| 研究者番号 |
20827711
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| その他のID |
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| 所属 (現在) |
2024年度: 大阪大学, 大学院工学研究科, 准教授
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| 所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 |
2024年度: 大阪大学, 大学院工学研究科, 准教授
2022年度 – 2023年度: 大阪大学, 大学院工学研究科, 助教
2021年度: 大阪大学, 工学研究科, 助教
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| 審査区分/研究分野 |
- 研究代表者
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小区分21050:電気電子材料工学関連 /
0302:電気電子工学およびその関連分野
- 研究代表者以外
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大区分D
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| キーワード |
- 研究代表者
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MOSFET / 界面欠陥 / キャリア散乱 / 移動度 / GaN / SiO2 / SiC / 信頼性 / 窒化 / パワーデバイス / 電界効果トランジスタ（MOSFET） / 二酸化珪素（SiO2） / 炭化珪素（SiC）
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- 研究代表者以外
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界面科学 / MOS構造 / パワーデバイス / 炭化珪素
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