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橋爪 正樹  hashizume masaki

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 40164777
その他のID
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所属 (現在) 2025年度: 放送大学, 徳島学習センター, 特任教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2023年度: 放送大学, 徳島学習センター, 特任教授
2017年度 – 2021年度: 徳島大学, 大学院社会産業理工学研究部(理工学域), 教授
2016年度: 徳島大学, 大学院理工学研究部, 教授
2015年度: 徳島大学, ソシオテクノサイエンス研究部, 教授
2012年度 – 2013年度: 徳島大学, ソシオテクノサイエンス研究部, 教授 … もっと見る
2010年度 – 2011年度: 徳島大学, 大学院・ソシオテクノサイエンス研究部, 教授
2007年度 – 2008年度: 徳島大学, 大学院・ソシオテクノサイエンス研究部, 教授
2006年度: 徳島大学, 大学院ソシオテクノサイエンス研究部, 教授
2004年度 – 2005年度: 徳島大学, 工学部, 教授
2001年度 – 2003年度: 徳島大学, 工学部, 助教授 隠す
審査区分/研究分野
研究代表者
計算機システム・ネットワーク / 計算機システム / 小区分60040:計算機システム関連 / 計算機科学
キーワード
研究代表者
電流テスト / CMOS / 断線 / 短絡 / 断線故障 / リード浮き / 電気検査 / current test / open defect / supply current … もっと見る / IC / SoC / 組込型検査回路 / フィールドテスト / ダイ間配線 / テスト容易化設計 / 破断検出 / 抵抗断線 / 予兆検出 / 電子デバイス・機器 / ディペンダブル・コンピューティング / 計算機システム / 電気的検査法 / 欠陥検出法 / 実装基板回路 / インターコネクトテスト / アセンブリ基板 / 3次元積層IC / 電気検査法 / 電荷量 / 欠陥検出 / 電荷注入 / IC検査 / lead open / electrical test / ピン浮き / CMOS論理回路 / IDDQテスト / 電気的検査 / lead opne / IC pin open / logic circuit / test / ICピン浮き故障 / 電源電流 / 論理回路 / テスト / CMOS IC / 動的電源電圧変動 / 動的電源電流 / 遅延故障 / 電流センサ回路 / IDDTテスト / 高信頼性 / ミックスドシグナルIC / 検査容易化設計 / DA変換器 / マイクロコンピュータ / SiP / ディペンダブルコンピューティング / SoC, SiP 隠す
  • 研究課題

    (8件)
  • 研究成果

    (128件)
  • 共同研究者

    (3人)
  •  ダイ間配線の出荷後電気検査をも可能にする組込み型検査回路に関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      橋爪 正樹
    • 研究期間 (年度)
      2023 – 2025
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 審査区分
      小区分60040:計算機システム関連
    • 研究機関
      放送大学
  •  ICチップの入出力信号線の弛張発振回路を用いた破断予兆検出法に関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      橋爪 正樹
    • 研究期間 (年度)
      2017 – 2020
    • 研究種目
      基盤研究(B)
    • 研究分野
      計算機システム
    • 研究機関
      徳島大学
  •  タイミングウインドウ内の電荷供給量によるICの電流テスト法に関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      橋爪 正樹
    • 研究期間 (年度)
      2015 – 2016
    • 研究種目
      挑戦的萌芽研究
    • 研究分野
      計算機システム
    • 研究機関
      徳島大学
  •  組み込み型電圧変動センサを用いた動的電流テスト法に関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      橋爪 正樹
    • 研究期間 (年度)
      2012 – 2013
    • 研究種目
      挑戦的萌芽研究
    • 研究分野
      計算機システム・ネットワーク
    • 研究機関
      徳島大学
  •  SoC内DA変換器の電流テスト容易化設計法に関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      橋爪 正樹
    • 研究期間 (年度)
      2010 – 2011
    • 研究種目
      挑戦的萌芽研究
    • 研究分野
      計算機システム・ネットワーク
    • 研究機関
      徳島大学
  •  SoC、SiPの断線・短絡故障の電流テスト法に関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      橋爪 正樹
    • 研究期間 (年度)
      2006 – 2008
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      計算機システム・ネットワーク
    • 研究機関
      徳島大学
  •  ディープサブミクロンCMOS論理回路内断線故障の電気的検査法に関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      橋爪 正樹
    • 研究期間 (年度)
      2003 – 2005
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      計算機システム・ネットワーク
    • 研究機関
      徳島大学
  •  CMOS論理回路の電源電流測定による断線故障検出法に関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      橋爪 正樹
    • 研究期間 (年度)
      2001 – 2002
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      計算機科学
    • 研究機関
      徳島大学

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すべて 雑誌論文 学会発表 産業財産権

  • [雑誌論文] A DfT Technique for Electrical Interconnect Testing of Circuit Boards with 3D Stacked SRAM ICs2023

    • 著者名/発表者名
      Yuki Ikiri, Hiroyuki Yotsuyanagi, Fara Ashikin Binti Ali, Shyue-Kung Lu, Masaki Hashizume
    • 雑誌名

      Proc. of 12th IEEE CPMT Symposium Japan (ICSJ2023)

      巻: - ページ: 113-116

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23K11039
  • [雑誌論文] Open Defect Detection in Assembled Circuit Boards with Built-In Relaxation Oscillators2021

    • 著者名/発表者名
      Ikiri Yuki, Fumiya Sako, Hashizume Masaki, Yotsuyanagi Hiroyuki, Shyue-Kung Lu, Toru Yazaki, Yasuhiro Ikeda and Yutaka Uematsu
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology

      巻: 11 号: 6 ページ: 931-943

    • DOI

      10.1109/tcpmt.2021.3079159

    • 査読あり / オープンアクセス / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [雑誌論文] Detectable Resistance Increase of Open Defects in Assembled PCBs by Quiescent Currents through Embedded Diodes2021

    • 著者名/発表者名
      Yuya Okumoto, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume and Shyue-Kung Lu
    • 雑誌名

      Proc. of 2021 International Conference on Electronics Packaging (ICEP)

      巻: -

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [雑誌論文] Temperature Sensing with a Relaxation Oscillator in CMOS ICs2020

    • 著者名/発表者名
      Fumiya Sako, Yuki Ikiri, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi, Hiroshi Yokoyama and Shyue-Kung Lu
    • 雑誌名

      Proc. of The 35th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications

      巻: - ページ: 141-144

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [雑誌論文] Open Defect Detection Not Utilizing Boundary Scan Flip-Flops in Assembled Circuit Boards2020

    • 著者名/発表者名
      Michiya Kanda, Masaki Hashizume, Binti ALI Fara Ashikin, Hiroyuki Yotsuyanagi, Shyue-Kung Lu
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology

      巻: 10 号: 5 ページ: 895-907

    • DOI

      10.1109/tcpmt.2020.2973182

    • 査読あり / オープンアクセス / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [雑誌論文] Electrical Field Test Method of Resistive Open Defects between Dies by Quiescent Currents through Embedded Diodes2019

    • 著者名/発表者名
      Soneda Hanna、Hashizume Masaki、Yotsuyanagi Hiroyuki、Lu Shyue-Kung
    • 雑誌名

      Proc. of The IEEE 2019 International 3D Systems Integration Conference

      巻: 1 ページ: 1-5

    • DOI

      10.1109/3dic48104.2019.9058777

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [雑誌論文] Stand-by Mode Test Method of Interconnects between Dies in 3D ICs with IEEE 1149.1 Test Circuits2018

    • 著者名/発表者名
      Kanda Michiya、Yabui Daisuke、Hashizume Masaki、Yotsuyanagi Hiroyuki、Lu Shyue-Kung
    • 雑誌名

      Proc. of IEEE CPMT Symposium Japan 2018

      巻: 1 ページ: 189-192

    • DOI

      10.1109/icsj.2018.8602560

    • 査読あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [雑誌論文] A Design for Testability of Open Defects at Interconnects in 3D Stacked ICs2018

    • 著者名/発表者名
      ASHIKIN Fara、HASHIZUME Masaki、YOTSUYANAGI Hiroyuki、LU Shyue-Kung、ROTH Zvi
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems

      巻: E101.D 号: 8 ページ: 2053-2063

    • DOI

      10.1587/transinf.2018EDP7093

    • NAID

      130007429462

    • ISSN
      0916-8532, 1745-1361
    • 年月日
      2018-08-01
    • 言語
      英語
    • 査読あり / オープンアクセス / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [雑誌論文] A Power Supply Circuit for Interconnect Tests Based on Injected Charge Volume of 3D IC2016

    • 著者名/発表者名
      Kouhei Ohtani, Masaki Hashizume, Daisuke Suga, Hiroyuki Yotsuyanagi and Shyue-Kung Lu
    • 雑誌名

      Proc. of IEEE CPMT Symposium Japan 2016

      巻: - ページ: 139-140

    • 査読あり / 謝辞記載あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12002
  • [雑誌論文] A Built-in Test Circuit for Injected Charge Tests of Open Defects in CMOS ICs2016

    • 著者名/発表者名
      Kouhei Ohtani, Daisuke Suga, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
    • 雑誌名

      Proc. of International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications 2016

      巻: - ページ: 291-294

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12002
  • [雑誌論文] Electrical Test for Open Defects in CMOS ICs by Injected Charge2015

    • 著者名/発表者名
      Daisuke Suga, Hiroyuki Yotsuyanagi, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
    • 雑誌名

      Proc. of International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications 2015

      巻: _ ページ: 653-656

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12002
  • [雑誌論文] Electrical Interconnect Test Method of 3D ICs by Injected Charge Volume2015

    • 著者名/発表者名
      Daisuke Suga, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi and Shyue-Kung Lu
    • 雑誌名

      Proc. of IEEE 3D System Integration Conference 2015

      巻: _ ページ: TS8.19.1-TS8.19.6

    • DOI

      10.1109/3dic.2015.7334588

    • 査読あり / 謝辞記載あり / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12002
  • [雑誌論文] A Built-in Test Circuit for Detecting Open Defects by IDDT Appearance Time in CMOS ICs2014

    • 著者名/発表者名
      Masaki Hashizume, Shohei Suenaga and Hiroyuki Yotsuyanagi
    • 雑誌名

      Proc. of International Conference on Design & Concurrent Engineering 2014

      巻: (to appear)

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24650021
  • [雑誌論文] Built-in IDDT Appearance Time Sensor for Detecting Open Faults in 3D IC2013

    • 著者名/発表者名
      Shohei Suenaga, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi, Tetsuo Tada and Shyue-Kung Lu
    • 雑誌名

      Proc. of IEEE CPMT Symposium Japan(ICSJ2013)

      ページ: 247-250

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24650021
  • [雑誌論文] A Built-in Sensor for IDDT Testing of CMOS ICs2012

    • 著者名/発表者名
      Shohei Suenaga, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
    • 雑誌名

      Proc. of 2012 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24650021
  • [雑誌論文] A Supply Current Testable DAC of Resistor String Type2011

    • 著者名/発表者名
      Masaki Hashizume
    • 雑誌名

      Proc.RISP International Workshop on Nonlinear Circuit and Signal Processing

      ページ: 13-16

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22650009
  • [雑誌論文] A Supply Current Testable Register String DAC of Decoder Type2011

    • 著者名/発表者名
      M.Hashizume, et al
    • 雑誌名

      Proc.of IEEE 11th International Symposium on Communications and Information Technologies

      ページ: 58-63

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22650009
  • [雑誌論文] A Supply Current Testable DAC of Resistor String Type, Proc.2011

    • 著者名/発表者名
      Masaki Hashizume, Yutaka Hata, Hiroyuki Yotsuyanagi, Yukiya Miura
    • 雑誌名

      RISP International Workshop on Nonlinear Circuit and Signal Processing

      ページ: 13-16

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22650009
  • [雑誌論文] Practical Testability of Supply Current Testable DACs of Resistor Type2011

    • 著者名/発表者名
      Miyamori Yoshihiko, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume
    • 雑誌名

      Proc. of 2011 International Technical Conference on Circuits/ Systems, Computers and Communications

      ページ: 1015-1018

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22650009
  • [雑誌論文] A Supply Current Testable Register String DAC of Decoder Type2011

    • 著者名/発表者名
      Masaki Hashizume, Yutaka Hata, Hiroyuki Yotsuyanagi, Yukiya Miura
    • 雑誌名

      Proc. of IEEE 11th International Symposium on Communications and Information Technologies

      ページ: 58-63

    • DOI

      10.1109/iscit.2011.6092183

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22650009
  • [雑誌論文] Open Lead Detection of QFP ICs Using Logic Gates as Open Sensors2009

    • 著者名/発表者名
      Akira Ono, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masao Takagi, Masaki Hashizume
    • 雑誌名

      Proc. of International Conference on ElectronicsPackaging 2009

      ページ: 434-439

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [雑誌論文] CMOS ゲート回路を断線センサとして用いた部品結合不良検出法2009

    • 著者名/発表者名
      小野安季良, 一宮正博, 四柳浩之, 高木正夫, 橋爪正樹
    • 雑誌名

      エレクトロニクス実装学会誌 Vol.12, No.2

      ページ: 137-143

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [雑誌論文] Open Lead Detection Based on Logical Change Caused by AC Voltage Signal Stimulus2008

    • 著者名/発表者名
      Akira Ono, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masao Takagi, Masaki Hashizume
    • 雑誌名

      Proc. of 2008 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications

      ページ: 241-244

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [雑誌論文] Test Method for Detecting Open Leads of Low Voltage LSIs2008

    • 著者名/発表者名
      Akira Ono, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masao Takagi , Masaki Hashizume
    • 雑誌名

      Proc. of International Conference on Electronics Packaging 2008

      ページ: 457-462

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [雑誌論文] Current Testble Design of Resistor String DACs for Open Defects2008

    • 著者名/発表者名
      Yutaka Hata, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi, Yukiya Miura
    • 雑誌名

      Proc. of 2008 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications

      ページ: 1533-1536

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [雑誌論文] Open Lead Detection of CMOS Logic Circuits by Low Pressure Probing2007

    • 著者名/発表者名
      Ono Akira, Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi
    • 雑誌名

      Proc. of International Conference on Electronics Packaging

      ページ: 359-364

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [雑誌論文] 交流電界印加時の電流テストによる CMOS LSIのリード浮き検出のための印加交流電圧2007

    • 著者名/発表者名
      高木正夫, 橋爪正樹, 一宮正博, 四柳浩之
    • 雑誌名

      エレクトロニクス実装学会誌 Vol.8, No.3

      ページ: 219-228

    • NAID

      110006249330

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [雑誌論文] Current Testable Design of Resistor String DACs2007

    • 著者名/発表者名
      Masaki Hashizume, Yutaka Hata, Tomomi Nishida, Hiroyuki Yotsuyanagi, Yukiya Miura
    • 雑誌名

      Proc. of 16th Asian Test Symposium

      ページ: 399-403

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [雑誌論文] Interconnect Open Detection by Supply Current Testing under AC Electric Field Application2007

    • 著者名/発表者名
      Masaki Hashizume, Yuuki Ogata, Mitsuru Tojo, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi
    • 雑誌名

      Proc. of IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing

      ページ: 25-29

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [雑誌論文] Interconnect Open Detection by Supply Current Testing under AC Electric Field Application2007

    • 著者名/発表者名
      Masaki Hashizume
    • 雑誌名

      Proc. of IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing

      ページ: 25-29

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [雑誌論文] est Circuit for Vectorless Open Lead Detection of CMOS Ics2007

    • 著者名/発表者名
      Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Akira Ono and Hiroyuki Yotsuyanagi
    • 雑誌名

      IEEE 6-th International Board Test Workshop

    • URL

      http://www.molesystems.com/BTW/material/BTW07//Papers/BTW07-Paper%202.3.pdf,

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [雑誌論文] Current Testable Design of Resistor String DACs2007

    • 著者名/発表者名
      Masaki Hashizume
    • 雑誌名

      Proc. of IEEE 16th Asian Test Symposium

      ページ: 399-403

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [雑誌論文] Test Circuit for Open Lead Detection of CMOS ICs Based on Supply Current2006

    • 著者名/発表者名
      Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi
    • 雑誌名

      the IEEE European Board Test Workshop

    • URL

      http://www.molesystems.com/BTW/material/EBTW06//EBTW06%20Papers/EBTW06-4-1-Hashizume.pdf

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [雑誌論文] At Speed Testing of Bus Interconnects in Microcomputers2006

    • 著者名/発表者名
      Eiji Tasaka, Masaki Hashizume, Seiichi Nishimoto, Hiroyuki Yotsuyanagi, Takahiro Oie, Ikuro Morita, Toshihiro Kayahara
    • 雑誌名

      Proc. of IEEE 7th Workshop on RTL and High Level Testing

      ページ: 123-127

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [雑誌論文] Test Circuit for Open Lead Detection of CMOS ICs Based on Supply Current2006

    • 著者名/発表者名
      Masaki Hashizume
    • 雑誌名

      IEEE European Board Test Workshop 2006

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [雑誌論文] Open Lead Detection Based on Supply Current of CMOS Logic Circuits by AC voltage Signal Application2006

    • 著者名/発表者名
      M.Hashizume
    • 雑誌名

      Proc. of International Conference on Electronics Packaging (to appear)

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [雑誌論文] Open Lead Detection Based on Supply Current of CMOS Logic Circuits by AC Voltage Signal Application2006

    • 著者名/発表者名
      M.Hashizume
    • 雑誌名

      Proc. of the 2006 International Conference on Electronics Packaging (to appear)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [雑誌論文] Open Lead Detection Based on Supply Current of CMOS Logic Circuits by AC Voltage Signal Application2006

    • 著者名/発表者名
      Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi, Takeomi Tamesada
    • 雑誌名

      Proc. of International Conference on Electronics Packaging

      ページ: 147-152

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [雑誌論文] Current Testing of Interconnect Opens between CMOS LSIs Having Scan Cells2006

    • 著者名/発表者名
      Tojo Mitsuru, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume
    • 雑誌名

      Proc. of IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing

      ページ: 39-42

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [雑誌論文] Open Lead Detection Based on Supply Current of CMOS Logic Circuits by AC Voltage Signal Application2006

    • 著者名/発表者名
      Masaki Hashizume
    • 雑誌名

      Proceedings of International Conference on Electronics Packaging 2006

      ページ: 147-152

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [雑誌論文] Open Leads Detection Based on Supply Current of CMOS Logic Circuits by AC Voltage Signal Application2006

    • 著者名/発表者名
      M.Hashizume
    • 雑誌名

      Proc.of International Conference on Electronics Packaging (to appear)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [雑誌論文] Electric Field for Detecting Open Leads in CMOS Logic Circuits by Supply Current Testing2005

    • 著者名/発表者名
      M.Hashizume
    • 雑誌名

      Proc.of IEEE International Symposium on Circuits and Systems

      ページ: 2995-2998

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [雑誌論文] Electric Field for Detecting Open Leads in CMOS Logic Circuits by Supply Current Testing2005

    • 著者名/発表者名
      M.Hashizume
    • 雑誌名

      Proc.of IEEE International Symposium on Circuits and Systems (to appear)

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [雑誌論文] Vectorless Open Pin Detection Method for CMOS Logic Circuits2005

    • 著者名/発表者名
      M.Hashizume
    • 雑誌名

      Proc.of International Conference on Electronics Packaging

      ページ: 391-396

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [雑誌論文] Electric Field for Detecting Open Leads in CMOS Logic Circuits by Supply Current Testing2005

    • 著者名/発表者名
      M.Hashizume
    • 雑誌名

      Proc. of IEEE International Symposium on Circuits and Systems

      ページ: 2995-2998

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [雑誌論文] Vectorless Open Pin Detection Method for CMOS Logic Circuits2005

    • 著者名/発表者名
      M.Hashizume
    • 雑誌名

      Proc. of the 2005 International Conference on Electronics Packaging

      ページ: 391-396

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [雑誌論文] Vectorless Open Pin Detection Method for CMOS Logic Circuits2005

    • 著者名/発表者名
      M.Hashizume
    • 雑誌名

      Proc. of International Conference on Electronics Packaging

      ページ: 391-396

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [雑誌論文] Electric Field for Detecting Open Leads in CMOS Logic Circuits by Supply Current Testing2005

    • 著者名/発表者名
      M.Hashizume
    • 雑誌名

      Proc. of the IEEE International Symposium on Circuits and Systems

      ページ: 2995-2998

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [雑誌論文] Vectorless Open Pin Detection Method for Logic Circuits2005

    • 著者名/発表者名
      M.Hashizume
    • 雑誌名

      Proc.of International Conference on Electronics Packaging (to appear)

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [雑誌論文] Current Testable Design of Register String DACs2005

    • 著者名/発表者名
      M.Hashizume
    • 雑誌名

      Proc of IEEE International Workshop on Electronic Design, Test and Applications

      ページ: 197-200

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [雑誌論文] Current Testable Design of Register String DACs2005

    • 著者名/発表者名
      M.Hashizume
    • 雑誌名

      Proc.of IEEE International Workshop on Electronic Design, Test and Applications

      ページ: 197-200

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [雑誌論文] Current Testable Design of Register String DACs2005

    • 著者名/発表者名
      M.Hashizume
    • 雑誌名

      Proc. of the IEEE International Workshop on Electronic Design, Test and Applications

      ページ: 197-200

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [雑誌論文] Identification and Frequency estimation of Feedback Bridging Faults Generating Logical Oscillation in CMOS Circuits2004

    • 著者名/発表者名
      M.Hashizume
    • 雑誌名

      IEICE Transaction on Information and Systems E87-D・3

      ページ: 571-579

    • NAID

      110003213913

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [雑誌論文] CMOS Open Fault Detection by Appearance Time of Switching Supply Current2004

    • 著者名/発表者名
      M.Hashizume
    • 雑誌名

      Proc.of the IEEE 2^<nd> International Workshop on Electronic Design, Test & Application

      ページ: 183-188

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [雑誌論文] IDDQ Test method Based on Wavelet Transformation for Noisy Current Measurement Environment2004

    • 著者名/発表者名
      M.Hashizume
    • 雑誌名

      Proc.of the 13-th IEEE Asian Test Symposium

      ページ: 112-117

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [雑誌論文] Test Circuit for CMOS Lead Open Detection by Supply Current Testing under AC Electric Field Application2004

    • 著者名/発表者名
      M.Hashizume
    • 雑誌名

      Proc. of the IEEE 47-th Midwest Symposium on Circuits and Systems

      ページ: 1557-1560

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [雑誌論文] IDDQ Test method Based on Wavelet Transformation for Noisy Current Measurement Environment2004

    • 著者名/発表者名
      M.Hashizume
    • 雑誌名

      Proc. of the 13-th IEEE Asian Test Symposium

      ページ: 112-117

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [雑誌論文] Test Circuit for CMOS Lead Open Detection by Supply Current Testing under AC Electric Field Application2004

    • 著者名/発表者名
      M.Hashizume
    • 雑誌名

      Proc.of the IEEE 47-th Midwest Symposium on Circuits and Systems

      ページ: 1557-1560

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [雑誌論文] CMOS Open Fault Detection by Appearance Time of Switching Supply Current2004

    • 著者名/発表者名
      M.Hashizume
    • 雑誌名

      Proc.of the second IEEE International Workshop on Electronic Design, Test, and Applications

      ページ: 183-188

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [雑誌論文] IDDQ Test Method Based on Wavalet Transformation for Noisy Current Measurement Environment2004

    • 著者名/発表者名
      M.Hashizume
    • 雑誌名

      Proc.of the 13-th IEEE Asian Test Symposium

      ページ: 112-117

    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [雑誌論文] Identification and Frequency Estimation of Feedback Bridging Faults Generating Logical Oscillation in CMOS Circuits2004

    • 著者名/発表者名
      M.Hashizume
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Information and Systems Vol.E87-D, No.3

      ページ: 571-579

    • NAID

      110003213913

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [雑誌論文] CMOS Open Fault Detection by Appearance Time of Switching Supply Current2004

    • 著者名/発表者名
      M.Hashizume
    • 雑誌名

      Proc. of the second IEEE International Workshop on Electronic Design, Test, and Applications

      ページ: 183-188

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [雑誌論文] A BIST Circuit for IDDQ Tests2003

    • 著者名/発表者名
      M.Hashizume
    • 雑誌名

      Proc.of the 12-th IEEE Asian Test Symposium

      ページ: 390-395

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [雑誌論文] Testability of Supply Current Test in an AGC2003

    • 著者名/発表者名
      M.Hashizume
    • 雑誌名

      Proc.of the 2003 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications

      ページ: 836-839

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [雑誌論文] Electric Field Application Method Effective for Pin Open Detection Based on Supply Current in CMOS Logic Circuits2003

    • 著者名/発表者名
      M.Hashizume
    • 雑誌名

      Proc.of the 2003 International Conference on Electronics Packaging

      ページ: 75-80

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [雑誌論文] Electric Field Application Method Effective for Pin Open Detection Based on Supply Current in CMOS Logic Circuits2003

    • 著者名/発表者名
      M.Hashizume
    • 雑誌名

      Proc. of the 2003 International Conference on Electronics Packaging

      ページ: 75-80

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [雑誌論文] Testability of Supply Current Test in an AGC2003

    • 著者名/発表者名
      M.Hashizume
    • 雑誌名

      Proc. of the 2003 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications

      ページ: 836-839

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [雑誌論文] A Supply Current Test Method for Bridging Faults in CMOS Microprocessor Based Circuits2003

    • 著者名/発表者名
      M.Hashizume
    • 雑誌名

      Journal of Japan Institute of Electronics Packaging Vol.6, No.7

      ページ: 564-572

    • NAID

      10013959093

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [雑誌論文] CMOSマイクロコンピュータ回路の電源電流によるブリッジ故障検出法2003

    • 著者名/発表者名
      橋爪 正樹
    • 雑誌名

      エレクトロニクス実装学会誌 6・7

      ページ: 564-572

    • NAID

      10013959093

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [雑誌論文] A BIST Circuit for IDDQ Tests2003

    • 著者名/発表者名
      M.Hashizume
    • 雑誌名

      Proc. of the 12-th IEEE Asian Test Symposium

      ページ: 390-395

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [産業財産権] 論理回路の断線故障の検査装置2006

    • 発明者名
      橋爪正樹, 一宮正博
    • 権利者名
      青野敏博
    • 産業財産権番号
      2006-114044
    • 出願年月日
      2006-04-18
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [産業財産権] 電子回路の配線故障検査法とその検査容易化回路2006

    • 発明者名
      橋爪正樹, 一宮正博, 四柳浩之
    • 権利者名
      青野敏博
    • 産業財産権番号
      2006-309430
    • 出願年月日
      2006-11-15
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [産業財産権] 固体撮像装置およびその特性検査方法2006

    • 発明者名
      山達 正明, 橋爪 正樹
    • 権利者名
      シャープ, 徳島大学
    • 産業財産権番号
      2006-032796
    • 出願年月日
      2006-02-09
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [産業財産権] 固体撮像装置およびその特性検査方法2006

    • 発明者名
      山達正明, 橋爪正樹
    • 権利者名
      シャープ, 徳島大学
    • 産業財産権番号
      2006-032796
    • 出願年月日
      2006-02-09
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [産業財産権] 電源電流による検査容易化論理回路2004

    • 発明者名
      橋爪正樹, 一宮正博
    • 権利者名
      橋爪正樹, 一宮正博
    • 出願年月日
      2004-10-14
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [産業財産権] 回路検査装置2002

    • 発明者名
      一宮正博, 橋爪正樹
    • 権利者名
      一宮正博, 橋爪正樹
    • 出願年月日
      2002-03-30
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15500041
  • [学会発表] アナログ素子のみで構成する弛緩発振器によるIC間抵抗断線の検出可能性調査2023

    • 著者名/発表者名
      大松 正男, 大寺 佑都, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, Shyue-Kung Lu
    • 学会等名
      エレクトロニクス実装学会第33回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23K11039
  • [学会発表] オフセットキャンセル型コンパレータ内インバータゲートの増幅度の温度依存性2023

    • 著者名/発表者名
      小松原 滉人, 大松 正男, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-23K11039
  • [学会発表] Recovery of Defective TSVs with A Small Number of Redundant TSVs in 3D Stacked ICs2021

    • 著者名/発表者名
      Yuki Ikiri, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi, Hiroshi Yokoyama and Shyue-Kung Lu
    • 学会等名
      The 21st IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [学会発表] 電流テストによるダイ間断線検出のためのpMOSのオン抵抗値を用いた断線抵抗値の推定2020

    • 著者名/発表者名
      奥本 裕也, 曽根田 伴奈, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, Shyue-Kung Lu
    • 学会等名
      電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [学会発表] アナログ素子で構成する弛緩発振器によるCMOS IC内温度測定2020

    • 著者名/発表者名
      大寺 佑都, 硲 文弥, 伊喜利 勇貴, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, Shyue-Kung Lu
    • 学会等名
      電子情報通信学会ソサイエティ大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [学会発表] 弛緩発振器を用いた組込み型温度センサによる温度推定の可能性2020

    • 著者名/発表者名
      硲 文弥, 伊喜利 勇貴, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, 横山 洋之, Shyue-Kung Lu
    • 学会等名
      電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [学会発表] 電気試験法による実装基板内抵抗断線の出荷後検出法2019

    • 著者名/発表者名
      曽根田 伴奈, 神田 道也, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, Shyue-Kung Lu
    • 学会等名
      第29回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [学会発表] Health Monitoring of Electronic Circuits in IoT Systems2019

    • 著者名/発表者名
      Masaki Hashizume
    • 学会等名
      The 5-th International Forum on Advanced Technologies
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [学会発表] バウンダリスキャンテストによる3D IC内ダイ間抵抗断線検出可能性調査2019

    • 著者名/発表者名
      池内 康祐, 神田 道也, 四柳 浩之, 橋爪 正樹, Shyue-Kung Lu
    • 学会等名
      第29回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [学会発表] バウンダリスキャンテスト回路を用いた待機モード時電気試験を可能にするTAPCの開発2019

    • 著者名/発表者名
      池内 康祐, 神田 道也, 平井 智士, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      第33回エレクトロニクス実装学会春季講演大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [学会発表] Oscillation Frequency Estimation of Ring Oscillator for Interconnect Tests in 3D Stacked ICs2018

    • 著者名/発表者名
      Miyatake Noriko, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi, Hiroshi Yokoyama and Tetsuo Tada
    • 学会等名
      2018 RISP International Workshop on Nonlinear Circuits, Communications
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [学会発表] MOS製造ばらつきに対するダイオード組込型検査用回路を用いた検査法の抵抗断線検出能力2018

    • 著者名/発表者名
      曽根田 伴奈, 神田 道也, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, Shyue-Kung Lu
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [学会発表] リングオシレータを用いた3D IC内ダイ間断線検出のMOS製造ばらつきによる影響2018

    • 著者名/発表者名
      宮武 典子, 四柳 浩之, 横山 洋之, 橋爪 正樹, 多田 哲生
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [学会発表] リングオシレータを用いた3D IC内ダイ間配線検査法の発振周波数の温度依存性調査2017

    • 著者名/発表者名
      宮武 典子, 四柳 浩之, 横山 洋之, 橋爪 正樹, 多田 哲生
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [学会発表] A Defective Level Monitor of Open Defects in 3D ICs with a Comparator of Offset Cancellation Type2017

    • 著者名/発表者名
      Michiya Kanda, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi and Shyue-Kung Lu
    • 学会等名
      2017 IEEE Int. Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [学会発表] BC1タイプのバウンダリスキャンテスト回路を用いた実装基板のオンライン配線検査法2017

    • 著者名/発表者名
      薮井 大輔, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      第27回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-17H01715
  • [学会発表] 電荷注入回数によるIC間配線の試験回路2017

    • 著者名/発表者名
      大谷 航平, 菅 大介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      第31回エレクトロニクス実装学会春季講演大会
    • 発表場所
      慶應義塾大学(神奈川県横浜市)
    • 年月日
      2017-03-06
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12002
  • [学会発表] IDDT出現時間を用いる断線故障検査法の伝搬不能故障検出に対する有効性調査2016

    • 著者名/発表者名
      三好 大地, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      徳島大学(徳島県徳島市)
    • 年月日
      2016-09-17
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12002
  • [学会発表] 電荷注入量による断線不良検出の回路規模に対する影響調査2016

    • 著者名/発表者名
      大谷 航平, 菅 大介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      徳島大学(徳島県徳島市)
    • 年月日
      2016-09-17
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12002
  • [学会発表] A Power Supply Circuit for Detecting Open Defects in SoCs by Amount of Injected Charge2016

    • 著者名/発表者名
      Masaki Hashizume,Kohei Ohtani,Daisuke Suga,Hiroyuki Yotsuyanagi and Shyue-Kung Lu
    • 学会等名
      Taiwan and Japan Conference on Circuits and Systems(TJCAS2016)
    • 発表場所
      National Cheng Kung University(Tainan,Taiwan)
    • 年月日
      2016-07-31
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12002
  • [学会発表] 電荷注入量によるIC間配線の電流テストの可能性評価2015

    • 著者名/発表者名
      菅 大介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会講演論文集
    • 発表場所
      高知工科大学(高知県香美市)
    • 年月日
      2015-09-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-15K12002
  • [学会発表] 組込み型IDDT出現時間検出回路の実験による評価用設計2013

    • 著者名/発表者名
      末永翔平, 四柳浩之, 橋爪正樹
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会講演論文集
    • 発表場所
      徳島大学, 徳島県
    • 年月日
      2013-09-21
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24650021
  • [学会発表] 組込み型IDDT出現時間検出回路の実験による評価用設計2013

    • 著者名/発表者名
      末永 翔平, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      徳島大学(徳島大学)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24650021
  • [学会発表] A Supply Current Testable DAC of Resistor String Type2012

    • 著者名/発表者名
      Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi, Yukiya Miura
    • 学会等名
      Japan-Taiwan Joint Workshop on Advanced VLSI Testing
    • 発表場所
      都久志会館(Fukuoka)
    • 年月日
      2012-05-21
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22650009
  • [学会発表] 組込み型IDDT出現時間検出回路による断線故障の検出のための必要条件2012

    • 著者名/発表者名
      末永翔平, 四柳浩之, 橋爪正樹
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会講演論文集
    • 発表場所
      四国電力株式会社総合研修所, 香川県
    • 年月日
      2012-09-29
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24650021
  • [学会発表] デコーダ型DA変換器の電流テスト容易化設計2011

    • 著者名/発表者名
      橋爪正樹
    • 学会等名
      2011年度電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      阿南工業高等専門学校(徳島県)
    • 年月日
      2011-09-23
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22650009
  • [学会発表] デコーダ型DA変換器の電流テスト容易化設計2011

    • 著者名/発表者名
      橋爪正樹, 秦豊, 四柳浩之, 三浦幸也
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      阿南工業高等専門学校(阿南市)
    • 年月日
      2011-09-23
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22650009
  • [学会発表] 抵抗ラダー型DAC内MOS短絡の電流テスト容易化設計2011

    • 著者名/発表者名
      橋爪正樹, 秦豊, 四柳浩之, 三浦幸也
    • 学会等名
      2011年電子情報通信学会総合大会
    • 発表場所
      東京都市大学(東京都世田谷区)
    • 年月日
      2011-03-16
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22650009
  • [学会発表] 抵抗ラダー型DAC内MOS短絡の電流テスト容易化設計2011

    • 著者名/発表者名
      橋爪正樹
    • 学会等名
      2011年度 電子情報通信学会総合大会
    • 発表場所
      東京都市大学(東京)
    • 年月日
      2011-03-14
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-22650009
  • [学会発表] 抵抗ラダー型DAC の電流テスト容易化設計2009

    • 著者名/発表者名
      橋爪 正樹
    • 学会等名
      電子情報通信学会総合大会
    • 発表場所
      愛媛大学 (松山市)
    • 年月日
      2009-03-17
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [学会発表] QFP ICのリード浮きの電気的検出用回路2009

    • 著者名/発表者名
      橋爪 正樹
    • 学会等名
      エレクトロニクス実装学会講演大会
    • 発表場所
      関東学院大学(横浜市)
    • 年月日
      2009-03-11
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [学会発表] QFP ICのリード浮きの電気的検出用回路,2009

    • 著者名/発表者名
      橋爪正樹, 一宮正博, 四柳浩之, 小野安季良, 高木正夫
    • 学会等名
      エレクトロニクス実装学会講演大会
    • 発表場所
      関東学院大学
    • 年月日
      2009-03-11
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [学会発表] 抵抗ラダー型DACの電流テスト容易化設計2009

    • 著者名/発表者名
      橋爪正樹, 秦豊, 四柳浩之, 三浦幸也
    • 学会等名
      電子情報通信学会総合大会
    • 発表場所
      愛媛大学
    • 年月日
      2009-03-17
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [学会発表] 検査回路の電源電流測定によるICの電源リード浮き検査能力評価2009

    • 著者名/発表者名
      小野安季良, 一宮正博, 四柳浩之, 高木正夫, 橋爪正樹
    • 学会等名
      エレクトロニクス実装学会講演大会
    • 発表場所
      関東学院大学
    • 年月日
      2009-03-11
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [学会発表] Test Circuit for Locating Open Leads of QFP Ics2008

    • 著者名/発表者名
      Masaki Hashizume, Akihito Shimoura, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi
    • 学会等名
      IEEE 7-th International Board Test Workshop
    • 発表場所
      Fort Collins, USA.
    • 年月日
      2008-09-18
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [学会発表] PIC16F84A内のバス故障用実時間テストプログラム2008

    • 著者名/発表者名
      嶋本竜也, 田坂英司, 茅原敏広, 四柳浩之, 橋爪正樹
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      徳島大学
    • 年月日
      2008-09-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [学会発表] 0.35μm CMOSICの配線断線時の故障動作の実測2008

    • 著者名/発表者名
      加藤健二, 一宮正博, 四柳浩之, 橋爪正樹
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      徳島大学
    • 年月日
      2008-09-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [学会発表] 電流テストによるQFP ICのリード浮き診断回路2008

    • 著者名/発表者名
      橋爪正樹, 一宮正博, 四柳浩之, 下谷光生, 多田哲生, 小山健
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      徳島大学
    • 年月日
      2008-09-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [学会発表] Test Circuit for Locating Open Leads of QFP ICs2008

    • 著者名/発表者名
      Masaki Hashizume
    • 学会等名
      IEEE 7-th Internat ional Board Test Workshop
    • 発表場所
      Intel (Fort Collins, U. S. A. )
    • 年月日
      2008-09-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [学会発表] 交流電圧信号印加時の論理値異常によるリード浮き検出回路の試作2008

    • 著者名/発表者名
      内倉健一, 一宮正博, 四柳浩之, 橋爪正樹
    • 学会等名
      交流電圧信号印加時の論理値異常によるリード浮き検出回路の試作
    • 発表場所
      徳島大学
    • 年月日
      2008-09-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [学会発表] 電流テストによるQFP ICのリード浮き診断回路2008

    • 著者名/発表者名
      橋爪 正樹
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      徳島大学(徳島市)
    • 年月日
      2008-09-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [学会発表] 電流テスト容易化抵抗ストリング型D/A変換器の故障検出能力2008

    • 著者名/発表者名
      秦豊, 四柳浩之, 橋爪正樹, 三浦幸也
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      徳島大学
    • 年月日
      2008-09-27
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [学会発表] 電流テストによるQFPCPLD IC のリード浮きの検査能力評価2008

    • 著者名/発表者名
      小野安季良, 一宮正博, 四柳浩之, 高木正夫, 橋爪正樹
    • 学会等名
      第22回エレクトロニクス実装学会講演大会
    • 発表場所
      東京大学
    • 年月日
      2008-03-18
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [学会発表] 0.35μmCMOS プロセスで試作したICのリード浮きの電流テスト可能性評価2007

    • 著者名/発表者名
      滝川徳郎, 東條充, 一宮正博, 四柳浩之, 橋爪正樹
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      徳島大学
    • 年月日
      2007-09-29
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [学会発表] 抵抗ストリング型D/A 変換器の電流テスト容易化設計2007

    • 著者名/発表者名
      秦豊, 飯野純一, 四柳浩之, 橋爪正樹,三浦幸也
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      徳島大学
    • 年月日
      2007-09-29
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [学会発表] 論理IC実装時に発生する抵抗を伴うリード浮きに対する電流テスト能力評価2007

    • 著者名/発表者名
      小野安季良, 一宮正博, 四柳浩之, 橋爪正樹, 月本功, 高木正夫
    • 学会等名
      マイクロエレクトロニクスシンポジウム
    • 発表場所
      甲南大学
    • 年月日
      2007-09-14
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [学会発表] Test Circuit for Vectorless Open Lead Detection of CMOS Ics2007

    • 著者名/発表者名
      Masaki Hashizume
    • 学会等名
      IEEE 6-th International Board Test Workshop
    • 発表場所
      Intel(Fort Collins,U.S.A.)
    • 年月日
      2007-10-12
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [学会発表] 0.35umCMOSプロセスで試作したICのリード浮きの電流テスト可能性評価2007

    • 著者名/発表者名
      橋爪 正樹
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      徳島大学(徳島市)
    • 年月日
      2007-09-29
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [学会発表] CMOSQFP ICのリード浮きの電気的検査法2007

    • 著者名/発表者名
      橋爪正樹, 一宮正博, 四柳浩之
    • 学会等名
      第38回国際電子回路産業展
    • 発表場所
      東京
    • 年月日
      2007-05-31
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [学会発表] Z80 のバス縮退故障の実時間テストプログラム2007

    • 著者名/発表者名
      嶋本竜也, 田坂英司, 茅原敏広, 四柳浩之, 大家隆弘, 橋爪正樹
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      徳島大学
    • 年月日
      2007-09-29
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [学会発表] 交流電界印加時の電流テストによる試作IC内断線の検査2007

    • 著者名/発表者名
      東條充, 一宮正博, 四柳浩之, 橋爪正樹
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      徳島大学
    • 年月日
      2007-09-29
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • [学会発表] 交流電界印加による電流テスト用検査装置の試作2006

    • 著者名/発表者名
      東條充, 一宮正博, 四柳浩之, 橋爪正樹
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      愛媛大学
    • 年月日
      2006-09-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18500039
  • 1.  四柳 浩之 (90304550)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 22件
  • 2.  横山 洋之 (80250900)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 6件
  • 3.  多田 哲生 (40368832)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 2件

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