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井上 美智子  Inoue Michiko

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 30273840
その他のID
外部サイト
所属 (現在) 2025年度: 奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2022年度 – 2023年度: 奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 教授
2018年度 – 2020年度: 奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 教授
2013年度 – 2017年度: 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 教授
2007年度 – 2010年度: 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 准教授
2000年度 – 2006年度: 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助教授
2001年度: 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 教授
1997年度 – 2000年度: 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助手
審査区分/研究分野
研究代表者
計算機科学 / 数理情報学 / 計算機システム / 計算機システム・ネットワーク
研究代表者以外
小区分60010:情報学基礎論関連 / 計算機システム・ネットワーク / 計算機科学
キーワード
研究代表者
VLSI / テスト容易化設計 / 故障耐性 / 自己安定性 / 共有メモリシステム / 無待機アルゴリズム / 分散アルゴリズム / 部分影 / 接続トポロジー再構成 / 太陽光発電システム … もっと見る / 発電量最適化 / 再構成 / 接続トポロジー / 太陽光発電 / ディペダブル・コンピューティング / ディペンダブル・コンピューティング / 計算機システム / 組み込みメモリ / IRドロップ / 組み込み自己テスト / LSI信頼性 / 遅延故障 / プロセッサ / テスト生成 / 実動作速度テスト / 誤りマスク / テストプログラムテンプレート / 命令レベル自己テスト / プロセッサ自己テスト / VLSIのテスト / 設計自動化 / テストスケジューリング / SoC / レジスタ転送レベル / 低消費電力 / 無待機性 / 繰り返し改名問題 / ポイント競合度適応 / 分散協調問題 / マルチプロセッサシステム … もっと見る
研究代表者以外
分散アルゴリズム / 動的ネットワーク / ビザンチン故障 / 個体群プロトコル / モバイルロボット / モバイルエージェント / 自己安定 / DESIGN FOR TESTABILITY / テスト容易化設計 / システムオンチップ / スキャン設計 / 自己安定アルゴリズム / CORE-BAES DESIGN / CO-OPTIMIZATION / TEST ACCESS MECHANISM / TEST ARCHITECTURE / CONSECUTIVE TRANSPARENCY / CONSECUTIVE TESTABILITY / SYSTEM-ON-CHIP / コアベース設計 / 相互最適化 / テストアクセス機構 / テストアーキテクチャ / 連続透明 / 連続可検査 / computer cluster / wait-freedom / self-stabilization / fault tolerance / parallel algoritmhs / protocol / distributed algorithms / 故障耐性 / 計算機クラスタ / 無待機 / フォールトトレランス / 並列アルゴリズム / プロトコル / CONTROLLER / DATA PATH / REGISTER TRANSFERLEVEL / DATA FLOW GRAPH / VLSITEST / HIGHLEVEL SYNTHESIS / SYNTHESIS FOR TESTABILITY / テスト容易化合物 / コントローラ / データパス / レジスタ転送レベル / データフローグラフ / VLSIテスト / 高位合成 / テスト容易化合成 / 設計自動化 / 高信頼性ネットワーク / ディペンダブルコンピューティング / 安全性(セキュリティ) / テスト容易性 / ネットワークオンチップ / VLSIのテスト / VLSI設計技術 隠す
  • 研究課題

    (12件)
  • 研究成果

    (69件)
  • 共同研究者

    (11人)
  •  モバイルロボットのための耐ビザンチン故障アルゴリズムに関する研究

    • 研究代表者
      大下 福仁
    • 研究期間 (年度)
      2022 – 2024
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 審査区分
      小区分60010:情報学基礎論関連
    • 研究機関
      福井工業大学
  •  モバイルエージェントのための自己安定アルゴリズムに関する研究

    • 研究代表者
      大下 福仁
    • 研究期間 (年度)
      2018 – 2020
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 審査区分
      小区分60010:情報学基礎論関連
    • 研究機関
      奈良先端科学技術大学院大学
  •  発電量最適化のための太陽光発電システムの接続トポロジー再構成に関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      井上 美智子
    • 研究期間 (年度)
      2015 – 2017
    • 研究種目
      挑戦的萌芽研究
    • 研究分野
      数理情報学
    • 研究機関
      奈良先端科学技術大学院大学
  •  LSIライフサイクル全般の信頼性向上のための組込み自己テストに関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      井上 美智子
    • 研究期間 (年度)
      2013 – 2015
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      計算機システム
    • 研究機関
      奈良先端科学技術大学院大学
  •  ネットワークオンチップにおけるテスト容易性と安全性に関する基礎研究

    • 研究代表者
      藤原 秀雄
    • 研究期間 (年度)
      2008 – 2010
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      計算機システム・ネットワーク
    • 研究機関
      奈良先端科学技術大学院大学
  •  構造テストに高故障検出効率を保証するプロセッサの命令レベル自己テスト法研究代表者

    • 研究代表者
      井上 美智子
    • 研究期間 (年度)
      2006 – 2008
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      計算機システム・ネットワーク
    • 研究機関
      奈良先端科学技術大学院大学
  •  システムオンチップのテストアーキテクチャとテスト容易化設計に関する基礎研究

    • 研究代表者
      藤原 秀雄
    • 研究期間 (年度)
      2003 – 2006
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      計算機システム・ネットワーク
    • 研究機関
      奈良先端科学技術大学院大学
  •  低消費電力性とテスト容易性をともに考慮したVLSI高位設計研究代表者

    • 研究代表者
      井上 美智子
    • 研究期間 (年度)
      2002 – 2004
    • 研究種目
      萌芽研究
    • 研究分野
      計算機科学
    • 研究機関
      奈良先端科学技術大学院大学
  •  分散共有メモリ環境において故障耐性を考慮した効率のよい分散アルゴリズムの設計研究代表者

    • 研究代表者
      井上 美智子
    • 研究期間 (年度)
      2000 – 2001
    • 研究種目
      奨励研究(A)
    • 研究分野
      計算機科学
    • 研究機関
      奈良先端科学技術大学院大学
  •  高度な信頼性を有する大規模分散システム構築のための分散アルゴリズムに関する研究

    • 研究代表者
      増澤 利光
    • 研究期間 (年度)
      1998 – 2000
    • 研究種目
      特定領域研究(B)
    • 研究機関
      大阪大学
      奈良先端科学技術大学院大学
  •  メモリ共有型マルチプロセッサシステムにおける無待機アルゴリズムに関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      井上 美智子
    • 研究期間 (年度)
      1997 – 1998
    • 研究種目
      奨励研究(A)
    • 研究分野
      計算機科学
    • 研究機関
      奈良先端科学技術大学院大学
  •  上流からのVLSIテスト容易化合成に関する基礎研究

    • 研究代表者
      藤原 秀雄
    • 研究期間 (年度)
      1997 – 2000
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      計算機科学
    • 研究機関
      奈良先端科学技術大学院大学

すべて 2024 2023 2022 2021 2020 2019 2016 2015 2014 2013 2010 2009 2008 2006 2005 2004 2003 その他

すべて 雑誌論文 学会発表

  • [雑誌論文] Fast gathering despite a linear number of weakly Byzantine agents<sup>†</sup>2024

    • 著者名/発表者名
      Jion Hirose, Junya Nakamura, Fukuhito Ooshita, and Michiko Inoue
    • 雑誌名

      Concurrency and Computation: Practice and Experience

      巻: - 号: 14

    • DOI

      10.1002/cpe.8055

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11903, KAKENHI-PROJECT-20H04140
  • [雑誌論文] Eventually consistent distributed ledger despite degraded atomic broadcast2021

    • 著者名/発表者名
      Gregory Benassy, Fukuhito Ooshita, and Michiko Inoue
    • 雑誌名

      Concurrency and Computation: Practice and Experience

      巻: - 号: 11

    • DOI

      10.1002/cpe.6199

    • NAID

      120007166832

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11167
  • [雑誌論文] Byzantine-tolerant gathering of mobile agents in asynchronous arbitrary networks with authenticated whiteboards2020

    • 著者名/発表者名
      Masashi Tsuchida, Fukuhito Ooshita, and Michiko Inoue
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems

      巻: E103-D

    • NAID

      130007867759

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11167
  • [雑誌論文] A population protocol for uniform k-partition under global fairness2019

    • 著者名/発表者名
      Hiroto Yasumi, Naoki Kitamura, Fukuhito Ooshita, Taisuke Izumi, and Michiko Inoue
    • 雑誌名

      International Journal of Networking and Computing

      巻: 9 ページ: 97-110

    • NAID

      130007581112

    • 査読あり / オープンアクセス
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11167
  • [雑誌論文] A Fault Dependent Test Generation Method for State-Observable FSMs to Increase Defect Coverage under the Test Length Constraint2010

    • 著者名/発表者名
      Ryoichi Inoue, Toshinori Hosokawa, Hideo Fujiwara
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems Vol.E93-D, No.1

      ページ: 24-32

    • NAID

      10026812987

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20300018
  • [雑誌論文] Design and Optimization of Transparency-Based TAM for SoC Test2010

    • 著者名/発表者名
      Tomokazu Yoneda, Akiko Shuto, Hideyuki Ichihara, Tomoo Inoue, Hideo Fujiwara
    • 雑誌名

      IEICE Trans. on Inf. and Syst. Vol.E93-D, No.6

      ページ: 1549-1559

    • NAID

      10027987897

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20300018
  • [雑誌論文] 部分スルー可検査性に基づく順序回路のテスト生成法2009

    • 著者名/発表者名
      岡伸也, Chia Yee Ooi, 市原英行, 井上智生, 藤原秀雄
    • 雑誌名

      電子情報通信学会和文論文誌D-I Vol.J92-D, No.12

      ページ: 2207-2216

    • NAID

      110007482414

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20300018
  • [雑誌論文] A Fault Dependent Test Generation Method for State-Observable FSMs to Increase Defect Coverage under the Test Length Constraint2009

    • 著者名/発表者名
      Ryoichi Inoue
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems E93-D

      ページ: 24-32

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20300018
  • [雑誌論文] Design for testability method to avoid error masking of software-based self-test for processors2008

    • 著者名/発表者名
      Masato Nakazato, Michiko Inoue, Satoshi Ohtake and Hideo Fujiwara
    • 雑誌名

      IEICE Trans. on Information and Systems Vol.E91-D, No.3

      ページ: 763-770

    • NAID

      10026802191

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500038
  • [雑誌論文] A Low Power Deterministic Test Using Scan Chain Disable Technique2006

    • 著者名/発表者名
      Zhiqiang You, Tsuyoshi Iwagaki, Michiko Inoue, Hideo Fujiwara
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems Vol.E89-D, No.6

      ページ: 1931-1939

    • NAID

      110007503110

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15300018
  • [雑誌論文] Instruction-Based Self-Testing of Delay Faults it Pipelined Processors2006

    • 著者名/発表者名
      Virendra Singh, Michiko Inoue, Kewal K. Saluja, Hideo Fujiwara
    • 雑誌名

      IEEE Trans. on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems Vol.14, No.11

      ページ: 1203-1215

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15300018
  • [雑誌論文] Non-Scan Design for Single-Port-Change Delay Fault Testability2006

    • 著者名/発表者名
      Yuki Yoshikawa, Satoshi Ohtake, Michiko Inoue, Hideo Fujiwara
    • 雑誌名

      IPSJ (Information Processing Society of Japan) Journal (Special Issue on Design Methodology of System LSIs) Vol.47, No.6

      ページ: 1619-1628

    • NAID

      130000022321

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15300018
  • [雑誌論文] Instruction-based self-testing of delay faults in pipelined processors2006

    • 著者名/発表者名
      Virendra Singh, Michiko Inoue, Kewal K. Saluja and Hideo Fujiwara
    • 雑誌名

      IEEE Trans. on Very Large Scale Integration(VLSI)Systems Vol.14, No.11

      ページ: 1203-1215

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500038
  • [雑誌論文] Software-Based Self-Test of Processors for Stuck-at Faults and Path Delay Faults2005

    • 著者名/発表者名
      Michiko Inoue, Kazuko Kambe, Virendra Singh, Hideo Fujiwara
    • 雑誌名

      Trans. of IEICE (DI), (Invited Paper) (in Japanese) Vol.J88-D-I, No.6

      ページ: 1003-1011

    • NAID

      110003203373

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15300018
  • [雑誌論文] 縮退故障とパス遅延故障のためのプロセッサの命令レベル自己テスト法2005

    • 著者名/発表者名
      井上美智子
    • 雑誌名

      電子情報通信学会和文論文誌D-I J88-D-I, 6

      ページ: 1003-1011

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15300018
  • [雑誌論文] Delay Fault Testing of Processor Cores in Functional Mode2005

    • 著者名/発表者名
      Virendra Singh, Michiko Inoue, Kewal K. Saluja, Hideo Fujiwara
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems Vol.E88-D, No.3

      ページ: 610-618

    • NAID

      110003214225

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15300018
  • [雑誌論文] 縮退故障とパス遅延故障のためのプロセッサの命令レベル自己テスト法2005

    • 著者名/発表者名
      井上美智子
    • 雑誌名

      電子情報通信学会和文論文誌D-1 J88-D-I,6

      ページ: 1003-1011

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15300018
  • [雑誌論文] Power-Constrained Test Synthesis and Scheduling Algorithms for Non-Scan BIST-able RTL Data Paths2005

    • 著者名/発表者名
      Zhiqiang You, Ken'ichi Yamaguchi, Michiko Inoue, Jacob Savir, Hideo Fujiwara
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems Vol.E88-D, No.3

      ページ: 1940-1947

    • NAID

      110003214398

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15300018
  • [雑誌論文] Power-constrained test scheduling for RTL datapaths of non-scan BIST schemes2004

    • 著者名/発表者名
      Z.You, K.Yamaguchi, M.Inoue, J.Savir, H.Fujiwara
    • 雑誌名

      Proceedings of the IEEE 13th Asian Test Symposium (ATS'04)

      ページ: 32-39

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-14658092
  • [雑誌論文] Hierarchical BIST : Test-Per-Clock BIST Scheme with Low Overhead2003

    • 著者名/発表者名
      Ken-ichi Yamaguchi, Michiko Inoue, Hideo Fujiwara
    • 雑誌名

      Trans. of IEICE (in Japanese) Vol.J86-D-I, No.7

      ページ: 469-479

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15300018
  • [雑誌論文] Internally balanced structure with hold and switching functions2003

    • 著者名/発表者名
      Chikateru Jinno, Michiko Inoue, Hideo Fujiwara
    • 雑誌名

      Trans. of IEICE (DI) (in Japanese) Vol.J86-D-I, No.9

      ページ: 682-690

    • NAID

      110003171271

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15300018
  • [雑誌論文] Partial scan approach for secret information protect ion

    • 著者名/発表者名
      M. Inoue
    • 雑誌名

      Proceedings of 14th IEEE European Test Symposium (掲載決定)

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500038
  • [学会発表] Gathering in carrier graphs: Meeting via public transportation system2024

    • 著者名/発表者名
      Haozhi Zheng, Ryota Eguchi, Fukuhito Ooshita, and Michiko Inoue
    • 学会等名
      3rd Symposium on Algorithmic Foundation of Dynamic Networks (SAND)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11903
  • [学会発表] Meeting times of non-atomic random walks2023

    • 著者名/発表者名
      Ryota Eguchi, Fukuhito Ooshita, Michiko Inoue, and Sebastien Tixeuil
    • 学会等名
      25th International Symposium on Stabilization, Safety, and Security of Distributed Systems (SSS)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11903
  • [学会発表] Gathering despite a linear number of weakly Byzantine agents2022

    • 著者名/発表者名
      Jion Hirose, Junya Nakamura, Fukuhito Ooshita, and Michiko Inoue
    • 学会等名
      14th International Workshop on Parallel and Distributed Algorithms and Applications (PDAA)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11903
  • [学会発表] Brief announcement: Gathering despite a linear number of weakly Byzantine agents2022

    • 著者名/発表者名
      Jion Hirose, Junya Nakamura, Fukuhito Ooshita, and Michiko Inoue
    • 学会等名
      41st ACM Symposium on Principles of Distributed Computing (PODC)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22K11903
  • [学会発表] Terminating grid exploration with myopic luminous robots2021

    • 著者名/発表者名
      Shota Nagahama, Fukuhito Ooshita, and Michiko Inoue
    • 学会等名
      23rd Workshop on Advances in Parallel and Distributed Computational Models (APDCM)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11167
  • [学会発表] Gathering with a strong team in weakly Byzantine environments2021

    • 著者名/発表者名
      Jion Hirose, Junya Nakamura, Fukuhito Ooshita, and Michiko Inoue
    • 学会等名
      22nd International Conference on Distributed Computing and Networking (ICDCN)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11167
  • [学会発表] Uniform bipartition in population protocol model with arbitrary communication graphs2020

    • 著者名/発表者名
      Hiroto Yasumi, Fukuhito Ooshita, Michiko Inoue, and Sebastien Tixeuil
    • 学会等名
      24th International Conference on Principles of Distributed Systems (OPODIS)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11167
  • [学会発表] Uniform bipartition in population protocol model over arbitrary communication networks2020

    • 著者名/発表者名
      Hiroto Yasumi, Fukuhito Ooshita, Michiko Inoue, and Sebastien Tixeuil
    • 学会等名
      電子情報通信学会コンピュテーション研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11167
  • [学会発表] Gathering for mobile agents with a strong team in weakly Byzantine environments2020

    • 著者名/発表者名
      Jion Hirose, Masashi Tsuchida, Junya Nakamura, Fukuhito Ooshita, and Michiko Inoue
    • 学会等名
      電子情報通信学会コンピュテーション研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11167
  • [学会発表] Brief announcement: Gathering with a strong team in weakly Byzantine environments2020

    • 著者名/発表者名
      Jion Hirose, Masashi Tsuchida, Junya Nakamura, Fukuhito Ooshita, and Michiko Inoue
    • 学会等名
      27th International Colloquium on Structural Information and Communication Complexity (SIROCCO)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11167
  • [学会発表] Uniform partition in population protocol model under weak fairness2019

    • 著者名/発表者名
      Hiroto Yasumi, Fukuhito Ooshita, Michiko Inoue
    • 学会等名
      the 23rd International Conference on Principles of Distributed Systems (OPODIS)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11167
  • [学会発表] Black hole search despite Byzantine agents2019

    • 著者名/発表者名
      Masashi Tsuchida, Fukuhito Ooshita, and Michiko Inoue
    • 学会等名
      the 21st International Symposium on Stabilization, Safety, and Security of Distributed Systems (SSS)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11167
  • [学会発表] 視界に制限のあるライト付きモバイルロボットによるリング探索2019

    • 著者名/発表者名
      長濵将太,大下福仁,井上美智子
    • 学会等名
      電子情報通信学会コンピュテーション研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11167
  • [学会発表] Ring exploration of myopic luminous robots with visibility more than one2019

    • 著者名/発表者名
      Shota Nagahama, Fukuhito Ooshita, and Michiko Inoue
    • 学会等名
      the 21st International Symposium on Stabilization, Safety, and Security of Distributed Systems (SSS)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11167
  • [学会発表] Eventually consistent distributed ledger relying on degraded atomic broadcast2019

    • 著者名/発表者名
      Gregory Benassy, Fukuhito Ooshita, and Michiko Inoue
    • 学会等名
      the 11th International Workshop on Parallel and Distributed Algorithms and Applications (PDAA)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K11167
  • [学会発表] ゼロ遅延論理シミュレーションに基づく遅延故障インジェクション環境2016

    • 著者名/発表者名
      川崎 真司, 米田 友和, 大和 勇太, 井上 美智子
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      機械振興会館(東京都港区)
    • 年月日
      2016-02-17
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280015
  • [学会発表] Reliability enhancement of embedded memory with combination of aging-aware adaptive in-field self-repair and ECC2016

    • 著者名/発表者名
      Gian Mayuga, Yuta Yamato, Tomokazu Yoneda, Yasuo Sato and Michiko Inoue
    • 学会等名
      the 21st IEEE European Test Symposium
    • 発表場所
      Amsterdam, The Netherlands
    • 年月日
      2016-05-24
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280015
  • [学会発表] 重み付きランダムパターンとリシードを組み合わせた組込み自己テスト手法2016

    • 著者名/発表者名
      里中 沙矢香, 米田 友和, 大和 勇太, 井上 美智子
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      機械振興会館(東京都港区)
    • 年月日
      2016-02-17
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280015
  • [学会発表] An ECC-Based memory architecture with online self-repair capabilities for reliability enhancement2015

    • 著者名/発表者名
      Gian Mayuga, Yuta Yamato, Tomokazu Yoneda, Yasuo Sato and Michiko Inoue
    • 学会等名
      the 20th IEEE European Test Symposium
    • 発表場所
      Cluj-Napoca, Romania
    • 年月日
      2015-05-25
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280015
  • [学会発表] メモリの隣接パタン依存故障テストに対するバックグラウンド列の生成2015

    • 著者名/発表者名
      上岡真也, 米田友和, 大和勇太, 井上美智子
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      福江文化会館(長崎県五島市)
    • 年月日
      2015-12-01
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280015
  • [学会発表] Memory block based scan-BIST architecture for application-dependent FPGA testing2014

    • 著者名/発表者名
      Keita Ito, Tomokazu Yoneda, Yuta Yamato, Kazumi Hatayama, Michiko Inoue
    • 学会等名
      ACM/SIGDA International Symposium on Field-Programmable Gate Arrays
    • 発表場所
      Monterey, California, USA
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280015
  • [学会発表] Reliability of ECC-based memory architectures with online self-repair capabilities2014

    • 著者名/発表者名
      Gian Mayuga, Yuta Yamato, Tomokazu Yoneda, Yasuo Sato and Michiko Inoue
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      高岡テクノドーム(富山県高岡市)
    • 年月日
      2014-12-19
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280015
  • [学会発表] FPGA向けアプリケーション依存テストのための効率的なスキャンBISTアーキテクチャ2013

    • 著者名/発表者名
      伊藤 渓太, 米田 友和, 大和 勇太, 畠山 一実, 井上 美智子
    • 学会等名
      電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      石川県七尾市
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280015
  • [学会発表] Efficient scan-based BIST architecture for application-dependent FPGA test2013

    • 著者名/発表者名
      Keita Ito, Tomokazu Yoneda, Yuta Yamato, Kazumi Hatayama, Michiko Inoue
    • 学会等名
      The Forteenth Workshop on RTL and High Level Testing
    • 発表場所
      台湾・宜蘭
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280015
  • [学会発表] A Method of Unsensitizable Path Identification using High Level Design Information2010

    • 著者名/発表者名
      Satoshi Ohtake, Naotsugu Ikeda, Michiko Inoue, Hideo Fujiwara
    • 学会等名
      5th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20300018
  • [学会発表] Aging Test Strategy and Adaptive Test Scheduling for SoC Failure Prediction2010

    • 著者名/発表者名
      Hyunbean Yi, Tomokazu Yoneda, Michiko Inoue, Yasuo Sato, Seiji Kajihara, Hideo Fujiwara
    • 学会等名
      IEEE International On-Line Testing Symposium
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20300018
  • [学会発表] Seed Ordering and Selection for High Quality Delay Test2010

    • 著者名/発表者名
      Tomokazu Yoneda, Michiko Inoue, Akira Taketani, Hideo Fujiwara
    • 学会等名
      Proc. of IEEE the 19th Asian Test Symposium
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20300018
  • [学会発表] Capture in Turn Scan for Reduction of Test Date Volume, Test Application Time and Test Power2010

    • 著者名/発表者名
      Zhiqiang You, Jiedi Huang, Michiko Inoue, Jishun Kuang, Hideo Fujiwara
    • 学会等名
      Proc. of IEEE the 19th Asian Test Symposium
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20300018
  • [学会発表] Thermal-Uniformity-Aware X-Filling to Reduce Temperature-Induced Delay Variation for Accurate At-Speed Testing2010

    • 著者名/発表者名
      Tomokazu Yoneda, Michiko Inoue, Yasuo Sato, Hideo Fujiwara
    • 学会等名
      28th IEEE VLSI Test Symposium
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20300018
  • [学会発表] Test Pattern Selection to Optimize Delay Test Quality with a Limited Size of Test Set2010

    • 著者名/発表者名
      Michiko Inoue, Akira Taketani, Tomokazu Yoneda, Hiroshi Iwata, Hideo Fujiwara
    • 学会等名
      2010 IEEE European Test Symposium
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20300018
  • [学会発表] Bipartite Full Scan Design : A DFT Method for Asynchronous Circuits2010

    • 著者名/発表者名
      Hiroshi Iwata, Satoshi Ohtake, Michiko Inoue, Hideo Fujiwara
    • 学会等名
      Proc. of IEEE the 19th Asian Test Symposium
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20300018
  • [学会発表] Test Pattern Selection to Optimize Delay Test Quality with a Limited Size of Test Set2010

    • 著者名/発表者名
      Michiko Inoue
    • 学会等名
      2010 IEEE European Test Symposium
    • 発表場所
      Prague, Czech Republic
    • 年月日
      2010-05-25
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20300018
  • [学会発表] Partial Scan Approach for Secret Information Protection2009

    • 著者名/発表者名
      Michiko Inoue, Tomokazu Yoneda, Muneo Hasegawa, Hideo Fujiwara
    • 学会等名
      2009 IEEE European Test Symposium
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20300018
  • [学会発表] A Response Compactor for Extended Compatibility Scan Tree Construction2009

    • 著者名/発表者名
      Zhiqiang You, Jiedi Huang, Michiko Inoue, Jishun Kuang, Hideo Fujiwara
    • 学会等名
      Proc. EEE 8th International Conference on ASIC
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20300018
  • [学会発表] Partial scan approach for secret information protection2009

    • 著者名/発表者名
      Michiko Inoue, Tomokazu Yoneda, Muneo Hasegawa and Hideo Fujiwara
    • 学会等名
      Proceedings of the 14th IEEE European Test Symposium(ETS'09)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500038
  • [学会発表] Test Generation and DFT Based on Partial Thru Testability2009

    • 著者名/発表者名
      Nobuya Oka, Chia Yee Ooi, Hideyuki Ichihara, Tomoo Inoue, Hideo Fujiwara
    • 学会等名
      2009 IEEE European Test Symposium, poster session
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20300018
  • [学会発表] Partial Scan Approach for Secret Information Protection2009

    • 著者名/発表者名
      Michiko Inoue
    • 学会等名
      2009 IEEE European Test Symposium
    • 発表場所
      Sevilla, Spain
    • 年月日
      2009-05-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20300018
  • [学会発表] Path-based Resource Binding to Reduce Delay Fault Test Cost2009

    • 著者名/発表者名
      Michiko Inoue
    • 学会等名
      10th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • 発表場所
      Hong Kong
    • 年月日
      2009-11-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20300018
  • [学会発表] Unsensitizable Path Identification at RTL Using High-Level Synthes is Information2009

    • 著者名/発表者名
      Satoshi Ohtake, Naotsugu Ikeda, Michiko Inoue, Hideo Fuji waral
    • 学会等名
      Digest of papers of 16th IEEE International Test Synthesis Workshop
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500038
  • [学会発表] A Synthesis Method to Alleviate Over-testing of Delay Faults Based on RTL Don't Care Path Identification2009

    • 著者名/発表者名
      Yuki Yoshikawa, Satoshi Ohtake, Tomoo Inoue, Hideo Fujiwara
    • 学会等名
      IEEE 27th VLSI Test Symposium
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20300018
  • [学会発表] Fast False Path Identification Based on Functional Unsensitizability Using RTL Information2009

    • 著者名/発表者名
      Yuki Yoshikawa, Satoshi Ohtake, Tomoo Inoue, Hideo Fujiwara
    • 学会等名
      14th Asia and South Pacific Design Automation Conference
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-20300018
  • [学会発表] "Delay test of FPGA routing networks by branched test paths, " Informal Digest of Papers2008

    • 著者名/発表者名
      Elena Hammari, Michiko Inoue, Einar J. Aas and Hideo Fujiwara
    • 学会等名
      13th IEEE European Test Symposium(ETS'08)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500038
  • [学会発表] Design for testability of software-based self-test for processors2006

    • 著者名/発表者名
      Masato Nakazato, Satoshi Ohtake, Michiko Inoue and Hideo Fujiwara
    • 学会等名
      15th IEEE Asian Test Symposium(ATS'06)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500038
  • [学会発表] プロセッサの命令レベル自己テストのためのテスト容易化設計2006

    • 著者名/発表者名
      中里昌人, 大竹哲史, 井上美智子, 藤原秀雄
    • 学会等名
      信学技報(ICD2006-40~59)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500038
  • [学会発表] An ECC-Based memory architecture with online self-repair capabilities for reliability enhancement

    • 著者名/発表者名
      Gian Mayuga, Yuta Yamato, Tomokazu Yoneda, Yasuo Sato and Michiko Inoue
    • 学会等名
      IEEE European Test Symposium
    • 発表場所
      Cluj-Napoca, Romania
    • 年月日
      2015-05-25 – 2015-05-29
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280015
  • [学会発表] Parallel path delay fault simulation for multi/many-core processors with SIMD units

    • 著者名/発表者名
      Yussuf Ali, Yuta Yamato, Tomokazu Yoneda, Kazumi Hatayama, Michiko Inoue
    • 学会等名
      IEEE Asian Test Symposium
    • 発表場所
      Hangzhou, China
    • 年月日
      2014-11-16 – 2014-11-19
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280015
  • [学会発表] An online repair strategy and reliability for ECC-Based memory architectures

    • 著者名/発表者名
      Gian Mayuga, Yuta Yamato, Tomokazu Yoneda, Yasuo Sato and Michiko Inoue
    • 学会等名
      IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • 発表場所
      Hangzhou, China
    • 年月日
      2014-11-19 – 2014-11-20
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25280015
  • 1.  米田 友和 (20359871)
    共同の研究課題数: 5件
    共同の研究成果数: 19件
  • 2.  大竹 哲史 (20314528)
    共同の研究課題数: 4件
    共同の研究成果数: 9件
  • 3.  藤原 秀雄 (70029346)
    共同の研究課題数: 3件
    共同の研究成果数: 23件
  • 4.  増澤 利光 (50199692)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件
  • 5.  大下 福仁 (20362650)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 19件
  • 6.  大和 勇太 (20707244)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 12件
  • 7.  井上 智生 (40252829)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 8.  藤原 暁宏 (10295008)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 9.  片山 喜章 (10263435)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 10.  桝田 秀夫 (90304063)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件
  • 11.  齊藤 明紀 (20235021)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件

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