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佐藤 高史  Sato Takashi

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 20431992
その他のID
所属 (現在) 2025年度: 京都大学, 情報学研究科, 教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2010年度 – 2024年度: 京都大学, 情報学研究科, 教授
2016年度: 京都大学, 大学院情報学研究科, 教授
2012年度: 京都大学, 大学院・情報学研究科, 教授
2009年度: 東京工業大学, 統合研究院, 特任教授
2006年度 – 2007年度: 東京工業大学, 統合研究院, 教授
審査区分/研究分野
研究代表者
小区分60040:計算機システム関連 / 中区分60:情報科学、情報工学およびその関連分野 / 計算機システム / 合同審査対象区分:小区分60040:計算機システム関連、小区分60090:高性能計算関連 / 小区分60090:高性能計算関連 / 応用健康科学 / 電子デバイス・電子機器
研究代表者以外
小区分60040:計算機システム関連 / 計算機システム / 電子デバイス・電子機器 / 計算機システム・ネットワーク / 理工系
キーワード
研究代表者
認証 / 集積回路設計 / 超並列検索 / デオキシリボ核酸 / 類似画像検索 / コールドデータ / DNA記憶装置 / 遅延フィードバック型リザバー / エコーステートネットワーク / リザバー表現 … もっと見る / クロスバアレイ / シリコンリザバー / ハイブリッド回路 / トランジスタアレイ / センサ / ヘルスケアセンサ / セレクタ回路 / 増幅回路 / バイアス生成回路 / スイッチマトリクス / センサ回路 / 有機トランジスタ / ハードウェアセキュリティ / PUF / 物理的複製困難回路 / PUF / セキュリティ / 特性ばらつき / 物理的複製困難関数 / 暗号・認証等 / 集積回路 / 個体認識 / 暗号・認証 / 個体識別 / 暗号 / 経年劣化 / チップID / ノイズ / 脈波推定 / 信号処理 / 生体情報 / 非接触測定 / 心拍間隔推定 / 心拍数推定 / モデル化 / 経時特性変化 / 大規模アレイ回路 / デバイスモデル / シミュレーション / デバイス設計・製造プロセス / 電子デバイス / 電子回路CAD / モンテカルロ法 / タイミング解析 / CAD / 集積回路設計技術 … もっと見る
研究代表者以外
近似計算 / ニューラルネットワーク / 画像認識 / ばらつき / ハードウェアセキュリティ / PUF / フレキシブル / 測定技術 / フレキシブルデバイス / 信頼性評価 / 多素子測定 / 有機トランジスタ / プロセッサアーキテクチャ / 不正確演算 / 深層学習 / 計算機アーキテクチャ / 低消費電力技術 / メモリスタ / 低消費電力設計 / ディープラーニング / wire length distribution / network on chip / system on chip / low power consumption / high speed signal propagation / nano interconnect / integrated cirtcuit / transmission line / 配線長分布 / ネットワークオンチップ / システムオンチップ / 低消費電力 / 高速信号伝送 / 微細配線 / 集積回路 / 伝送線路 / アドホックネットワーク / マスクROM / 長期信頼性 / オンチップ太陽電池 / 非接触電源供給 / 非接触通信 / ばらっき / シグナルインテグリティ / 揺らぎ / インテグリティ / シグナル・インテグリティ / ナノ配線 隠す
  • 研究課題

    (14件)
  • 研究成果

    (412件)
  • 共同研究者

    (14人)
  •  スケーラブル・シリコンリザバーコンピューティング研究代表者

    • 研究代表者
      佐藤 高史
    • 研究期間 (年度)
      2023 – 2025
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 審査区分
      小区分60040:計算機システム関連
      小区分60090:高性能計算関連
      合同審査対象区分:小区分60040:計算機システム関連、小区分60090:高性能計算関連
    • 研究機関
      京都大学
  •  DNA記憶装置による高機能演算の実現研究代表者

    • 研究代表者
      佐藤 高史
    • 研究期間 (年度)
      2023 – 2025
    • 研究種目
      挑戦的研究(萌芽)
    • 審査区分
      中区分60:情報科学、情報工学およびその関連分野
    • 研究機関
      京都大学
  •  フレキシブル印刷トランジスタによる偽造品対策回路実現のための多素子劣化評価

    • 研究代表者
      小笠原 泰弘
    • 研究期間 (年度)
      2022 – 2024
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 審査区分
      小区分60040:計算機システム関連
    • 研究機関
      国立研究開発法人産業技術総合研究所
  •  限定的一時複製を可能とする物理的複製困難関数回路研究代表者

    • 研究代表者
      佐藤 高史
    • 研究期間 (年度)
      2020 – 2022
    • 研究種目
      挑戦的研究(萌芽)
    • 審査区分
      中区分60:情報科学、情報工学およびその関連分野
    • 研究機関
      京都大学
  •  有機-シリコン混成回路による高機能・超低価格使い捨てヘルスケアセンサの実現研究代表者

    • 研究代表者
      佐藤 高史
    • 研究期間 (年度)
      2020 – 2022
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 審査区分
      小区分60040:計算機システム関連
    • 研究機関
      京都大学
  •  不正確演算による深層学習向け高効率計算技術

    • 研究代表者
      廣本 正之
    • 研究期間 (年度)
      2018 – 2020
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 審査区分
      小区分60040:計算機システム関連
    • 研究機関
      京都大学
  •  トランジスタの特性変動モデルにもとづく時変チップ ID の実現研究代表者

    • 研究代表者
      佐藤 高史
    • 研究期間 (年度)
      2017 – 2019
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      計算機システム
    • 研究機関
      京都大学
  •  生体情報の無意識・非接触・常時測定の研究研究代表者

    • 研究代表者
      佐藤 高史
    • 研究期間 (年度)
      2015 – 2016
    • 研究種目
      挑戦的萌芽研究
    • 研究分野
      応用健康科学
    • 研究機関
      京都大学
  •  寿命予測・障害予防・修復を可能とする集積回路の信頼性設計手法研究代表者

    • 研究代表者
      佐藤 高史
    • 研究期間 (年度)
      2014 – 2016
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      計算機システム
    • 研究機関
      京都大学
  •  画像認識向けニューラルネットワークプロセッサの研究

    • 研究代表者
      廣本 正之
    • 研究期間 (年度)
      2014 – 2016
    • 研究種目
      若手研究(B)
    • 研究分野
      計算機システム
    • 研究機関
      京都大学
  •  大規模恒久保存基盤システムの構成方式の検討

    • 研究代表者
      越智 裕之
    • 研究期間 (年度)
      2011 – 2013
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      計算機システム・ネットワーク
    • 研究機関
      立命館大学
      京都大学
  •  モンテカルロ法にもとづくタイミング解析高速化の研究研究代表者

    • 研究代表者
      佐藤 高史
    • 研究期間 (年度)
      2010 – 2012
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      電子デバイス・電子機器
    • 研究機関
      京都大学
  •  ナノスケール配線および回路のシグナル・インテグリティに関する研究

    • 研究代表者
      益 一哉
    • 研究期間 (年度)
      2006 – 2009
    • 研究種目
      特定領域研究
    • 審査区分
      理工系
    • 研究機関
      東京工業大学
  •  通信理論に基づくオンチップ超高速ナノスケールネットワークの開発

    • 研究代表者
      益 一哉
    • 研究期間 (年度)
      2004 – 2007
    • 研究種目
      基盤研究(A)
    • 研究分野
      電子デバイス・電子機器
    • 研究機関
      東京工業大学

すべて 2024 2023 2022 2021 2020 2019 2018 2017 2016 2015 2014 2013 2012 2011 2010 2009 2008 2007 2006 2004 その他

すべて 雑誌論文 学会発表 図書 産業財産権

  • [図書] Circuit design for reliability, Chapter 52015

    • 著者名/発表者名
      Takashi Sato and Hiromitsu Awano
    • 総ページ数
      272
    • 出版者
      Springer-Verlag New York
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [雑誌論文] Layout Design for DNTT-Based Organic TFTs Considering Fringe Leakage Current2024

    • 著者名/発表者名
      Oshima Kunihiro、Kuribara Kazunori、Sato Takashi
    • 雑誌名

      IEEE Journal on Flexible Electronics

      巻: 3 号: 3 ページ: 100-107

    • DOI

      10.1109/jflex.2024.3354715

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22KJ1737, KAKENHI-PROJECT-23K28052
  • [雑誌論文] Modular DFR: Digital Delayed Feedback Reservoir Model for Enhancing Design Flexibility2023

    • 著者名/発表者名
      Ikeda Sosei、Awano Hiromitsu、Sato Takashi
    • 雑誌名

      ACM Transactions on Embedded Computing Systems

      巻: 22 号: 5s ページ: 1-20

    • DOI

      10.1145/3609105

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23K28052
  • [雑誌論文] Flex-SNN: Spiking Neural Network on Flexible Substrate2023

    • 著者名/発表者名
      Oshima Kunihiro、Kuribara Kazunori、Sato Takashi
    • 雑誌名

      IEEE Sensors Letters

      巻: 7 号: 5 ページ: 1-4

    • DOI

      10.1109/lsens.2023.3271988

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22KJ1737, KAKENHI-PROJECT-23K28052
  • [雑誌論文] Aging-robust amplifier composed of p-type low voltage OTFT and organic semiconductor load2023

    • 著者名/発表者名
      Kaneiwa Yuto、Kuribara Kazunori、Sato Takashi
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 62 号: SC ページ: SC1061-SC1061

    • DOI

      10.35848/1347-4065/acb2be

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20H04156, KAKENHI-PROJECT-20K21793
  • [雑誌論文] Measurement of 64 organic thin-film transistors in an array test structure using a relay-switch board for efficient evaluation of long-term reliability2023

    • 著者名/発表者名
      Ogasahara Yasuhiro、Kuribara Kazunori、Sato Takashi
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 62 号: SC ページ: SC1030-SC1030

    • DOI

      10.35848/1347-4065/acae2d

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11966, KAKENHI-PROJECT-20H04156
  • [雑誌論文] Efficient Analysis for Mitigation of Workload-dependent Aging Degradation2022

    • 著者名/発表者名
      Morita Shumpei、Bian Song、Shintani Michihiro、Sato Takashi
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

      巻: - 号: 12 ページ: 1-1

    • DOI

      10.1109/tcad.2022.3149856

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20H04156, KAKENHI-PROJECT-20K21793
  • [雑誌論文] Yield and leakage current of organic thin-film transistor logic gates toward reliable and low-power operation of large-scale logic circuits for IoT nodes2022

    • 著者名/発表者名
      Ogasahara Yasuhiro、Kuribara Kazunori、Oshima Kunihiro、Qin Zhaoxing、Sato Takashi
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 61 号: SC ページ: SC1044-SC1044

    • DOI

      10.35848/1347-4065/ac44cf

    • 査読あり / オープンアクセス / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20H04156, KAKENHI-PROJECT-20K21793, KAKENHI-PROJECT-22KJ1911
  • [雑誌論文] Hardware-Friendly Delayed-Feedback Reservoir for Multivariate Time-Series Classification2022

    • 著者名/発表者名
      Ikeda Sosei、Awano Hiromitsu、Sato Takashi
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

      巻: 41 号: 11 ページ: 3650-3660

    • DOI

      10.1109/tcad.2022.3197488

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20K21793
  • [雑誌論文] Hybrid CMOS and pseudo-CMOS Organic Memory for Flexible Sensors2022

    • 著者名/発表者名
      Qin Zhaoxing、Kuribara Kazunori、Ogasahara Yasuhiro、Sato Takashi
    • 雑誌名

      IEEE Sensors Journal

      巻: - 号: 20 ページ: 1-1

    • DOI

      10.1109/jsen.2022.3153714

    • 査読あり / オープンアクセス / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20H04156, KAKENHI-PROJECT-22KJ1911, KAKENHI-PROJECT-20K21793
  • [雑誌論文] Accelerating Parameter Extraction of Power MOSFET Models Using Automatic Differentiation2022

    • 著者名/発表者名
      Shintani Michihiro、Ueda Aoi、Sato Takashi
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Power Electronics

      巻: 37 号: 3 ページ: 2970-2982

    • DOI

      10.1109/tpel.2021.3118057

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20H04156, KAKENHI-PROJECT-20K21793
  • [雑誌論文] Stable Organic SRAM Cell With P-type Access Transistors2021

    • 著者名/発表者名
      Z. Qin, S. Bian, K. Kuribara, and T. Sato
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics (JJAP)

      巻: 60 号: SB ページ: SBBG04-SBBG04

    • DOI

      10.35848/1347-4065/abd534

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20K21793, KAKENHI-PROJECT-20H04156
  • [雑誌論文] Separation of Bias Stress Degradation Factors in Organic Thin-film Transistors2021

    • 著者名/発表者名
      K. Oshima, S. Bian, K. Kuribara, and T. Sato
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics (JJAP)

      巻: 60 号: SB ページ: SBBG06-SBBG06

    • DOI

      10.35848/1347-4065/abdcb2

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20K21793, KAKENHI-PROJECT-20H04156
  • [雑誌論文] APAS: Application-Specific Accelerators for RLWE-based Homomorphic Linear Transformations2021

    • 著者名/発表者名
      Bian Song、Kundi Dur E Shahwar、Hirozawa Kazuma、Liu Weiqiang、Sato Takashi
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Information Forensics and Security

      巻: 1 ページ: 4663-4678

    • DOI

      10.1109/tifs.2021.3114032

    • 査読あり / オープンアクセス / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20K19799, KAKENHI-PROJECT-20H04156, KAKENHI-PROJECT-20K21793
  • [雑誌論文] Statistical Extraction of Normally and Lognormally Distributed Model Parameters for Power MOSFETs2020

    • 著者名/発表者名
      Tsukamoto Hiroki、Shintani Michihiro、Sato Takashi
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing

      巻: 33 号: 2 ページ: 1-1

    • DOI

      10.1109/tsm.2020.2975300

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [雑誌論文] Measurement and Modeling of Ambient-air-induced Degradation in Organic Thin-Film Transistor2020

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani, Michiaki Saito, Kazunori Kuribara, Yasuhiro Ogasahara, and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing

      巻: 33 号: 2 ページ: 216-223

    • DOI

      10.1109/tsm.2020.2986609

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K18025, KAKENHI-PROJECT-20H04156
  • [雑誌論文] Measurement and Modeling of Ambient-air-induced Degradation in Organic Thin-film Transistor2020

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani, Michiaki Saito, Kazunori Kuribara, Yasuhiro Ogasahara, and Takashi Sato,
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing

      巻: 33 ページ: 1-1

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [雑誌論文] Organic Current Mirror PUF for Improved Stability Against Device Aging2020

    • 著者名/発表者名
      Zhaoxing Qin, Michihiro Shintani, Kazunori Kuribara, Yasuhiro Ogasahara, and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEEE Sensors Journal

      巻: 20 号: 14 ページ: 1-1

    • DOI

      10.1109/jsen.2020.2986077

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713, KAKENHI-PROJECT-20K21793, KAKENHI-PROJECT-20H04156
  • [雑誌論文] Ed-PUF: Event Driven Physical Unclonable Function for Camera Authentication in Reactive Monitoring System2020

    • 著者名/発表者名
      Yue Zheng, Xiaojin Zhao, Takashi Sato, Yuan Cao, and Chip-Hong Chang
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Information Forensics and Security

      巻: 15 ページ: 2824-2839

    • DOI

      10.1109/tifs.2020.2977597

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [雑誌論文] Recovery-aware Bias-stress Degradation Model for Organic Thin-film Transistors Considering Drain and Gate Bias Voltages2020

    • 著者名/発表者名
      Kunihiro Oshima, Michihiro Shintani, Kazunori Kuribara, Yasuhiro Ogasahara, and Takashi Sato
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics (JJAP), Vol.59, No.SG, pp.SGGG08, March 2020

      巻: 59 号: SG ページ: 1-8

    • DOI

      10.7567/1347-4065/ab6460

    • NAID

      210000157860

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [雑誌論文] Hardware-Accelerated Secured Naïve Bayesian Filter Based on Partially Homomorphic Encryption2019

    • 著者名/発表者名
      S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: E102.A 号: 2 ページ: 430-439

    • DOI

      10.1587/transfun.E102.A.430

    • NAID

      130007587609

    • ISSN
      0916-8508, 1745-1337
    • 年月日
      2019-02-01
    • 言語
      英語
    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713, KAKENHI-PROJECT-17J06952
  • [雑誌論文] Feasibility of a low-power, low-voltage complementary organic thin film transistor buskeeper physical unclonable function2019

    • 著者名/発表者名
      Ogasahara Yasuhiro、Kuribara Kazunori、Shintani Michihiro、Sato Takashi
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 58 号: SB ページ: SBBG03-SBBG03

    • DOI

      10.7567/1347-4065/aaf7fd

    • NAID

      210000135297

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K16031, KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [雑誌論文] GPU-based Ising Computing for Solving Max-cut Combinatorial Optimization Problems2019

    • 著者名/発表者名
      Chase Cook, Hengyang Zhao, Takashi Sato, Masayuki Hiromoto, and Sheldon Tan
    • 雑誌名

      Integration, the VLSI Journal

      巻: 69 ページ: 335-334

    • DOI

      10.1016/j.vlsi.2019.07.003

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [雑誌論文] Surface-potential-based silicon carbide power MOSFET model for circuit simulation2018

    • 著者名/発表者名
      M. Shintani, Y. Nakamura, K. Oishi, M. Hiromoto, T. Hikihara, and T. Sato
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Power Electronics (TPEL)

      巻: 33 号: 12 ページ: 0774-10783

    • DOI

      10.1109/tpel.2018.2805808

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [雑誌論文] Mechanically and electrically robust metal-mask design for organic CMOS circuits2018

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani, Zhaoxing Qin, Kazunori Kuribara, Yasuhiro Ogasahara, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics (JJAP)

      巻: 57 号: 4S ページ: 04FL05-04FL05

    • DOI

      10.7567/jjap.57.04fl05

    • NAID

      210000148964

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [雑誌論文] Coin flipping PUF: A novel PUF with improved resistance against machine learning attacks2018

    • 著者名/発表者名
      Yuki Tanaka, Song Bian, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs (TCASII)

      巻: -

    • NAID

      120006463756

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [雑誌論文] Efficient Mini-Batch Training on Memristor Neural Network Integrating Gradient Calculation and Weight Update2018

    • 著者名/発表者名
      S. Yamamori, M. Hiromoto, and T. Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: E101.A 号: 7 ページ: 1092-1100

    • DOI

      10.1587/transfun.E101.A.1092

    • NAID

      130007386698

    • ISSN
      0916-8508, 1745-1337
    • 年月日
      2018-07-01
    • 言語
      英語
    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [雑誌論文] MRO-PUF: Physically Unclonable Function with Enhanced Resistance against Machine Learning Attacks Utilizing Instantaneous Output of Ring Oscillator2018

    • 著者名/発表者名
      M. Hiromoto, M. Yoshinaga, and T. Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: E101.A 号: 7 ページ: 1035-1044

    • DOI

      10.1587/transfun.E101.A.1035

    • NAID

      130007386621

    • ISSN
      0916-8508, 1745-1337
    • 年月日
      2018-07-01
    • 言語
      英語
    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [雑誌論文] Efficient mini-batch training on memristor neural network integrating gradient calculation and weight update2018

    • 著者名/発表者名
      Satoshi Yamamori, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Transactions of Fundamentals on Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: -

    • NAID

      130007386698

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [雑誌論文] MRO-PUF: Physically unclonable function with enhanced resistance against machine learning attacks utilizing instantaneous output of ring oscillator2018

    • 著者名/発表者名
      Masayuki Hiromoto, Motoki Yoshinaga, and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions of Fundamentals on Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: -

    • NAID

      130007386621

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [雑誌論文] Coin flipping PUF: A novel PUF with improved resistance against machine learning attacks2018

    • 著者名/発表者名
      Y. Tanaka, S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Circuits and Systems--II: Express Briefs (TCASII)

      巻: 65 号: 5 ページ: 602-606

    • DOI

      10.1109/tcsii.2018.2821267

    • NAID

      120006463756

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713, KAKENHI-PROJECT-17J06952
  • [雑誌論文] Area Efficient Annealing Processor for Ising Model without Random Number Generator2018

    • 著者名/発表者名
      Hidenori Gyoten, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems

      巻: E101.D 号: 2 ページ: 314-323

    • DOI

      10.1587/transinf.2017RCP0015

    • NAID

      130006328493

    • ISSN
      0916-8532, 1745-1361
    • 言語
      英語
    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [雑誌論文] Path clustering for test pattern reduction of variation-aware adaptive path delay testing2017

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani, Takumi Uezono, Kazumi Hatayama, Kazuya Masu, and Takashi Sato
    • 雑誌名

      Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA)

      巻: 32 号: 5 ページ: 601-609

    • DOI

      10.1007/s10836-016-5614-0

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014, KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [雑誌論文] Identification and Application of Invariant Critical Paths under NBTI Degradation2017

    • 著者名/発表者名
      Song Bian, Shumpei Morita, Michihiro Shintani, Hiromitsu Awano, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: E100.A 号: 12 ページ: 2797-2806

    • DOI

      10.1587/transfun.E100.A.2797

    • NAID

      130006236529

    • ISSN
      0916-8508, 1745-1337
    • 言語
      英語
    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713, KAKENHI-PROJECT-17J06952, KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [雑誌論文] Utilization of Path-Clustering in Efficient Stress-Control Gate Replacement for NBTI Mitigation2017

    • 著者名/発表者名
      Shumpei Morita, Song Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: E100.A 号: 7 ページ: 1464-1472

    • DOI

      10.1587/transfun.E100.A.1464

    • NAID

      130007311781

    • ISSN
      0916-8508, 1745-1337
    • 言語
      英語
    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713, KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [雑誌論文] PHRHELIA: particle-filter-based heart rate estimation from photoplethysmographic signals during physical exercise2017

    • 著者名/発表者名
      Yuya Fujita, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Bio-Medical Engineering

      巻: 印刷中

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12700
  • [雑誌論文] RTN in scaled transistors for on-chip random seed generation2017

    • 著者名/発表者名
      Abinash Mohanty, Ketul Sutaria, Hiromitsu Awano, Takashi Sato, and Yu Cao
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Very Large Scaspple Integration (VLSI) Systems

      巻: 印刷中 号: 8 ページ: 2248-2257

    • DOI

      10.1109/tvlsi.2017.2687762

    • 査読あり / オープンアクセス / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014, KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [雑誌論文] Utilization of path-clustering in efficient stress-control gate replacement for NBTI mitigation2017

    • 著者名/発表者名
      Shumpei Morita, Song Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions of Fundamentals on Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: 印刷中

    • NAID

      130007311781

    • 査読あり / 謝辞記載あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [雑誌論文] Efficient Aging-Aware Failure Probability Estimation Using Augmented Reliability and Subset Simulation2017

    • 著者名/発表者名
      Hiromitsu Awano and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: E100.A 号: 12 ページ: 2807-2815

    • DOI

      10.1587/transfun.E100.A.2807

    • NAID

      130006236530

    • ISSN
      0916-8508, 1745-1337
    • 言語
      英語
    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [雑誌論文] Scalable device array for statistical characterization of BTI-related parameters2017

    • 著者名/発表者名
      Hiromitsu Awano, Shumpei Morita, Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems

      巻: 25 号: 4 ページ: 1455-1466

    • DOI

      10.1109/tvlsi.2016.2638021

    • 査読あり / 謝辞記載あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014, KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [雑誌論文] Fast Estimation of NBTI-Induced Delay Degradation Based on Signal Probability2016

    • 著者名/発表者名
      Song Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: Vol.E99-C, No.7

    • NAID

      130005159598

    • 査読あり / 謝辞記載あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [雑誌論文] Efficient Aging-Aware SRAM Failure Probability Calculation via Particle Filter-Based Importance Sampling2016

    • 著者名/発表者名
      Hiromitsu Awano, Masayuki Hiromoto and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: E99.A 号: 7 ページ: 1390-1399

    • DOI

      10.1587/transfun.E99.A.1390

    • NAID

      130005159599

    • ISSN
      0916-8508, 1745-1337
    • 言語
      英語
    • 査読あり / 謝辞記載あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [雑誌論文] Efficient Aging-Aware SRAM Failure Probability Calculation via Particle Filter Based Importance Sampling2016

    • 著者名/発表者名
      Hiromitsu Awano, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: Vol.E99-C, No.7

    • NAID

      130005159599

    • 査読あり / 謝辞記載あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [雑誌論文] Fast Estimation of NBTI-Induced Delay Degradation Based on Signal Probability2016

    • 著者名/発表者名
      Song Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: E99.A 号: 7 ページ: 1400-1409

    • DOI

      10.1587/transfun.E99.A.1400

    • NAID

      130005159598

    • ISSN
      0916-8508, 1745-1337
    • 言語
      英語
    • 査読あり / 謝辞記載あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014, KAKENHI-PROJECT-15K15960
  • [雑誌論文] An Error Correction Scheme through Time Redundancy for Enhancing Persistent Soft-Error Tolerance of CGRAs2015

    • 著者名/発表者名
      Takashi Imagawa, Masayuki Hiromoto, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Electronics

      巻: E98.C 号: 7 ページ: 741-750

    • DOI

      10.1587/transele.E98.C.741

    • NAID

      130005086147

    • ISSN
      0916-8524, 1745-1353
    • 言語
      英語
    • 査読あり / 謝辞記載あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [雑誌論文] BTIarray: A time-overlapping transistor array for efficient statistical characterization of bias temperature instability2014

    • 著者名/発表者名
      Hiromitsu Awano, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

      巻: 14 号: 3 ページ: 833-843

    • DOI

      10.1109/tdmr.2014.2327164

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [雑誌論文] Automation of Model Parameter Estimation for Random Telegraph Noise2014

    • 著者名/発表者名
      Hirofumi Shimizu, Hiromitsu Awano, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: E97.A 号: 12 ページ: 2383-2392

    • DOI

      10.1587/transfun.E97.A.2383

    • NAID

      130004706400

    • ISSN
      0916-8508, 1745-1337
    • 言語
      英語
    • 査読あり / 謝辞記載あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [雑誌論文] Aging statistics based on trapping/detrapping: compact modeling and silicon validation2014

    • 著者名/発表者名
      Ketul B. Sutaria, Jyothi Bhaskarr Velamala, Chris Kim, Takashi Sato, and Yu Cao
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

      巻: 14 号: 2 ページ: 607-615

    • DOI

      10.1109/tdmr.2014.2308140

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [雑誌論文] IDDQ Outlier Screening through Two-Phase Approach: Clustering-Based Filtering and Estimation-Based Current-Threshold Determination2014

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems

      巻: E97.D 号: 8 ページ: 2095-2104

    • DOI

      10.1587/transinf.E97.D.2095

    • NAID

      130004679289

    • ISSN
      0916-8532, 1745-1361
    • 言語
      英語
    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [雑誌論文] A variability-aware adaptive test flow for test quality improvement2014

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani, Takumi Uezono, Tomoyuki Takahashi, Kazumi Hatayama, Takashi Aikyo, Kazuya Masu, and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Computer-Aided Design

      巻: 33 号: 7 ページ: 1056-1066

    • DOI

      10.1109/tcad.2014.2305835

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [雑誌論文] A Cost-Effective Selective TMR for Coarse-Grained Reconfigurable Architectures Based on DFG-Level Vulnerability Analysis2013

    • 著者名/発表者名
      Takashi Imagawa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Electronics

      巻: E96.C 号: 4 ページ: 454-462

    • DOI

      10.1587/transele.E96.C.454

    • NAID

      10031182821

    • ISSN
      0916-8524, 1745-1353
    • 言語
      英語
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [雑誌論文] Device-Parameter Estimation through IDDQ Signatures2013

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems

      巻: E96.D 号: 2 ページ: 303-313

    • DOI

      10.1587/transinf.E96.D.303

    • NAID

      10031167410

    • ISSN
      0916-8532, 1745-1361
    • 言語
      英語
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [雑誌論文] Parallel Acceleration Scheme for Monte Carlo Based SSTA Using Generalized STA Processing Element2013

    • 著者名/発表者名
      Hiroshi Yuasa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Electronics

      巻: E96.C 号: 4 ページ: 473-481

    • DOI

      10.1587/transele.E96.C.473

    • NAID

      10031182823

    • ISSN
      0916-8524, 1745-1353
    • 言語
      英語
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [雑誌論文] A Variability-Aware Energy-Minimization Strategy for Subthreshold Circuits2012

    • 著者名/発表者名
      Junya Kawashima, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: E95.A 号: 12 ページ: 2242-2250

    • DOI

      10.1587/transfun.E95.A.2242

    • NAID

      10031161358

    • ISSN
      0916-8508, 1745-1337
    • 言語
      英語
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [雑誌論文] Power Distribution Network Optimization for Timing Improvement with Statistical Noise Model and Timing Analysis2012

    • 著者名/発表者名
      Takashi Enami, Takashi Sato, and Masanori Hashimoto
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: E95.A 号: 12 ページ: 2261-2271

    • DOI

      10.1587/transfun.E95.A.2261

    • NAID

      10031161360

    • ISSN
      0916-8508, 1745-1337
    • 言語
      英語
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [雑誌論文] Bayesian Estimation of Multi-Trap RTN Parameters Using Markov Chain Monte Carlo Method2012

    • 著者名/発表者名
      Hiromitsu Awano, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: E95.A 号: 12 ページ: 2272-2283

    • DOI

      10.1587/transfun.E95.A.2272

    • NAID

      10031161361

    • ISSN
      0916-8508, 1745-1337
    • 言語
      英語
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [雑誌論文] Linear time calculation of on-chip power distribution network capacitance considering state-dependence2010

    • 著者名/発表者名
      Shiho Hagiwara, Koh Yamanaga, Ryo Takahashi, Kazuya Masu, Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions of Fundamentals on Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: Vol.E93-A, No.12 ページ: 2409-2416

    • NAID

      120005323043

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [雑誌論文] Reliability evaluation environment for exploring design space of coarse-grained reconfigurable architectures2010

    • 著者名/発表者名
      Takashi Imagawa, Masayuki Hiromoto, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions of Fundamentals on Electronics, Communications and Computer Sciences

      巻: Vol.E93-A, No.12 ページ: 2524-2532

    • NAID

      10027985803

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [雑誌論文] A Time-Slicing Ring Oscillator for Capturing Time-Dependent Delay Degradation and Power Supply Voltage Fluctuation"2010

    • 著者名/発表者名
      Takumi Uezono, Kazuya Masu, kashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics vol.E93-C,no.3

      ページ: 324-331

    • NAID

      10026824830

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [雑誌論文] A Time-Slicing Ring Oscillator for Capturing Time-Dependent Delay Degradation and Power Supply Voltage Fluctuation2010

    • 著者名/発表者名
      Takumi Uezono, Kazuya Masu, Takashi Sato
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics vol.E93-C, no.3

      ページ: 324-331

    • NAID

      10026824830

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [雑誌論文] One-Shot Voltage-Measurement Circuit Utilizing Process Variation2009

    • 著者名/発表者名
      Takumi Uezono, Takashi Sato, and Kazuya Masu
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics Vol.E92-A, No.4

      ページ: 1024-1030

    • NAID

      10026856922

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [雑誌論文] Physical design challenges to nano-CMOS circuits2009

    • 著者名/発表者名
      Kazuya Masu, Noboru Ishihara, Noriaki Nakayama, Takashi Sato, Shuhei Amakawa
    • 雑誌名

      IEICE Electronics Express(ELEX) vol.6 no.11

      ページ: 703-720

    • NAID

      130000121132

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [雑誌論文] Accurate array-based measurement for subthreshold-current of MOS transistors2009

    • 著者名/発表者名
      Takashi Sato, Hiroyuki Ueyama, Noriaki Nakayama, Kazuya Masu
    • 雑誌名

      IEEE Journal of Solid-State Circuits vol.44,no.11

      ページ: 2977-2986

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [雑誌論文] Analytical Estimation of Path-Delay Variation for Multi-Threshold CMOS Circuits2009

    • 著者名/発表者名
      Shiho Hagiwara, Takashi Sato, Kazuya Masu
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics vol.E92-A,no.4

      ページ: 1031-1038

    • NAID

      10026856933

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [雑誌論文] One-Shot Voltage-Measurement Circuit Utilizing Process Variation2009

    • 著者名/発表者名
      Takumi Uezono, Takashi Sato, Kazuya Masu
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics vol.E92-A, no.4

      ページ: 1024-1030

    • NAID

      10026856922

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [雑誌論文] Accurate array-based measurement for subthreshold-current of MOS transistors2009

    • 著者名/発表者名
      Takashi Sato, Hiroyuki Ueyama, Noriaki Nakayama, Kazuya Masu
    • 雑誌名

      IEEE Journal of Solid-State Circuits vol.44, no.11

      ページ: 2977-2986

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [雑誌論文] Physical design challenges to nano-CMOS circuits2009

    • 著者名/発表者名
      Kazuya Masu, Noboru Ishihara, Noriaki Nakayama, Takashi Sato, Shuhei Amakawa
    • 雑誌名

      IEICE Electronics Express (ELEX) vol.6no.11

      ページ: 703-720

    • NAID

      130000121132

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [雑誌論文] 2-Port Modeling Technique for Surface-Mount Passive Components Using Partial Inductance Concept2009

    • 著者名/発表者名
      Koh Yamanaga, Takashi Sato, Kazuya Masu
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics vol.E92-A, no.4

      ページ: 976-982

    • NAID

      10026856840

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [雑誌論文] One-Shot Voltage-Measurement Circuit Utilizing Process Variation2009

    • 著者名/発表者名
      Takumi Uezono, Takashi Sato, Kazuya Masu
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics vol.E92-A,no.4

      ページ: 1024-1030

    • NAID

      10026856922

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [雑誌論文] Analytical Estimation of Path-Delay Variation for Multi-Threshold CMOS Circuits2009

    • 著者名/発表者名
      Shiho Hagiwara, Takashi Sato, Kazuya Masu
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics vol.E92-A, no.4

      ページ: 1031-1038

    • NAID

      10026856933

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [雑誌論文] Application of Correlation-based Regression Analysis for Improvement of Power Distribution Network2008

    • 著者名/発表者名
      Shiho Hagiwara, Takumi Uezono, Takashi Sato, Kazuya Masu
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals 91-A

      ページ: 951-956

    • NAID

      10026848448

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [雑誌論文] Application of Correlation-based Regression Analysis for Improvement of Power Distribution Network2008

    • 著者名/発表者名
      Shiho, Hagiwara, Takumi, Uezono, Takashi, Sato, Kazuya, Masu
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals Vol. E91-A, No. 4

      ページ: 951-956

    • NAID

      10026848448

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [雑誌論文] Application of Correlation-based Regression Analysis for Improvement of Power Distribution Network,2008

    • 著者名/発表者名
      Shiho Hagiwara, Takumi Uezono, Takashi Sato, Kazuya Masu
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals Vol.E91-A,No.4

      ページ: 951-956

    • NAID

      10026848448

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [雑誌論文] Application of Correlation-based Regression Analysis for Improvement of Power Distribution Network,",2008

    • 著者名/発表者名
      S. Hagiwara, T. Uezono, T. Sato, K. Masu
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals E91-A(4)4

      ページ: 951-956

    • NAID

      10026848448

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [雑誌論文] Low-Loss Distributed Constant Passive Devices Using Wafer-Level Chip Scale Package Technology2007

    • 著者名/発表者名
      Hiroyuki, Ito, Hideyuki, Sugita, Kenichi, Okada, Tatsuya, Ito, Kazuhisa, Itoi, Masakazu, Sato, Ryozo, Yamauchi, Kazuya, Masu
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Electronics Vol. E90-C, No.3

      ページ: 641-643

    • NAID

      110007519598

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [雑誌論文] On-Chip Yagi-Uda Antenna for Horizontal Wireless Signal Transmission in Stacked Multi Chip Packaging2007

    • 著者名/発表者名
      Kazuma, Ohashi, Tackya, Yammouch, Makoto, Kimura, Hiroyuki, Ito, Kenichi, Okada, Kazuhisa, Itoi, Masakazu, Sato, Tatsuya, Ito, Ryozo, Yamauchi, Kazuya, Masu
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics Vol.46, No 4B

      ページ: 2283-2286

    • NAID

      210000062365

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [雑誌論文] On-Chip Yagi-Uda Antenna for Horizontal Wireless Signal Transmission in Stacked Multi Chip Packaging2007

    • 著者名/発表者名
      K. Ohashi, T. Yammouch, M. Kimura, H. Ito, K. Okada, K. Itoi, M. Sato, T. Ito, R. Yamauchi, and K. Masu
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics 46(4B

      ページ: 2283-2286

    • NAID

      210000062365

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [雑誌論文] Low-Loss Distributed Constant Passive Devices Using Wafer-Level Chip Scale Package Technology2007

    • 著者名/発表者名
      Hiroyuki Ito, Hideyuki Sugita, Kenichi Okada, Tatsuya Ito, Kazuhisa Itoi, Masakazu Sato, Ryozo Yamauchi, Kazuya Masu
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Electronics Vol.E90-C,No.3

      ページ: 641-643

    • NAID

      110007519598

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [雑誌論文] On-Chip Yagi-Uda Antenna for Horizontal Wireless Signal Transmission in Stacked Multi Chip Packaging2007

    • 著者名/発表者名
      K.Ohashi, T.Yammouch, M. Kimura, H.Ito, K.Okada, K.Itoi, M.Sato, T.Ito, R.Yamauchi, and K. Masu
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics 46(4B

      ページ: 2283-2286

    • NAID

      210000062365

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [雑誌論文] Low-Loss Distributed Constant Passive Devices Using Wafer-Level Chip Scale Package Technology2007

    • 著者名/発表者名
      Hiroyuki Ito, Hideyuki Sugita, Kenichi Okada, Tatsuya Ito, Kazuhisa Itoi, Masakazu Sato, Ryozo Yamauchi, Kazuya Masu
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Electronics VolE90-C No.3

      ページ: 641-643

    • NAID

      110007519598

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [雑誌論文] Low-Loss Distributed Constant Passive Devices Using Wafer-Level Chip Scale Package Technology2007

    • 著者名/発表者名
      Hiroyuki Ito, Hideyuki Sugita, Kenichi Okada, Tatsuya Ito, Kazuhisa Itoi, Masakazu Sato, Ryozo Yamauchi, Kazuya Masu
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Electronics Vol.E90-C No.3

      ページ: 641-643

    • NAID

      110007519598

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [雑誌論文] Low-Loss Distributed Constant Passive Devices Using Wafer-Level Chip Scale Package Technology2007

    • 著者名/発表者名
      H. Ito, H. Sugita, K. Okada, T. Ito, K. Itoi, M. Sato, R. Yamauchi, and K. Masu
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Electronics E90-C(3)

      ページ: 641-643

    • NAID

      110007519598

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [雑誌論文] On-Chip High-Q Variable Inductor Using Wafer-Level Chip-Scale Package Technology2006

    • 著者名/発表者名
      K. Okada, H. Sugawara, H. Ito, K. Itoi, M. Sato, H. Abe, T. Ito, and K. Masu
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Electron Devices 53(9)

      ページ: 2401-2406

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [雑誌論文] On-Chip High-Q Variable Inductor Using Wafer-Level Chip-Scale Package Technology2006

    • 著者名/発表者名
      Kenicni Okada, Hirotaka Sugawara, Hiroyuki Ito, Kazuhisa Itoi, Masakazu Sato, Hiroshi Abe, Tatsuya Ito, Kazuya Masu
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Electron Devices Vol.53, No.9

      ページ: 2401-2406

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [雑誌論文] On-Chio High-Q Varible Inductor Using Wafer-Level Chip-Scale Package Technology2006

    • 著者名/発表者名
      Kenichi Okada, Hirotaka Sugawara, Hiroyuki Ito, Kazuhisa Itoi, Masakazu Sato, Hiroshi Abe, Tatsuya Ito, Kazuya Masu
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Electron Devices Vol.53,No.9

      ページ: 2401-2406

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [雑誌論文] On-Chip High-Q Variable Inductor Using Wafer-Level Chip-Scale Package Technology2006

    • 著者名/発表者名
      Kenichi Okada, Hirotaka Sugawara, Hiroyuki Ito, Kazuhisa Itoi, Masakazu Sato, Hiroshi Abe, Tatsuya Ito, Kazuya Masu
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Electron Devices Vol.53,No.9

      ページ: 2401-2406

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [雑誌論文] On-Chip High-Q Variable Inductor Using Wafer-Level Chip-Scale Package Technology2006

    • 著者名/発表者名
      Kenichi, Okada, Hirotaka, Sugawara, Hiroyuki, Ito, Kazuhisa, Itoi, Masakazu, Sato, Hiroshi, Abe, Tatsuya, Ito, Kazuya, Masu
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Electron Devices Vol. 53, No. 9

      ページ: 2401-2406

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [産業財産権] PUF回路群,PUF回路群の製造方法,PUF回路の使用方法,及びネットワークシステム2018

    • 発明者名
      佐藤高史、田中悠貴、辺松、廣本正之
    • 権利者名
      佐藤高史、田中悠貴、辺松、廣本正之
    • 産業財産権種類
      特許
    • 産業財産権番号
      2018-154477
    • 出願年月日
      2018
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [産業財産権] 太陽電池, 複合太陽電池および集積回路2013

    • 発明者名
      越智裕之, 佐藤高史, 池辺卓
    • 権利者名
      国立大学法人京都大学
    • 産業財産権種類
      特許
    • 産業財産権番号
      2013-020277
    • 出願年月日
      2013-02-05
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23300015
  • [産業財産権] 太陽電池、複合太陽電池および集積回路2013

    • 発明者名
      越智裕之、佐藤高史、池辺卓
    • 権利者名
      国立大学法人京都大学
    • 産業財産権種類
      特許
    • 産業財産権番号
      2013-020277
    • 出願年月日
      2013
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23300015
  • [産業財産権] 回路モデル作成装置、回路モデル作成方法、シミュレーション装置、及び、シミュレーション方法」2009

    • 発明者名
      佐藤高史、益一哉、山長功
    • 権利者名
      東京工業大学
    • 産業財産権番号
      2009-050343
    • 出願年月日
      2009-03-04
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [産業財産権] 電圧測定装置、集積回路基板、及び、電圧測定方法2008

    • 発明者名
      佐藤高史、上薗巧、益一哉
    • 権利者名
      東京工業大学
    • 産業財産権番号
      2008-081781
    • 出願年月日
      2008-03-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [学会発表] Design of aging-robust clonable PUF using organic thin-film transistors and insulator-based ReRAM2024

    • 著者名/発表者名
      Kunihiro Oshima, Kazunori Kuribara, and Takashi Sato
    • 学会等名
      ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23K28052
  • [学会発表] Triplet network-based DNA encoding for enhanced similarity image retrieval2024

    • 著者名/発表者名
      Takefumi Koike, Hiromitsu Awano, and Takashi Sato
    • 学会等名
      Proc. ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23K18462
  • [学会発表] DNA-based similar image retrieval via triplet network-driven encoder2024

    • 著者名/発表者名
      Koike, Hiromitsu Awano, and Takashi Sato
    • 学会等名
      Proc. Design, Automation and Test in Europe (DATE)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23K18462
  • [学会発表] Fast parameter optimization of delayed feedback reservoir with backpropagation and gradient descent2024

    • 著者名/発表者名
      Sosei Ikeda, Hiromitsu Awano, and Takashi Sato
    • 学会等名
      Design, Automation and Test in Europe (DATE)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23K28052
  • [学会発表] Experimental study of pass/fail threshold determination based on Gaussian process regression2024

    • 著者名/発表者名
      Daisuke Goeda, Tomoki Nakamura, Masuo Kajiyama, Makoto Eiki, Takashi Sato, and Michihiro Shintani
    • 学会等名
      Workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23K28052
  • [学会発表] Enhancing visual similarities in DNA-based similar image retrieval2024

    • 著者名/発表者名
      Takefumi Koike and Takashi Sato
    • 学会等名
      Proc. Workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23K18462
  • [学会発表] Triplet network-based DNA encoding for enhanced similarity image retrieval2024

    • 著者名/発表者名
      Takefumi Koike, Hiromitsu Awano, and Takashi Sato
    • 学会等名
      ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23K28052
  • [学会発表] Introducing Transfer Learning Framework on Device Modeling by Machine Learning2023

    • 著者名/発表者名
      Kota Niiyama, Hiromitu Awano, and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20H04156
  • [学会発表] OPTL: Robust and area-efficient pass gate logic for organic transistors2023

    • 著者名/発表者名
      Qin Zhaoxing, Kunihiro Oshima, Kazunori Kuribara, and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE International Conference on Flexible and Printable Sensors and Systems (FLEPS)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20K21793
  • [学会発表] OPTL: Robust and area-efficient pass gate logic for organic transistors2023

    • 著者名/発表者名
      Qin Zhaoxing, Kunihiro Oshima, Kazunori Kuribara, and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE International Conference on Flexible and Printable Sensors and Systems (FLEPS)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23K28052
  • [学会発表] Improving efficiency and robustness of Gaussian process based outlier detection via ensemble learning2023

    • 著者名/発表者名
      Makoto Eiki, Tomoki Nakamura, Masuo Kajiyama, Michiko Inoue, Takashi Sato, and Michihiro Shintani
    • 学会等名
      International Test Conference (ITC)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23K28052
  • [学会発表] Integer-wise型TFHEの算術演算の高速化2023

    • 著者名/発表者名
      松岡 航太郎, 星月 祐介, 佐藤 高史, Song Bian
    • 学会等名
      暗号とセキュリティシンポジウム
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20K21793
  • [学会発表] Respiratory rate estimation based on WiFi frame capture2022

    • 著者名/発表者名
      Takamochi Kanda, Takashi Sato, Hiromitsu Awano, Sota Kondo, and Koji Yamamoto
    • 学会等名
      IEEE Consumer Communications & Networking Conference (CCNC)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20K21793
  • [学会発表] dGPLVM: A nonparametric device model for statistical circuit simulation2022

    • 著者名/発表者名
      Kyohei Shimozato and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20K21793
  • [学会発表] Investigation of layout-dependent characteristic change for improving performance of organic thin-film transistors2022

    • 著者名/発表者名
      Kunihiro Oshima, Kazunori Kuribara, and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS)
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20H04156
  • [学会発表] Respiratory rate estimation based on WiFi frame capture2022

    • 著者名/発表者名
      Takamochi Kanda, Takashi Sato, Hiromitsu Awano, Sota Kondo, and Koji Yamamoto
    • 学会等名
      IEEE Consumer Communications & Networking Conference (CCNC)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20H04156
  • [学会発表] Feasibility of the Efficient OTFT Array Measurement for the Long-term Reliability Evaluation Using External Measurement Board2022

    • 著者名/発表者名
      Yasuhiro Ogasahara, Kazunori Kuribara, and Takashi Sato
    • 学会等名
      International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20H04156
  • [学会発表] Aging-robust Amplifier Design Using Low Voltage Organic Semiconductor Loads2022

    • 著者名/発表者名
      Yuto Kaneiwa, Kazunori Kuribara, and Takashi Sato
    • 学会等名
      International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20H04156
  • [学会発表] Evaluating Accuracy of Quantum Circuit Learning via Quantum Circuit Mapping2022

    • 著者名/発表者名
      Nanao Segawa and Takashi Sato
    • 学会等名
      Workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20H04156
  • [学会発表] SNRoverSDNN: A Metric for Robust CNN-based ROI Selection in Remote Heart Rate Extraction2022

    • 著者名/発表者名
      Yuta Hitotsuyanagi and Takashi Sato
    • 学会等名
      Workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20H04156
  • [学会発表] 完全準同型暗号におけるBNNを用いた高速な秘匿推論手法の実装と評価2022

    • 著者名/発表者名
      橋詰 陽太, 古川 修平, 松本 直樹, 伴野 良太郎, 松岡 航太郎, 佐藤 高史
    • 学会等名
      情報処理学会第84回全国大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20K21793
  • [学会発表] Layout-dependent vertical and in-plane leakage current reduction of organic thin-film transistors by layer contact restriction2022

    • 著者名/発表者名
      Kunihiro Oshima, Kazunori Kuribara, and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20H04156
  • [学会発表] Evaluating accuracy of quantum circuit learning via quantum circuit mapping2022

    • 著者名/発表者名
      Nanao Segawa and Takashi Sato
    • 学会等名
      Workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20K21793
  • [学会発表] 量子計算の誤り軽減のための量子ビット初期配置手法2021

    • 著者名/発表者名
      瀬川 七央, 佐藤 高史
    • 学会等名
      回路とシステムワークショップ
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20H04156
  • [学会発表] 量子計算の誤り軽減のための量子ビット初期配置手法2021

    • 著者名/発表者名
      瀬川 七央, 佐藤 高史
    • 学会等名
      回路とシステムのワークショップ
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20K21793
  • [学会発表] WiFiフレームキャプチャに基づく呼吸数推定に関する検討2021

    • 著者名/発表者名
      神田 高望, 佐藤 高史, 粟野 皓光, 近藤 綜太, 山本高至
    • 学会等名
      信学技報 SRW SeMI CNR
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20K21793
  • [学会発表] Clonable PUF: On the design of PUFs that share equivalent responses2021

    • 著者名/発表者名
      Takashi Sato, Yuki Tanaka, and Song Bian
    • 学会等名
      IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20K21793
  • [学会発表] Clonable PUF: On the design of PUFs that share equivalent responses2021

    • 著者名/発表者名
      Takashi Sato, Yuki Tanaka, and Song Bian
    • 学会等名
      IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20H04156
  • [学会発表] 複数カメラと粒子フィルタを用いた体動にロバストな心拍推定手法2021

    • 著者名/発表者名
      一柳 優太, 佐藤 高史
    • 学会等名
      回路とシステムワークショップ
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20H04156
  • [学会発表] WiFiフレームキャプチャに基づく呼吸数推定に関する検討2021

    • 著者名/発表者名
      神田 高望, 佐藤 高史, 粟野 皓光, 近藤 綜太, 山本高至
    • 学会等名
      信学技報 SRW SeMI CNR
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20H04156
  • [学会発表] Towards better standard cell library: Optimizing compound logic gates for TFHE2021

    • 著者名/発表者名
      Kotaro Matsuoka, Yusuke Hoshizuki, Takashi Sato and Song Bian
    • 学会等名
      ACM Workshop on Encrypted Computing & Applied Homomorphic Cryptography (WAHC)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20K21793
  • [学会発表] 統計的回路シミュレーションのための非正規分布モデルパラメータの生成2021

    • 著者名/発表者名
      佐藤 高史, 塚本 裕貴, 辺 松, 新谷道広
    • 学会等名
      信学技報 SDM研究会
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20H04156
  • [学会発表] Automatic parallelism tuning for module learning with errors based post-Quantum key exchanges on GPUs2021

    • 著者名/発表者名
      Tatsuki Ono, Song Bian, and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20K21793
  • [学会発表] Privacy-preserving Medical Image Segmentation via Hybrid Trusted Execution Environment2021

    • 著者名/発表者名
      S. Bian, W. Jiang, and T. Sato
    • 学会等名
      ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20K21793
  • [学会発表] Hierarchical overlapped clustering for Ising-model based TSP solver2021

    • 著者名/発表者名
      Riu Shimizu, Song Bian and Takashi Sato
    • 学会等名
      Workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20H04156
  • [学会発表] 統計的回路シミュレーションのための非正規分布モデルパラメータの生成(招待)2021

    • 著者名/発表者名
      佐藤 高史, 塚本 裕貴, 辺 松, 新谷道広
    • 学会等名
      信学技報 SDM研究会
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20K21793
  • [学会発表] Adaptive outlier detection for power MOSFETs based on Gaussian process regression2021

    • 著者名/発表者名
      Kyohei Shimozato, Michihiro Shintani, and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20K21793
  • [学会発表] 商用Wi-Fiデバイスを使用したピーク位置推定に基づく心拍変動の推定2021

    • 著者名/発表者名
      白神 樹, 佐藤 高史
    • 学会等名
      回路とシステムワークショップ
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20H04156
  • [学会発表] 大規模MOSFETリザバーの高速シミュレーション2021

    • 著者名/発表者名
      村田 寛也, 久米 祐貴, 辺 松, 粟野 皓光, 佐藤 高史
    • 学会等名
      DA シンポジウム
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20H04156
  • [学会発表] 統計的回路シミュレーションのための非正規分布モデルパラメータの生成2021

    • 著者名/発表者名
      佐藤 高史, 塚本 裕貴, 辺 松, 新谷道広統計的回路シミュレーションのための非正規分布モデルパラメータの生成(招待)
    • 学会等名
      信学技報 SDM研究会
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20K21793
  • [学会発表] Motion robust remote photoplethsymography via frequency domain motion artifact reduction2021

    • 著者名/発表者名
      Suraj Hebber and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE Biomedical Circuits and Systems Conference (BIOCAS)
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20H04156
  • [学会発表] Automatic Parallelism Tuning for Module Learning With Errors Based Post-Quantum Key Exchanges on GPUs2021

    • 著者名/発表者名
      T. Ono, S. Bian, and T. Sato
    • 学会等名
      IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20K21793
  • [学会発表] Virtual secure platform: A five-stage pipeline processor over TFHE2021

    • 著者名/発表者名
      Kotaro Matsuoka, Ryotaro Banno, Naoki Matsumoto, Takashi Sato, and Song Bian
    • 学会等名
      Usenix Security Symposium
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20K21793
  • [学会発表] Rail-to-rail output voltage swing of inverter with organic thin-film transistor at 2.5V Vdd toward reliable operation of low leakage large scale logic circuits2021

    • 著者名/発表者名
      Yasuhiro Ogasahara, Kazunori Kuribara, Kunihiro Oshima, and Takashi Sato
    • 学会等名
      International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20H04156
  • [学会発表] Extraction of heart rate variability using commodity Wi-Fi devices2021

    • 著者名/発表者名
      Itsuki Shirakami and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE Conference on Biomedical and Health Informatics (BHI),
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20H04156
  • [学会発表] An SRAM-based scratchpad memory for organic IoT sensors2021

    • 著者名/発表者名
      Zhaoxing Qin, Kazunori Kuribara, and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE International Conference on Flexible and Printable Sensors and Systems (FLEPS)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20H04156
  • [学会発表] Virtual Secure Platform: A Five-stage Pipeline Processor Over TFHE2021

    • 著者名/発表者名
      K. Matsuoka, R. Banno, N. Matsumoto, T. Sato, and S. Bian
    • 学会等名
      Usenix Security Symposium
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20K21793
  • [学会発表] Privacy-preserving medical image segmentation via hybrid trusted execution environment2021

    • 著者名/発表者名
      Song Bian, Weiweng Jiang, and Takashi Sato
    • 学会等名
      ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20K21793
  • [学会発表] Clonable PUF: On the Design of PUFs That Share Equivalent Responses2021

    • 著者名/発表者名
      T. Sato, Y. Tanaka, and S. Bian
    • 学会等名
      IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20K21793
  • [学会発表] Automatic parallelism tuning for module learning with errors based post-Quantum key exchanges on GPUs2021

    • 著者名/発表者名
      Tatsuki Ono, Song Bian, and Takashi Sato
    • 学会等名
      International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20H04156
  • [学会発表] NASS: Optimizing Secure Inference via Neural Architecture Search2020

    • 著者名/発表者名
      Song Bian, Weiwen Jiang, Qing Lu, Yiyu Shi, and Takashi Sato
    • 学会等名
      European Conference on Artificial Intelligence (ECAI), June 2020
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] n型有機薄膜トランジスタにおけるバイアス・ストレス特性変動物理メカニズムの実験的評価2020

    • 著者名/発表者名
      大島 國弘, 栗原 一徳, 辺 松, 佐藤 高史
    • 学会等名
      DA シンポジウム
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20H04156
  • [学会発表] A Tuning-Free Hardware Reservoir Based on MOSFET Crossbar Array for Practical Echo State Network Implementation,2020

    • 著者名/発表者名
      Yuki Kume, Song Bian, and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEICE Technical Report, pp.139-144, March 2020
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] NASS: Optimizing Secure Inference via Neural Architecture Search2020

    • 著者名/発表者名
      S. Bian, W. Jiang, Q. Lu, Y. Shi, and T. Sato
    • 学会等名
      European Conference on Artificial Intelligence (ECAI)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20K21793
  • [学会発表] Design of an organic SRAM cell with p-type access transistors2020

    • 著者名/発表者名
      Qin Zhaoxing, Kazunori Kuribara, Song Bian, and Takashi Sato
    • 学会等名
      International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20H04156
  • [学会発表] BUNET: Blind Medical Image Segmentation Based on Secure UNET2020

    • 著者名/発表者名
      S. Bian, X. Xu, W. Jiang, Y. Shi, and T. Sato
    • 学会等名
      Medical Image Computing and Computer Assisted Interventions (MICCAI)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20K21793
  • [学会発表] Clustering Approach for Solving Traveling Salesman Problems via Ising Model Based Solver2020

    • 著者名/発表者名
      Akira Dan, Riu Shimizu, Takeshi Nishikawa, Song Bian and Takashi Sato
    • 学会等名
      ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC), July 2020
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] ENSEI: Efficient Secure Inference via Frequency-domain Homomorphic Convolution for Privacy-preserving Visual Recognition2020

    • 著者名/発表者名
      Song Bian, Tianchen Wang, Masayuki Hiromoto, Yiyu Shi, and Takashi Sato
    • 学会等名
      Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR), June 2020
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] An electrothermal compact model of SiC MOSFETs for simulating unclamped inductive switching tests2020

    • 著者名/発表者名
      Kyohei Shimozato, Yohei Nakamura, Song Bian, and Takashi Sato
    • 学会等名
      International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20H04156
  • [学会発表] A Tuning-free Hardware Reservoir Based on MOSFET Crossbar Array for Practical Echo State Network Implementation2020

    • 著者名/発表者名
      Yuki Kume, Song Bian, and Takashi Sato
    • 学会等名
      ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), pp.458-463, January 2020
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] ENSEI: Efficient Secure Inference via Frequency-domain Homomorphic Convolution for Privacy-preserving Visual Recognition2020

    • 著者名/発表者名
      S. Bian, T. Wang, M. Hiromoto, Y. Shi, and T. Sato
    • 学会等名
      Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20K21793
  • [学会発表] Quantification of insulator and semiconductor carrier trapping in organic thin film transistors using DNTT and TU-12020

    • 著者名/発表者名
      Kunihiro Oshima, Kazunori Kuribara, Song Bian, and Takashi Sato
    • 学会等名
      International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20H04156
  • [学会発表] Clustering approach for solving traveling salesman problems via Ising model based solver2020

    • 著者名/発表者名
      Akira Dan, Riu Shimizu, Takeshi Nishikawa, Song Bian and Takashi Sato
    • 学会等名
      ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20H04156
  • [学会発表] Performance Evaluation of Echo State Networks With Hardware Reservoirs2020

    • 著者名/発表者名
      Yuki Kume, Song Bian, Kenta Nagura, and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEICE Technical Report, pp.245-250, March 2020
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] OCM-PUF: An Organic Current Mirror PUF With Enhanced Resilience to Device Degradation2019

    • 著者名/発表者名
      Zhaoxing Qin, Michihiro Shintani, Kazunori Kuribara, Yasuhiro Ogasahara, and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE International Conference on Flexible and Printable Sensors and Systems (FLEPS)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] A Three-level Active Gate Drive Circuit for Power MOSFETs Utilizing a Generic Gate Driver IC,2019

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani, Kazuki Oishi, and Takashi Sato
    • 学会等名
      International Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ICSCRM), September 2019
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] Filianore: Better multiplier architectures for LWE-based post-quantum key exchange2019

    • 著者名/発表者名
      S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato
    • 学会等名
      ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] A Tuning-free Reservoir of MOSFET Crossbar Array for Inexpensive Hardware Realization of Echo State Network2019

    • 著者名/発表者名
      Yuki Kume, Masayuki Hiromoto and Takashi Sato
    • 学会等名
      The 22nd workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), pp.324-349, October 2019
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] Estimation of NBTI-induced Timing Degradation Considering Duty Ratio2019

    • 著者名/発表者名
      Kunihiro Oshima, Song Bian and Takashi Sato
    • 学会等名
      The 22nd workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), pp.330-335, October 2019
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] Experimental Study of Bias Stress Degradation of Organic Thin Film Transistors2019

    • 著者名/発表者名
      Kunihiro Oshima, Michiaki Saito, Michihiro Shintani, Kazunori Kuribara, Yasuhiro Ogasahara, and Takashi Sato
    • 学会等名
      International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM), pp.89-90, September 2019
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] Heart Rate Estimation During Exercise from Photoplethysmographic Signals Using Convolutional Neural Network2019

    • 著者名/発表者名
      Masaki Nakamura and Takashi Sato
    • 学会等名
      Biomedical Circuits and Systems Conference (BIOCAS), pp.1-4, October 2019
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] レプリカ交換イジングモデルソルバにおけるレプリカトポロジーと温度割当方法に関する検討2019

    • 著者名/発表者名
      党 璋, 佐藤 高史
    • 学会等名
      信学技報 VLD研究会, pp.7-12, May 2019
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] DArL: Dynamic parameter adjustment for LWE-based secure inference2019

    • 著者名/発表者名
      S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato
    • 学会等名
      Design, Automation and Test in Europe (DATE)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] Parameter Extraction Procedure for Surface-potential-based SiC MOSFET Model2019

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani, Hiroki Tsukamoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications (WiPDA), pp.444-448, October 2019
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] Improved Multiplier Architecture on ASIC for RLWE-based Key Exchange2019

    • 著者名/発表者名
      Tatsuki Ono, Song Bian and Takashi Sato
    • 学会等名
      The 22nd workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), pp.39-40, October 2019
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] OCM-PUF: An Organic Current Mirror PUF With Enhanced Resilience to Device Degradation2019

    • 著者名/発表者名
      Zhaoxing Qin, Michihiro Shintani, Kazunori Kuribara, Yasuhiro Ogasahara, and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE International Conference on Flexible and Printable Sensors and Systems (FLEPS), pp.1-3, July 2019.
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] 有機薄膜トランジスタの実測に基づくバイアス・ストレス劣化の要因とモデル化に関する検討2019

    • 著者名/発表者名
      大島 國弘, 齋藤 成晃, 新谷 道広, 栗原 一徳, 小笠原 泰弘, 佐藤 高史
    • 学会等名
      DA シンポジウム, pp.214-219, August 2019
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] Filianore: Better Multiplier Architectures for LWE-based Post-quantum Key Exchange2019

    • 著者名/発表者名
      Song Bian, Masayuki Hiromoto and Takashi Sato
    • 学会等名
      ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC), pp.52.4:1-52.4:6, June 2019
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] 畳み込みニューラルネットワークを利用した光電容積脈波からの運動時心拍推定手法2019

    • 著者名/発表者名
      中村 公暉, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      回路とシステムワークショップ, pp.7-12, August 2019
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] Approximate computing を用いたLWE暗号の高効率復号回路2018

    • 著者名/発表者名
      辺 松, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      情報処理学会DAシンポジウム
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] Ising-PUF: A Machine Learning Attack Resistant PUF Featuring Lattice Like Arrangement of Arbiter-PUFs2018

    • 著者名/発表者名
      Hiromitsu Awano and Takashi Sato
    • 学会等名
      Design, Automation and Test in Europe (DATE)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] Enhancing the solution quality of hardware Ising-model solver via parallel tempering2018

    • 著者名/発表者名
      H. Gyoten, M. Hiromoto, and T. Sato
    • 学会等名
      IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] メモリスタを用いた等価な応答を返すPUF対の検討2018

    • 著者名/発表者名
      田中 悠貴, 辺 松, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      情報処理学会DAシンポジウム
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] Fast and robust heart rate estimation from videos through dynamic region selection2018

    • 著者名/発表者名
      Y. Fujita, M. Hiromoto, and T. Sato
    • 学会等名
      International Engineering in Medicine and Biology Conference (EMBC)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] A transient approach for input capacitance characterization of power devices2018

    • 著者名/発表者名
      T. Sato
    • 学会等名
      IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT)
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] DWE: Decrypting learning with errors with errors2018

    • 著者名/発表者名
      S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato
    • 学会等名
      ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] RRAM/CMOS-Hybrid Architecture of Annealing Processor for Fully Connected Ising Model2018

    • 著者名/発表者名
      Shogo Matsumoto, Hidenori Gyoten, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      International Memory Workshop (IMW)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H03214
  • [学会発表] NBTI劣化によるArbiter PUFの応答変化に関する検討2018

    • 著者名/発表者名
      小野 龍輝, 田中 悠貴, 新 瑞徳, 辺 松, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会 総合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] Measurement and modeling of frequency degradation of an oTFT ring oscillator2018

    • 著者名/発表者名
      M. Saito, M. Shintani, K. Kuribara, Y. Ogasahara, and T. Sato
    • 学会等名
      IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] DWE: Decrypting Learning With Errors With Errors2018

    • 著者名/発表者名
      Song Bian, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] A Feasibility Study of Annealing Processor for Fully-connected Ising Model Based on Memristor/CMOS Hybrid Architecture2018

    • 著者名/発表者名
      Shogo Matsumoto, Hidenori Gyoten, Masayuki Hiromoto and Takashi Sato
    • 学会等名
      The 21st workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] 多ビットの相互作用をもつ全接続イジングモデルのためのRRAMアニーリングプロセッサ2018

    • 著者名/発表者名
      松本 章吾, 業天 英範, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      回路とシステムワークショップ
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] レプリカセンサを用いたNBTIによる回路特性変動予測に関する検討2018

    • 著者名/発表者名
      大島 國弘, 辺 松, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      信学技報 VLD研究会(デザインガイア)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] A compact model of I-V characteristic degradation for organic thin film transistors2018

    • 著者名/発表者名
      M. Saito, M. Shintani, K. Kuribara, Y. Ogasahara, and T. Sato
    • 学会等名
      IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] On the reset operation of organic cross-coupled inverter2018

    • 著者名/発表者名
      M. Saito, M. Shintani, K. Kuribara, Y. Ogasahara, M. Hiromoto, and T. Sato
    • 学会等名
      International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] An experimental design of robust current-mode arbiter PUF using organic thin film transistors2018

    • 著者名/発表者名
      Z. Qin, M. Shintani, K. Kuribara, Y. Ogasahara, and T. Sato
    • 学会等名
      IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] A Study on NBTI-induced Delay Degradation Considering Stress Frequency Dependence2018

    • 著者名/発表者名
      Zuitoku Shin, Shumpei Morita, Song Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] 多ビットの相互作用をもつ全接続イジングモデルのためのRRAMアニーリングプロセッサ2018

    • 著者名/発表者名
      松本 章吾, 業天 英範, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      第31回 回路とシステムワークショップ
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H03214
  • [学会発表] Study on statistical parameter extraction of power MOSFET model by principal component analysis2018

    • 著者名/発表者名
      H. Tsukamoto, M. Shintani, and T. Sato
    • 学会等名
      IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] ストカスティック計算を用いたニューラルネットワークハードウェアのための省面積積和演算器2018

    • 著者名/発表者名
      名倉 健太, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会 VLSI設計技術研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H03214
  • [学会発表] Initial parameter extraction procedure for surface-potential-based SiC MOSFET model2018

    • 著者名/発表者名
      M. Shintani and T. Sato
    • 学会等名
      Workshop on variability modeling and characterization (VMC)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] RRAM/CMOS-hybrid Architecture of Annealing Processor for Fully Connected Ising Model2018

    • 著者名/発表者名
      Shogo Matsumoto, Hidenori Gyoten, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE International Memory Workshop (IMW)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] Efficient Exploration of Worst Case Workload and Timing Degradation Under NBTI2018

    • 著者名/発表者名
      Shumpei Morita, Song Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] 有機トランジスタによるBuskeeper PUFの試作と連続測定のためのリセット回路の検討2018

    • 著者名/発表者名
      齊藤 成晃, 新谷 道広, 栗原 一徳, 小笠原 泰弘, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      回路とシステムワークショップ
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] Comparative Study of Delay Degradation Caused by NBTI Considering Stress Frequency Dependence2018

    • 著者名/発表者名
      Zuitoku Shin, Shumpei Morita, Song Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto and Takashi Sato
    • 学会等名
      The 21st workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] A plotter-based automatic measurements and statistical characterization of multiple discrete power devices2018

    • 著者名/発表者名
      M. Shintani, B. N. Dauphin, K. Oishi, M. Hiromoto, and T. Sato
    • 学会等名
      International power electronics conference (IPEC)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] A PUF Based on the Instantaneous Response of Ring Oscillator Determined by the Convergence Time of Bistable Ring2018

    • 著者名/発表者名
      Yuki Tanaka, Song Bian, Masayuki Hiromoto and Takashi Sato
    • 学会等名
      The 21st workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] Towards practical homomorphic email filtering: A hardware-accelerated secure naive Bayesian filter2018

    • 著者名/発表者名
      S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato
    • 学会等名
      電子情報通信学会VLD研究会
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] Fast and Robust Heart Rate Estimation from Videos Through Dynamic Region Selection2018

    • 著者名/発表者名
      Yuya Fujita, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society (EMBC)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H03214
  • [学会発表] レプリカ交換イジングモデルソルバにおけるレプリカトポロジーと温度割当方法に関する検討2018

    • 著者名/発表者名
      党 璋, 佐藤 高史
    • 学会等名
      信学技報 VLD研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] 畳み込みニューラルネットワークの周波数領域学習による演算量削減2018

    • 著者名/発表者名
      三宅 哲史, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      第31回 回路とシステムワークショップ
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H03214
  • [学会発表] RAM/CMOS-hybrid architecture of annealing processor for fully connected Ising model2018

    • 著者名/発表者名
      S. Matsumoto, H. Gyoten, M. Hiromoto, and T. Sato
    • 学会等名
      IEEE International Memory Workshop (IMW)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] Interpolation-Based Object Detection Using Motion Vectors for Embedded Real-Time Tracking Systems2018

    • 著者名/発表者名
      Takayuki Ujiie, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition Workshops (CVPRW)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18H03214
  • [学会発表] LSTA: Learning-based Static Timing Analysis for High-dimensional Correlated On-chip Variations2017

    • 著者名/発表者名
      Song Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] トランジスタ劣化の永続・回復可能成分を考慮したしきい値電圧変動の時間依存モデル2017

    • 著者名/発表者名
      新 瑞徳, 森田 俊平, 新谷 道新, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      回路とシステムワークショップ
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] LSTA: Learning-based static timing analysis for high-dimensional correlated on-chip variations2017

    • 著者名/発表者名
      Song Bian, Michihiro Shintani, Shumpei Morita, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC)
    • 発表場所
      テキサス州オースチン市(米国)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] チャレンジヒステリシス特性を有するPUFの設計とシミュレーションに基づく性能評価2017

    • 著者名/発表者名
      粟野 皓光, 佐藤 高史
    • 学会等名
      DA シンポジウム
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] 手の動画像からの心拍間隔推定に関する一検討2017

    • 著者名/発表者名
      藤田 雄也, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会 総合大会
    • 発表場所
      名城大学(愛知県名古屋市)
    • 年月日
      2017-03-22
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12700
  • [学会発表] 動画のフレーム間相関を利用した圧縮センシングの高速復元手法2017

    • 著者名/発表者名
      小西 慧, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会 スマートインフォメディアシステム研究会
    • 発表場所
      神奈川工科大学(神奈川県横浜市)
    • 年月日
      2017-03-03
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12700
  • [学会発表] A Design-analysis Flow Considering Mechanical Stability of Metal Masks for Organic CMOS Circuits2017

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani, Kazunori Kuribara, Yasuhiro Ogasahara, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] Efficient circuit failure probability calculation along product lifetime considering device aging2017

    • 著者名/発表者名
      Hiromitsu Awano, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE/ACM Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC)
    • 発表場所
      幕張メッセ(千葉県幕張市)
    • 年月日
      2017-01-17
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] Pattern based runtime voltage emergency prediction: an instruction-aware block sparse compressed sensing approach2017

    • 著者名/発表者名
      Yu-Guang Chen, Michihiro Shintani, Takashi Sato, Yiyu Shi, and Shih-Chieh Chang
    • 学会等名
      IEEE/ACM Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC)
    • 発表場所
      幕張メッセ(千葉県幕張市)
    • 年月日
      2017-01-19
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] Secured Content Addressable Memory Based on Homomorphic Encryption2017

    • 著者名/発表者名
      Song Bian, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      DA Symposium
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01713
  • [学会発表] Line samplingを用いたモンテカルロ法に基づくタイミング歩留り解析の高速化2017

    • 著者名/発表者名
      粟野皓光, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会VLSI設計技術研究会
    • 発表場所
      沖縄県青年会館(沖縄県那覇市)
    • 年月日
      2017-03-02
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] トランジスタ劣化の永続・回復可能成分を考慮したしきい値電圧変動の時間依存モデル2017

    • 著者名/発表者名
      新 瑞徳, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      第30回 回路とシステムワークショップ
    • 発表場所
      北九州国際会議場(福岡県北九州市)
    • 年月日
      2017-05-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] Circuit Aging2 - Measurement Techniques (tutorial)2016

    • 著者名/発表者名
      Takashi Sato and Hidetoshi Onodera
    • 学会等名
      International Reliability Physics Symposium (IRPS)
    • 発表場所
      Pasadena, CA, USA
    • 年月日
      2016-04-17
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] Hardware Accelerator of Convolutional Neural Network for Image Recognition and its Performance Evaluation Platform2016

    • 著者名/発表者名
      Takayuki Ujiie, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      20th Workshop on Synthesis And System Integration of Mixed Information technologies (SASIMI2016)
    • 発表場所
      京都リサーチパーク(京都府京都市)
    • 年月日
      2016-10-24
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26730027
  • [学会発表] Efficient Transistor-Level Timing Yield Estimation via Line Sampling2016

    • 著者名/発表者名
      Hiromitsu Awano and Takashi Sato
    • 学会等名
      Design Automation Conference (DAC)
    • 発表場所
      Austin, TX, USA
    • 年月日
      2016-06-05
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] Workload-Aware Worst Path Analysis of Processor-Scale NBTI Degradation2016

    • 著者名/発表者名
      Song Bian, Michihiro Shintani, Shumpei Morita, Hiromitsu Awano, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI)
    • 発表場所
      Boston, MA,USA
    • 年月日
      2016-05-18
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] 格子状電極を用いたジェスチャ認識向け電界センサによる導電体位置推定精度の評価2016

    • 著者名/発表者名
      岸野 瞬士, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会総合大会
    • 発表場所
      九州大学 伊都キャンパス 福岡県福岡市
    • 年月日
      2016-03-15
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] Physically Unclonable Function Using RTN-Induced Delay Fluctuation in Ring Oscillators2016

    • 著者名/発表者名
      Motoki Yoshinaga, Hiromitsu Awano, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS)
    • 発表場所
      Montreal, QC, Canada
    • 年月日
      2016-05-22
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] NBTIによるしきい値電圧変動のストレス確率依存性の評価2016

    • 著者名/発表者名
      忻 瑞徳, 森田 俊平, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • 発表場所
      北海道大学(北海道札幌市)
    • 年月日
      2016-09-20
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] Unique device identification framework for power MOSFETs using inherent device variation2016

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani, Kazuki Oishi, Rui Zhou, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      Workshop on variability modeling and characterization (VMC)
    • 発表場所
      テキサス州オースチン市(米国)
    • 年月日
      2016-11-10
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] Workload-aware worst path analysis of processor-scale NBTI degradation2016

    • 著者名/発表者名
      Song Bian, Michihiro Shintani, Shumpei Morita, Hiromitsu Awano, Masayuki Hiromoto and Takashi Sato
    • 学会等名
      ACM Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI)
    • 発表場所
      マサチューセッツ州ボストン市(米国)
    • 年月日
      2016-05-19
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] 粒子フィルタを用いた光電脈波信号からの運動時心拍数推定手法2016

    • 著者名/発表者名
      藤田 雄也, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      第29回 回路とシステムワークショップ
    • 発表場所
      北九州国際会議場 福岡県北九州市
    • 年月日
      2016-05-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] 粒子フィルタを用いた光電脈波信号からの運動時心拍数推定手法2016

    • 著者名/発表者名
      藤田 雄也, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      回路とシステムワークショップ
    • 発表場所
      北九州国際会議場(福岡県北九州市)
    • 年月日
      2016-05-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12700
  • [学会発表] ばらつきを考慮したメモリスタモデルによるニューラルネットワークの学習収束性の評価2016

    • 著者名/発表者名
      山森 聡, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • 発表場所
      北海道大学(北海道札幌市)
    • 年月日
      2016-09-20
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26730027
  • [学会発表] Representative path approach for time-efficient NBTI mitigation logic replacement2016

    • 著者名/発表者名
      Shumpei Morita, Song Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      Workshop on variability modeling and characterization (VMC)
    • 発表場所
      テキサス州オースチン市(米国)
    • 年月日
      2016-11-10
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] 近似的予測戦略に基づく畳み込みニューラルネットワークプロセッサの低電力化2016

    • 著者名/発表者名
      氏家 隆之, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      第29回 回路とシステムワークショップ
    • 発表場所
      北九州国際会議場(福岡県北九州市)
    • 年月日
      2016-05-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26730027
  • [学会発表] CIRCUIT AGING 2, Measurement Techniques (tutorial)2016

    • 著者名/発表者名
      Takashi Sato and Hidetoshi Onodera
    • 学会等名
      IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
    • 発表場所
      カリフォルニア州パサデナ市(米国)
    • 年月日
      2016-04-18
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] 代表パス抽出による劣化緩和セル置換箇所の高速な選択手法2016

    • 著者名/発表者名
      森田 俊平, 辺 松, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      第29回 回路とシステムワークショップ
    • 発表場所
      北九州国際会議場 福岡県北九州市
    • 年月日
      2016-05-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] 有機トランジスタにおける漏れ電流特性のモデル化2016

    • 著者名/発表者名
      齊藤 成晃, 新谷 道広, 小笠原 泰弘, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会 ソサイエティ大会
    • 発表場所
      北海道大学(北海道札幌市)
    • 年月日
      2016-09-21
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12700
  • [学会発表] Physically unclonable function using RTN-induced delay fluctuation in ring oscillators2016

    • 著者名/発表者名
      Motoki Yoshinaga, Hiromitsu Awano, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS)
    • 発表場所
      ケベック州モントリオール市(カナダ)
    • 年月日
      2016-05-25
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] Efficient Transistor-Level Timing Yield Estimation via Line Sampling2016

    • 著者名/発表者名
      Hiromitsu Awano and Takashi Sato
    • 学会等名
      International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU)
    • 発表場所
      Santa Rosa, CA, USA
    • 年月日
      2016-03-10
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] 演算簡略化手法評価のための畳み込みニューラルネットワークのFPGA実装2016

    • 著者名/発表者名
      氏家 隆之, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      第42回パルテノン研究会
    • 発表場所
      東海大学 高輪キャンパス(東京都港区)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26730027
  • [学会発表] 信号確率伝播に基づいた プロセッサのためのNBTI起因最大遅延パスの抽出2016

    • 著者名/発表者名
      辺 松, 新谷 道広, 森田 俊平, 粟野 皓光, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      第29回 回路とシステムワークショップ
    • 発表場所
      北九州国際会議場 (福岡県北九州市)
    • 年月日
      2016-05-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] 近似的予測戦略に基づく畳み込みニューラルネットワークプロセッサの低電力化2016

    • 著者名/発表者名
      氏家 隆之, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      第29回 回路とシステムワークショップ
    • 発表場所
      北九州国際会議場 福岡県北九州市
    • 年月日
      2016-05-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] Nonliner Delay-Table Approach for Full-Chip NBTI Degration Prediction2016

    • 著者名/発表者名
      Song Bian,Michihiro Shintani,Shunpei Morita, Masayuki Hiromoto, Takashi Sato
    • 学会等名
      International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)
    • 発表場所
      Santa Clara, CA, USA
    • 年月日
      2016-03-16
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] Efficient transistor-level timing yield estimation via line sampling2016

    • 著者名/発表者名
      Hiromitsu Awano and Takashi Sato
    • 学会等名
      Design automation conference (DAC)
    • 発表場所
      テキサス州オースチン市(米国)
    • 年月日
      2016-06-09
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] Runtime NBTI mitigtion for processor lifespan extension via selective node control2016

    • 著者名/発表者名
      Song Bian, Michihiro Shintani, Zheng Wang, Masayuki Hiromoto, Anupam Chattopadhyay, and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE Asian Test Symposium (ATS)
    • 発表場所
      広島国際会議場(広島県広島市)
    • 年月日
      2016-11-24
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] 顔と手の連続静止画からの脈波伝播時間推定に関する一検討2016

    • 著者名/発表者名
      藤田 雄也, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会 ソサイエティ大会
    • 発表場所
      北海道大学(北海道札幌市)
    • 年月日
      2016-09-20
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12700
  • [学会発表] Approximated Prediction Strategy for Reducing Power Consumption of Convolutional Neural Network Processor2016

    • 著者名/発表者名
      Takayuki Ujiie, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition Workshops (CVPRW)
    • 発表場所
      Las Vegas (USA)
    • 年月日
      2016-06-26
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26730027
  • [学会発表] しきい値電圧ばらつきによるBistable Ring PUFの応答予測2016

    • 著者名/発表者名
      田中 悠貴, 吉永 幹, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会 ソサイエティ大会
    • 発表場所
      北海道大学(北海道札幌市)
    • 年月日
      2016-09-20
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] Aging-aware timing analysis based on machine learning2016

    • 著者名/発表者名
      Son Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      DAシンポジウム
    • 発表場所
      山代温泉 ゆのくに天祥(石川県加賀市)
    • 年月日
      2016-09-14
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] 信号確率伝播に基づいた プロセッサのためのNBTI起因最大遅延パスの抽出2016

    • 著者名/発表者名
      辺 松, 新谷 道広, 森田 俊平, 粟野 皓光, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      第29回 回路とシステムワークショップ
    • 発表場所
      北九州国際会議場 福岡県北九州市
    • 年月日
      2016-05-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] Mitigation of NBTI-induced Timing Degradation in processor2016

    • 著者名/発表者名
      Song Bian,Michihiro Shintani,Zheng Wang,Masayuki Hiromoto, Takashi Sato, Anupam Chattopadhyay
    • 学会等名
      International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU)
    • 発表場所
      Santa Rosa, CA, USA
    • 年月日
      2016-03-10
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] Path grouping approach for efficient candidate-selection of replacing NBTI mitigation logic2016

    • 著者名/発表者名
      Shumpei Morita, Song Bian, Michihiro Shintani, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      Workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI)
    • 発表場所
      京都リサーチパーク(京都府京都市)
    • 年月日
      2016-10-25
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] 代表パス抽出による劣化緩和セル置換箇所の高速な選択手法2016

    • 著者名/発表者名
      森田 俊平, 辺 松, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      第29回 回路とシステムワークショップ
    • 発表場所
      北九州国際会議場 (福岡県北九州市)
    • 年月日
      2016-05-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] 最大カット問題の高速求解に向けた二次元イジングモデルのFPGA実装2016

    • 著者名/発表者名
      業天 英範, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告(VLSI設計技術研究会)
    • 発表場所
      沖縄県青年会館 沖縄県那覇市
    • 年月日
      2016-02-29
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] 粒子フィルタを用いた光電脈波信号からの運動時心拍数推定手法2016

    • 著者名/発表者名
      藤田 雄也, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      第29回 回路とシステムワークショップ
    • 発表場所
      北九州国際会議場 福岡県北九州市
    • 年月日
      2016-05-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12700
  • [学会発表] 格子状電極を用いたジェスチャ認識向け電界センサによる導電体位置推定精度の評価2016

    • 著者名/発表者名
      岸野 瞬士, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会総合大会 基礎・境界講演論文集
    • 発表場所
      九州大学 伊都キャンパス 福岡県福岡市
    • 年月日
      2016-03-15
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12700
  • [学会発表] Binarized Neural Networkを用いた画像認識ハードウェアの消費エネルギー評価2016

    • 著者名/発表者名
      三宅 哲史, 氏家 隆之, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • 発表場所
      北海道大学(北海道札幌市)
    • 年月日
      2016-09-20
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26730027
  • [学会発表] Accelerating Random-Walk-based power grid analysis through error smoothing2015

    • 著者名/発表者名
      Tsuyoshi Okazaki, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      The 19th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI)
    • 発表場所
      礁渓, 台湾
    • 年月日
      2015-03-17
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] プロセッサのNBTI劣化緩和法における劣化抑止制御回路の置換箇所削減に関する一検討2015

    • 著者名/発表者名
      森田 俊平, 辺 松, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会 ソサイエティ大会
    • 発表場所
      東北大学 宮城県仙台市
    • 年月日
      2015-09-08
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] ばらつき考慮シミュレーションの最近の動向2015

    • 著者名/発表者名
      佐藤 高史
    • 学会等名
      第28回 回路とシステムワークショップ
    • 発表場所
      淡路夢舞台国際会議場 兵庫県淡路市
    • 年月日
      2015-08-03
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] 粒子フィルタを用いた運動時ノイズに頑健な心拍数推定アルゴリズム2015

    • 著者名/発表者名
      藤田 雄也, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • 発表場所
      東北大学 川内キャンパス 宮城県仙台市
    • 年月日
      2015-09-08
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12700
  • [学会発表] 低電圧畳み込みニューラルネットワーク回路における演算誤り緩和に向けたプーリング手法の検討2015

    • 著者名/発表者名
      氏家 隆之, 大荷 唯明, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会 ソサイエティ大会
    • 発表場所
      東北大学 宮城県仙台市
    • 年月日
      2015-09-08
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] ニューラルネットワークハードウエアの低電圧動作時における演算誤り緩和2015

    • 著者名/発表者名
      大荷 唯明、 廣本 正之、佐藤高史
    • 学会等名
      第28回 回路とシステムワークショップ
    • 発表場所
      淡路夢舞台国際会議場 兵庫県淡路市
    • 年月日
      2015-08-04
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] ECRIPSE: An efficient method for calculating RTN-induced failure probability of an SRAM cell2015

    • 著者名/発表者名
      Hiromitsu Awano, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      Design, Automation & Test in Europe (DATE)
    • 発表場所
      Grenoble, France
    • 年月日
      2015-03-11
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] Fast Monte Carlo for Timing Yield Estimation via Line Sampling2015

    • 著者名/発表者名
      Hiromitsu Awano and Takashi Sato
    • 学会等名
      Workshop on variability modeling and characterization (VMC)
    • 発表場所
      Austin, TX, USA
    • 年月日
      2015-11-06
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] RTN起因のリングオシレータ発振周波数変動を利用したPUF2015

    • 著者名/発表者名
      吉永 幹, 粟野 皓光, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告
    • 発表場所
      沖縄県青年会館, 沖縄県那覇市
    • 年月日
      2015-03-04
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] デバイス特性の経年劣化に起因する不良確率変化の効率的な解析手法2015

    • 著者名/発表者名
      粟野 皓光, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      情報処理学会 DAシンポジウム2015
    • 発表場所
      山代温泉 ゆのくに天祥 石川県加賀市
    • 年月日
      2015-08-28
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] 粒子フィルタを用いた運動時ノイズに頑健な心拍数推定アルゴリズム2015

    • 著者名/発表者名
      藤田 雄也, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会 ソサイエティ大会
    • 発表場所
      東北大学 宮城県仙台市
    • 年月日
      2015-09-08
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] モンテカルロ法に基づくタイミング歩留まり解析の高速化2015

    • 著者名/発表者名
      粟野 皓光, 佐藤 高史
    • 学会等名
      デザインガイア2015 -VLSI設計の新しい大地-
    • 発表場所
      長崎県勤労福祉会館 長崎県長崎市
    • 年月日
      2015-12-01
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] ニューラルネットワークハードウェアの低電圧動作時における演算誤り緩和2015

    • 著者名/発表者名
      大荷 唯明, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      第28回 回路とシステムワークショップ
    • 発表場所
      淡路夢舞台国際会議場(兵庫県淡路市)
    • 年月日
      2015-08-03
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26730027
  • [学会発表] 命令セットアーキテクチャによる劣化抑止ゲート制御を用いたプロセッサNBTI劣化緩和手法2015

    • 著者名/発表者名
      辺 松, 新谷 道広, Zheng Wang, 廣本 正之, Anupam Chattopadhyay, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告
    • 発表場所
      沖縄県青年会館, 沖縄県那覇市
    • 年月日
      2015-03-03
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] Fast estimation on NBTI-induced delay degradation based on signal probability2015

    • 著者名/発表者名
      Song Bian,Michihiro Shintani,Masayuki Hiromoto, Takashi Sato
    • 学会等名
      情報処理学会 DAシンポジウム2015
    • 発表場所
      山代温泉 ゆのくに天祥 石川県加賀市
    • 年月日
      2015-08-28
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] A scalable device array for statistical device-aging characterization2015

    • 著者名/発表者名
      Takashi Sato, Hiromitsu Awano, and Masayuki Hiromoto
    • 学会等名
      IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT)
    • 発表場所
      桂林, 中国
    • 年月日
      2015-03-04
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] 圧縮センシング向けイメージセンサにおける省電力な観測行列生成回路2015

    • 著者名/発表者名
      小西 慧, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      第28回 回路とシステムワークショップ
    • 発表場所
      淡路夢舞台国際会議場 兵庫県淡路市
    • 年月日
      2015-08-03
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12700
  • [学会発表] 二次元イジングモデルによる最大カット問題の求解における収束の速いスピン更新方法の検討2015

    • 著者名/発表者名
      業天 英, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会 ソサイエティ大会
    • 発表場所
      東北大学 宮城県仙台市
    • 年月日
      2015-09-08
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] 圧縮センシング向けイメージセンサにおける省電力な観測行列生成回路2015

    • 著者名/発表者名
      小西 慧, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      第28回 回路とシステムワークショップ
    • 発表場所
      淡路夢舞台国際会議場 兵庫県淡路市
    • 年月日
      2015-08-04
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] 低電圧畳み込みニューラルネットワーク回路における演算誤り緩和に向けたプーリング手法の検討2015

    • 著者名/発表者名
      氏家 隆之, 大荷 唯明, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • 発表場所
      東北大学 川内北キャンパス(宮城県仙台市)
    • 年月日
      2015-09-08
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26730027
  • [学会発表] A Case Study of Chinese Calligraphic Style Classification using Deep Neural Network2014

    • 著者名/発表者名
      Masayuki Hiromoto and Takashi Sato
    • 学会等名
      International Workshop on Smart Info-Media Systems in Asia
    • 発表場所
      Ho Chi Minh City, Vietnam
    • 年月日
      2014-10-10
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26730027
  • [学会発表] 高次元回路歩留まり解析高速化のための最急降下法を用いた不良領域探索2014

    • 著者名/発表者名
      木村 和紀, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      回路とシステムワークショップ
    • 発表場所
      淡路国際会議場, 兵庫県淡路市
    • 年月日
      2014-08-05
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] Sensorless device-parameter estimation through fmax westing2014

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD)
    • 発表場所
      San Jose, CA, USA
    • 年月日
      2014-11-04
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] RTNを考慮したSRAM不良確率の高速計算2014

    • 著者名/発表者名
      粟野 皓光, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告(デザインガイア2014)
    • 発表場所
      別府国際コンベンションセンター, 大分県別府市
    • 年月日
      2014-11-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] Variability in device degradations: statistical observation of NBTI for 3996 transistors2014

    • 著者名/発表者名
      Hiromitsu Awano, Masayuki Hiromoto, and Takashi Sato
    • 学会等名
      The 44th Solid-State Device Research Conference (ESSDERC)
    • 発表場所
      Venice, Italy
    • 年月日
      2014-09-24
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] ランダムテレグラフノイズを用いたチップ識別手法の一検討2014

    • 著者名/発表者名
      吉永 幹, 粟野 皓光, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会 ソサイエティ大会
    • 発表場所
      徳島大学常三島キャンパス, 徳島県徳島市
    • 年月日
      2014-09-23
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] 3996 トランジスタにおけるNBTI劣化の統計的ばらつき2014

    • 著者名/発表者名
      粟野 皓光, 廣本 正之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      情報処理学会DAシンポジウム
    • 発表場所
      ホテル下呂温泉水明館, 岐阜県下呂市
    • 年月日
      2014-08-28
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26280014
  • [学会発表] 低電圧起動回路を用いた省電力チップ間非接触通信回路2014

    • 著者名/発表者名
      佐川善彦, 廣本正之, 佐藤高史, 越智裕之
    • 学会等名
      第166回システムとLSIの設計技術研究会
    • 発表場所
      北九州国際会議場(福岡県)
    • 年月日
      2014-05-29
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23300015
  • [学会発表] A Bayesian-Based Process Parameter Estimation using IDDQ Current Signature2013

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE VLSI Test Symposium (VTS)
    • 発表場所
      Hyatt Maui, Hawaii, USA
    • 年月日
      2013-04-23
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] オンラインテストを指向したIDDQ電流しきい値決定手法の検討2013

    • 著者名/発表者名
      新谷 道弘, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会 VLSI設計技術研究会
    • 発表場所
      沖縄青年会館,那覇市
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] Realization of frequency-domain circuit analysis through random walk2013

    • 著者名/発表者名
      Tetsuro Miyakawa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato
    • 学会等名
      ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC)
    • 発表場所
      Pacifico Yokohama, Yokohama
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] Evaluation of dependent node selection of histogram propagation based statistical timing analysis2013

    • 著者名/発表者名
      Shiyi Zhang, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato
    • 学会等名
      電子情報通信学会 総合大会
    • 発表場所
      岐阜大学,岐阜市
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] Multi-Trap RTN Parameter Extraction Based on Bayesian Inference2013

    • 著者名/発表者名
      Hiromitsu Awano, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato
    • 学会等名
      International Symposium on Quality Electrical Design (ISQED) (Techmart Center
    • 発表場所
      Santa Clara, USA
    • 年月日
      2013-03-06
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] Architecture for sealed wafer-scale mask ROM for long-term digital data preservation2013

    • 著者名/発表者名
      Shinya Matsuda, Takashi Imagawa, Hiroshi Tsutsui, Takashi Sato, Yukihiro Nakamura, and Hiroyuki Ochi
    • 学会等名
      28th Intl. Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC)
    • 発表場所
      Yeosu, (Korea)
    • 年月日
      2013-07-01
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23300015
  • [学会発表] ランダムウォーク線形回路解析のスレッド並列化における電圧源化排他制御の検討2013

    • 著者名/発表者名
      岡崎 剛, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会 総合大会
    • 発表場所
      岐阜大学,岐阜市
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] Multi-trap RTN parameter extraction based on Bayesian inference2013

    • 著者名/発表者名
      Hiromitsu Awano, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato
    • 学会等名
      International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)
    • 発表場所
      Techmart Center, Santa Clara, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] An Adaptive Current-Threshold Determination for IDDQ Testing Based on Bayesian Process Parameter Estimation2013

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani and Takashi Sato
    • 学会等名
      ACM/IEEE Asia South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC)
    • 発表場所
      Pacifico Yokohama, Yokohama, Japan
    • 年月日
      2013-01-25
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] 回路構造の異なるラッチの消費エネルギーの比較2013

    • 著者名/発表者名
      藤田 隆史, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会 総合大会
    • 発表場所
      岐阜大学,岐阜市
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] Evaluation of dependent node selection of histogram propagation based statistical timing analysis2013

    • 著者名/発表者名
      Shiyi Zhang, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato
    • 学会等名
      電子情報通信学会総合大会
    • 発表場所
      岐阜大学,岐阜市
    • 年月日
      2013-03-19
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] An Adaptive Current-Threshold Determination for IDDQ Testing Based on Bayesian Process Parameter Estimation2013

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani and Takashi Sato
    • 学会等名
      ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC)
    • 発表場所
      Pacifico Yokohama, Yokohama
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] 回路構造の異なるラッチの消費エネルギーの比較2013

    • 著者名/発表者名
      藤田 隆史, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会総合大会
    • 発表場所
      岐阜大学,岐阜市
    • 年月日
      2013-03-19
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] GPU Acceleration of Cycle-Based Soft-Error Simulation for Reconfigurable Array Architectures2012

    • 著者名/発表者名
      Takashi Imagawa, Takahiro Oue, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • 学会等名
      the 17th Workshop on Synthesis And System Integration of Mixed Information technologies (SASIMI2012)
    • 発表場所
      B-con Plaza, Beppu, Oita, Japan
    • 年月日
      2012-03-08
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] A Bayesian-based process parameter estimation using IDDQ current signature2012

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE VLSI test symposium (VTS)
    • 発表場所
      Hyatt Maui, Hawaii, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] 情報量規準を用いる RTN モデルパラメータ推定の自動化2012

    • 著者名/発表者名
      清水裕史, 筒井弘, 越智裕之, 佐藤高史
    • 学会等名
      DA シンポジウム
    • 発表場所
      ホテル下呂温泉水明館,下呂市
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] IDDQ電流による大域プロセスばらつきの推定手法2012

    • 著者名/発表者名
      新谷道広, 佐藤高史
    • 学会等名
      VLSI設計技術研究会(VLD)
    • 発表場所
      ビーコンプラザ(大分県)
    • 年月日
      2012-03-06
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] プロセスばらつき推定に基づくIDDQテスト良品判定基準決定の試み2012

    • 著者名/発表者名
      新谷道広, 佐藤高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告(ディペンダブルコンピューティング研究会)
    • 発表場所
      機械振興会館(東京都)
    • 年月日
      2012-02-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] Physics matters: statistical aging prediction under trapping/detrapping2012

    • 著者名/発表者名
      Jyothi B. Velamala, Ketul B. Sutaria, Takashi Sato, and Yu Cao
    • 学会等名
      ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC)
    • 発表場所
      Moscone Center, San Francisco, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] Aging Statistics Based on Trapping/detrapping: Silicon Evidence, Modeling and Prediction2012

    • 著者名/発表者名
      Jyothi B. Velamala, Ketul B. Sutaria, Takashi Sato, and Yu Cao
    • 学会等名
      IEEE International Reliability Physics Symposium
    • 発表場所
      Hyatt Regency Orange County, Anaheim, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] クリロフ部分空間法を用いた電源回路網解析の GPU 実装による高速化2012

    • 著者名/発表者名
      森下 拓海, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      回路とシステムワークショップ
    • 発表場所
      淡路夢舞台国際会議場,淡路市
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] Aging statistics based on trapping/detrapping: silicon evidence, modeling and long-term prediction2012

    • 著者名/発表者名
      Jyothi B. Velamala, Ketul B. Sutaria, Takashi Sato, and Yu Cao
    • 学会等名
      IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
    • 発表場所
      Hyatt Regency Orange County, Anaheim, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] チップ試作による最小動作電圧予測手法の評価2012

    • 著者名/発表者名
      川島 潤也, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会 ICD研究会
    • 発表場所
      東京工業大学大岡山キャンパス 東工大大蔵前会館ロイアルブルーホール,東京都
    • 年月日
      2012-12-17
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] Accurate I/O Buffer Impedance Self-Adjustment using Vth and Temperature Sensors2012

    • 著者名/発表者名
      Zhi Li, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato
    • 学会等名
      デザインガイア
    • 発表場所
      九州大学医学部百年講堂,福岡市
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] 回路の最小動作電圧改善とその予測精度向上の一検討2012

    • 著者名/発表者名
      川島 潤也, 越智 裕之, 筒井 弘, 佐藤 高史
    • 学会等名
      回路とシステムワークショップ
    • 発表場所
      淡路夢舞台国際会議場,淡路市
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] 情報量規準を用いるRTNモデルパラメータ推定の自動化2012

    • 著者名/発表者名
      清水 裕史, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤高史
    • 学会等名
      DAシンポジウム
    • 発表場所
      ホテル下呂温泉水明館,下呂市
    • 年月日
      2012-08-29
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] Hardware Architecture for Accelerating Monte Carlo Based SSTA using Generalized STA Processing Element2012

    • 著者名/発表者名
      Hiroshi Yuasa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • 学会等名
      the 17th Workshop on Synthesis And System Integration of Mixed Information technologies (SASIMI2012)
    • 発表場所
      B-con Plaza, Beppu, Oita, Japan
    • 年月日
      2012-03-08
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] Acceleration Scheme for Monte Carlo Based SSTA using Generalized STA Processing Element2012

    • 著者名/発表者名
      Hiroshi Yuasa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • 学会等名
      ACM/IEEE International Workshop on Timing Issues (TAU)
    • 発表場所
      Taipei, Taiwan
    • 年月日
      2012-01-18
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] Statistical Aging under dynamic voltage scaling: A logarithmic model approach2012

    • 著者名/発表者名
      Jyothi Bhaskarr Velamala, Ketul B. Sutaria, Hirofumi Shimizu, Hiromitsu Awano, Takashi Sato and Yu Cao
    • 学会等名
      IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC)
    • 発表場所
      DoubleTree Hotel San Jose, San Jose, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] Statistical Aging Under Dynamic Voltage Scaling: a Logarithmic Model Approach2012

    • 著者名/発表者名
      Jyothi Bhaskarr Velamala, Ketul B. Sutaria, Hirofumi Shimizu, Hiromitsu Awano, Takashi Sato, and Yu Cao
    • 学会等名
      IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC)
    • 発表場所
      DoubleTree Hotel, San Jose, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] Acceleration Scheme for Monte Carlo Based SSTA using Generalized STA Processing Element2012

    • 著者名/発表者名
      Hiroshi Yuasa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato
    • 学会等名
      ACM/IEEE International Workshop on Timing Issues (TAU)
    • 発表場所
      National Taiwan University, Taipei, Taiwan
    • 年月日
      2012-01-18
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] Statistical Observations of NBTI-Induced Threshold Voltage Shifts on Small Channel-Area Devices2012

    • 著者名/発表者名
      Takashi Sato, Hiromitsu Awano, Hirofumi Shimizu, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi
    • 学会等名
      International Symposium on Quality Electrical Design (ISQED)
    • 発表場所
      Santa Clara, CA USA
    • 年月日
      2012-03-20
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] 回路の最小動作電圧改善とその予測精度向上の一検討2012

    • 著者名/発表者名
      川島 潤也, 越智 裕之, 筒井 弘, 佐藤高史
    • 学会等名
      第25回回路とシステムワークショップ
    • 発表場所
      淡路夢舞台国際会議場,淡路市
    • 年月日
      2012-07-31
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] Physics Matters: Statistical Aging Prediction Under Trapping/detrapping2012

    • 著者名/発表者名
      Jyothi B. Velamala, Ketul B. Sutaria, Takashi Sato, and Yu Cao
    • 学会等名
      ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC)
    • 発表場所
      Moscone Center, San Francisco, USA
    • 年月日
      2012-06-05
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] Accurate I/O Buffer Impedance Self-Adjustment using Vth and Temperature Sensors2012

    • 著者名/発表者名
      Zhi Li, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato
    • 学会等名
      デザインガイア
    • 発表場所
      九州大学医学部百年講堂,福岡市
    • 年月日
      2012-11-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] チップ試作による最小動作電圧予測手法の評価2012

    • 著者名/発表者名
      川島 潤也, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会 ICD研究会
    • 発表場所
      東京工業大学大岡山キャンパス 東工大蔵前会館ロイアルブルーホール ,東京都
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] A Stress-Parallelized Device Array for Efficient Bias-Temperature Stability Measurements2011

    • 著者名/発表者名
      Takashi Sato, Tadamichi Kozaki, Takumi Uezono, Hiroshi Tsutsui, and Hiroyuki Ochi
    • 学会等名
      IEEE International Workshop on Design for Manufacturability and Yield 2011(DFM&Y)
    • 発表場所
      San Diego Convention Center, San Diego, USA
    • 年月日
      2011-06-06
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] Statistical Aging Prediction and Characterization using Trapping/detrapping Based NBTI Models2011

    • 著者名/発表者名
      Jyothi Bhaskarr Velamala, Takashi Sato, and Yu Cao
    • 学会等名
      Workshop on Variability Modeling and Characterization (VMC)
    • 発表場所
      DoubleTree Hotel, San Jose, USA
    • 年月日
      2011-11-10
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] A Device Array for Efficient Bias-Temperature Instability Measurements2011

    • 著者名/発表者名
      Takashi Sato, Tadamichi Kozaki, Takumi Uezono, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi
    • 学会等名
      European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC)
    • 発表場所
      Helsinki, Finland
    • 年月日
      2011-09-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] ヤコビ法を用いた電源回路網解析のGPU実装2011

    • 著者名/発表者名
      森下拓海, 筒井弘, 越智裕之, 佐藤高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • 発表場所
      北海道大学,札幌キャンパス
    • 年月日
      2011-09-15
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] Getting the Most Out of IDDQ Testing2011

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani, Takashi Sato
    • 学会等名
      Workshop on Variability Modeling and Characterization (VMC)
    • 発表場所
      San Jose, CA USA
    • 年月日
      2011-11-10
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] A Stress-Parallelized Device Array for Efficient Bias-Temperature Stability Measurement2011

    • 著者名/発表者名
      Takashi Sato, Tadamichi Kozaki, Takumi Uezono, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi
    • 学会等名
      IEEE International Workshop on Design for Manufacturability and Yield 2011 (DFM&Y)
    • 発表場所
      San Diego, California, USA
    • 年月日
      2011-06-06
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] ブロック反復法による電源回路網解析の高速化2011

    • 著者名/発表者名
      森下拓海, 筒井弘, 越智裕之, 佐藤高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告(デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
    • 発表場所
      ニューウェルシティ宮崎(宮崎県)
    • 年月日
      2011-11-28
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] A fully pipelined implementation of Monte Carlo based SSTA on FPGAs2011

    • 著者名/発表者名
      Hiroshi Yuasa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato
    • 学会等名
      International Symposium on Quality Electrical Design (ISQED)
    • 発表場所
      Techmart Center, Santa Clara, USA
    • 年月日
      2011-03-16
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] エネルギー最小化と動作保証を考慮したサブスレッショルド回路の設計指針の検討2011

    • 著者名/発表者名
      川島潤也, 越智裕之, 筒井弘, 佐藤高史
    • 学会等名
      第24回回路とシステムワークショップ
    • 発表場所
      淡路夢舞台国際会議場(兵庫県)
    • 年月日
      2011-08-02
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] A Device Array for Efficient Bias-Temperature Instability Measurements2011

    • 著者名/発表者名
      Takashi Sato, Tadamichi Kozaki, Takumi Uezono, Hiroshi Tsutsui, a nd Hiroyuki Ochi
    • 学会等名
      European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC)
    • 発表場所
      Finlandia Hall, Helsinki, Finland
    • 年月日
      2011-09-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] ランダムテレグラフノイズモデル化のためのパラメータ推定法の検討2011

    • 著者名/発表者名
      粟野皓光, 清水裕史, 筒井弘, 越智裕之, 佐藤高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告(デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
    • 発表場所
      ニューウェルシティ宮崎(宮崎県)
    • 年月日
      2011-11-28
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] 混合正規分布による重点的サンプリングの高次元ばらつき解析への適用2011

    • 著者名/発表者名
      萩原汐, 伊達貴徳, 上薗巧, 益一哉, 佐藤高史
    • 学会等名
      情報処理学会第148回システムLSI設計技術研究会
    • 発表場所
      沖縄県 宮古島
    • 年月日
      2011-03-18
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] EM法によるMOSデバイス界面状態数の自動推定2011

    • 著者名/発表者名
      清水裕史, 筒井弘, 越智裕之, 佐藤高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • 発表場所
      北海道大学,札幌キャンパス
    • 年月日
      2011-09-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] 複数不良領域を持つ回路歩留まり解析のための逐次重点的サンプリング法2011

    • 著者名/発表者名
      片山健太朗, 筒井弘, 越智裕之, 佐藤高史
    • 学会等名
      情報処理学会DAシンポジウム2011
    • 発表場所
      ホテル下呂温泉水明館(岐阜県)
    • 年月日
      2011-08-31
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] ゼロ分散推定重点的サンプリングを用いたランダムウォークによる線形回路の過渡解析2011

    • 著者名/発表者名
      宮川哲朗, 筒井弘, 越智裕之, 佐藤高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会技術研究報告(デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
    • 発表場所
      ニューウェルシティ宮崎(宮崎県)
    • 年月日
      2011-11-28
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] Statistical Aging Prediction and Characterization using Trapping/detrapping Based NBTI Models2011

    • 著者名/発表者名
      Jyothi Bhaskarr Velamala, Takashi Sato, Yu Cao
    • 学会等名
      Workshop on Variability Modeling and Characterization (VMC)
    • 発表場所
      San Jose, CA USA
    • 年月日
      2011-11-10
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] A transistor-array for parallel BTI-effects measurements2011

    • 著者名/発表者名
      Takumi Uezono, Tadamichi Kozaki, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • 学会等名
      Workshop on variability modeling and characterization (VMC)
    • 発表場所
      San Jose, USA
    • 年月日
      2011-11-11
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] A Design Strategy for Sub-Threshold Circuits Considering Energy-Minimization and Yield-Maximization2011

    • 著者名/発表者名
      Junya Kawashima, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE International SOC Conference (SOCC)
    • 発表場所
      Taipei, Taiwan
    • 年月日
      2011-09-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] A Design Strategy for Sub-Threshold Circuits Considering Energy-Minimization and Yield-Maximization2011

    • 著者名/発表者名
      Junya Kawashima, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE International SOC Conference (SOCC)
    • 発表場所
      Grand Hotel, Taipei, Taiwan
    • 年月日
      2011-09-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] A fully pipelined implementation of Monte Carlo based SSTA on FPGAs2011

    • 著者名/発表者名
      Hiroshi Yuasa, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • 学会等名
      International Symposium on Quality Electrical Design (ISQED)
    • 発表場所
      Santa Clara, USA
    • 年月日
      2011-03-16
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] Acceleration of Random-Walk-Based Linear Circuit Analysis using Importance Sampling2011

    • 著者名/発表者名
      Tetsuro Miyakawa, Koh Yamanaga, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • 学会等名
      GLSVLSI 2011
    • 発表場所
      Lausanne, Switzerland
    • 年月日
      2011-05-04
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] A Sensor-Based Self-Adjustment Approach for Controlling I/O Buffer Impedance2011

    • 著者名/発表者名
      Zhi Li, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • 学会等名
      IEICE Society Conference
    • 発表場所
      Hokkaido University, Sapporo Campus
    • 年月日
      2011-09-15
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] エネルギー最小化と動作保証を考慮したサブスレッショルド回路の設計指針の検討2011

    • 著者名/発表者名
      川島 潤也, 越智 裕之, 筒井 弘, 佐藤高史
    • 学会等名
      第24回回路とシステムワークショップ
    • 発表場所
      淡路夢舞台国際会議場,淡路市
    • 年月日
      2011-08-02
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] EM法によるMOSデバイス界面状態数の自動推定2011

    • 著者名/発表者名
      清水 裕史, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会 ソサイエティ大会
    • 発表場所
      北海道大学,札幌市
    • 年月日
      2011-09-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] 配線資源の信頼性モデルを用いた粗粒度再構成可能アーキテクチャ向け選択的三重化の最適化手法2011

    • 著者名/発表者名
      今川隆司, 湯浅洋史, 筒井弘, 越智裕之, 佐藤高史
    • 学会等名
      情報処理学会DAシンポジウム2011
    • 発表場所
      ホテル下呂温泉水明館(岐阜県)
    • 年月日
      2011-09-01
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] A transistor-array for parallel BTI-effects measurements2010

    • 著者名/発表者名
      Takumi Uezono, Tadamichi Kozaki, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato
    • 学会等名
      Workshop on Variability Modeling and Characterization (VMC)
    • 発表場所
      DoubleTreeHotel, San Jose, USA
    • 年月日
      2010-11-11
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] リングオシレータによるしきい値簡易測定の温度依存性の検討2010

    • 著者名/発表者名
      上薗巧, 越智裕之, 佐藤高史
    • 学会等名
      電子情報通信学会 VLSI設計技術研究会(VLD)
    • 発表場所
      京都府 京都工芸繊維大学
    • 年月日
      2010-09-28
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] 超球の一部を用いた歩留り推定における不良領域の効率的探索手法2010

    • 著者名/発表者名
      伊達貴徳, 萩原汐, 益一哉, 佐藤高史
    • 学会等名
      VLSI設計技術研究会, 電子情報通信学会技術研究報告
    • 発表場所
      沖縄, 日本
    • 年月日
      2010-02-10
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [学会発表] Sequential importance sampling for low-probability and high-dimensional SRAM yield analysis2010

    • 著者名/発表者名
      Kentaro Katayama, Shiho Hagiwara, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • 学会等名
      ACM/IEEE International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD)
    • 発表場所
      San Jose, USA
    • 年月日
      2010-11-11
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] Decomposition of drain-current variation into gain-factor and threshold voltage variations2010

    • 著者名/発表者名
      Takashi Sato, Takumi Uezono, Noriaki Nakayama, Kazuya Masu
    • 学会等名
      IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS)
    • 発表場所
      Paris, France
    • 年月日
      2010-05-31
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] Path clustering for adaptive test2010

    • 著者名/発表者名
      Takumi Uezono, Tomoyuki Takahashi, Michihiro Shintani, Kazumi Hatayama, Kazuya Masu, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE VLSI test symposium (VTS)
    • 発表場所
      Santa Cruz, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] Linear Time Calculation of State-Dependent Power Distribution Network Capacitance2010

    • 著者名/発表者名
      Shiho Hagiwara, Koh Yamanaga, Ryo Takahashi, Kazuya Masu, Takashi Sato
    • 学会等名
      International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)
    • 発表場所
      San Jose, USA
    • 年月日
      2010-03-23
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [学会発表] Linear Time Calculation of State-Dependent Power Distribution Network Capacitance2010

    • 著者名/発表者名
      Shiho Hagiwara, Koh Yamanaga, Ryo Takahashi, Kazuya Masu, Takashi Sato
    • 学会等名
      International Symposium on Quality Electronic Design(ISQED)
    • 発表場所
      San Jose, USA
    • 年月日
      2010-03-23
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [学会発表] Small delay and area overhead process parameter estimation through path-delay inequalities2010

    • 著者名/発表者名
      Takumi Uezono, Tomoyuki Takahashi, Michihiro Shintani, Kazumi Hatayama, Kazuya Masu, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • 学会等名
      IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS)
    • 発表場所
      Paris, France
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] A routing architecture exploration for coarse-grained reconfigurable architecture with an automation of SEU-tolerance evaluation2010

    • 著者名/発表者名
      Takashi Imagawa, Masayuki Hiromoto, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • 学会等名
      23rd IEEE International SOC Conference (SOCC)
    • 発表場所
      Las Vegas, USA
    • 年月日
      2010-09-28
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] Robust importance sampling for efficient SRAM yield analysis2010

    • 著者名/発表者名
      伊達貴徳, 萩原汐, 益一哉, 佐藤高史
    • 学会等名
      International Symposium on Quality Electronic Design(ISQED)
    • 発表場所
      San Jose, USA
    • 年月日
      2010-03-23
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [学会発表] A tool chain for generating SEU-vulnerability map for coarse-grained reconfigurable architecture2010

    • 著者名/発表者名
      Takashi Imagawa, Masayuki Hiromoto, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato
    • 学会等名
      The 25th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC)
    • 発表場所
      Bangkok, Thai
    • 年月日
      2010-07-06
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22360143
  • [学会発表] On-die parameter extraction from path-delay measurements2009

    • 著者名/発表者名
      Tomoyuki Takahashi, Takumi Uezono, Michihiro Shintani, Kazuya Masu, Takashi Sato
    • 学会等名
      2009 IEEE Asian Solid-State Circuits Conference
    • 発表場所
      Taipei, Taiwan
    • 年月日
      2009-11-17
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [学会発表] S-parameter-based modal decomposition of multiconductor transmission lines and its application to de-embedding2009

    • 著者名/発表者名
      S. Amakawa, K. Yamanaga, H. Ito, T. Sato, N. Ishihara, K. Masu
    • 学会等名
      International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS)
    • 発表場所
      Oxnard, California
    • 年月日
      2009-04-01
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [学会発表] An Adaptive Test for Parametric Faults Based on Statistical Timing Information2009

    • 著者名/発表者名
      Michihiro Shintani, Takumi Uezono, Tomoyuki Takahashi, Hiroyuki Ueyama, Takashi Sato, Kazumi Hatayama, Takashi Aikyo, Kazuya Masu
    • 学会等名
      IEEE Asian Test Symposium
    • 発表場所
      Taichung, Taiwan
    • 年月日
      2009-11-24
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [学会発表] パス遅延測定によるチップ特性の推定手法2009

    • 著者名/発表者名
      高橋知之, 上薗巧, 越智裕之, 益一哉, 佐藤高史
    • 学会等名
      DAシンポジウム
    • 発表場所
      石川, 日本
    • 年月日
      2009-08-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [学会発表] Two-Dimentional Moment Method for Analyzing Current Distribution of a Ceramic Capacitor2009

    • 著者名/発表者名
      K.Yamanaga, S.Amakawa, T.Sato, K.Masu
    • 学会等名
      2009 International Symposium on Electromagnetic Comptibility
    • 発表場所
      Kyoto, Japan
    • 年月日
      2009-07-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [学会発表] S-parameter-based modal decomposition of multiconductor transmission lines and its application to de-embedding2009

    • 著者名/発表者名
      S.Amakawa, K.Yamanaga, H.Ito, T.Sato, N.Ishihara, K.Masu
    • 学会等名
      International Conference on Microelectronic Test Structures(ICMTS)
    • 発表場所
      Oxnard, California
    • 年月日
      2009-04-01
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [学会発表] SRAM回路の構造的対称性を考慮した2段階学習型重点的サンプリング2009

    • 著者名/発表者名
      伊達貴徳, 萩原汐, 上薗巧, 佐藤高史, 益一哉
    • 学会等名
      VLSI設計技術研究会 システム設計及び一般
    • 発表場所
      福岡, 日本
    • 年月日
      2009-05-21
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [学会発表] 電源遮断回路におけるインバータ列遅延時間ばらつきの計算2008

    • 著者名/発表者名
      萩原 汐, 佐藤 高史, 益 一哉
    • 学会等名
      電子情報通信学会 総合大会
    • 発表場所
      九州学術研究都市
    • 年月日
      2008-03-19
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [学会発表] A MOS transistor array with pico-ampere order precision for accurate characterization of leakage current variation2008

    • 著者名/発表者名
      Takashi Sato, Hiroyuki Ueyama, Noriaki Nakayama, and Kazuya Masu
    • 学会等名
      A MOS transistor array with pico-ampere order precision for accurate characterization of leakage current variation
    • 発表場所
      Fukuoka,Japan
    • 年月日
      2008-11-05
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [学会発表] プロセスばらつきの積極的活用による非繰返し電圧波形の測定2008

    • 著者名/発表者名
      上薗巧, 佐藤高史, 益 一哉
    • 学会等名
      第21回 回路とシステム軽井沢ワークショップ, pp. 439-444
    • 発表場所
      軽井沢
    • 年月日
      2008-04-22
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [学会発表] リーク電流測定用トランジスタアレイ回路の測定2008

    • 著者名/発表者名
      植山寛之, 佐藤高史, 中山範明, 益 一哉
    • 学会等名
      電子情報通信学会 総合大会
    • 発表場所
      九州学術研究都市
    • 年月日
      2008-03-19
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [学会発表] Small-Area CMOS RF Distributed Mixer Using Multi-Port Inductors2008

    • 著者名/発表者名
      Susumu, Sadoshima, Satoshi, Fukuda, Tackya, Yammouch, Hiroyuki, Ito, Kenichi, Okada, Kazuya, Masu
    • 学会等名
      IEEE/ACM Asia and South Pacific Design Automation Conference (University LSI Design Contest)
    • 発表場所
      Seoul, Korea
    • 年月日
      2008-01-22
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [学会発表] A MOS transistor array with pico-ampere order precision for accurate characterization of leakage current variation2008

    • 著者名/発表者名
      Takashi Sato, Hiroyuki Ueyama, Noriaki Nakayama, and Kazuya Masu
    • 学会等名
      IEEE Asian solid-state circuit conference(ASSCC), pp.389-392
    • 発表場所
      Fukuoka
    • 年月日
      2008-11-25
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [学会発表] "Non-invasive direct probing for on-chip voltage measurement2008

    • 著者名/発表者名
      Takashi Sato, Koh Yamanaga, and Kazuya Masu
    • 学会等名
      International SoC design conference (ISOCC)
    • 発表場所
      International SoC design conference (ISOCC)
    • 年月日
      2008-11-25
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [学会発表] A MOS transis0or array with pico-ampere order precision for accurate characterization of leakage current variation2008

    • 著者名/発表者名
      Takashi Sato, Hiroyuki Ueyama, Noriaki Nakayama, Kazuya Masu
    • 学会等名
      IEEE Asian Solid-State Circuits Conference (A-SSCC)
    • 年月日
      2008-11-05
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [学会発表] 閾値電圧の大域ばらつきが回路遅延ばらつきに与える影響」,Sep 3.2007.2007

    • 著者名/発表者名
      植山寛之, 佐藤高史, 中山範明, 益 一哉
    • 学会等名
      STARCシンポジウム
    • 発表場所
      大阪
    • 年月日
      2007-09-03
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [学会発表] Weakness identification for effective repair of power distribution network, Sweden2007

    • 著者名/発表者名
      T. Sato, S. Hagiwara, T. Uezono, and K. Masu
    • 学会等名
      17th International workshop on power and timing modeling, optimization and simulation(PATMOS)
    • 発表場所
      Goteborg, Sweden
    • 年月日
      2007-09-04
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [学会発表] Adaptable wire-length distribution with tunable occupation probability2007

    • 著者名/発表者名
      Shuhei Amakawa, Takumi Uezono, Takashi Sato, Kenichi Okada, Kazuya Masu
    • 学会等名
      International Workshop on System Level Interconnect Prediction (SLIP)
    • 発表場所
      Austin, Texas
    • 年月日
      2007-03-17
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [学会発表] Improvement of power distribution network using correlation-based regression analysis2007

    • 著者名/発表者名
      Shiho, Hagiwara, Takumi, Uezono, Takashi, Sato, Kazuya, Masu
    • 学会等名
      Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI)
    • 発表場所
      Stresa-Lago Maggiore, Italy
    • 年月日
      2007-03-13
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [学会発表] A Multi-Drop Transmission-Line Interconnect in Si LSI2007

    • 著者名/発表者名
      J. Seita, H. Ito, K. Okada, T. Sato, and K. Masu
    • 学会等名
      Asia and South Pacific Design Automation Conference(ASP-DAC)
    • 発表場所
      Yokohama, Japan
    • 年月日
      2007-01-24
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [学会発表] Weakness identification for effective repair of power distribution network2007

    • 著者名/発表者名
      Takashi, Sato, Shiho, Hagiwara, Takumi, Uezono, Kazuya, Masu
    • 学会等名
      17th International workshop on power and timing modeling, optimization and simulation (PATMOS)
    • 発表場所
      Goteborg, Sweden
    • 年月日
      2007-09-04
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [学会発表] Reconfigurable CMOS Low Noise Amplifier Using Variable Bias Circuit for Self Compensation2007

    • 著者名/発表者名
      Satoshi, Fukuda, Daisuke, Kawazoe, Kenichi, Okada, Kazuya, Masu
    • 学会等名
      Asia and South Pacific Design Automation Conference
    • 発表場所
      Yokohama, Japan
    • 年月日
      2007-01-24
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [学会発表] A Multi-Drop Transmission-Line Interconnect in Si LSI2007

    • 著者名/発表者名
      Junki, Seita, Hiroyuki, Ito, Kenichi, Okada, Takashi, Sato, Kazuya, Masu
    • 学会等名
      Asia and South Pacific Design Automation Conference
    • 発表場所
      Yokohama, Japan
    • 年月日
      2007-01-24
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [学会発表] Wafer-level-packaging inductor with extremely high quality factor and its application to 5.8GHz LC-type voltage controlled oscillator2007

    • 著者名/発表者名
      H. Hatakeyama, K. Okada, K. Ohashi, Y. Ito, N. Ozawa, M. Sato, T. Aizawa, T. Ito, R. Yamauchi, and K. Masu
    • 学会等名
      Advanced Metallization Conference(AMC)
    • 発表場所
      Albany, New York, USA
    • 年月日
      2007-10-09
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [学会発表] A MOS transistor-array for accurate measurement of subthreshold leakage variation2007

    • 著者名/発表者名
      Takashi, Sato, Takumi, Uezono, Shiho, Hagiwara, Kemchi, Okada, Shuhei, Amakawa, Noriaki, Nakayama, Kazuya, Masu
    • 学会等名
      International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)
    • 発表場所
      San Jose, California
    • 年月日
      2007-03-27
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [学会発表] A 5.2GHz CMOS Low Noise Amplifier with High-Q Inductors Embedded in Wafer-Level Chip-Scale Package2007

    • 著者名/発表者名
      S. Fukuda, H. Ito, K. Itoi, M. Sato, Tatsuya Ito, R. Yamauchi, K. Okada, and K. Masu
    • 学会等名
      International WorkS.p on RF Integration Technology (RFIT)
    • 発表場所
      Singapore
    • 年月日
      2007-12-10
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [学会発表] Wafer-level-packaging inductor with extremely high quality factor and its application to 5.8GHz LC-type voltage controlled oscillator,", pp.108-109, Tokyo,2007

    • 著者名/発表者名
      H. Hatakeyama, K. Okada, K. Ohashi, Y. Ito, N. Ozawa, M. Sato, T. Aizawa, Tatsuya Ito, R. Yamauchi, and K. Masu
    • 学会等名
      Advanced Metallization Conference (AMC) Advanced Metallization Conference, Asian Session (ADMETA)
    • 発表場所
      Albany, New York, USA Tokyo, Japan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [学会発表] Improvement of power distribution network using correlation-based regression analysis2007

    • 著者名/発表者名
      S. Hagiwara, T. Uezono, T. Sato, and K. Masu
    • 学会等名
      Great Lakes Symposium on VLSI(GLSVLSI)
    • 発表場所
      Stresa-Lago Maggiore, Italy
    • 年月日
      2007-03-13
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [学会発表] 電源電圧降下の時間的・空間的広がり可視化回路2007

    • 著者名/発表者名
      上薗 巧, 佐藤高史, 益 一哉
    • 学会等名
      VDECデザイナーフォーラム
    • 発表場所
      しんしのつ温泉
    • 年月日
      2007-09-17
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [学会発表] A Low-Power Low-Phase-Noise CMOS VCO using RF SiP Technology2007

    • 著者名/発表者名
      K. Ohashi, Y. Ito, H. Ito, K. Okada, H. Hatakeyama, N. Ozawa, M. Sato, T. Aizawa, T. Ito, R. Yamauchi, and K. Masu
    • 学会等名
      Asia-Pacific Microwave Conference (APMC)
    • 発表場所
      Bangkok, Thailand
    • 年月日
      2007-12-14
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [学会発表] A 5.2GHz CMOS Low Noise Amplifier with High-Q Inductors Embedded in Wafer-Level Chip-Scale Package2007

    • 著者名/発表者名
      S. Fukuda, H. Ito, K. Itoi, M. Sato, T. Ito, R. Yamauchi, K. Okada, and K. Masu
    • 学会等名
      International Workshop on RF Integration Technology(RFIT)
    • 発表場所
      Singapore
    • 年月日
      2007-12-10
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [学会発表] Adaptable wire-length distribution with tunable occupation probability2007

    • 著者名/発表者名
      Shuhei, Amakawa, Takumi, Uezono, Takashi, Sato, Kenichi, Okada, Kazuya, Masu
    • 学会等名
      International Workshop on System Level Interconnect Prediction (SLIP)
    • 発表場所
      Austin, Texas
    • 年月日
      2007-03-17
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [学会発表] "Adaptable wire-length distribution with tunable occupation probability2007

    • 著者名/発表者名
      S. Amakawa, T. Uezono, T. Sato, K. Okada, and K. Masu
    • 学会等名
      International Workshop on System Level Interconnect Prediction(SLIP)
    • 発表場所
      Austin, Texas
    • 年月日
      2007-03-17
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [学会発表] A Low-Power Low-Phase-Noise CMOS VCO using RF SiP Technology2007

    • 著者名/発表者名
      K. Ohashi, Y. Ito, H. Ito, K. Okada, H. Hatakeyama, N. Ozawa, M. Sato, T. Aizawa, T. Ito, R. Yamauchi, and K. Masu
    • 学会等名
      Asia-Pacific Microwave Conference(APMC)
    • 発表場所
      Bangkok, Thailand
    • 年月日
      2007-12-14
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [学会発表] 相関係数にもとづく回帰分析の電源改善への適用2007

    • 著者名/発表者名
      萩原汐, 上薗巧, 佐藤高史, 益 一哉
    • 学会等名
      第20回 回路とシステム軽井沢ワークショップ
    • 発表場所
      軽井沢
    • 年月日
      2007-04-23
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [学会発表] Weakness identification for effective repair of power distribution network2007

    • 著者名/発表者名
      T. Sato, S. Hagiwara, T. Uezono, and K. Masu
    • 学会等名
      17th International workS.p on power and timing modeling, optimization and simulation (PATMOS),
    • 発表場所
      Goteborg, Sweden
    • 年月日
      2007-09-04
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [学会発表] Wafer-level-packaging inductor with extremely high quality factor and its application to 5.8GHz LC-type voltage controlled oscillator2007

    • 著者名/発表者名
      Hideki, Hatakeyama, Kenichi, Okada, Kazuma, Ohashi, Yusaku, Ito, Naoyuki, Ozawa, Masakazu, Sato, Takuya, Aizawa, Tatsuya, Ito, Ryozo, Yamauchi, Kazuya, Masu
    • 学会等名
      Advanced Metallization Conference (AMC)
    • 発表場所
      Albany, New York
    • 年月日
      2007-10-09
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [学会発表] Wafer-level-packaging inductor with extremely high quality factor and its application to 5.8GHz LC-type voltage controlled oscillator2007

    • 著者名/発表者名
      Hideki, Hatakeyama, Kenichi, Okada, Kazuma, Ohashi, Yusaku, Ito, Naoyuki, Ozawa, Masakazu, Sato, Takuya, Aizawa, Tatsuya, Ito, Ryozo, Yamauchi, Kazuya, Masu
    • 学会等名
      Advanced Metallization Conference, Asian Session (ADMETA)
    • 発表場所
      Tokyo
    • 年月日
      2007-10-24
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [学会発表] Wafer-level-packaging inductor with extremely high quality factor and its application to 5.8 GHz LC-type voltage controlled oscillator,", pp. 108-109, Tokyo,2007

    • 著者名/発表者名
      H. Hatakeyama, K. Okada, K. Ohashi, Y. Ito, N. Ozawa, M. Sato, T. Aizawa, Tatsuya Ito, R. Yamauchi, and K. Masu
    • 学会等名
      Advanced Metallization Conference(AMC)Advanced Metallization Conference, Asian Session(ADMETA)
    • 発表場所
      Albany, New York, USA Tokyo, Japan
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [学会発表] 電源電圧降下の時間的・空間的広がり可視化手法2007

    • 著者名/発表者名
      上薗 巧, 佐藤高史, 益 一哉
    • 学会等名
      電子情報通信学会 総合大会
    • 発表場所
      鳥取大学
    • 年月日
      2007-09-11
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [学会発表] A MOS transistor-array for accurate measurement of subthreshold leakage variation,2007

    • 著者名/発表者名
      T. Sato, T. Uezono, S. Hagiwara, K. Okada, S. Amakawa, N. Nakayama, and K. Masu
    • 学会等名
      International Symposium on Quality Electronic Design(ISQED)
    • 発表場所
      San Jose, California
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [学会発表] パワーゲーティング技術における製造ばらつきの回路特性への影響2007

    • 著者名/発表者名
      萩原汐, 佐藤高史, 益 一哉
    • 学会等名
      第131回 システムLSI設計技術研究発表会 (ICD/SIP/IE/SLD合同研究会
    • 発表場所
      会津若松.
    • 年月日
      2007-10-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [学会発表] A Low-Power Low-Phase-Noise CMOS VCO using RF SiP Technology2007

    • 著者名/発表者名
      Kazuma, Ohashi, Yusaku, Ito, Hiroyuki, Ito, Kenichi, Okada, Hideki, Hatakeyama, Naoyuki, Ozawa, Masakazu, Sato, Takuya, Aizawa, Tatsuya, Ito, Ryozo, Yamauchi, Kazuya, Masu
    • 学会等名
      Asia-Pacific Microwave Conference (APMC)
    • 発表場所
      Bangkok, Thailand
    • 年月日
      2007-12-14
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [学会発表] 大域ばらつきの近似次数が回路遅延ばらつきに与える影響2007

    • 著者名/発表者名
      植山寛之, 佐藤高史, 中山範明, 益 一哉
    • 学会等名
      電子情報通信学会 総合大会
    • 発表場所
      鳥取大学
    • 年月日
      2007-09-11
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18063008
  • [学会発表] A 5.2GHz CMOS Low Noise Amphfier with High-Q Inductors Embedded in Wafer-Level Chip-Scale Package2007

    • 著者名/発表者名
      Satoshi, Fukuda, Hiroyuki, Ito, Kazuhisa, Itoi, Masakazu, Sato, Tatsuya, Ito, Ryozo, Yamauchi, Kenichi, Okada, Kazuya, Masu
    • 学会等名
      International Workshop on RF Integration Technology (RFIT)
    • 発表場所
      Singapore
    • 年月日
      2007-12-10
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [学会発表] Wafer-level-packaging inductor with extremely high quality factor and its application to 5.8GHz LC-type voltage controlled oscillator2007

    • 著者名/発表者名
      H. Hatakeyama, K. Okada, K. Ohashi, Y. Ito, N. Ozawa, M. Sato, T. Aizawa, T. Ito, R. Yamauchi, and K. Masu
    • 学会等名
      Advanced Metallization Conference, Asian Session(ADMETA)
    • 発表場所
      Tokyo, Japan
    • 年月日
      2007-10-24
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [学会発表] A 5.2 GHz CMOS Low Noise Amplifier with High-Q Inductors Embedded in Wafer-Level Chip-Scale Package2007

    • 著者名/発表者名
      S. Fukuda, H. Ito, K. Itoi, M. Sato, Tatsuya Ito, R. Yamauchi, K. Okada, and K. Masu
    • 学会等名
      International WorkS. p on RF Integration Technology(RFIT)
    • 発表場所
      Singapore
    • 年月日
      2007-12-10
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [学会発表] On-Chip Yagi Antenna for Wireless Signal Transmission in Stacked MCP2006

    • 著者名/発表者名
      Kazuma, Ohashi, Tackya, Yammouch, Makoto, Kimura, Hiroyuki, Ito, Kenichi, Okada, Koichi, Ishida, Kazuhisa, Itoi, Masakazu, Sato, Tatsuya, Ito, Kazuya, Masu
    • 学会等名
      International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)
    • 発表場所
      Yokohama
    • 年月日
      2006-09-13
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [学会発表] On-Chip Yagi Antenna for Wireless Signal Transmission in Stacked MCP,2006

    • 著者名/発表者名
      K. Ohashi, T. Yammouch, M. Kimura, H. Ito, K. Okada, K. Ishida, K. Itoi, M. Sato, T. Ito, and K. Masu
    • 学会等名
      International Conference on Solid State Devices and Materials(SSDM)
    • 発表場所
      Yokohama
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [学会発表] An Left Handed Material on Si CMOS Chip with Wafer Level Package Process2006

    • 著者名/発表者名
      Jang-Gu, Kim, Kenichi, Okada, Tackya, Yammouch, Takashi, Sato, Kazuya, Masu
    • 学会等名
      IEEE Asia-Pacific Microwave Conference (APMC)
    • 発表場所
      Yokohama
    • 年月日
      2006-12-14
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [学会発表] Distributed Constant Passive Devices Using Wafer-Level Chip Scale Package Technology for One-Chip Wireless Communication Circuits2006

    • 著者名/発表者名
      J. Seita, H. Ito, H. Sugita, K. Okada, T. Ito, K. Itoi, M. Sato, and K. Masu
    • 学会等名
      IEEE Topical Meeting on Silicon Monolithic Integrated Circuits in RF Systems
    • 発表場所
      San Diego, CA
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [学会発表] Distributed Constant Passive Devices Using Wafer-Level Chip Scale Package Technology for One-Chip Wireless Communication Circuits2006

    • 著者名/発表者名
      Junki, Seita, Hiroyuki, Ito, Hideyuki, Sugita, Kenichi, Okada, Tatsuya, Ito, Kazuhisa, Itoi, Masakazu, Sato, Kazuya, Masu
    • 学会等名
      IEEE Topical Meeting on Silicon Monolithic Integrated Circuits in RF Systems
    • 発表場所
      San Diego
    • 年月日
      2006-01-18
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [学会発表] An Left Handed Material on Si CMOS Chip with Wafer Level Package Process2006

    • 著者名/発表者名
      J.-G. Kim, K. Okada, T. Yammouch, T. Sato, and K. Masu
    • 学会等名
      IEEE Asia-Pacific Microwave Conference(APMC).
    • 発表場所
      Yokohama, Japan
    • 年月日
      2006-12-14
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [学会発表] High-Q Variable Inductor Using Redistributed Layers for Si RF Circuits2004

    • 著者名/発表者名
      Hirotaka, Sugawara, Hiroyuki, Ito, Kenichi, Okada, Kazuhisa, Itoi, Masakazu, Sato, Hiroshi, Abe, Kazuya, Masu
    • 学会等名
      IEEE Topical Meeting on Silicon Monolithic Integrated Circuits in RF Systems
    • 発表場所
      Atlanta
    • 年月日
      2004-09-08
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [学会発表] High-Q Variable Inductor Using Redistributed Layers for Si RF Circuits2004

    • 著者名/発表者名
      H. Sugawara, H. Ito, K. Okada, K. Itoi, M. Sato, H. Abe and K. Masu
    • 学会等名
      IEEE Topical Meeting on Silicon Monolithic Integrated Circuits in RF Systems
    • 発表場所
      Atlanta, GA
    • 年月日
      2004-09-08
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16206034
  • [学会発表] 低電圧起動回路を用いた省電力チップ間非接触通信回路

    • 著者名/発表者名
      佐川善彦, 廣本正之, 佐藤高史, 越智裕之
    • 学会等名
      第166回システムとLSIの設計技術研究発表会
    • 発表場所
      北九州国際会議場, 福岡県
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23300015
  • [学会発表] Architecture for sealed wafer-scale mask ROM for long-term digital data preservation

    • 著者名/発表者名
      Shinya Matsuda, Takashi Imagawa, Hiroshi Tsutsui, Takashi Sato, Yukihiro Nakamura, and Hiroyuki Ochi
    • 学会等名
      28th Intl. Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC)
    • 発表場所
      Yeosu, Korea
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23300015
  • 1.  廣本 正之 (60718039)
    共同の研究課題数: 5件
    共同の研究成果数: 108件
  • 2.  天川 修平 (40431994)
    共同の研究課題数: 3件
    共同の研究成果数: 10件
  • 3.  伊藤 浩之 (40451992)
    共同の研究課題数: 3件
    共同の研究成果数: 37件
  • 4.  岡田 健一 (70361772)
    共同の研究課題数: 3件
    共同の研究成果数: 43件
  • 5.  益 一哉 (20157192)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 88件
  • 6.  石田 光一 (30431993)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 2件
  • 7.  越智 裕之 (40264957)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 55件
  • 8.  筒井 弘 (30402803)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 45件
  • 9.  小笠原 泰弘 (30635298)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 6件
  • 10.  栗原 一徳 (30757414)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 13件
  • 11.  石原 昇 (20396641)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 4件
  • 12.  中村 行宏 (60283628)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 2件
  • 13.  Bian Song (00866030)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 16件
  • 14.  新谷 道広
    共同の研究課題数: 0件
    共同の研究成果数: 1件

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