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中前 幸治  NAKAMAE Koji

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 40155809
その他のID
外部サイト
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2014年度: 大阪大学, 大学院情報科学研究科, 教授
2011年度 – 2014年度: 大阪大学, 情報科学研究科, 教授
1998年度 – 2001年度: 大阪大学, 大学院・工学研究科, 助教授
1995年度 – 1997年度: 大阪大学, 工学部, 助教授
1992年度: 大阪大学, 工学部, 助教授
1991年度: 大阪大学, 工学部, 講師
審査区分/研究分野
研究代表者
電子デバイス・機器工学
研究代表者以外
電子デバイス・機器工学 / 耳鼻咽喉科学 / 電子機器工学
キーワード
研究代表者
MTTR / MTBF / 稼働率 / ロット割り付けアルゴリズム / テスト戦略 / テスト工程 / 超LSI生産システム
研究代表者以外
VLSI / 異常眼球運動 / 病的眼振 … もっと見る / 眼球運動三次元解析 / 良性発作性頭位めまい症 / 故障診断支援システム / 知識ベースシステム / CMOS標準セル設計 / 回路認識 / VLSI光学顕微鏡画像 / EB testability / fault localization / current test point / current testing / test pad / LSI with multi-layer structure / design for testability / パーティクル / EBテスタビリティ / 故障局所化 / 電流テストポイント / 電流テスティング / 電圧テストポイント / 多層構造VLSI / テスティング容易化設計 / automatic fault tracing system / CAD layout / fault tracing / EB tester / 階層的自動故障追跡法 / トランジスタレベル故障 / 自動故障追跡システム / CADレイアウト / 故障追跡 / EBテスター / Specimen current / Secondary electron / Large scale integrated circuit / Electron beam assisted selective deposition / Electron beam assisted selective etching / 電子ビ-ム支援エッチング / 試料吸収電流 / 二次電子 / 集積回路 / 電子ビーム支援CVD / 電子ビーム支援エッチング / 先天性眼振 / 急速相 / 緩徐相 / 星状細胞腫 / アーノルドキアリ奇形 / 中枢性疾患 / 末梢性疾患 / 半規管 / 眼球運動解析 / 赤外線CCDカメラ / ビデオ眼振図計 / 眼球運動解析三次元解析 / 上眼瞼向き眼振 / 三半規管 / 問診 / 小脳腫瘍 / 速度蓄積機構 / 方向交代性上向性眼振 / 故障診断システム / FIB加工装置 隠す
  • 研究課題

    (8件)
  • 研究成果

    (1件)
  • 共同研究者

    (4人)
  •  異常眼球運動解析による中枢性疾患と末梢性疾患の鑑別

    • 研究代表者
      今井 貴夫
    • 研究期間 (年度)
      2012 – 2014
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      耳鼻咽喉科学
    • 研究機関
      大阪大学
  •  良性発作性頭位めまい症の眼振三次元解析からの予後推測

    • 研究代表者
      今井 貴夫
    • 研究期間 (年度)
      2010 – 2011
    • 研究種目
      若手研究(B)
    • 研究分野
      耳鼻咽喉科学
    • 研究機関
      大阪大学
  •  VLSIチップ観測画像からの逆設計によるその場故障診断に関する基礎的研究

    • 研究代表者
      藤岡 弘
    • 研究期間 (年度)
      2000 – 2001
    • 研究種目
      萌芽的研究
    • 研究分野
      電子デバイス・機器工学
    • 研究機関
      大阪大学
  •  多層構造VLSIのテスティング容易化設計手法の基礎的研究

    • 研究代表者
      藤岡 弘
    • 研究期間 (年度)
      1998 – 2000
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      電子デバイス・機器工学
    • 研究機関
      大阪大学
  •  VLSIチップからの逐次回路機能抽出によるその場故障診断に関する基礎的研究

    • 研究代表者
      藤岡 弘
    • 研究期間 (年度)
      1996 – 1997
    • 研究種目
      萌芽的研究
    • 研究分野
      電子デバイス・機器工学
    • 研究機関
      大阪大学
  •  VLSI内部トランジスタレベル故障のCADレイアウトからの階層的自動故障追跡法

    • 研究代表者
      藤岡 弘
    • 研究期間 (年度)
      1996 – 1997
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      電子デバイス・機器工学
    • 研究機関
      大阪大学
  •  超LSI生産システムにおけるテスト工程のコスト評価研究代表者

    • 研究代表者
      中前 幸治
    • 研究期間 (年度)
      1995
    • 研究種目
      一般研究(C)
    • 研究分野
      電子デバイス・機器工学
    • 研究機関
      大阪大学
  •  高密度集積回路の低エネルギー電子ビーム支援微細加工法に関する基礎的研究

    • 研究代表者
      藤岡 弘
    • 研究期間 (年度)
      1991 – 1992
    • 研究種目
      一般研究(B)
    • 研究分野
      電子機器工学
    • 研究機関
      大阪大学

すべて 2012

すべて 学会発表

  • [学会発表] Simulation of positioning nystagmus during the Dix-Hallpike maneuver through a balance control and eye movement simulator using accelerometer and gyroscope sensor data.2012

    • 著者名/発表者名
      Midoh Y, Hiraki K, Imai T, Uno A, Inohara H, Nakamae K
    • 学会等名
      27th Barany Society Meeting
    • 発表場所
      Uppsala, Sweden
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24592546
  • 1.  藤岡 弘 (40029228)
    共同の研究課題数: 5件
    共同の研究成果数: 0件
  • 2.  今井 貴夫 (80570663)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 1件
  • 3.  宇野 敦彦 (10335341)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 1件
  • 4.  三浦 克介 (30263221)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 0件

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