藤原弘和 Fujiwara Hirokazu

研究者番号	30974886
その他のID	https://orcid.org/0000-0002-8113-6000
所属 (現在)	2024年度: 東京大学, 大学院新領域創成科学研究科, 特任助教
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2023年度: 東京大学, 大学院新領域創成科学研究科, 特任助教
審査区分/研究分野	研究代表者小区分21050:電気電子材料工学関連
キーワード	研究代表者酸化物デバイス / 強誘電体デバイス / ハフニア系強誘電体 / オペランド観察 / 光電子顕微鏡

研究課題
(1件)
研究成果
(7件)

非破壊オペランドナノイメージングで可視化する酸化物デバイスの特性変動過程研究代表者
- 研究代表者
  
  藤原弘和
- 研究期間 (年度)
  2023 – 2024
- 研究種目
  
  若手研究
- 審査区分
  
  小区分21050:電気電子材料工学関連
- 研究機関
  東京大学

すべて 2024 2023

すべて雑誌論文学会発表

[雑誌論文] Dielectric breakdown behavior of ferroelectric HfO2 capacitors by constant voltage stress studied by in situ laser-based photoemission electron microscopy2024
- 著者名/発表者名
  Yuki Itoya, Hirokazu Fujiwara, Cedric Bareille, Shik Shin, Toshiyuki Taniuchi, Masaharu Kobayashi
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics
  
  巻: 63 号: 2 ページ: 020903-020903
- DOI
  10.35848/1347-4065/ad1e84
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K13363, KAKENHI-PROJECT-21H04549
[雑誌論文] Nondestructive imaging of breakdown process in ferroelectric capacitors using in situ laser-based photoemission electron microscopy2023
- 著者名/発表者名
  Hirokazu Fujiwara,Yuki Itoya, Masaharu Kobayashi, Cedric Bareille, Shik Shin, Toshiyuki Taniuchi
- 雑誌名
  
  Applied Physics Letters
  
  巻: 123 号: 17 ページ: 173501-173501
- DOI
  10.1063/5.0162484
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K13363, KAKENHI-PROJECT-21H04549
[学会発表] Laser-based photoemission electron microscopy as a nondestructive imaging tool for ferroelectric devices2024
- 著者名/発表者名
  Hirokazu Fujiwara
- 学会等名
  2024 International Conference on Solid State Devices and Materials
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K13363
[学会発表] 上部電極越しに観察した HfO2 系強誘電体の分極コントラスト: レーザー励起光電子顕微鏡2024
- 著者名/発表者名
  藤原弘和、糸谷祐喜、小林正治、Bareille Cedric、辛埴、谷内敏之
- 学会等名
  第71回応用物理学会春季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K13363
[学会発表] レーザー励起光電子顕微鏡を用いた HfO2 系強誘電体の強誘電ドメイン及びその温度変化の観察2023
- 著者名/発表者名
  糸谷祐喜、藤原弘和、Bareille Cedric、辛埴、谷内敏之、小林正治
- 学会等名
  第84回応用物理学会秋季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K13363
[学会発表] HfO2系強誘電体膜の絶縁破壊箇所の電子状態: レーザー励起光電子顕微鏡2023
- 著者名/発表者名
  藤原弘和、糸谷祐喜、小林正治、Bareille Cedric、辛埴、谷内敏之
- 学会等名
  第84回応用物理学会秋季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K13363
[学会発表] オペランドレーザー励起光電子顕微鏡による強誘電体キャパシタの非破壊イメージングの開拓2023
- 著者名/発表者名
  藤原弘和、糸谷祐喜、小林正治、Bareille Cedric、辛埴、谷内敏之
- 学会等名
  シリコン材料・デバイス研究会
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K13363

藤原 弘和 Fujiwara Hirokazu

研究課題

研究成果

非破壊オペランドナノイメージングで可視化する酸化物デバイスの特性変動過程研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

[雑誌論文] Dielectric breakdown behavior of ferroelectric HfO2 capacitors by constant voltage stress studied by in situ laser-based photoemission electron microscopy2024

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Nondestructive imaging of breakdown process in ferroelectric capacitors using in situ laser-based photoemission electron microscopy2023

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[学会発表] Laser-based photoemission electron microscopy as a nondestructive imaging tool for ferroelectric devices2024

著者名/発表者名

学会等名

データソース

[学会発表] 上部電極越しに観察した HfO2 系強誘電体の分極コントラスト: レーザー励起光電子顕微鏡2024

著者名/発表者名

学会等名

データソース

[学会発表] レーザー励起光電子顕微鏡を用いた HfO2 系強誘電体の 強誘電ドメイン及びその温度変化の観察2023

著者名/発表者名

学会等名

データソース

[学会発表] HfO2系強誘電体膜の絶縁破壊箇所の電子状態: レーザー励起光電子顕微鏡2023

著者名/発表者名

学会等名

データソース

[学会発表] オペランドレーザー励起光電子顕微鏡による強誘電体キャパシタの非破壊イメージングの開拓2023

著者名/発表者名

学会等名

データソース

藤原弘和 Fujiwara Hirokazu

[学会発表] レーザー励起光電子顕微鏡を用いた HfO2 系強誘電体の強誘電ドメイン及びその温度変化の観察2023