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藤岡 弘  FUJIOKA Hiromu

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 40029228
その他のID
外部サイト
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 1998年度 – 2001年度: 大阪大学, 大学院・工学研究科, 教授
1996年度 – 1997年度: 大阪大学, 工学部, 教授
1991年度 – 1992年度: 大阪大学, 工学部, 教授
1987年度 – 1988年度: 大阪大学, 工学部, 助教授
1986年度: 阪大, 工学部, 助教授
審査区分/研究分野
研究代表者
電子デバイス・機器工学 / 電子機器工学
キーワード
研究代表者
VLSI / 2次電子検出器 / リアルタイム計測 / 電子ビームテスティング / 故障診断支援システム / 知識ベースシステム / CMOS標準セル設計 / 回路認識 / VLSI光学顕微鏡画像 / Real Time Measurement … もっと見る / Electron Beam Testing / 超広帯域二次電子検出器 / EB testability / fault localization / current test point / current testing / test pad / LSI with multi-layer structure / design for testability / パーティクル / EBテスタビリティ / 故障局所化 / 電流テストポイント / 電流テスティング / 電圧テストポイント / 多層構造VLSI / テスティング容易化設計 / automatic fault tracing system / CAD layout / fault tracing / EB tester / 階層的自動故障追跡法 / トランジスタレベル故障 / 自動故障追跡システム / CADレイアウト / 故障追跡 / EBテスター / Specimen current / Secondary electron / Large scale integrated circuit / Electron beam assisted selective deposition / Electron beam assisted selective etching / 電子ビ-ム支援エッチング / 試料吸収電流 / 二次電子 / 集積回路 / 電子ビーム支援CVD / 電子ビーム支援エッチング / 論理LSI / 走査電子顕微鏡 / 故障診断システム / FIB加工装置 隠す
  • 研究課題

    (7件)
  • 共同研究者

    (2人)
  •  VLSIチップ観測画像からの逆設計によるその場故障診断に関する基礎的研究研究代表者

    • 研究代表者
      藤岡 弘
    • 研究期間 (年度)
      2000 – 2001
    • 研究種目
      萌芽的研究
    • 研究分野
      電子デバイス・機器工学
    • 研究機関
      大阪大学
  •  多層構造VLSIのテスティング容易化設計手法の基礎的研究研究代表者

    • 研究代表者
      藤岡 弘
    • 研究期間 (年度)
      1998 – 2000
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      電子デバイス・機器工学
    • 研究機関
      大阪大学
  •  VLSIチップからの逐次回路機能抽出によるその場故障診断に関する基礎的研究研究代表者

    • 研究代表者
      藤岡 弘
    • 研究期間 (年度)
      1996 – 1997
    • 研究種目
      萌芽的研究
    • 研究分野
      電子デバイス・機器工学
    • 研究機関
      大阪大学
  •  VLSI内部トランジスタレベル故障のCADレイアウトからの階層的自動故障追跡法研究代表者

    • 研究代表者
      藤岡 弘
    • 研究期間 (年度)
      1996 – 1997
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      電子デバイス・機器工学
    • 研究機関
      大阪大学
  •  高密度集積回路の低エネルギー電子ビーム支援微細加工法に関する基礎的研究研究代表者

    • 研究代表者
      藤岡 弘
    • 研究期間 (年度)
      1991 – 1992
    • 研究種目
      一般研究(B)
    • 研究分野
      電子機器工学
    • 研究機関
      大阪大学
  •  リアルタイム電子ビームテスティング法とその応用に関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      藤岡 弘
    • 研究期間 (年度)
      1988
    • 研究種目
      一般研究(C)
    • 研究分野
      電子機器工学
    • 研究機関
      大阪大学
  •  リアルタイム電子ビームテスティングに関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      藤岡 弘
    • 研究期間 (年度)
      1986 – 1987
    • 研究種目
      一般研究(B)
    • 研究分野
      電子機器工学
    • 研究機関
      大阪大学
  • 1.  中前 幸治 (40155809)
    共同の研究課題数: 5件
    共同の研究成果数: 0件
  • 2.  三浦 克介 (30263221)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件

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