 著者名/発表者名
  福澤亮太, 高橋琢二
- 学会等名
  第80回応用物理学会秋季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] Non-radiative Recombination Properties in Cu(In,Ga)(S,Se)2 Investigated by Photothermal AFM2019
- 著者名/発表者名
  Ayaka Yamada and Takuji Takahashi
- 学会等名
  The 27th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM27)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] Investigation on Non-radiative Recombination Property in Cu(In,Ga)(S,Se)2 by Photothermal AFM2019
- 著者名/発表者名
  Ayaka Yamada and Takuji Takahashi
- 学会等名
  NAMIS Marathon Workshop
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] Photo-assisted Scanning Probe Methods on Solar Cell Materials2019
- 著者名/発表者名
  Takuji Takahashi
- 学会等名
  LIMMS-Next PV Joint Energy Workshop
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] Direct Imaging Method of Frequency Response in Dual Bias Modulation Electrostatic Force Microscopy2019
- 著者名/発表者名
  Ryota Fukuzawa and Takuji Takahashi
- 学会等名
  The 27th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM27)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] Dual Bias Modulation Electrostatic Force Microscopy for Variable Frequency Analyses2019
- 著者名/発表者名
  Takuji Takahashi
- 学会等名
  The 4th International Symposium on "Elucidation of Property of Next Generation Functional Materials and Surface/Interface"
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] Photo-assisted Kelvin Probe Force Microscopy on Cu(In,Ga)Se2 Solar Cells2018
- 著者名/発表者名
  Takuji Takahashi
- 学会等名
  The 3rd international symposium on “Recent Trends in Elucidation and Function Discovery on Next Generation Functional Materials ・ Surface/Interface Properties”
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] Photo-assisted Kelvin Probe Force Microscopy on Cu(In,Ga)Se2 Solar Cells under Light with Various Photon Energies2018
- 著者名/発表者名
  Hyeondeuk Yong, Takashi Minemoto, and Takuji Takahashi
- 学会等名
  The 20th International Scanning Probe Microscopy Conference (ISPM 2018)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] Photo-assisted Scanning Probe Methods on Solar Cells2018
- 著者名/発表者名
  Takuji Takahashi
- 学会等名
  LIMMS/CNRS-IIS and UTC Joint Workshop
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] Photo-assisted Scanning Probe Microscopy on Cu(In,Ga)Se2 Solar Cells2018
- 著者名/発表者名
  Takuji Takahashi
- 学会等名
  CNRS GDRe Thermal Nanosciences and Nano Engineering
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] Dependence of Photovoltage on Incident Photon Energies Investigated by Photo-assisted Kelvin Probe Force Microscopy on Cu(In,Ga)Se2 Solar Cells2018
- 著者名/発表者名
  Hyeondeuk Yong, Takashi Minemoto, and Takuji Takahashi
- 学会等名
  The 7th Edition of the World Conference on Photovoltaic Energy Conversion (WCPEC-7)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] Dual Bias Modulation in EFM for Vanable Frequency Measurements of dC/dV2018
- 著者名/発表者名
  Ryota Fukuzawa and Takuji Takahashi
- 学会等名
  14th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures (ACSIN-14) & 26th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM26)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] Photothermal Measurements by AFM on Cu(In,Ga)Se2 Materials2017
- 著者名/発表者名
  Risa Komatsu, Yasushi Hamamoto, Takashi Minemoto, and Takuji Takahashi
- 学会等名
  International Scanning Probe Microscopy Conference (Kyoto 2017)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] Photo-carrier Recombination Properties in Cu(In,Ga)Se2 Solar Cells Investigated by Photo-assisted KFM under Various Illumination Conditions2017
- 著者名/発表者名
  Hyeondeuk Yong, Takashi Minemoto, and Takuji Takahashi
- 学会等名
  25th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM25)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] Local Measurements of Surface Capacitance by Electrostatic Force Microscopy on Cu(In,Ga)Se2 Materials2017
- 著者名/発表者名
  Tomoaki Ishii, Takashi Minemoto, and Takuji Takahashi
- 学会等名
  2017 IEEE 44th Photovoltaic Specialist Conference (PVSC)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] Photovoltaic Measurements on Cu(In,Ga)Se2 Solar Cells by Photo-assisted KFM under Various Illumination Conditions2017
- 著者名/発表者名
  Hyeondeuk Yong, Takashi Minemoto, and Takuji Takahashi
- 学会等名
  International Scanning Probe Microscopy Conference (Kyoto 2017)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] Photothermal-mode AFM on Cu(In,Ga)Se2 Materials2017
- 著者名/発表者名
  Risa Komatsu, Takashi Minemoto, and Takuji Takahashi
- 学会等名
  25th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM25)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H02783
[学会発表] AFM 光熱分光法による Cu(In,Ga)Se2 太陽電池における非発光再結合の観測2013
- 著者名/発表者名
  浜本寧,原賢二,峯元高志,高橋琢二
- 学会等名
  第60回応用物理学会春季学術講演会
- 発表場所
  厚木
- 年月日
  2013-03-28
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] P-KFM による CIGS 太陽電池における光励起キャリア再結合プロセスの評価2013
- 著者名/発表者名
  龍顯得,中島悠,峯元高志,高橋琢二
- 学会等名
  第60回応用物理学会春季学術講演会
- 発表場所
  厚木
- 年月日
  2013-03-28
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Local PhotothermalMeasurements by AFM on Cu(In,Ga)Se2Solar Cells2012
- 著者名/発表者名
  Y. Hamamoto, K. Hara, T. Minemoto, and T. Takahashi
- 学会等名
  20th International Colloqui- um on Scanning Probe Microscopy (ICSPM20)
- 発表場所
  Naha, Japan
- 年月日
  2012-12-17
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] ScanningProbe Analyses on Cu(In,Ga)Se2 Solar CellMaterials2012
- 著者名/発表者名
  M. Takihara, K. Hara, Y. Nakajima, T. Minemoto, and T. Takahashi
- 学会等名
  Seeing at the Nanoscale 2012
- 発表場所
  Bristol, U.K.
- 年月日
  2012-07-10
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Cu(InGa)Se2薄膜に対するAFM光熱分光測定2012
- 著者名/発表者名
  原賢二, 峯元高志, 高橋琢二
- 学会等名
  第59回応用物理学会関係連合講演会
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2012-03-17
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Photovoltage DecayMeasurements by Photo-assisted KelvinProbe Force Microscopy on Cu(In,Ga)Se2Solar Cells2012
- 著者名/発表者名
  T. Takahashi
- 学会等名
  4th Multifrequency AFM Con- ference, Oral 16
- 発表場所
  Madrid, Spain
- 年月日
  2012-10-16
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] CIGS太陽電池における光起電力減衰時定数と再結合プロセス2012
- 著者名/発表者名
  中島悠、峯元高志、高橋琢二
- 学会等名
  第59回応用物理学会関係連合講演会
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2012-03-17
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Photovolt-age Decay Measurements on Cu(In,Ga)Se2Solar Cells by Photo-assisted Kelvin Probe Force Microscopy2012
- 著者名/発表者名
  Y. Nakajima, M. Takihara, T. Minemoto, and T. Takahashi
- 学会等名
  38th IEEE Photovoltaic Specialists Conference (PVSC 38)
- 発表場所
  Austin, U.S.A.
- 年月日
  2012-06-06
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] 「AFM 光熱分光法による Cu(In,Ga)Se2 薄膜中ギャップ内準位の観測」2012
- 著者名/発表者名
  浜本寧,原賢二,峯元高志,高橋琢二
- 学会等名
  第73回応用物理学会学術講演会
- 発表場所
  松山
- 年月日
  2012-09-12
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] SPM を用いた太陽電池材料の多角的評価2012
- 著者名/発表者名
  高橋琢二
- 学会等名
  第17回結晶工学セミナー「物理・化学分析の最先端技術を基礎から理解する」-グリーンデバイス材料を中心に-
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2012-12-05
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Local Photothermal Measurement by AFM around Grain Boundaries in Multicrys- talline Si Solar Cell2012
- 著者名/発表者名
  K. Hara and T. Takahashi
- 学会等名
  International Con- ference on Nanoscience + Technology (ICN+T2012)
- 発表場所
  Paris, France
- 年月日
  2012-07-25
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Photovoltage Decay Measurements by P-KFM on Cu(In,Ga)Se2Solar Cells2012
- 著者名/発表者名
  H. Yong, Y. Nakajima, T. Minemoto, and T. Takahashi
- 学会等名
  20th International Colloqui- um on Scanning Probe Microscopy (ICSPM20)
- 発表場所
  Naha, Japan
- 年月日
  2012-12-19
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Photo- thermal Spectroscopy on Multicrystalline Silicon Solar Cell Materials by Dual Sam- pling Method in Atomic Force Microscopy2012
- 著者名/発表者名
  K. Hara and T. Takahashi
- 学会等名
  38th IEEE Photovoltaic Specialists Con- ference (PVSC 38)
- 発表場所
  Austin, U.S.A.
- 年月日
  2012-06-05
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] CIGS 太陽電池における光起電力減衰時定数と再結合プロセス2012
- 著者名/発表者名
  中島悠,峯元高志,高橋琢二
- 学会等名
  第59回応用物理学会関係連合講演会,17p-C1-10
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2012-03-17
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] P-KFM による CIGS 太陽電池における再結合プロセスの時定数測定2012
- 著者名/発表者名
  龍顯得,中島悠,峯元高志,高橋琢二
- 学会等名
  第73回応用物理学会学術講演会
- 発表場所
  松山
- 年月日
  2012-09-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Photo-assisted Kelvin Probe Force Microscopy onCu(In,Ga)Se2 Solar Cells2012
- 著者名/発表者名
  T. Takahashi, Y. Nakajima, M. Takihara, and T. Minemoto
- 学会等名
  (Invited), The14th International Scanning Probe Micros- copy Conference (Toronto 2012)
- 発表場所
  Toronto, Canada
- 年月日
  2012-06-17
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] 多結晶Si太陽電池に対する近赤外光照射下でのAFM光熱分光測定2012
- 著者名/発表者名
  原賢二, 高橋琢二
- 学会等名
  第59回応用物理学会関係連合講演会
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2012-03-17
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Cu(InGa)Se2薄膜に対する AFM 光熱分光測定2012
- 著者名/発表者名
  原賢二 , 峯元高志 , 高橋琢二
- 学会等名
  第59回応用物理学会関係連合講演会
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2012-03-17
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Photo- thermal and Potential Properties Inves- tigated by SPMs around Grain Boundary in Multicrystalline Si Solar Cell2011
- 著者名/発表者名
  K. Hara and T. Takahashi
- 学会等名
  Inter- national Scanning Probe Microscopy Con- ference (ISPM 2011)
- 発表場所
  Munich, Germany
- 年月日
  2011-06-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Local Characterization of Multicrystalline Silicon Solar Cells through Photothermal and Potential Measurements by Scanning Probe Microscopy2011
- 著者名/発表者名
  Kenji Hara, Takuji Takahashi
- 学会等名
  2011 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM 2011)
- 発表場所
  名古屋
- 年月日
  2011-09-30
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] 走査プローブ顕微鏡を用いた光熱/ポテンシャル測定による多結晶シリコン太陽電池の局所的評価2011
- 著者名/発表者名
  原賢二, 高橋琢二
- 学会等名
  第72回応用物理学会学術講演会
- 発表場所
  山形
- 年月日
  2011-09-01
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] CIGS太陽電池における光起電力減衰時定数測定2011
- 著者名/発表者名
  中島悠, 峯元高志, 高橋琢二
- 学会等名
  第72回応用物理学会学術講演会
- 発表場所
  山形
- 年月日
  2011-08-30
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Photovoltage Decay Inves- tigated by Photoassisted Kelvin ProbeForce Microscopy on Cu(In,Ga)Se2 SolarCells2011
- 著者名/発表者名
  Y. Nakajima, T. Minemoto, and T. Takahashi
- 学会等名
  19th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM19)
- 発表場所
  Hokkaido, Japan
- 年月日
  2011-12-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] SPMを利用した太陽電池材料の評価2011
- 著者名/発表者名
  高橋琢二
- 学会等名
  第21回格子欠陥フォーラム「格子欠陥が担うエネルギー・環境材料に関する挑戦課題」
- 発表場所
  富山(招待講演)
- 年月日
  2011-09-19
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Photothermal and Potential Properties Investigated by SPMs around Grain Boundary in Multicrystalline Si Solar Cel2011
- 著者名/発表者名
  Kenji Hara, Takuji Takahashi
- 学会等名
  International Scanning Probe Microscopy Conference (ISPM) 2011
- 発表場所
  Munich, Germany
- 年月日
  2011-06-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Local Photothermal Analysis around Grain Boundary in Multicrystalline Si Solar Cell by Atomic Force Microscopy2011
- 著者名/発表者名
  K. Hara and T. Takahashi
- 学会等名
  International Workshop on Scanning Probe Microscopy for Energy Applications 2011
- 発表場所
  Mainz, Germany
- 年月日
  2011-06-08
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Local Characterization of Multicrystalline Sili con Solar Cells through Photothermal and Potential Measurements by Scanning Probe Microscopy2011
- 著者名/発表者名
  K. Hara and T. Takahashi
- 学会等名
  2011 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM 2011)
- 発表場所
  Nagoya,Japan
- 年月日
  2011-09-30
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Characterization of Solar Cell Materials by SPMs2011
- 著者名/発表者名
  Takuji Takahashi
- 学会等名
  International Workshop on Scanning Probe Microscopy for Energy Applications 2011
- 発表場所
  Mainz, Germany(Invited)
- 年月日
  2011-06-08
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Local Photothermal Measurement by AFM under Near-Infrared Light around Grain Bound- aries in Multicrystalline Si Solar Cell2011
- 著者名/発表者名
  K. Hara and T. Takahashi
- 学会等名
  19th International Colloquium on Scan- ning Probe Microscopy (ICSPM19)
- 発表場所
  Hokkaido, Japan
- 年月日
  2011-12-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Characterization of Solar Cell Materials by SPMs2011
- 著者名/発表者名
  T. Takahashi
- 学会等名
  (Invited), International Workshop on Scanning Probe Microscopy for Energy Applications 2011
- 発表場所
  Mainz, Germany
- 年月日
  2011-06-08
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] SPM を利用した太陽電池材料の評価2011
- 著者名/発表者名
  高橋琢二
- 学会等名
  第21回格子欠陥フォーラム「格子欠陥が担うエネルギー・環境材料に関する挑戦課題」
- 発表場所
  富山
- 年月日
  2011-09-19
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Photothermal Signals on Multicrystalline Silicon Solar Cells Measured by Dual Sampling Method in Atomic Force Microscopy2011
- 著者名/発表者名
  Kenji Hara, Takuji Takahashi
- 学会等名
  16th International Conference on Photoacoustic and Photothermal Phenomena (ICPPP16)
- 発表場所
  Merida, Mexico
- 年月日
  2011-11-28
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Photovoltage Decay Investigated by Photoassisted Kelvin Probe Force Microscopy on Cu (In, Ga) Se2 Solar Cells2011
- 著者名/発表者名
  Yu Nakajima, Takashi Minemoto, Takuji Takahashii
- 学会等名
  19th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM19)
- 発表場所
  洞爺湖
- 年月日
  2011-12-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Photo- thermal and Potential Measurements by SPM around Grain Boundaries in Multi- crystalline Si Solar Cells2011
- 著者名/発表者名
  K. Hara and T. Takahashi
- 学会等名
  Seeing at the Nanoscale 2011
- 発表場所
  Santa Barbara, U.S.A.
- 年月日
  2011-07-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Photo- thermal Signals on Multicrystalline Silicon Solar Cells Measured by Dual Sampling Method in Atomic Force Microscopy2011
- 著者名/発表者名
  K. Hara and T. Takahashi
- 学会等名
  16th International Conference on Photoacoustic and Photothermal Phenomena (ICPPP16)
- 発表場所
  Merida, Mexico
- 年月日
  2011-11-28
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Local Photothermal Analysis around Grain oundary in Multicrystalline Si Solar Cell by Atomic Force Microscopy2011
- 著者名/発表者名
  Kenji Hara, Takuji Takahashi
- 学会等名
  International Workshop on Scanning Probe Microscopy for Energy Applications 2011
- 発表場所
  Mainz, Germany
- 年月日
  2011-06-08
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Photo- thermal and Potential Properties around Grain Boundary in Multicrystalline Si Solar Cell Studied by AFM2010
- 著者名/発表者名
  K. Hara and T. Takahashi
- 学会等名
  18th Inter- national Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM 18)
- 発表場所
  Atagawa, Japan
- 年月日
  2010-12-09
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] ScanningProbe Microscopy on Cu(InGa)Se2 SolarCell Material to Analyze Band Profile around Grain Boundary2010
- 著者名/発表者名
  T. Takahashi, M. Takihara, T. Minemoto, and Y. Wakisaka
- 学会等名
  18th Interna- tional Vacuum Congress (IVC-18) / Inter- national Conference on Nanoscience and Technology (ICN+T 2010),
- 発表場所
  Beijing, P.R.China
- 年月日
  2010-08-24
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Nano-probe characterization of multicrystalline Si solar cell materials2010
- 著者名/発表者名
  Takuji Takahashi (Invited)
- 学会等名
  The Forum on the Science and Technology of Silicon Materials 2010
- 発表場所
  岡山
- 年月日
  2010-11-14
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Photothermal Characterization by Atomic Force Microscopy around Grain Boundary in Multicrystalline Silicon Material2010
- 著者名/発表者名
  Kenji Hara, Takuji Takahashi
- 学会等名
  35th IEEE Photovoltaic Specialists Conference (PVSC)
- 発表場所
  Hawaii, USA
- 年月日
  2010-06-22
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] SPM characterization of solar cell materials2010
- 著者名/発表者名
  Takuji Takahashi
- 学会等名
  18th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM 18)
- 発表場所
  熱川(Invited)
- 年月日
  2010-12-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Scanning probe microscopy on Cu (InGa) Se2 solar cell material to analyze band profile around grain boundary2010
- 著者名/発表者名
  Takuji Takahashi, Masaki Takihara, Takashi Minemoto, Youichi Wakisaka
- 学会等名
  18th International Vacuum Congress (IVC-18)/International Conference on Nanoscience and Technology (ICN+T 2010)
- 発表場所
  Beijing, P.R.China
- 年月日
  2010-08-24
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Local Photothermal Analysis by Atomic Force Microscopy around Grain Boundary in Multicrystalline Si Solar Cell2010
- 著者名/発表者名
  K. Hara and T. Takahashi
- 学会等名
  The Forum on the Science and Technology of Silicon Materials 2010
- 年月日
  2010-11-15
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Local Photothermal Analysis by Atomic Force Microscopy around Grain Boundary in Multicrystalline Si Solar Cell2010
- 著者名/発表者名
  Kenji Hara, Takuji Takahashi
- 学会等名
  The Forum on the Science and Technology of Silicon Materials 2010
- 発表場所
  岡山
- 年月日
  2010-11-15
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Photo- thermal Characterization by Atomic Force Microscopy around Grain Boundary in Multicrystalline Silicon Material2010
- 著者名/発表者名
  K. Hara and T. Takahashi
- 学会等名
  35th IEEE Photovoltaic Specialists Conference (PVSC)
- 発表場所
  Honolulu, U.S.A.
- 年月日
  2010-06-22
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Local Photothermal Measurements by AFM around Grain Boundary in Multicrystalline Silicon Material2010
- 著者名/発表者名
  K. Hara and T. Takahashi
- 学会等名
  The 12th International Scanning Probe Microscopy Conference (Sapporo 2010),
- 発表場所
  Sapporo, Japan
- 年月日
  2010-06-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Nano-probe characterization of multicrystalline Si solar cell materials2010
- 著者名/発表者名
  Takuji Takahashi
- 学会等名
  The Forum on the Science and Technology of Silicon Materials 2010
- 発表場所
  岡山(Invited)
- 年月日
  2010-11-15
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Photothermal Spectroscopy by Atomic Force Microscopy on Crystalline Silicon Solar Cell Materials2010
- 著者名/発表者名
  Kenji Hara, Takuji Takahashi
- 学会等名
  2010 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM 2010)
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2010-09-24
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Photothermal Spectroscopic Measurements by AFM around Grain Boundary in Multicrystalline Silicon Material2010
- 著者名/発表者名
  Kenji Hara, Takuji Takahashi
- 学会等名
  18th International Vacuum Congress (IVC-18)/International Conference on Nanoscience and Technology (ICN+T 2010)
- 発表場所
  Beijing, P.R.China
- 年月日
  2010-08-25
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] 走査プローブ顕微鏡を利用したCu(InGa)Se2太陽電池材料中結晶粒界近傍のバンド構造解析2010
- 著者名/発表者名
  瀧原昌輝, 峯元高志, 高橋琢二
- 学会等名
  ナノ量子情報エレクトロニクス研究機構公開シンポジウム「ナノ量子情報エレクトロニクスの進展」
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2010-12-22
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Band profile around grain boundary of Cu (InGa) Se2 solar cell materials investigated by scanning probe microscopy2010
- 著者名/発表者名
  Masaki Takihara, Takashi Minemoto, Youichi Wakisaka, Takuji Takahashi
- 学会等名
  The 12th International Scanning Probe Microscopy Conference (Sapporo 2010)
- 発表場所
  札幌
- 年月日
  2010-05-10
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Photothermal and Potential Properties around Grain Boundary in Multicrystalline Si Solar Cell Studied by AFM2010
- 著者名/発表者名
  Kenji Kara, Takuji Takahashi
- 学会等名
  18th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM 18)
- 発表場所
  熱川
- 年月日
  2010-12-09
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] GaAs上自己形成InAs量子ドットにおける静電気力スペクトルの観測-II-2010
- 著者名/発表者名
  山田俊介, 高橋琢二
- 学会等名
  第57回春季応用物理学会
- 発表場所
  20a-TR-4, 平塚
- 年月日
  2010-03-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Band Pro-file around Grain Boundary of Cu(InGa)Se2Solar Cell Materials Characterized by Scanning Prove Microscopy2010
- 著者名/発表者名
  M. Takihara, T. Minemoto, Y. Wakisaka, and T. Takahashi
- 学会等名
  35th IEEE Photovoltaic Specialists Conference (PVSC)
- 発表場所
  Honolulu, U.S.A.
- 年月日
  2010-06-23
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Band Pro-file around Grain Boundary of Cu(InGa)Se2Solar Cell Materials Investigated by Scan- ning Probe Microscopy2010
- 著者名/発表者名
  M. Takihara, T. Minemoto, Y. Wakisaka, and T. Takahashi
- 学会等名
  The 12th Interna- tional Scanning Probe Microscopy Confer- ence (Sapporo 2010),
- 発表場所
  Sapporo, Japan
- 年月日
  2010-05-10
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] CIGS太陽電池の結晶粒界近傍におけるバンドプロファイリング2010
- 著者名/発表者名
  瀧原昌輝, 高橋琢二, 脇坂暢一, 峯元高志
- 学会等名
  第57回応用物理学関係連合講演会
- 発表場所
  平塚
- 年月日
  2010-03-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Band profile around grain boundary of Cu (InGa) Se2 solar cell materials characterized by scanning probe microscopy2010
- 著者名/発表者名
  Masaki Takihara, Takashi Minemoto, Youichi Wakisaka, Takuji Takahashi
- 学会等名
  35th IEEE Photovoltaic Specialists Conference (PVSC)
- 発表場所
  Hawaii, USA
- 年月日
  2010-06-23
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Band profile around grain boundary of Cu(InGa)Se2 solar cell materials investigated by scanning probe microscopy2010
- 著者名/発表者名
  Masaki Takihara, Takashi Minemoto, Youichi Wakisaka, Takuji Takahashi
- 学会等名
  The 12th International Scanning Probe Microscopy Conference (Sapporo2010)
- 発表場所
  札幌
- 年月日
  2010-05-12
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Photo-thermal Spectroscopy by Atomic Force Mi- croscopy on Crystalline Silicon Solar Cell Materials2010
- 著者名/発表者名
  K. Hara and T. Takahashi
- 学会等名
  2010 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM 2010)
- 発表場所
  Tokyo, Japan
- 年月日
  2010-09-24
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] SPM Characterization of Solar Cell Materials2010
- 著者名/発表者名
  T. Takahashi
- 学会等名
  (Invited), 18th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM 18)
- 発表場所
  Atagawa, Japan
- 年月日
  2010-12-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] 原子間力顕微鏡による多結晶Si太陽電池の局所的光熱解析2010
- 著者名/発表者名
  原賢二, 高橋琢二
- 学会等名
  ナノ量子情報エレクトロニクス研究機構公開シンポジウム「ナノ量子情報エレクトロニクスの進展」
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2010-12-22
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] GaAs上InAs量子ドット上における静電気力スペクトルの観測2010
- 著者名/発表者名
  山田俊介, 高橋琢二
- 学会等名
  第57回応用物理学関係連合講演会
- 発表場所
  平塚
- 年月日
  2010-03-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Nano-probe Character- ization of Multicrystalline Si Solar Cell Materials2010
- 著者名/発表者名
  T. Takahashi
- 学会等名
  (Invited), The Forum on the Sci- ence and Technology of Silicon Materials2010
- 発表場所
  Okayama, Japan
- 年月日
  2010-11-15
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Local Photothermal Measurements by AFM around Grain Boundary in Multicrystalline Silicon Material2010
- 著者名/発表者名
  Kenji Hara, Takuji Takahashi
- 学会等名
  The 12th International Scanning Probe Microscopy Conference (Sapporo 2010)
- 発表場所
  札幌
- 年月日
  2010-05-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Scanning probe microscopy on Cu(InGa)Se2 solar cell material to analyze band profile around grain boundary2010
- 著者名/発表者名
  Takuji Takahashi, Masaki Takihara, Takashi Minemoto, Youichi Wakisaka
- 学会等名
  18th International Vacuum Congress (IVC-18)/International Conference on Nanoscience and Technology (ICN+T 2010)
- 発表場所
  Beijing, P.R.China
- 年月日
  2010-08-23
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Photo- thermal Spectroscopic Measurements by AFM around Grain Boundary in Multicrys- talline Silicon Material2010
- 著者名/発表者名
  K. Hara and T. Takahashi
- 学会等名
  18th Internation- al Vacuum Congress (IVC-18) / Interna- tional Conference on Nanoscience and Technology (ICN+T 2010),
- 発表場所
  Beijing, P.R.China
- 年月日
  2010-08-25
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] SPM characterization of solar cell materials2010
- 著者名/発表者名
  Takuji Takahashi (Invited)
- 学会等名
  18th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM 18)
- 発表場所
  熱川
- 年月日
  2010-12-10
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] 原子間力顕微鏡を用いた光熱分光測定による結晶系シリコン太陽電池材料の評価2010
- 著者名/発表者名
  原賢二, 高橋琢二
- 学会等名
  第71回応用物理学会学術講演会
- 発表場所
  長崎
- 年月日
  2010-09-15
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Band profile around grain boundary of Cu(InGa) Se2 solar cell materials characterized by scanning probe microscopy2010
- 著者名/発表者名
  Masaki Takihara, Takashi Minemoto, Youichi Wakisaka, Takuji Takahashi
- 学会等名
  35th IEEE Photovoltaic Specialists Conference (PVSC)
- 発表場所
  Hawaii, USA
- 年月日
  2010-06-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Local Measurements of Photothermal Signals on Polycrystalline Silicon Materials by Dual Sampling Method in Atomic Force Micros- copy2009
- 著者名/発表者名
  K. Hara and T. Takahashi
- 学会等名
  2009 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM2009)
- 発表場所
  Sendai, Japan
- 年月日
  2009-10-08
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Electrostatic Force Spectra on InAs Quantum Dots on GaAs Obtained by Noncontact AFM with a Conductive Tip2009
- 著者名/発表者名
  S. Yamada, T. Takahashi
- 学会等名
  17th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM17), S4-43, Atagawa
- 発表場所
  Japan
- 年月日
  2009-10-10
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Grain Boundary Characteristics of Cu(InGa)Se2 Solar Cells Studied by Photoassisted Kelvin Probe Force Microscopy2009
- 著者名/発表者名
  Masaki Takihara, Takashi Minemoto, Youichi Wakisaka Takuji Takahashi
- 学会等名
  17th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM17)
- 発表場所
  熱川
- 年月日
  2009-12-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] CIGS太陽電池の結晶粒界におけるポテンシャル分布とそのGa濃度依存性2009
- 著者名/発表者名
  瀧原昌輝, 峯元高志, 脇坂暢一, 高橋琢二
- 学会等名
  第70回応用物理学会学術講演会
- 発表場所
  富山
- 年月日
  2009-09-10
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Potential Profi les around Grain Boundary Studied by Photoassisted Kelvin Probe Force Microscopy on Cu(InGa)Se2 Solar Cells2009
- 著者名/発表者名
  Masaki Takihara, Takashi Minemoto, Youichi Wakisaka, Takuji Takahashi
- 学会等名
  2009 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM 2009)
- 発表場所
  宮城
- 年月日
  2009-09-08
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Grain Boundary Characteristics of Cu(InGa)Se2Solar Cells Studied by Photoassisted Kel- vin Probe Force Microscopy2009
- 著者名/発表者名
  M. Takihara, T. Minemoto, Y. Wakisaka, and T. Takahashi
- 学会等名
  17th Inter- national Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM 17)
- 発表場所
  Atagawa, Japan
- 年月日
  2009-12-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] 光KFMによる多結晶シリコン太陽電池の局所的物性評価2009
- 著者名/発表者名
  高橋琢二, 瀧原昌輝
- 学会等名
  第56回春季応用物理学会
- 発表場所
  31p-TG-6, 筑波大学, つくば
- 年月日
  2009-03-31
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Electrostatic Force Spectra on InAs Quantum Dots on GaAs Obtained by Noncontact AFM with a Conductive Tip2009
- 著者名/発表者名
  山田俊介, 高橋琢二
- 学会等名
  17th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy(ICSPM17)
- 発表場所
  伊豆熱川
- 年月日
  2009-12-10
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] GaAs上自己形成InAs量子ドットにおける静電気カスペクトルの観測2009
- 著者名/発表者名
  山田俊介, 高橋琢二
- 学会等名
  第70回応用物理学会学術講演会
- 発表場所
  9p-L-13, 富山
- 年月日
  2009-09-09
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] GaAs上自己形成InAs量子ドットにおける静電気力スペクトルの観測2009
- 著者名/発表者名
  山田俊介, 高橋琢二
- 学会等名
  第70回応用物理学会学術講演会
- 発表場所
  富山
- 年月日
  2009-09-09
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] 光KFMによる多結晶シリコン太陽電池の局所的物性評価2009
- 著者名/発表者名
  高橋琢二, 瀧原昌輝
- 学会等名
  第56回春季応用物理学会
- 発表場所
  つくば
- 年月日
  2009-03-31
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Nonradia- tive Recombination Property around Grain Boundary in Multicrystalline Silicon Mate- rials Studied by Photothermal Measure-ments in AFM2009
- 著者名/発表者名
  K. Hara and T. Takahashi
- 学会等名
  17th International Collo- quium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM 17)
- 発表場所
  Atagawa, Japan
- 年月日
  2009-12-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Potential Profiles around Grain Boundary Studied by Photoassisted Kelvin Probe Force Mi-croscopy on Cu(InGa)Se2 Solar Cells2009
- 著者名/発表者名
  M. Takihara, T. Minemoto, Y. Wakisaka, and T. Takahashi
- 学会等名
  2009International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM 2009)
- 発表場所
  Sendai, Japan
- 年月日
  2009-10-09
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Photovoltaic Characterization of Cu(InGa)Se2 and Cu(InAl)Se2 Solar Cells by Photoassisted Kelvin Probe Force Microscopy2009
- 著者名/発表者名
  Masaki Takihara, Takashi Minemoto, Youichi Wakisaka, Shunsuke Yamada, Takuji Takahashi
- 学会等名
  The 34th IEEE Photovoltaic Specialists Conference (PVSC)
- 発表場所
  Philadelphia, USA
- 年月日
  2009-06-08
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Improvement of KFM Performance by Intermittent Bias Application Method and by Sampling Detection of Cantilever Deflection2008
- 著者名/発表者名
  T. Takahashi, T. Matsumoto, S. Ono
- 学会等名
  International Scanning Probe Microscopy Conference (Seattle 08), P-18
- 発表場所
  Seattle, USA
- 年月日
  2008-06-23
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Minority Carrier Dynamics in Polycrystalline Silicon Solar Cells Studied by Photo-assisted Kelvin Probe Force Microscopy2008
- 著者名/発表者名
  M. Takihara, T. Ujihara, T. Takahashi
- 学会等名
  33rd IEEE Photovoltaic Specialists Conference (PVSC 33), #339
- 発表場所
  San Diego, USA
- 年月日
  2008-05-14
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Photoassisted Kelvin Probe Force Microscopy for Measuring Minority Carrier Lifetime in Solar Cell Materials2008
- 著者名/発表者名
  瀧原昌輝、高橋琢二
- 学会等名
  16th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy(ICSPM16)
- 発表場所
  伊豆熱川
- 年月日
  2008-12-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Multiple Characterization of Minority Carriers in Polycrystalline Silicon Solar Cells by Photoassisted Kelvin Probe Force Microscopy2008
- 著者名/発表者名
  M. Takihara, T. Ujihara, T. Takahashi
- 学会等名
  16th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM16), S4-25, Atagawa
- 発表場所
  Japan
- 年月日
  2008-12-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Minority Carrier Dynamics in Polycrystalline Silicon Solar Cells Investigated by Photo-assisted Kelvin Probe Force Microscopy2008
- 著者名/発表者名
  Masaki Takihara, Toru Ujihara, Takuji Takahashi
- 学会等名
  18th Workshop on Crystalline Silicon Solar Cells & Modules : Materials and Processes
- 発表場所
  Vail, USA
- 年月日
  2008-08-04
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Intermittent Bias Application Method for High Performance KFM2008
- 著者名/発表者名
  T. Takahashi, T. Matsumoto, S. Ono
- 学会等名
  International Conference on Nanoscience+Technology (ICN+T 2008)
- 発表場所
  SP-TuM12, Keystone, USA
- 年月日
  2008-07-22
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Minority Carrier Dynamics in Polycrystalline Silicon Solar Cell Investigated by Photo-assisted Kelvin Probe Force Microscopy2008
- 著者名/発表者名
  Takuji Takahashi, Masaki Takihara, Toru Ujihara
- 学会等名
  International Scanning Probe Microscopy Conference(Seattle 08)
- 発表場所
  Seattle, USA
- 年月日
  2008-06-21
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] 間欠バイアスKFMを利用した静電引力の距離依存性に関する検討2008
- 著者名/発表者名
  松本忠久, 小野志亜之, 高橋琢二
- 学会等名
  第55回応用物理学関係連合講演会
- 発表場所
  29a-Q-12, 千葉
- 年月日
  2008-03-29
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Minority Carrier Dynamics in Polycrystalline Silicon Solar Cells Studied by Photo-assisted Kelvin Probe Force Microscopy2008
- 著者名/発表者名
  Masaki Takihara, Toru Ujihara, Takuji Takahashi
- 学会等名
  33rd IEEE Photovoltaic Specialists Conference(PVSC 33)
- 発表場所
  San Diego, USA
- 年月日
  2008-05-14
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Minority Carrier Dynamics in Polycrystalline Silicon Solar Cell Investigated by Photo-assisted Kelvin Probe Force Microscopy2008
- 著者名/発表者名
  T. Takahashi, M. Takihara, T. Ujihara
- 学会等名
  International Scanning Probe Microscopy Conference (Seattle 08), O-7
- 発表場所
  Seattle, USA
- 年月日
  2008-06-22
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Diffusion Length, Lifetime and Mobility of Minority Carrier in Polycrystalline Silicon Solar Cells Measured by Photo-assisted Kelvin Probe Force Microscopy2008
- 著者名/発表者名
  Masaki Takihara, Toru Ujihara, Takuji Takahashi
- 学会等名
  The 4th Asian Conference on Crystal Growth and Crystal Technology(CGCT4)
- 発表場所
  仙台
- 年月日
  2008-05-24
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Photoassisted Kelvin Probe Force Microscopy for Measuring Minority Carrier Lifetime in Solar Cell Materials2008
- 著者名/発表者名
  M. Takihara, T. Takahashi
- 学会等名
  16th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM16), S4-26, Atagawa
- 発表場所
  Japan
- 年月日
  2008-12-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] 光KFMによる少数キャリアライフタイム測定の妥当性の検証2008
- 著者名/発表者名
  瀧原昌輝, 高橋琢二
- 学会等名
  第69回応用物理学会学術講演会
- 発表場所
  3a-S-6, 名古屋
- 年月日
  2008-09-03
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Intermittent Bias Application Method for High Performance KFM2008
- 著者名/発表者名
  Takuji Takahashi, Tadahisa Matsumoto, Shiano Ono
- 学会等名
  International Conference on Nanoscience+Technology(ICN+T 2008)
- 発表場所
  Keystone, USA.
- 年月日
  2008-07-22
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Photo-assisted Kelvin Probe Force Microscopy for Investigating Minority Carrier Dynamics in Polycrystalline Silicon Solar Cells2008
- 著者名/発表者名
  M. Takihara, T. Ujihara, T. Takahashi
- 学会等名
  International Conference on Nanoscience+Technology (ICN+T2008)
- 発表場所
  SP-TuM11, Keystone, USA
- 年月日
  2008-07-22
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Improvement of KFM Performance by Intermittent Bias Application Method and by Sampling Detection of Cantilever Deflection2008
- 著者名/発表者名
  Takuji Takahashi, Tadahisa Matsumoto, Shiano Ono
- 学会等名
  International Scanning Probe Microscopy Conference(Seattle 08)
- 発表場所
  Seattle, USA
- 年月日
  2008-06-22
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] 光KFMによる多結晶Si太陽電池の少数キャリア拡散長及び移動度測定2008
- 著者名/発表者名
  瀧原昌輝, 宇治原徹, 高橋琢二
- 学会等名
  第55回応用物理学関係連合講演会
- 発表場所
  30a-ZC-3, 千葉
- 年月日
  2008-03-30
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] 光KFMによる多結晶Si太陽電池の少数キャリアライフタイム測定2008
- 著者名/発表者名
  瀧原昌輝, 宇治原徹, 高橋琢二
- 学会等名
  第55回応用物理学関係連合講演会
- 発表場所
  千葉
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] 間欠バイアスKFMを利用した静電引力の距離依存性に関する検討2008
- 著者名/発表者名
  松本忠久, 小野志亜之, 高橋琢二
- 学会等名
  第55回応用物理学関係連合講演会
- 発表場所
  千葉
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] 光KFMによる少数キャリアライフタイム測定の妥当性の検証2008
- 著者名/発表者名
  瀧原昌輝、高橋琢二
- 学会等名
  第69回応用物理学会学術講演会
- 発表場所
  名古屋
- 年月日
  2008-09-03
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] 光KFMによる多結晶Si太陽電池の少数キャリア拡散長及び移動度測定2008
- 著者名/発表者名
  瀧原昌輝, 宇治原徹, 高橋琢二
- 学会等名
  第55回応用物理学関係連合講演会
- 発表場所
  千葉
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] 光KFMによる多結晶Si太陽電池の少数キャリアライフタイム測定2008
- 著者名/発表者名
  瀧原昌輝, 宇治原徹, 高橋琢二
- 学会等名
  第55回応用物理学関係連合講演会
- 発表場所
  30a-ZC-2, 千葉
- 年月日
  2008-03-30
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Photo-assisted Kelvin Probe Force Microscopy for Investigating Minority Carrier Dynamics in Polycrystalline Silicon Solar Cells2008
- 著者名/発表者名
  Masaki Takihara, Toru Ujihara, Takuji Takahashi
- 学会等名
  International Conference on Nanoscience+Technology(ICN+T 2008)
- 発表場所
  Keystone, USA.
- 年月日
  2008-07-22
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Multiple Characterization of Minority Carriers in Polycrystalline Silicon Solar Cells by Photoassisted Kelvin Probe Force Microscopy2008
- 著者名/発表者名
  Masaki Takihara, Toru Ujihara, Takuji Takahashi
- 学会等名
  16th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy(ICSPM16)
- 発表場所
  伊豆熱川
- 年月日
  2008-12-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Photovoltage Mapping on Polycrystalline Silicon Solar Cells by Kelvin Probe Force Micorscopy2007
- 著者名/発表者名
  M. Takihara, T. Igarashi, T. Ujihara, T. Takahashi
- 学会等名
  22nd European Photovoltaic Solar Energy Conference (22nd EU-PVSEC)
- 発表場所
  Milano, Italy
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Minority Carrier Diffusion Length in Polycrystalline Silicon Solar Cell Materials Evaluated through Surface Photovoltage Measurements by Kelvin Probe Force Microscopy2007
- 著者名/発表者名
  T. Takahashi, M. Takihara, T. Ujihara
- 学会等名
  International Scanning Probe Microscopy Conference (Jeju 2007 ISPM)
- 発表場所
  PI-1-07, Jeju, Korea
- 年月日
  2007-06-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Electrostatic Force Spectroscopy on Self-assembled InAs Quantum Dots2007
- 著者名/発表者名
  T. Takahashi
- 学会等名
  International Scanning Probe Microscopy Conference (Jeju 2007 ISPM)
- 発表場所
  PII-4-06, Jeju, Korea
- 年月日
  2007-06-12
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Photovoltage Mapping on Polycrystalline Silicon Solar Cells Studied by Kelvin Probe Force Microscopy2007
- 著者名/発表者名
  T. Takahashi, M. Takihara, T. Igarashi, T. Ujihara
- 学会等名
  International Scanning Probe Microscopy Conference (Jeju 2007 ISPM)
- 発表場所
  OP3, Jeju, Korea
- 年月日
  2007-07-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Influence of a Long-range Feature of an Electrostatic Force and Effectiveness of Intermittent Bias Application Method in Kelvin Probe Force Microscopy2007
- 著者名/発表者名
  T. Matsumoto, S. Ono, T. Takahashi
- 学会等名
  15th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM15)
- 発表場所
  S4-79, Atagawa, Japan
- 年月日
  2007-12-06
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Photovoltage Mapping on Polycrystalline Silicon Solar Cells by Kelvin Probe Force Micooscopy2007
- 著者名/発表者名
  M. Takihara, T. Igarashi, T. Ujihara, T. Takahashi
- 学会等名
  17th International Vacuum Congress (IVC-17)/13th International Conference on Surface Science (ICSS-13)/International Conference on Nano Science and Technology (ICN+T 2007), NSP1-84
- 発表場所
  Stockholm, Sweden
- 年月日
  2007-07-02
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Electrostatic Force Spectroscopy on Self-assembled InAs Quantum Dots2007
- 著者名/発表者名
  T. Takahashi
- 学会等名
  International Scanning Probe Microscopy Conference (Jeju 2007 ISPM)
- 発表場所
  Jeju, Korea
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Minority Carrier Diffusion Length Measurements on Polycrystalline Silicon Solar Cells by Kelvin Probe Force Microscopy2007
- 著者名/発表者名
  M. Takihara, T. Ujihara, T. Takahashi
- 学会等名
  17th International Vacuum Congress (IVC-17)/13th International Conference on Surface Science (ICSS-13)/International Conference on Nano Science and Technology (ICN+T 2007)
- 発表場所
  NSP1-86, Stockholm, Sweden
- 年月日
  2007-07-02
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Photovoltage Mapping on Polycrystalline Silicon Solar Cells by Kelvin Probe Force Micorscopy2007
- 著者名/発表者名
  M. Takihara, T. Igarashi, T. Ujihara, T. Takahashi
- 学会等名
  22nd European Photovoltaic Solar Energy Conference (22nd EU-PVSEC)
- 発表場所
  1CV.2.12, Milano, Italy
- 年月日
  2007-09-05
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Minority Carrier Diffusion Length in Polycrystalline Silicon Solar Cell Materials Evaluated through Surface Photovoltage Measurements by KelvinProbeForceMicroscopy2007
- 著者名/発表者名
  T. Takahashi, M. Takihara, T. Ujihara
- 学会等名
  International Scanning Probe Microscopy Conference (Jeju 2007 ISPM)
- 発表場所
  Jeju, Korea
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Minority Carrier Dynamics in Polycristalline Silicon Solar Cells Studied by Photo-assisted Kelvin Probe Force Microscopy2007
- 著者名/発表者名
  M. Takihara, T. Ujihara, T. Takahashi
- 学会等名
  17th International Photovoltaic Science and Engineering Conference (PVSEC-17)
- 発表場所
  4P-P2-53, Fukuoka, Japan
- 年月日
  2007-12-04
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Photovoltage Mapping on Polycrystalline Silicon Solar Cells by Kelvin Probe Force Micorscopy2007
- 著者名/発表者名
  M. Takihara, T. Igarashi, T. Ujihara, T. Takahashi
- 学会等名
  17th International Vacuum Congress (IVC-17)/13th International Conference on Surface Science (ICSS-13)/International Conference on Nano Science and Technology (ICN+T 2007)
- 発表場所
  Stockholm, Sweden
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Minority Carrier Dynamics in Polycristalline Silicon Solar Cells Studied by Photo-assisted Kelvin Probe Force Microscopy2007
- 著者名/発表者名
  M. Takihara, T. Ujihara, T. Takahashi
- 学会等名
  International Photovoltaic Science and Engineering Conference (PVSEC-17)
- 発表場所
  Fukuoka, Japan
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Minority Carrier Diffusion Length Measurements on Polycrystalline Silicon Solar Cells by Kelvin Probe Force Microscopy2007
- 著者名/発表者名
  M. Takihara, T. Ujihara, T. Takahashi
- 学会等名
  17th International Vacuum Congress (IVC-17)/13th International Conference on Surface Science (ICSS-13)/International Conference on Nano Science and Technology (ICN+T 2007)
- 発表場所
  Stockholm, Sweden
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Photovoltage Mapping on Polycrystalline Silicon Solar Cells Studied by Kelvin Probe Force Microscopy2007
- 著者名/発表者名
  T. Takahashi, M. Takihara, T. Igarashi, T. Ujihara
- 学会等名
  International Scanning Probe Microscopy Conference (Jeju 2007 ISPM)
- 発表場所
  Jeju, Korea
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] ケルビンプローブフォース顕微鏡による多結晶シリコン太陽電池の局所的光起電力評価2007
- 著者名/発表者名
  瀧原昌輝, 五十嵐考俊, 宇治原徹, 高橋琢二
- 学会等名
  第54回応用物理学関係連合講演会
- 発表場所
  27a-ZK-8, 神奈川
- 年月日
  2007-03-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] ケルビンプローブフォース顕微鏡による多結晶シリコン太陽電池の少数キャリア拡散長測定2007
- 著者名/発表者名
  瀧原昌輝, 宇治原徹, 高橋琢二
- 学会等名
  第54回応用物理学関係連合講演会
- 発表場所
  27a-ZK-9, 神奈川
- 年月日
  2007-03-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Minority Carrier Dynamics in Polycrystalline Silicon Solar Cells Studied by Photo-assisted Kelvin Probe Force Microscopy2007
- 著者名/発表者名
  M. Takihara, T. Ujihara, T. Takahashi
- 学会等名
  15th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM15)
- 発表場所
  S10-5, Atagawa, Japan
- 年月日
  2007-12-08
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Local Measurements of Minority Carrier Diffusion Length in Polycrystalline Silicon Solar Cells by Kelvin Probe Force Microscopy2006
- 著者名/発表者名
  M. Takihara, T. Ujihara, T. Takahashi
- 学会等名
  14th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM14)
- 発表場所
  S4-35, Atagawa
- 年月日
  2006-12-07
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Local Characterization of Photovoltage on Polycrystalline Silicon Solar Cells by KFM with Piezo-resistive Cantilever2006
- 著者名/発表者名
  M. Takihara, T. Igarashi, T. Ujihara, T. Takahashi
- 学会等名
  International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM2006)
- 発表場所
  P-9-9, Yokohama
- 年月日
  2006-09-14
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] 自己検知型カンチレバーを用いたKFMによる多結品シリコン太陽電池の局所的光起電力評価2006
- 著者名/発表者名
  瀧原昌輝, 五十嵐考俊, 宇治原徹, 高橋琢二
- 学会等名
  第67回応用物理学会学術講演会
- 発表場所
  30a-Y9, 草津
- 年月日
  2006-08-30
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Local Photovoltage Measurements on Polycrystalline Silicon Solar Cells by KFM with Piezo-resistive Cantilever2006
- 著者名/発表者名
  T. Takahashi, M. Takihara, T. Igarashi, T. Ujihara
- 学会等名
  International Conference on Nanoscience and Technology (ICN&T 2006)
- 発表場所
  P634, Basel, Switzerland
- 年月日
  2006-07-31
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Photovoltage Mapping on Polycrystalline Silicon Solar Cells by KFM with Piezo-resistive Cantilever2006
- 著者名/発表者名
  M. Takihara, T. Igarashi, T. Ujihara, T. Takahashi
- 学会等名
  14th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM14)
- 発表場所
  S10-3, Atagawa
- 年月日
  2006-12-09
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18360019
[学会発表] Local Photothermal Measurement by AFM around Grain Boundaries in Multicrystalline Si Solar Cell
- 著者名/発表者名
  Kenji Hara and Takuji Takahashi
- 学会等名
  International Conference on Nanoscience + Technology (ICN+T 2012)
- 発表場所
  Paris (France)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Photovoltage Decay Investigated by Photoassisted Kelvin Probe Force Microscopy on Cu(In,Ga)Se2 Solar Cells
- 著者名/発表者名
  Yu Nakajima, Takashi Minemoto and Takuji Takahashi
- 学会等名
  19th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM19)
- 発表場所
  洞爺湖 (北海道)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Photovoltage Decay Measurements by P-KFM on Cu(In,Ga)Se2 Solar Cells
- 著者名/発表者名
  Hyeondeuk Yong,Yu Nakajima,Takashi Minemoto and Takuji Takahashi
- 学会等名
  20th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM20)
- 発表場所
  那覇　(沖縄県)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Photothermal and Potential Properties Investigated by SPMs around Grain Boundary in Multicrystalline Si Solar Cells
- 著者名/発表者名
  Kenji Hara and Takuji Takahashi
- 学会等名
  International Scanning Probe Microscopy Conference (ISPM) 2011
- 発表場所
  Munich (Germany)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Local Characterization of Multicrystalline Silicon Solar Cells through Photothermal and Potential Measurements by Scanning Probe Microscopy
- 著者名/発表者名
  Kenji Hara and Takuji Takahashi
- 学会等名
  2011 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM 2011)
- 発表場所
  WINC AICHI (愛知県)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] AFM光熱分光法によるCu(In,Ga)Se2薄膜中ギャップ内準位の観測
- 著者名/発表者名
  浜本寧，原賢二，峯元高志，高橋琢二
- 学会等名
  第73回応用物理学会学術講演会
- 発表場所
  愛媛大学 (愛媛県)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Photothermal Spectroscopy by Atomic Force Microscopy on Cu(In,Ga)Se2 Solar Cells
- 著者名/発表者名
  Yasushi Hamamoto, Kenji Hara, Takashi Minemoto, and Takuji Takahashi
- 学会等名
  39th Photovoltaic Specialists Conference
- 発表場所
  Tampa (U.S.A.)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Photothermal and Potential Measurements by SPM around Grain Boundaries in Multicrystalline Si Solar Cells
- 著者名/発表者名
  Kenji Hara and Takuji Takahashii
- 学会等名
  Seeing at the Nanoscale 2011
- 発表場所
  Santa Barbara (U.S.A.)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] P-KFMによるCIGS太陽電池における光励起キャリア再結合プロセスの評価
- 著者名/発表者名
  龍顯得，中島悠，峯元高志，高橋琢二
- 学会等名
  第60回応用物理学会春季学術講演会
- 発表場所
  神奈川工科大学　(神奈川県)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] SPMを用いた太陽電池材料の多角的評価
- 著者名/発表者名
  高橋琢二
- 学会等名
  第17回結晶工学セミナー「物理・化学分析の最先端技術を基礎から理解する」-グリーンデバイス材料を中心に-
- 発表場所
  学習院大学　(東京都)
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Cu(InGa)Se2薄膜に対するAFM光熱分光測定
- 著者名/発表者名
  原　賢二，峯元高志，高橋琢二
- 学会等名
  第59回応用物理学会関係連合講演会
- 発表場所
  早稲田大学 (東京都)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] AFM光熱分光法によるCu(In,Ga)Se2太陽電池における非発光再結合の観測
- 著者名/発表者名
  浜本寧，原賢二，峯元高志，高橋琢二
- 学会等名
  第60回応用物理学会春季学術講演会
- 発表場所
  神奈川工科大学　(神奈川県)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Scanning Probe Analyses on Cu(In,Ga)Se2 Solar Cell Materials
- 著者名/発表者名
  Takuji Takahashi
- 学会等名
  Seeing at the Nanoscale 2012
- 発表場所
  Bristol (U.K.)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] P-KFMによるCIGS太陽電池における再結合プロセスの時定数測定
- 著者名/発表者名
  龍顯得, 中島悠, 峯元高志, 高橋琢二
- 学会等名
  第73回応用物理学会学術講演会
- 発表場所
  愛媛大学 (愛媛県)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Photo-Assisted Kelvin Probe Microscopy on Cu(In,Ga)Se2 Solar Cells
- 著者名/発表者名
  Yu Nakajima, Masaki Takihara, Takashi Minemoto, and Takuji Takahashi
- 学会等名
  14th International Scanning Probe Microscopy Conference (ISPM)
- 発表場所
  Toronto (Canada)
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Photovoltage Decay Measurements on Cu(In,Ga)Se2 Solar Cells by Photo-assisted Kelvin Probe Force Microscopy
- 著者名/発表者名
  Yu Nakajima, Masaki Takihara, Takashi Minemoto and Takuji Takahashi
- 学会等名
  38th IEEE Photovoltaic Specialists Conference (PVSC 38)
- 発表場所
  Austin (U.S.A.)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Photothermal Spectroscopy on Multicrystalline Silicon Solar Cell Materials by Dual Sampling Method in Atomic Force Microscopy
- 著者名/発表者名
  Kenji Hara and Takuji Takahashi
- 学会等名
  38th IEEE Photovoltaic Specialists Conference (PVSC 38)
- 発表場所
  Austin (U.S.A.)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Local Photothermal Measurements by AFM on Cu(In,Ga)Se2 Solar Cells
- 著者名/発表者名
  Yasushi Hamamoto, Kenji Hara, Takashi Minemoto and Takuji Takahashi
- 学会等名
  20th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM20)
- 発表場所
  那覇　(沖縄県)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Photothermal Signals on Multicrystalline Silicon Solar Cells Measured by Dual Sampling Method in Atomic Force Microscopy
- 著者名/発表者名
  Kenji Hara and Takuji Takahashi
- 学会等名
  16th International Conference on Photoacoustic and Photothermal Phenomena (ICPPP16)
- 発表場所
  Merida (Mexico)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] 多結晶Si太陽電池に対する近赤外光照射下でのAFM光熱分光測定
- 著者名/発表者名
  原　賢二，高橋琢二
- 学会等名
  第59回応用物理学会関係連合講演会
- 発表場所
  早稲田大学 (東京都)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] SPMを利用した太陽電池材料の評価
- 著者名/発表者名
  高橋琢二
- 学会等名
  第21回格子欠陥フォーラム「格子欠陥が担うエネルギー・環境材料に関する挑戦課題」
- 発表場所
  立山国際ホテル (富山県)
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] CIGS太陽電池における光起電力減衰時定数と再結合プロセス
- 著者名/発表者名
  中島　悠、峯元高志、高橋琢二
- 学会等名
  第59回応用物理学会関係連合講演会
- 発表場所
  早稲田大学 (東京都)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Photovoltage Decay Measurements by Photo-assisted Kelvin Probe Force Microscopy on Cu(In,Ga)Se2 Solar Cells
- 著者名/発表者名
  Takuji Takahashi
- 学会等名
  4th Multifrequency AFM Conference
- 発表場所
  Madrid (Spain)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Local Photothermal Measurement by AFM under Near-Infrared Light around Grain Boundaries in Multicrystalline Si Solar Cell
- 著者名/発表者名
  Kenji Hara and Takuji Takahashi
- 学会等名
  19th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM19)
- 発表場所
  洞爺湖 (北海道)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] 走査プローブ顕微鏡を用いた光熱/ポテンシャル測定による多結晶シリコン太陽電池の局所的評価
- 著者名/発表者名
  原　賢二, 高橋琢二
- 学会等名
  第72回応用物理学会学術講演会
- 発表場所
  山形大学 (山形県)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Local Photothermal Analysis around Grain oundary in Multicrystalline Si Solar Cell by Atomic Force Microscopy
- 著者名/発表者名
  Kenji Hara and Takuji Takahashi
- 学会等名
  International Workshop on Scanning Probe Microscopy for Energy Applications 2011
- 発表場所
  Mainz (Germany)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] CIGS太陽電池における光起電力減衰時定数測定
- 著者名/発表者名
  中島　悠，峯元高志，高橋琢二
- 学会等名
  第72回応用物理学会学術講演会
- 発表場所
  山形大学 (山形県)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Characterization of Solar Cell Materials by SPMs
- 著者名/発表者名
  Takuji Takahashi
- 学会等名
  International Workshop on Scanning Probe Microscopy for Energy Applications 2011
- 発表場所
  Mainz (Germany)
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143
[学会発表] Photovoltage Decay Processes in Cu(In,Ga)Se2 Solar Cells Studied by Photo-assisted Kelvin Probe Force Microscopy
- 著者名/発表者名
  Hyeondeuk Yong, Yu Nakajima, Takashi Minemoto, and Takuji Takahashi
- 学会等名
  39th Photovoltaic Specialists Conference
- 発表場所
  Tampa (U.S.A.)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360143

1. 榊裕之 (90013226)

共同の研究課題数: 7件

共同の研究成果数: 0件
2. 野田武司 (90251462)

共同の研究課題数: 6件

共同の研究成果数: 0件
3. 荒川泰彦 (30134638)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 0件
4. 秋山英文 (40251491)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 0件
5. 永宗靖 (20218027)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 0件
6. 大下祥雄 (10329849)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
7. 峯元高志 (80373091)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 52件
8. 藤井陽一 (00013110)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
9. 寒川哲臣 (70211993)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
10. 生駒俊明 (80013118)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
11. バハラケリー (98999999)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
12. 末光哲也 (90447186)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
13. 重川直輝 (60583698)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
14. 大野裕 (80243129)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
15. シュールマンジョー

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
16. ヤリフアムノン

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
17. SCHULMAN Joel N.

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
18. YARIV Amnon

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
19. VAHALA Kerry

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件

高橋 琢二 Takahashi Takuji

研究課題

研究成果

共同研究者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

時間分解・光援用ナノプローブの開発と多元系半導体太陽電池評価への応用展開研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

光援用ナノプローブによる多元系半導体太陽電池中の光励起キャリアダイナミクスの解明研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

光KFMによる太陽電池材料中の少数キャリアダイナミクスの解明研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

ナノプローブを用いた高精度電位測定とナノ構造中電子状態の解明に関する研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

ナノプローブを用いたInAs微細構造の表面近傍電子状態評価と電子伝導機構の解明研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

機能性半導体探針を有する新しい走査トンネル顕微鏡による電子エネルギ分光計測研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

レーザ光照射・走査型プローブ顕微鏡を用いた半導体極微細構造の特性評価研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

レーザ光励起STMによる半導体極微細構造の特性評価研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

高橋琢二 Takahashi Takuji