古田潤 Furuta Jun

研究者番号	30735767
その他のID
所属 (現在)	2025年度: 岡山県立大学, 情報工学部, 准教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2016年度 – 2023年度: 京都工芸繊維大学, 電気電子工学系, 助教 2015年度: 京都工芸繊維大学, グリーンイノベーションセンター, 特任助教 2014年度 – 2015年度: 京都工芸繊維大学, 学内共同利用施設等, 助教
審査区分/研究分野	研究代表者電子デバイス・電子機器 / 小区分21010:電力工学関連 / 小区分60040:計算機システム関連研究代表者以外計算機システム
キーワード	研究代表者フリップフロップ / 重イオン / ソフトエラー / 電力変換回路 / ゲート駆動回路 / 集積化 / GaN HEMT / 放射線効果 / SiCパワーデバイス / パワー半導体 … もっと見る / SiC MOSFET / 経年劣化 / α線 / ガンマ線 / SiCパワーMOSFET / トータルドーズ効果 / SiCパワー半導体 / 放射線 / 低電力 / SEU / 完全空乏型トランジスタ / FD-SOI / 中性子 … もっと見る研究代表者以外スタックトランジスタ / バルク / FDSOI / パワエレ / BTI / ランダムテレグラフノイズ / 信頼性 / RTN / NBTI / 永久故障 / 一時故障 / パワーエレクトロニクス / 経年劣化 / ソフトエラー / IoT 隠す

ゲート駆動回路とGaN HEMTの単一集積化による高速化と低ノイズ化の両立研究代表者
- 研究代表者
  
  古田潤
- 研究期間 (年度)
  2023 – 2025
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 審査区分
  
  小区分21010:電力工学関連
- 研究機関
  京都工芸繊維大学
宇宙環境における次世代パワー半導体の寿命予測研究代表者
- 研究代表者
  
  古田潤
- 研究期間 (年度)
  2020 – 2022
- 研究種目
  
  若手研究
- 審査区分
  
  小区分60040:計算機システム関連
- 研究機関
  京都工芸繊維大学
低電力スーパーコンピュータの高信頼性設計法の提案研究代表者
- 研究代表者
  
  古田潤
- 研究期間 (年度)
  2017 – 2019
- 研究種目
  
  若手研究(B)
- 研究分野
  
  電子デバイス・電子機器
- 研究機関
  京都工芸繊維大学
高効率かつ高信頼で長時間動作可能な「もの」のインターネット機器の実現
- 研究代表者
  
  小林和淑
- 研究期間 (年度)
  2015 – 2018
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  計算機システム
- 研究機関
  京都工芸繊維大学
SOIを用いた電力・遅延オーバヘッドの少ない耐ソフトエラーフリップフロップの提案研究代表者
- 研究代表者
  
  古田潤
- 研究期間 (年度)
  2014 – 2015
- 研究種目
  
  研究活動スタート支援
- 研究分野
  
  電子デバイス・電子機器
- 研究機関
  京都工芸繊維大学

すべて 2024 2023 2022 2021 2019 2018 2017 2016 2015

すべて雑誌論文学会発表産業財産権

[雑誌論文] Radiation-Hardened Structure to Reduce Sensitive Range of a Stacked Structure for FDSOI2019
- 著者名/発表者名
  K. Yamada, M. Ebara, K. Kojima, Y. Tsukita, J. Furuta, and K. Kobayashi
- 雑誌名
  
  IEEE Transactions on Nuclear Science
  
  巻: 1 号: 7 ページ: 1-1
- DOI
  10.1109/tns.2019.2908722
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17K14667
[雑誌論文] A Low-Power Radiation-Hardened Flip-Flop with Stacked Transistors in a 65 nm FDSOI Process2018
- 著者名/発表者名
  MARUOKA Haruki、HIFUMI Masashi、FURUTA Jun、KOBAYASHI Kazutoshi
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Electronics
  
  巻: E101.C 号: 4 ページ: 273-280
- DOI
  10.1587/transele.E101.C.273
- NAID
  130006602277
- ISSN
  0916-8524, 1745-1353
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[雑誌論文] Evaluation of plasma-induced damage and bias temperature instability depending on type of antenna layer using current-starved ring oscillators2018
- 著者名/発表者名
  Kishida Ryo、Furuta Jun、Kobayashi Kazutoshi
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics
  
  巻: 57 号: 4S ページ: 04FD12-04FD12
- DOI
  10.7567/jjap.57.04fd12
- NAID
  210000148889
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[雑誌論文] Replication of Random Telegraph Noise by Using a Physical-Based Verilog-AMS Model2017
- 著者名/発表者名
  T. Komawaki, M. Yabuuchi, R. Kishida, J. Furuta, T. Matsumoto, and K. Kobayashi
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences
  
  巻: E100.A 号: 12 ページ: 2758-2763
- DOI
  10.1587/transfun.E100.A.2758
- NAID
  130006236533
- ISSN
  0916-8508, 1745-1337
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[雑誌論文] A Radiation-Hardened Non-Redundant Flip-Flop, Stacked Leveling Critical Charge Flip-Flop in a 65 nm Thin BOX FD-SOI Process2016
- 著者名/発表者名
  J. Furuta, J. Yamaguchi, and K. Kobayashi
- 雑誌名
  
  IEEE Trans. on Nuclear Science
  
  巻: 63 号: 4 ページ: 2080-2086
- DOI
  10.1109/tns.2016.2543745
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[雑誌論文] A Radiation-Hardened Non-redundant Flip-Flop, Stacked Leveling Critical Charge Flip-Flop in a 65 nm Thin BOX FD-SOI Process2016
- 著者名/発表者名
  Jun Furuta, Junki Yamaguchi, Kazutoshi Kobayashi
- 雑誌名
  
  IEEE Transactions on Neuclear Science
  
  巻: 1 ページ: 1-1
- 査読あり / 謝辞記載あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26889037
[雑誌論文] Impact of Cell Distance and Well-contact Density on Neutron-induced Multiple Cell Upsets2015
- 著者名/発表者名
  古田, 小林, 小野寺
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Electronics
  
  巻: E98.C 号: 4 ページ: 298-303
- DOI
  10.1587/transele.E98.C.298
- NAID
  130005061834
- ISSN
  0916-8524, 1745-1353
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[産業財産権] D-type Flip-flop Circuit2019
- 発明者名
  小林和淑, 古田潤, 山田晃大
- 権利者名
  小林和淑, 古田潤, 山田晃大
- 産業財産権種類
  特許
- 出願年月日
  2019
- 外国
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17K14667
[産業財産権] 入出力回路、及びフリップフロップ回路2015
- 発明者名
  小林和淑、古田潤、山口潤己
- 権利者名
  小林和淑、古田潤、山口潤己
- 産業財産権種類
  特許
- 出願年月日
  2015-08-17
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26889037
[産業財産権] 入出力回路、及びフリップフロップ回路2015
- 発明者名
  小林，古田，山口
- 権利者名
  国立大学法人京都工芸繊維大学
- 産業財産権種類
  特許
- 産業財産権番号
  2015-160642
- 出願年月日
  2015-08-17
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] パワーGaN HEMTとゲートドライバの単一集積化2024
- 著者名/発表者名
  古田潤
- 学会等名
  GaNコンソーシアム特別講演会
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K03793
[学会発表] ブートストラップ回路が不要なGaN HEMT向けゲートドライバ2024
- 著者名/発表者名
  平田晟生, 小林和淑, 新谷道広, 古田潤
- 学会等名
  電気学会総合大会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K03793
[学会発表] 高ゲートバイアス印加による SiC パワー MOSFET のトータルドーズ回復現象の測定2023
- 著者名/発表者名
  水嶋雅俊, 小林和淑, 古田潤
- 学会等名
  応用物理学会春季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K19769
[学会発表] Measurement of Total Ionizing Dose Effects on SiC Trench MOSFETs by Gamma-ray and Alpha-particle Irradiation2022
- 著者名/発表者名
  J. Furuta, K. Kobayashi, and M. Mizushima
- 学会等名
  The conference on Radiation and its Effects on Components and Systems
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K19769
[学会発表] 放射線による半導体素子の一時故障と劣化現象2022
- 著者名/発表者名
  古田潤
- 学会等名
  電子情報通信学会総合大会
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K19769
[学会発表] アルファ線を利用したトータルドーズ効果によるSiC MOSFETの劣化測定2021
- 著者名/発表者名
  古田潤, 小林和淑
- 学会等名
  応用物理学会秋季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K19769
[学会発表] Evaluation of Soft-Error Tolerance by Neutrons and Heavy Ions on Flip Flops with Guard Gates in a 65 nm Thin BOX FDSOI Process2019
- 著者名/発表者名
  M. Ebara, K. Yamada, K. Kojima, Y. Tsukita, J. Furuta, and K. Kobayashi
- 学会等名
  Radiation and its Effects on Components and Systems
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17K14667
[学会発表] Impact of Combinational Logic Delay for Single Event Upset on Flip Flops in a 65 nm FDSOI Process2019
- 著者名/発表者名
  J. Furuta, Y. Tsukita, K. Yamada, M. Ebara, K. Kojima, and K. Kobayashi
- 学会等名
  IEEE International Reliability Physics Symposium
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17K14667
[学会発表] Evaluation of Heavy-Ion-Induced SEU Cross Sections of a 65 nm Thin BOX FD-SOI Flip-Flops Based on Stacked Inverter2018
- 著者名/発表者名
  J. Furuta, K. Kojima, and K. Kobayashi
- 学会等名
  The conference on Radiation and its Effects on Components and Systems
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17K14667
[学会発表] Sensitivity to Soft Errors of NMOS and PMOS Transistors Evaluated by Latches with Stacking Structures in a 65 nm FDSOI Proces2018
- 著者名/発表者名
  K. Yamada, H. Maruoka, J. Furuta, and K. Kobayashi
- 学会等名
  IEEE International Reliability Physics Symposium
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] Evaluation of Heavy-Ion-Induced SEU Cross Sections of a 65 nm Thin BOX FD-SOI Flip-Flops Based on Stacked Inverter2018
- 著者名/発表者名
  Jun Furuta
- 学会等名
  The conference on Radiation and its Effects on Components and Systems
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] Circuit-level Simulation Methodology for Random Telegraph Noise by Using Verilog-AMS2017
- 著者名/発表者名
  T. Komawaki, M. Yabuuchi, R. Kishida, J. Furuta, T. Matsumoto, and K. Kobayashi
- 学会等名
  Circuit-level Simulation Methodology for Random Telegraph Noise by Using Verilog-AMS
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] Plasma Induced Damage Depending on Antenna Layers in Ring Oscillators2017
- 著者名/発表者名
  R. Kishida, J. Furuta, and K. Kobayashi
- 学会等名
  International Conference on Solid State Devices and Materials
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] Radiation-Hardened Flip-Flops with Low Delay Overheads Using PMOS Pass-Transistors to Suppress a SET Pulse in a 65 nm FDSOI Process2017
- 著者名/発表者名
  K. Yamada, H. Maruoka, J. Furuta, and K. Kobayashi
- 学会等名
  The conference on Radiation and its Effects on Components and Systems
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] A Flip-Flop with High Soft-error Tolerance and Small Power and Delay Overheads2017
- 著者名/発表者名
  K. Yamada, H. Maruoka, J. Furuta, and K. Kobayashi
- 学会等名
  Symposium on Low-Power and High-Speed Chips (COOL Chips)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] A 16 nm FinFET Radiation-hardened Flip-Flop, Bistable Cross-coupled Dual-Modular-Redundancy FF for Terrestrial and Outer-Space Highly-reliable Systems2017
- 著者名/発表者名
  K. Kobayashi, J. Furuta, H. Maruoka, M. Hifumi, S. Kumashiro, T. Kato, and S. Kohri
- 学会等名
  IEEE International Reliability Physics Symposium
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] Influence of Layout Structures to Soft Errors Caused by Higher-energy Particles on 28/65 nm FDSOI Flip-Flops2017
- 著者名/発表者名
  M. Hifumi, H. Maruoka, S. Umehara, K. Yamada, J. Furuta, and K. Kobayashi
- 学会等名
  IEEE International Reliability Physics Symposium
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] A Radiation-hard Layout Structure to Control Back-Gate Biases in a 65 nm Thin-BOX FDSOI Process2016
- 著者名/発表者名
  J. Yamaguchi, J. Furuta, and K. Kobayashi
- 学会等名
  SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference
- 発表場所
  Burlingame, CA, USA
- 年月日
  2016-10-10
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] A Non-Redundant Low-Power Flip Flop with Stacked Transistors in a 65 nm Thin BOX FDSOI Process2016
- 著者名/発表者名
  H. Maruoka, M. Hifumi, J. Furuta, and K. Kobayashi
- 学会等名
  The conference on Radiation and its Effects on Components and Systems
- 発表場所
  Bremen, Germany
- 年月日
  2016-09-19
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] Radiation Hardness Evaluations of FFs on 28nm and 65nm Thin BOX FD-SOI Processes by Heavy-Ion Irradiation2015
- 著者名/発表者名
  M. Hifumi, E. Sonezaki, J. Furuta, and K. Kobayashi
- 学会等名
  International Workshop on Radiation Effects on Semiconductor Devices for Space Applications
- 発表場所
  Gunma, Japan
- 年月日
  2015-11-11
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26889037
[学会発表] A Radiation-Hardened Non-redundant Flip-Flop, Stacked Leveling Critical Charge Flip-Flop in a 65 nm Thin BOX FD-SOI Process2015
- 著者名/発表者名
  山口, 古田, 小林
- 学会等名
  The conference on Radiation and its Effects on Components and Systems
- 発表場所
  Moscow, Russia
- 年月日
  2015-09-10
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] Anasysis of BOX Layer Thickness on SERs of 65 and 28nm FD-SOI Processes by a Monte-Carlo Based Simulation Tool2015
- 著者名/発表者名
  張, 神田, 山口, 古田
- 学会等名
  International Conference on Solid State Devices and Materials
- 発表場所
  Moscow, Russia
- 年月日
  2015-09-30
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] PHITS-TCADシミュレーションによる完全空乏型SOIプロセスにおけるBOX層の厚さと基板バイアスによるソフトエラー耐性の評価2015
- 著者名/発表者名
  張魁元, 神田翔平, 山口潤己, 古田潤, 小林和淑
- 学会等名
  DAシンポジウム
- 発表場所
  石川県加賀市
- 年月日
  2015-08-26
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26889037
[学会発表] 65nm薄膜FD-SOIとバルクプロセスにおけるアンテナダイオード起因ソフトエラーの実測と評価2015
- 著者名/発表者名
  曽根崎詠二, 古田潤, 小林和淑
- 学会等名
  DAシンポジウム
- 発表場所
  石川県加賀市
- 年月日
  2015-08-26
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26889037
[学会発表] 65nmFD-SOIプロセスにおける非冗長化耐ソフトエラーフリップフロップのエラー耐性評価2015
- 著者名/発表者名
  山口潤己, 古田潤, 小林和淑
- 学会等名
  DAシンポジウム
- 発表場所
  石川県加賀市
- 年月日
  2015-08-26
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26889037
[学会発表] 28 nm UTBB FD-SOIプロセスにおけるα線照射による低電圧動作時のFFのソフトエラー耐性評価2015
- 著者名/発表者名
  一二三潤, 曽根崎詠二, 山口潤己, 古田潤, 小林和淑
- 学会等名
  DAシンポジウム
- 発表場所
  石川県加賀市
- 年月日
  2015-08-26
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26889037
[学会発表] Analysis of the Soft Error Rates on 65-nm SOTB and 28-nm UTBB FD-SOI Structures by a PHITS- TCAD Based Simulation Tool2015
- 著者名/発表者名
  張, 神田, 山口, 古田, 小林
- 学会等名
  International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices
- 発表場所
  Washington DC, USA
- 年月日
  2015-09-10
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02677
[学会発表] A Radiation-Hardened Non-redundant Flip-Flop, Stacked Leveling Critical Charge Flip-Flop in a 65 nm Thin BOX FD-SOI Process2015
- 著者名/発表者名
  J. Yamaguchi, J. Furuta, and K. Kobayashi
- 学会等名
  The conference on Radiation and its Effects on Components and Systems
- 発表場所
  Moscow, Russia
- 年月日
  2015-09-14
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26889037
[学会発表] 28 nm UTBB FD-SOIプロセスにおけるデバイスシミュレーションによるのソフトエラー耐性の評価2015
- 著者名/発表者名
  梅原成宏, 張魁元, 一二三潤, 古田潤, 小林和淑
- 学会等名
  DAシンポジウム
- 発表場所
  石川県加賀市
- 年月日
  2015-08-26
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26889037

1. 小林和淑 (70252476)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 13件
2. 西澤真一 (40757522)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
3. 吉河武文 (60636702)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
4. 松本高士 (70417369)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 1件
5. Stoffels Steve

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
6. Posthuma Niels

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
7. Li Xiangdong

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
8. Decoutere Stefaan

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件

古田 潤 Furuta Jun

研究課題

研究成果

共同研究者

ゲート駆動回路とGaN HEMTの単一集積化による高速化と低ノイズ化の両立研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

宇宙環境における次世代パワー半導体の寿命予測研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

低電力スーパーコンピュータの高信頼性設計法の提案研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

高効率かつ高信頼で長時間動作可能な「もの」のインターネット機器の実現

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

SOIを用いた電力・遅延オーバヘッドの少ない耐ソフトエラーフリップフロップの提案研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

[雑誌論文] Radiation-Hardened Structure to Reduce Sensitive Range of a Stacked Structure for FDSOI2019

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] A Low-Power Radiation-Hardened Flip-Flop with Stacked Transistors in a 65 nm FDSOI Process2018

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

NAID

ISSN

言語

データソース

[雑誌論文] Evaluation of plasma-induced damage and bias temperature instability depending on type of antenna layer using current-starved ring oscillators2018

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

NAID

データソース

[雑誌論文] Replication of Random Telegraph Noise by Using a Physical-Based Verilog-AMS Model2017

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

NAID

ISSN

言語

データソース

[雑誌論文] A Radiation-Hardened Non-Redundant Flip-Flop, Stacked Leveling Critical Charge Flip-Flop in a 65 nm Thin BOX FD-SOI Process2016

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] A Radiation-Hardened Non-redundant Flip-Flop, Stacked Leveling Critical Charge Flip-Flop in a 65 nm Thin BOX FD-SOI Process2016

著者名/発表者名

雑誌名

データソース

[雑誌論文] Impact of Cell Distance and Well-contact Density on Neutron-induced Multiple Cell Upsets2015

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

NAID

ISSN

言語

データソース

[産業財産権] D-type Flip-flop Circuit2019

発明者名

古田潤 Furuta Jun

[学会発表] 高ゲートバイアス印加による SiC パワー MOSFET のトータルドーズ回復現象の測定2023