小笠原泰弘 Ogasahara Yasuhiro

研究者番号	30635298
その他のID
所属 (現在)	2025年度: 国立研究開発法人産業技術総合研究所, エレクトロニクス・製造領域, 主任研究員
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2016年度 – 2023年度: 国立研究開発法人産業技術総合研究所, エレクトロニクス・製造領域, 主任研究員 2016年度: 国立研究開発法人産業技術総合研究所, ナノエレクトロニクス研究部門, 研究員
審査区分/研究分野	研究代表者小区分60040:計算機システム関連 / 計算機システム研究代表者以外小区分60040:計算機システム関連 / 情報セキュリティ
キーワード	研究代表者 PUF / ハードウェアセキュリティ / ばらつき / フレキシブル / 測定技術 / フレキシブルデバイス / 信頼性評価 / 多素子測定 / 有機トランジスタ / システムオンチップ … もっと見る / 電子デバイス・機器 / 計算機システム / 真性乱数生成 / 集積回路 / 真正乱数生成 / 偽造品対策 / 真正乱数 / BIST / 回路設計 / 真贋判定 … もっと見る研究代表者以外ハイブリッド回路 / トランジスタアレイ / センサ / ヘルスケアセンサ / セレクタ回路 / 増幅回路 / バイアス生成回路 / スイッチマトリクス / センサ回路 / 有機トランジスタ / 暗号・認証等 / 電子デバイス・機器 / 耐タンパ―技術 / ハードウェアセキュリティ / SOTB / PUF 隠す

フレキシブル印刷トランジスタによる偽造品対策回路実現のための多素子劣化評価研究代表者
- 研究代表者
  
  小笠原泰弘
- 研究期間 (年度)
  2022 – 2024
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 審査区分
  
  小区分60040:計算機システム関連
- 研究機関
  国立研究開発法人産業技術総合研究所
有機-シリコン混成回路による高機能・超低価格使い捨てヘルスケアセンサの実現
- 研究代表者
  
  佐藤高史
- 研究期間 (年度)
  2020 – 2022
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 審査区分
  
  小区分60040:計算機システム関連
- 研究機関
  京都大学
真贋判定技術 PUF のチップ出荷前の効率的な認証情報取得技術研究代表者
- 研究代表者
  
  小笠原泰弘
- 研究期間 (年度)
  2016 – 2019
- 研究種目
  
  若手研究(B)
- 研究分野
  
  計算機システム
- 研究機関
  国立研究開発法人産業技術総合研究所
超低消費電力トランジスタSOTBにおけるICチップ偽造防止技術PUFの有効性検証
- 研究代表者
  
  堀洋平
- 研究期間 (年度)
  2016 – 2018
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  情報セキュリティ
- 研究機関
  国立研究開発法人産業技術総合研究所

すべて 2023 2022 2021 2020 2019 2018 2017

すべて雑誌論文学会発表産業財産権

[雑誌論文] Measurement of 64 organic thin-film transistors in an array test structure using a relay-switch board for efficient evaluation of long-term reliability2023
- 著者名/発表者名
  Ogasahara Yasuhiro、Kuribara Kazunori、Sato Takashi
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics
  
  巻: 62 号: SC ページ: SC1030-SC1030
- DOI
  10.35848/1347-4065/acae2d
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22K11966, KAKENHI-PROJECT-20H04156
[雑誌論文] Hybrid CMOS and pseudo-CMOS Organic Memory for Flexible Sensors2022
- 著者名/発表者名
  Qin Zhaoxing、Kuribara Kazunori、Ogasahara Yasuhiro、Sato Takashi
- 雑誌名
  
  IEEE Sensors Journal
  
  巻: - 号: 20 ページ: 1-1
- DOI
  10.1109/jsen.2022.3153714
- 査読あり / オープンアクセス / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20H04156, KAKENHI-PROJECT-22KJ1911, KAKENHI-PROJECT-20K21793
[雑誌論文] Yield and leakage current of organic thin-film transistor logic gates toward reliable and low-power operation of large-scale logic circuits for IoT nodes2022
- 著者名/発表者名
  Ogasahara Yasuhiro、Kuribara Kazunori、Oshima Kunihiro、Qin Zhaoxing、Sato Takashi
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics
  
  巻: 61 号: SC ページ: SC1044-SC1044
- DOI
  10.35848/1347-4065/ac44cf
- 査読あり / オープンアクセス / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20H04156, KAKENHI-PROJECT-20K21793, KAKENHI-PROJECT-22KJ1911
[雑誌論文] Measurement and Modeling of Ambient-air-induced Degradation in Organic Thin-Film Transistor2020
- 著者名/発表者名
  Michihiro Shintani, Michiaki Saito, Kazunori Kuribara, Yasuhiro Ogasahara, and Takashi Sato
- 雑誌名
  
  IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
  
  巻: 33 号: 2 ページ: 216-223
- DOI
  10.1109/tsm.2020.2986609
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K18025, KAKENHI-PROJECT-20H04156
[雑誌論文] Organic Current Mirror PUF for Improved Stability Against Device Aging2020
- 著者名/発表者名
  Zhaoxing Qin, Michihiro Shintani, Kazunori Kuribara, Yasuhiro Ogasahara, and Takashi Sato
- 雑誌名
  
  IEEE Sensors Journal
  
  巻: 20 号: 14 ページ: 1-1
- DOI
  10.1109/jsen.2020.2986077
- 査読あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H01713, KAKENHI-PROJECT-20K21793, KAKENHI-PROJECT-20H04156
[雑誌論文] Implementation of pseudo-linear feedback shift register-based physical unclonable functions on silicon and sufficient Challenge?Response pair acquisition using Built-In Self-Test before shipping2020
- 著者名/発表者名
  Ogasahara Yasuhiro、Hori Yohei、Katashita Toshihiro、Iizuka Tomoki、Awano Hiromitsu、Ikeda Makoto、Koike Hanpei
- 雑誌名
  
  Integration
  
  巻: 71 ページ: 144-153
- DOI
  10.1016/j.vlsi.2019.12.002
- 査読あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16K16031
[雑誌論文] Feasibility of a low-power, low-voltage complementary organic thin film transistor buskeeper physical unclonable function2019
- 著者名/発表者名
  Ogasahara Yasuhiro、Kuribara Kazunori、Shintani Michihiro、Sato Takashi
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics
  
  巻: 58 号: SB ページ: SBBG03-SBBG03
- DOI
  10.7567/1347-4065/aaf7fd
- NAID
  210000135297
- 査読あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16K16031, KAKENHI-PROJECT-17H01713
[雑誌論文] A 65-nm SOTB implementation of a physically unclonable function and its performance improvement by body bias control2017
- 著者名/発表者名
  Yohei Hori, Toshihiro Katashita, Yasuhiro Ogasahara
- 雑誌名
  
  IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S)
  
  巻: - ページ: 1-3
- DOI
  10.1109/s3s.2017.8309209
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H02833
[産業財産権] 半導体デバイスのセキュリティ機能の検査装置2023
- 発明者名
  小笠原泰弘、堀洋平
- 権利者名
  国立研究開発法人産業技術総合研究所
- 産業財産権種類
  特許
- 取得年月日
  2023
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16K16031
[産業財産権] 半導体デバイスのセキュリティ機能の検査装置2019
- 発明者名
  小笠原泰弘、堀洋平
- 権利者名
  国立研究開発法人産業技術総合研究所
- 産業財産権種類
  特許
- 産業財産権番号
  2019-122969
- 出願年月日
  2019
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16K16031
[学会発表] Efficient OTFT Array Measurement for the Long-Term Reliability Evaluation using External Measurement Board2023
- 著者名/発表者名
  Yasuhiro Ogasahara
- 学会等名
  2023 International Conference on Solid State Devices and Materials
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22K11966
[学会発表] Feasibility of the Efficient OTFT Array Measurement for the Long-term Reliability Evaluation Using External Measurement Board2022
- 著者名/発表者名
  Yasuhiro Ogasahara, Kazunori Kuribara, and Takashi Sato
- 学会等名
  International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20H04156
[学会発表] Rail-to-rail output voltage swing of inverter with organic thin-film transistor at 2.5V Vdd toward reliable operation of low leakage large scale logic circuits2021
- 著者名/発表者名
  Yasuhiro Ogasahara, Kazunori Kuribara, Kunihiro Oshima, and Takashi Sato
- 学会等名
  International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20H04156
[学会発表] Feasibility of Low-Power Organic Buskeeper PUF using Low-Voltage-Operation Complementary Organic TFT2018
- 著者名/発表者名
  Yasuhiro Ogasahara
- 学会等名
  The 2018 International Conference on Solid State Devices and Materials
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16K16031

1. 佐藤高史 (20431992)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 6件
2. 栗原一徳 (30757414)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 5件
3. 堀洋平 (60530368)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 1件
4. 片下敏宏 (90500215)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 1件
5. 新谷道広

共同の研究課題数: 0件

共同の研究成果数: 1件

小笠原 泰弘 Ogasahara Yasuhiro

研究課題

研究成果

共同研究者

フレキシブル印刷トランジスタによる偽造品対策回路実現のための多素子劣化評価研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

有機-シリコン混成回路による高機能・超低価格使い捨てヘルスケアセンサの実現

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

真贋判定技術 PUF のチップ出荷前の効率的な認証情報取得技術研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

超低消費電力トランジスタSOTBにおけるICチップ偽造防止技術PUFの有効性検証

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

[雑誌論文] Measurement of 64 organic thin-film transistors in an array test structure using a relay-switch board for efficient evaluation of long-term reliability2023

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Hybrid CMOS and pseudo-CMOS Organic Memory for Flexible Sensors2022

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Yield and leakage current of organic thin-film transistor logic gates toward reliable and low-power operation of large-scale logic circuits for IoT nodes2022

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Measurement and Modeling of Ambient-air-induced Degradation in Organic Thin-Film Transistor2020

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Organic Current Mirror PUF for Improved Stability Against Device Aging2020

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Implementation of pseudo-linear feedback shift register-based physical unclonable functions on silicon and sufficient Challenge?Response pair acquisition using Built-In Self-Test before shipping2020

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Feasibility of a low-power, low-voltage complementary organic thin film transistor buskeeper physical unclonable function2019

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

NAID

データソース

[雑誌論文] A 65-nm SOTB implementation of a physically unclonable function and its performance improvement by body bias control2017

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[産業財産権] 半導体デバイスのセキュリティ機能の検査装置2023

発明者名

権利者名

産業財産権種類

取得年月日

データソース

[産業財産権] 半導体デバイスのセキュリティ機能の検査装置2019

発明者名

権利者名

産業財産権種類

産業財産権番号

小笠原泰弘 Ogasahara Yasuhiro