澤本直美 SAWAMOTO Naomi

研究者番号	20595087
所属 (現在)	2025年度: 明治大学, 研究・知財戦略機構, 研究推進員(ポスト・ドクター)
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2016年度: 明治大学, 研究・知財戦略機構, 研究推進員(客員研究員)
審査区分/研究分野	研究代表者以外電子・電気材料工学
キーワード	研究代表者以外フォノン変形ポテンシャル / 異方性歪 / 有限要素法 / 歪 / 応力 / 電気・電子材料 / 国際情報交換 / 有限差分時間領域法（FDTD） / 有限要素法（FEM / 表面増強ラマン分光法 … もっと見る / 電子・電気材料 / 第一原理計算（ab initio） / 有限要素法（FEM） / フォノン変形ポテンシャル（PDPs） / 液浸ラマン分光法 / 応力・歪 / SiGe 隠す

超薄膜ＧｅおよびＳｉＧｅの極微小領域に導入された歪場のラマン分光法による多軸解析
- 研究代表者
  
  小椋厚志
- 研究期間 (年度)
  2012 – 2016
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  電子・電気材料工学
- 研究機関
  明治大学

すべて 2017 2016 2015

すべて雑誌論文学会発表

[雑誌論文] Biaxial stress evaluation in GeSn film epitaxially grown on Ge substrate by oil-immersion Raman spectroscopy2016
- 著者名/発表者名
  Kazuma Takeuchi, Kohei Suda, Ryo Yokogawa, Koji Usuda, Naomi Sawamoto and Atsushi Ogura
- 雑誌名
  
  Jpn. J. App. Phys.
  
  巻: 55 号: 9 ページ: 095502-095502
- DOI
  10.7567/jjap.55.095502
- NAID
  210000147055
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24360125
[雑誌論文] In-Plane Biaxial Strain Evaluation Induced in Ge1-XSnx Films Using Oil-Immersion Raman Spectroscopy2016
- 著者名/発表者名
  K. Takeuchi, K. Suda, R. Suzuki, R. Yokogawa, N. Sawamoto, K. Usuda, and A. Ogura
- 雑誌名
  
  ECS Transactions
  
  巻: 75 号: 8 ページ: 589-597
- DOI
  10.1149/07508.0589ecst
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24360125
[雑誌論文] Biaxial Stress Evaluation in SiGe Epitaxially Grown on Ge Substrate by oil-immersion Raman Spectroscopy2015
- 著者名/発表者名
  K. Takeuchi, D. Kosemura, S. Yamamoto, M. Tomita, K. Usuda, N. Sawamoto, and A. Ogura
- 雑誌名
  
  ECS Transaction
  
  巻: 69 号: 10 ページ: 81-87
- DOI
  10.1149/06910.0081ecst
- 査読あり / 謝辞記載あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24360125
[学会発表] X線回折によるGe1-xSnx薄膜の組成深さ分布非破壊測定2017
- 著者名/発表者名
  廣沢一郎、須田耕平, 澤本直美, 町田英明, 石川真人, 須藤弘, 大下祥雄, 小椋厚志
- 学会等名
  第30回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム
- 発表場所
  柏
- 年月日
  2017-01-08
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24360125
[学会発表] SiGe薄膜のラマンスペクトルに見られるブロードピークの起源の検討2016
- 著者名/発表者名
  武内一真、小瀬村大亮、横川凌、澤本直美、臼田宏治、小椋厚志
- 学会等名
  第77回応用物理学会秋季学術講演会
- 発表場所
  新潟
- 年月日
  2016-09-15
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24360125
[学会発表] In-Plane Biaxial Strain Evaluation Induced in Ge1-XSnx Films Using Oil-Immersion Raman Spectroscopy2016
- 著者名/発表者名
  K. Takeuchi, K. Suda, R. Suzuki, R. Yokogawa, N. Sawamoto, K. Usuda, and A. Ogura
- 学会等名
  230th ECS Meeting/Passific Rim Meeting 2016
- 発表場所
  Honolulu, HI
- 年月日
  2016-10-06
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24360125
[学会発表] Biaxial Stress Evaluation in SiGe Epitaxially Grown on Ge Substrate by oil-immersion Raman Spectroscopy2015
- 著者名/発表者名
  K. Takeuchi, D. Kosemura, S. Yamamoto, M. Tomita, K. Usuda, N. Sawamoto, and A. Ogura
- 学会等名
  228th ECS Meeting
- 発表場所
  Phoenix, Arizona
- 年月日
  2015-10-13
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24360125
[学会発表] 液浸ラマン分光法によるGe基板上Ge1-xSnx薄膜の応力評価2015
- 著者名/発表者名
  武内一真、山本章太郎、横川凌、澤本直美、須田耕平、石原聖也、小椋厚志
- 学会等名
  第76回応用物理学会秋季学術講演会
- 発表場所
  名古屋国際会議場、愛知
- 年月日
  2015-09-13
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24360125

1. 小椋厚志 (00386418)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 8件
2. 沼澤陽一郎 (50569837)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
3. 廣沢一郎 (00360834)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 1件
4. 小瀬村大亮 (00608284)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 3件
5. 臼田宏治

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 6件

澤本 直美 SAWAMOTO Naomi

研究課題

研究成果

共同研究者

超薄膜ＧｅおよびＳｉＧｅの極微小領域に導入された歪場のラマン分光法による多軸解析

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

[雑誌論文] Biaxial stress evaluation in GeSn film epitaxially grown on Ge substrate by oil-immersion Raman spectroscopy2016

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

NAID

データソース

[雑誌論文] In-Plane Biaxial Strain Evaluation Induced in Ge1-XSnx Films Using Oil-Immersion Raman Spectroscopy2016

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Biaxial Stress Evaluation in SiGe Epitaxially Grown on Ge Substrate by oil-immersion Raman Spectroscopy2015

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[学会発表] X線回折によるGe1-xSnx薄膜の組成深さ分布非破壊測定2017

著者名/発表者名

学会等名

発表場所

年月日

データソース

[学会発表] SiGe薄膜のラマンスペクトルに見られるブロードピークの起源の検討2016

著者名/発表者名

学会等名

発表場所

年月日

データソース

[学会発表] In-Plane Biaxial Strain Evaluation Induced in Ge1-XSnx Films Using Oil-Immersion Raman Spectroscopy2016

著者名/発表者名

学会等名

発表場所

年月日

データソース

[学会発表] Biaxial Stress Evaluation in SiGe Epitaxially Grown on Ge Substrate by oil-immersion Raman Spectroscopy2015

著者名/発表者名

学会等名

発表場所

年月日

データソース

[学会発表] 液浸ラマン分光法によるGe基板上Ge1-xSnx薄膜の応力評価2015

著者名/発表者名

学会等名

発表場所

年月日

データソース

澤本直美 SAWAMOTO Naomi