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坂本 哲夫  Sakamoto Tetsuo

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 20313067
その他のID
外部サイト
所属 (現在) 2025年度: 工学院大学, 先進工学部, 教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2007年度 – 2009年度: 工学院大学, 工学部, 准教授
2005年度 – 2006年度: 工学院大学, 工学部, 助教授
1999年度 – 2001年度: 東京大学, 環境安全研究センター, 助教授
審査区分/研究分野
研究代表者
電子・電気材料工学
研究代表者以外
工業分析化学 / 環境保全 / 環境動態解析 / 電子デバイス・電子機器
キーワード
研究代表者
電子・電気材料 / 発光素子 / 有機薄膜 / 超臨界流体 / 電気・電子材料 / 結晶成長 / 電子材料 / 電気
研究代表者以外
High accurate cross-sectioning of sample / Analytical reliability … もっと見る / Multi-elements detection / Elemental analysis with high spatial resolution / Nano-scale tree-dimensional analysis / Secondary ion mass spectrometry / Gallium focused ion beam / Ultra fine ion beam / 飛行時間型 / マッピング / 飛行時間型質量分析 / 二次イオン質量分析 / 収束イオンビーム / organic chemical synthesis / acetylation / Friedel-Crafts acylation / laboratory experiments / educationalexperiments / miniaturized chemical experiment / microlaboratofy / experiment wastes / グルコース / 微小規模化学実験 / マイクロラポラトリ / 有機合成 / アセチル化 / Friedel-Craftsアシル化 / 研究室実験 / 学生実験 / 微小化学実験 / マイクロラボラトリ / 実験廃棄物 / 環境微粒子 / 機能性粉体材料 / 機能性工業材料 / 精密試料断面加工 / 分析信頼性 / 多元素同時検出 / 高空間分解能元素分布解析 / ナノスケール三次元分析法 / 二次イオン質量分析法 / ガリウム収束イオンビーム / 超細束イオンビーム / 有害有機物 / 照射損傷 / パルスイオン銃 / 微粒子 / リフレクトロン / 直接分析 / 粒別分析 / 環境ホルモン物質 / time-of-flight mass spectrometry / elemental mapping / three-dimensional analysis / Auger electron spectroscopy / secondary ion mass spectrometry / focused ion beam / 微小部分析 / イオン励起 / オージェ電子 / シミュレーション / パルス / 二次元イオン質量分析 / 元素マッピング / 三次元分析 / オージェ電子分光 / 発振モード / 光学異方性 / 室化物半導体 / 深紫外 / ワイドギヤツプ / 窒化物半導体' / エピタキシャル成長 / ワイドギャップ / 量子井戸 / 深紫外半導体レーザ / 超格子 / 量子井戸構造 / 深紫外域 / 窒化物半導体 / 半導体レーザ 隠す
  • 研究課題

    (6件)
  • 研究成果

    (2件)
  • 共同研究者

    (6人)
  •  超臨界流体を用いた有機薄膜の新規な成膜法に関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      坂本 哲夫
    • 研究期間 (年度)
      2007 – 2008
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      電子・電気材料工学
    • 研究機関
      工学院大学
  •  205~250nm帯深紫外半導体レーザの研究開発

    • 研究代表者
      川西 英雄
    • 研究期間 (年度)
      2005 – 2009
    • 研究種目
      基盤研究(S)
    • 研究分野
      電子デバイス・電子機器
    • 研究機関
      工学院大学
  •  実験廃棄物削減のための微小規模化学実験手法の研究

    • 研究代表者
      尾張 真則
    • 研究期間 (年度)
      2000 – 2001
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      環境保全
    • 研究機関
      東京大学
  •  超細束イオンビームを用いた工業材料のナノスケール三次元分析装置の試作研究

    • 研究代表者
      二瓶 好正
    • 研究期間 (年度)
      1999 – 2000
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      工業分析化学
    • 研究機関
      東京大学
  •  個別微粒子表面に吸着した難揮発性有害有機物の直接分析法の研究

    • 研究代表者
      尾張 真則
    • 研究期間 (年度)
      1998 – 2000
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      環境動態解析
    • 研究機関
      東京大学
  •  ナノイオンビームによる最先端工業材料の三次元分析法の研究

    • 研究代表者
      尾張 真則
    • 研究期間 (年度)
      1997 – 1999
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      工業分析化学
    • 研究機関
      東京大学

すべて 2008

すべて 学会発表

  • [学会発表] Organic Thin-Film Fabrication by means of Electrospray Deposition2008

    • 著者名/発表者名
      Itaru YAMAGUCHI, Yuuki WATANABE and Tetsuo SAKAMOTO
    • 学会等名
      4th Vacuum and Surface Sciences Conference of Asia and Australia
    • 発表場所
      松江市
    • 年月日
      2008-10-30
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19560320
  • [学会発表] Fabrication of Organic Thin Films and Particles using Supercritical Fluids2008

    • 著者名/発表者名
      Tetsuo Sakamoto
    • 学会等名
      4th Vacuum and Surface Sciences Conference of Asia and Australia (VASSCAA-4)
    • 発表場所
      松江市
    • 年月日
      2008-10-29
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19560320
  • 1.  尾張 真則 (70160950)
    共同の研究課題数: 3件
    共同の研究成果数: 0件
  • 2.  川西 英雄 (70016658)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 3.  本田 徹 (20251671)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 4.  長谷川 文夫 (70143170)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 5.  二瓶 好正 (10011016)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 6.  石井 秀司 (30251466)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件

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