• 研究課題をさがす
  • 研究者をさがす
  • KAKENの使い方
  1. 前のページに戻る

三浦 克介  MIURA Katsuyoshi

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 30263221
その他のID
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2011年度: 大阪大学, 大学院・情報科学研究科, 准教授
2009年度 – 2010年度: 大阪大学, 情報科学研究科, 准教授
1998年度 – 2000年度: 大阪大学, 大学院・工学研究科, 助手
1996年度 – 1997年度: 大阪大学, 工学部, 助手
審査区分/研究分野
研究代表者
電子デバイス・電子機器
研究代表者以外
電子デバイス・機器工学
キーワード
研究代表者
SPICE / レーザ誘起テラヘルツ波顕鏡 / 故障絞り込み / LTEM / レーザ誘起テラヘルツ波顕微鏡 / L-SQ / レーザSQUID顕微鏡 / LSI / LTEM法 / レーザテラヘルツ波顕微鏡法 … もっと見る / L-SQ法 / 走査レーザSQUID顕微鏡法 / シミュレーション / 故障解析 / 故障診断 / 大規模集積回路 … もっと見る
研究代表者以外
VLSI / EB testability / fault localization / current test point / current testing / test pad / LSI with multi-layer structure / design for testability / パーティクル / EBテスタビリティ / 故障局所化 / 電流テストポイント / 電流テスティング / 電圧テストポイント / 多層構造VLSI / テスティング容易化設計 / automatic fault tracing system / CAD layout / fault tracing / EB tester / 階層的自動故障追跡法 / トランジスタレベル故障 / 自動故障追跡システム / CADレイアウト / 故障追跡 / EBテスター 隠す
  • 研究課題

    (3件)
  • 研究成果

    (8件)
  • 共同研究者

    (3人)
  •  高速・高精度な超LSI故障個所解析装置用診断支援手法の開発研究代表者

    • 研究代表者
      三浦 克介
    • 研究期間 (年度)
      2009 – 2011
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      電子デバイス・電子機器
    • 研究機関
      大阪大学
  •  多層構造VLSIのテスティング容易化設計手法の基礎的研究

    • 研究代表者
      藤岡 弘
    • 研究期間 (年度)
      1998 – 2000
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      電子デバイス・機器工学
    • 研究機関
      大阪大学
  •  VLSI内部トランジスタレベル故障のCADレイアウトからの階層的自動故障追跡法

    • 研究代表者
      藤岡 弘
    • 研究期間 (年度)
      1996 – 1997
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      電子デバイス・機器工学
    • 研究機関
      大阪大学

すべて 2011 2010 2009

すべて 学会発表

  • [学会発表] 走査レーザSQUID顕微鏡およびLTEM複合故障箇所解析装置の為の故障データベースと故障絞り込み支援ソフトウェアの開発2011

    • 著者名/発表者名
      三浦克介
    • 学会等名
      第31回LSIテスティングシンポジウム
    • 発表場所
      千里ライフサイエンスセンター(大阪府豊中市)
    • 年月日
      2011-11-10
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21560353
  • [学会発表] 走査レーザSQUID顕微鏡およびLTEM複合故障箇所解析装置の為の故障データベースと故障絞り込み支援ソフトウェアの開発2011

    • 著者名/発表者名
      三浦克介, 御堂義博, 山下将嗣, 松本徹, 二川清, 中前幸治
    • 学会等名
      第31回LSIテスティングシンポジウム会議録
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21560353
  • [学会発表] 電流密度分布シミュレーションを用いた走査レーザSQUID顕微鏡によるVLSI診断法2010

    • 著者名/発表者名
      三浦克介
    • 学会等名
      第30回LSIテスティングシンポジウム
    • 発表場所
      千里ライフサイエンスセンター(大阪府豊中市)
    • 年月日
      2010-11-11
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21560353
  • [学会発表] 走査レーザSQUID顕微鏡によるシミュレーションを活用したVLSI故障絞り込み法2010

    • 著者名/発表者名
      三浦克介, 二川清, 中前幸治
    • 学会等名
      電子情報通信学会総合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21560353
  • [学会発表] 走査レーザSQUID顕微鏡によるシミュレーションを活用したVLSI故障絞り込み法2010

    • 著者名/発表者名
      三浦克介
    • 学会等名
      電子情報通信学会総合大会
    • 発表場所
      東北大学川内キャンパス (宮城県仙台市)
    • 年月日
      2010-03-19
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21560353
  • [学会発表] 電流密度分布シミュレーションを用いた走査レーザSQUID顕微鏡によるVLSI診断法2010

    • 著者名/発表者名
      三浦克介, 二川清, 中前幸治
    • 学会等名
      第30回LSIテスティングシンポジウム会議録
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21560353
  • [学会発表] 電流密度分布シミュレーションを用いた走査レーザSQUID顕微鏡によるVLSI診断法の検討2009

    • 著者名/発表者名
      三浦克介
    • 学会等名
      第29回LSIテスティングシンポジウム
    • 発表場所
      千里ライフサイエンスセンター (大阪府豊中市)
    • 年月日
      2009-11-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21560353
  • [学会発表] 電流密度分布シミュレーションを用いた走査レーザSQUID顕微鏡によるVLSI診断法の検討2009

    • 著者名/発表者名
      三浦克介, 中前幸治, 二川清
    • 学会等名
      第29回LSIテスティングシンポジウム
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21560353
  • 1.  藤岡 弘 (40029228)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 2.  中前 幸治 (40155809)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 3.  御堂 義博 (00448094)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 1件

URL: 

この研究者とORCID iDの連携を行いますか?
※ この処理は、研究者本人だけが実行できます。

Are you sure that you want to link your ORCID iD to your KAKEN Researcher profile?
* This action can be performed only by the researcher himself/herself who is listed on the KAKEN Researcher’s page. Are you sure that this KAKEN Researcher’s page is your page?

サービス概要 検索マニュアル よくある質問 お知らせ 利用規程 科研費による研究の帰属

Powered by NII kakenhi