中谷信一郎 NAKATANI Shinichiro

研究者番号	40198122
外部サイト
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2004年度: 東京大学, 物性研究所, 助手 1994年度 – 2002年度: 東京大学, 物性研究所, 助手 1987年度 – 1992年度: 東京大学, 物性研究所, 助手
審査区分/研究分野	研究代表者物理学一般 / 表面界面物性研究代表者以外固体物性Ⅰ(光物性・半導体・誘電体) / 薄膜・表面界面物性 / 表面界面物性 / 物理学一般 / 結晶学
キーワード	研究代表者 Ge crystal / Synchrotron Radiation / X-Ray Horography / Si(111)√<3>×√<3>-Au / Ge結晶 / 放射光 / X線ホログラフィ / Fraunhoter diffraction / Fresnel diffraction / coherence … もっと見る / Speckle / X-ray / スリット / ピンホール / フラウンホ-ファー回折 / フレネル回折 / コヒーレンス / スペックル / X線 … もっと見る研究代表者以外 X線回折 / X線回析 / 表面構造 / surface structure / シリコン / Ag / 構造解析 / √<3>×√<3>構造 / CTR散乱 / イオン散乱分光法 / 走査型トンネル顕微鏡 / 平面波X線トポグラフィ / X線表面回折法 / 界面構造解析 / 金属半導体界面 / 結晶表面構造 / x-ray diffraction / IET / HCT / Si(111) / silicon / Si(111)表面 / 界面構造 / 結晶成長 / 高分解能電子顕微鏡 / X線定在波法 / gold / silver / semiconductor / 1D structure / buried interface / 金属一次元構造 / STM / 金属1次元構造 / 高指数面 / 金 / 銀 / 半導体 / 1次元構造 / 埋もれた界面 / √3x√3 structure / phase transition / √<3>X√<3>構造 / 相転移 / structure analysis / magnetism / interface / surface / X-ray diffraction / 磁性 / 界面 / 表面 / coverage / reflectivity / X-ray diffracton / 吸着層 / 超構造 / 反射率 / Heusler Alloy / Scattering Length / Magnetic Domain / Neutron Topograph / FE-3%Si / Magnetic Double Refraction / Newtron Optics / Newtron Interferometer / パ-マロイ / スピン偏極 / 核散乱振幅 / 磁気散乱振幅 / 磁壁 / 中性子トポグラフ / ホイスラ-合金 / 散乱振幅 / 磁区 / 中性子トポクラフ / 鉄ー3%珪素 / 磁気複屈折 / 中性子光学 / 中性子干渉計 / ラフネス / デルタドープ / Ge / Si(001) / Si / 低速電子回折法 / 軟X線定在波法 / シンクロトロン放射 / Ge(ゲルマニウム) / Si(シリコン) / Br(臭素) / 半導体検出器 / 蛍光X線隠す

半導体高指数面および埋もれた界面における金属1次元構造の研究
- 研究代表者
  
  高橋敏男
- 研究期間 (年度)
  2004 – 2006
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  薄膜・表面界面物性
- 研究機関
  東京大学
Si(111)面に形成されるAg超構造の相転移現象の研究
- 研究代表者
  
  高橋敏男
- 研究期間 (年度)
  2001 – 2002
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  表面界面物性
- 研究機関
  東京大学
X線回折法による結晶表面・界面の磁気構造の研究
- 研究代表者
  
  高橋敏男
- 研究期間 (年度)
  1997 – 2000
- 研究種目
  
  基盤研究(A)
- 研究分野
  
  固体物性Ⅰ(光物性・半導体・誘電体)
- 研究機関
  東京大学
原子分解能をもつX線ホログラフィの開発とその応用研究代表者
- 研究代表者
  
  中谷信一郎
- 研究期間 (年度)
  1997 – 1998
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  物理学一般
- 研究機関
  東京大学
コヒーレントなX線によるスペックル像の観察とその表面構造解析への応用研究代表者
- 研究代表者
  
  中谷信一郎
- 研究期間 (年度)
  1995 – 1996
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  表面界面物性
- 研究機関
  東京大学
X線絶対反射率による結晶表面構造の解析
- 研究代表者
  
  高橋敏男
- 研究期間 (年度)
  1994 – 1995
- 研究種目
  
  一般研究(B)
- 研究分野
  
  固体物性Ⅰ(光物性・半導体・誘電体)
- 研究機関
  東京大学
X線回折強度の振動測定によるエピタキシャル成長機構の研究
- 研究代表者
  
  高橋敏男
- 研究期間 (年度)
  1992
- 研究種目
  
  重点領域研究
- 研究機関
  東京大学
積層界面の評価と界面反応過程の解明
- 研究代表者
  
  菊田惺志
- 研究期間 (年度)
  1991
- 研究種目
  
  重点領域研究
- 研究機関
  東京大学
X線回折強度の振動測定によるエピタキシャル成長機構の研究
- 研究代表者
  
  高橋敏男
- 研究期間 (年度)
  1991
- 研究種目
  
  重点領域研究
- 研究機関
  東京大学
積層界面の評価と界面反応過程の解明
- 研究代表者
  
  菊田惺志
- 研究期間 (年度)
  1990
- 研究種目
  
  重点領域研究
- 研究機関
  東京大学
中性子干渉計を用いた磁気複屈折現象の研究とその応用
- 研究代表者
  
  高橋敏男
- 研究期間 (年度)
  1990 – 1991
- 研究種目
  
  一般研究(B)
- 研究分野
  
  物理学一般
- 研究機関
  東京大学
蛍光X線の図折効果を利用した新しい結晶表面構造解析法の開発
- 研究代表者
  
  高橋敏男
- 研究期間 (年度)
  1989
- 研究種目
  
  一般研究(C)
- 研究分野
  
  結晶学
- 研究機関
  東京大学
積層界面の評価と界面反応過程の解明
- 研究代表者
  
  菊田惺志
- 研究期間 (年度)
  1989
- 研究種目
  
  重点領域研究
- 研究機関
  東京大学
垂直入射に近いX線回析法による結晶表面構造の研究
- 研究代表者
  
  高橋敏男
- 研究期間 (年度)
  1988
- 研究種目
  
  重点領域研究
- 研究機関
  東京大学
垂直入射に近いX線回折法による結晶表面構造の研究
- 研究代表者
  
  高橋敏男
- 研究期間 (年度)
  1987
- 研究種目
  
  重点領域研究
- 研究機関
  東京大学

すべて 2007 2006 2004 その他

すべて雑誌論文

[雑誌論文] Structure of the oxidized 4H-SiC(0001)-3x3 surface2007
- 著者名/発表者名
  W.Voegeli, K.Akimoto, T.Urata, S.Nakatani, K.Sumitani, T.Takahashi, Y.Hisada, Y.Mitsuoka, S.Mukainakano, H.Sugiyama, X.Zhang, H.Kawata
- 雑誌名
  
  Surf. Sci. 601
  
  ページ: 1048-1053
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16360017
[雑誌論文] Structure of the oxidized 4H-SiC(0001)-3 × 3 surface2007
- 著者名/発表者名
  W.Voegeli, K.Akimoto, T.Urata, S.Nakatani, K.Sumitani, T.Takahashi, Y.Hisada, Y.Mitsuoka, S.Mukainakano, H.Sugiyama, X.Zhang, H.Kawata
- 雑誌名
  
  Surf. Sci. 601
  
  ページ: 1048-1053
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16360017
[雑誌論文] Structural study of Si(111)-6×1-Ag surface using surface x-ray diffraction2007
- 著者名/発表者名
  K.Sumitani, K.Masuzawa, T.Hoshino, R.Yoshida, S.Nakatani, T.Takahashi, H.Tajiri, K.Akimoto, H.Sugiyama, X.Zhang, H.Kawata
- 雑誌名
  
  Surf. Sci. (印刷中)
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16360017
[雑誌論文] Structural study of Si(111)-6x1-Ag surface using surface x-ray diffraction2007
- 著者名/発表者名
  K.Sumitani, K.Masuzawa, T.Hoshino, R.Yoshida, S.Nakatani, T.Takahashi, H.Tajiri, K.Akimoto, H.Sugiyama, X.Zhang, H.Kawata
- 雑誌名
  
  Surf. Sci. (印刷中)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16360017
[雑誌論文] Structural study of Si(111)-6 × 1-Ag surface using surface x-ray diffraction2007
- 著者名/発表者名
  K.Sumitani, K.Masuzawa, T.Hoshino, R.Yoshida, S.Nakatani, T.Takahashi, H.Tajiri, K.Akimoto, H.Sugiyama, X.Zhang, H.Kawata
- 雑誌名
  
  Surf. Sci. (in printing)
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16360017
[雑誌論文] Structure of the SiC (0001) 3x3 Reconstruction Studied by Surface X-ray Diffraction2006
- 著者名/発表者名
  W.Voegeli, K..Akimoto, T.Aoyama, K.Sumitani, S.Nakatani, H.Tajiri, T.Takahashi, Y.Hisada, S.Mukainakano, X.Zhang, H.Sugiyama, H.Kawata
- 雑誌名
  
  Appl. Surf. Sci. 252
  
  ページ: 5259-5262
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16360017
[雑誌論文] Structure of the SiC (0001) 3x3 Reconstruction Studied by Surface X-ray Diffraction2006
- 著者名/発表者名
  W.Voegeli, K.Akimoto, T.Aoyama, K.Sumitani, S.Nakatani, H.Tajiri, T.Takahashi, Y.Hisada, S.Mukainakano, X.Zhang, H.Sugiyama, H.Kawata
- 雑誌名
  
  Appl. Surf. Sci. 252
  
  ページ: 5259-5262
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16360017
[雑誌論文] Sample holder assembly covering a wide range of temperatures for surface X-ray diffraction2004
- 著者名/発表者名
  H.Tajiri, K.Sumitani, S.Nakatani, T.Takahashi, K.Akimoto, H.Sugiyama, X.Zhang, H.Kawata
- 雑誌名
  
  Appl. Surf. Sci. 237
  
  ページ: 645-648
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16360017
[雑誌論文] Structure of the SiC(0001) 3x3 Reconstruction Studied by Surface X-ray Diffraction
- 著者名/発表者名
  W.Voegeli, K.Akimoto, T.Aoyama, K.Sumitani, S.Nakatani, H.Tajiri, T.Takahashi, Y.Hisada, S.Mukainakano, X.Zhang, H.Sugiyama, H.Kawata
- 雑誌名
  
  Appl.Surf.Sci. (in press)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16360017
[雑誌論文] Hugh Sensitive Imaging of Atomic Arrangement of Ge Clusters Buried in a Si Crystal by X-ray Fluorescence Holography
- 著者名/発表者名
  S.Kusano, S.Nakatani, K.Sumitani, T.Takahashi, Y.Yoda, N.Usami, Y.Shiraki
- 雑誌名
  
  Jpn.J.Appl.Phys.Part 2 (in press)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16360017

1. 高橋敏男 (20107395)

共同の研究課題数: 15件

共同の研究成果数: 10件
2. 菊田惺志 (00010934)

共同の研究課題数: 3件

共同の研究成果数: 0件
3. 泉弘一 (10184574)

共同の研究課題数: 3件

共同の研究成果数: 0件
4. 石川哲也 (80159699)

共同の研究課題数: 3件

共同の研究成果数: 0件
5. 河津璋 (20010796)

共同の研究課題数: 3件

共同の研究成果数: 0件
6. 秋本晃一 (40262852)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 9件

中谷 信一郎 NAKATANI Shinichiro

研究課題

研究成果

共同研究者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

原子分解能をもつX線ホログラフィの開発とその応用研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

コヒーレントなX線によるスペックル像の観察とその表面構造解析への応用研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究機関

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究機関

[雑誌論文] Structure of the oxidized 4H-SiC(0001)-3x3 surface2007

著者名/発表者名

雑誌名

データソース

[雑誌論文] Structure of the oxidized 4H-SiC(0001)-3 × 3 surface2007

著者名/発表者名

中谷信一郎 NAKATANI Shinichiro