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山崎 紘史  ヤマザキ ヒロシ

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 30758876
その他のID
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2019年度 – 2021年度: 日本大学, 生産工学部, 助教
審査区分/研究分野
研究代表者
小区分60040:計算機システム関連
キーワード
研究代表者
スキャン設計 / テスト容易化設計 / テストパターン生成 / VLSI設計技術 / LSI / 隣接信号線 / パーシャルMAX-SAT / 抵抗性オープン故障 / ATPG / テスト生成
  • 研究課題

    (1件)
  • 研究成果

    (5件)
  •  レイアウト設計を考慮した抵抗性オープン故障に対するテストパターン生成技術の研究研究代表者

    • 研究代表者
      山崎 紘史
    • 研究期間 (年度)
      2019 – 2021
    • 研究種目
      若手研究
    • 審査区分
      小区分60040:計算機システム関連
    • 研究機関
      日本大学

すべて 2021 2020 2019

すべて 学会発表

  • [学会発表] コントローラの遷移故障検出率向上のためのコントローラ拡大法2021

    • 著者名/発表者名
      飯塚恭平,細川利典,山崎紘史,吉村正義
    • 学会等名
      組込み技術とネットワークに関するワークショップ ETNET2021
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K20237
  • [学会発表] パーシャルMAX-SATを用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法2020

    • 著者名/発表者名
      山崎紘史,石山悠太,松田竜馬,細川利典,吉村正義,新井雅之,四柳浩之,橋爪正樹
    • 学会等名
      VLSI設計技術研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K20237
  • [学会発表] 遷移故障の並列テストのためのコントローラ拡大法2019

    • 著者名/発表者名
      竹内勇希,細川利典,山崎紘史,吉村正義
    • 学会等名
      第82回FTC研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K20237
  • [学会発表] Partial MaxSATを用いた低消費電力指向ドントケア割当て法2019

    • 著者名/発表者名
      三澤健一郎,平間勇貫,細川利典,山崎紘史,吉村正義,新井雅之
    • 学会等名
      DAシンポジウム
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K20237
  • [学会発表] MAX-SATと両立故障グラフを用いたMバイNテスト圧縮法2019

    • 著者名/発表者名
      浅見竜輝,細川利典,山崎紘史,吉村正義
    • 学会等名
      第81回FTC研究会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19K20237

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