山崎順 Yamasaki Jun

研究者番号	40335071
その他のID
外部サイト
所属 (現在)	2025年度: 大阪大学, 超高圧電子顕微鏡センター, 教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2021年度 – 2023年度: 大阪大学, 超高圧電子顕微鏡センター, 教授 2014年度 – 2020年度: 大阪大学, 超高圧電子顕微鏡センター, 准教授 2014年度: 大阪大学, 学内共同利用施設等, 准教授 2007年度 – 2012年度: 名古屋大学, エコトピア科学研究所, 助教 2006年度: 名古屋大学, エコトビア科学研究所, 助手 … もっと見る 2005年度 – 2006年度: 名古屋大学, エコトピア科学研究所, 助手 2004年度: 名古屋大学, エコトピア化学研究機構, 助手 2004年度: 名古屋大学, エコトピア科学研究機構, 助手 2002年度 – 2003年度: 名古屋大学, 理工科学総合研究センター, 助手隠す
審査区分/研究分野	研究代表者薄膜・表面界面物性 / 薄膜・表面界面物性 / 応用物性・結晶工学 / 中区分29:応用物理物性およびその関連分野 / 小区分29020:薄膜および表面界面物性関連 / ナノ材料工学 / 理工系研究代表者以外ナノ構造科学 / 無機材料・物性 / 理工系 / 理工系 / 薄膜・表面界面物性
キーワード	研究代表者電子顕微鏡 / 電子線 / 回折顕微法 / 小角散乱 / 位相イメージング / 制限視野回折 / 単原子 / 電子回折 / ナノ粒子 / 収差補正TEM … もっと見る / 積層欠陥 / パルス電子ビーム / 電子線偏向 / 局在光 / 電子線透過率 / 透過率減衰 / 非線形強度減衰 / 多重散乱 / 密度定量 / 電子線トモグラフィー / ナノ構造 / 深さ分解能 / 三次元計測 / 動画計測 / 結晶格子縞 / 焦点位置スキャン / 三次元観察 / 非整合エピタキシャル界面 / 三次元分布 / 金属ナノ粒子 / 格子縞コントラスト / 正焦点 / 収差補正電子顕微鏡 / ナノ電磁場 / 原子分解能 / 電子回折顕微法 / 収差補正透過電子顕微鏡 / 3C-SiC/Si界面 / 界面ステップ / ミスフィット転位 / 第一原理計算 / 偽像処理 / 収差補正透過型電子顕微鏡 / 界面構造解析 / 3C-SiC/Si(001)界面 / サブオングストローム分解能 / アモルファス / 白金 / 拡散 / アンチモン / ドーパント / シリコン / 収差補正STEM / 球面収差補正 / パターソン関数 / 中距離範囲秩序 / 制限視野電子回折 / 金属ガラス / 自己拡散 / 点欠陥 / 面欠陥 / Si(100) / Ti / HRTEM / EELS / 原子直視観察 / Ge偏析 / HAADF-STEM / SiGe … もっと見る研究代表者以外 TEM / STEM / ナノ構造 / 電子顕微鏡 / Interface, Surface / Nanostracture / Cs-corrected TEM / Structural fluctuation / 半導体界面 / ナノEELS / ナノ電子回折 / 球面収差補正 / 準結晶 / 炭素ナノチューブ / ナノ制限視野回折 / 高分解能観察 / 球面収差補正 TEM / 界面・表面 / 収差補正電子顕微鏡 / 構造ゆらぎ / Atomistic observation / Milli-second / Hydrogen-absorption / Time-resolved / ランタンニッケル / パラジウム / 水素放出 / 時間分解TEM / 原子直視 / ミリセカンド / 水素吸蔵 / 時間分解型観察 / 電子回折イメージング / ナノイメージング / 電子回折 / ナノ構造体 / 単原子 / グラフェン / イメージング / 酸化物半導体 / 界面 / 薄膜 / その場観察 / チタニアナノロッド / チタニア粉末 / EELS / 光化学反応 / 透過電子顕微鏡 / 光触媒 / 酸化状態 / 原子直視観察 / Si界面 / SiO_2 / 収差補正隠す

電子ビームによるサブミクロン局在光可視化技術の開発研究研究代表者
- 研究代表者
  
  山崎順
- 研究期間 (年度)
  2022 – 2023
- 研究種目
  
  挑戦的研究(萌芽)
- 審査区分
  
  中区分29:応用物理物性およびその関連分野
- 研究機関
  大阪大学
物質中での電子線多重散乱過程解明に基づく形状も密度も正しい三次元再構成法の実現研究代表者
- 研究代表者
  
  山崎順
- 研究期間 (年度)
  2019 – 2021
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 審査区分
  
  小区分29020:薄膜および表面界面物性関連
- 研究機関
  大阪大学
収差補正電子顕微鏡の焦点位置スキャンによるナノ構造および原子の三次元計測法の開発研究代表者
- 研究代表者
  
  山崎順
- 研究期間 (年度)
  2016 – 2017
- 研究種目
  
  挑戦的萌芽研究
- 研究分野
  
  薄膜・表面界面物性
- 研究機関
  大阪大学
電子回折によるナノ構造体３D原子イメージング
- 研究代表者
  
  郷原一寿
- 研究期間 (年度)
  2014 – 2018
- 研究種目
  
  新学術領域研究(研究領域提案型)
- 審査区分
  
  理工系
- 研究機関
  北海道大学
原子からミクロンレベルまで観察可能な電子回折顕微法という新規結像分野の確立研究代表者
- 研究代表者
  
  山崎順
- 研究期間 (年度)
  2014 – 2016
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  薄膜・表面界面物性
- 研究機関
  大阪大学
電子線小角散乱からの新規位相イメージング法によるナノスケール電磁場の定量的可視化研究代表者
- 研究代表者
  
  山崎順
- 研究期間 (年度)
  2014 – 2015
- 研究種目
  
  挑戦的萌芽研究
- 研究分野
  
  ナノ材料工学
- 研究機関
  大阪大学
収差補正電子顕微鏡と第一原理計算による立方晶SiC/Si界面の三次元原子配列解析研究代表者
- 研究代表者
  
  山崎順
- 研究期間 (年度)
  2011 – 2012
- 研究種目
  
  若手研究(B)
- 研究分野
  
  薄膜・表面界面物性
- 研究機関
  名古屋大学
電子回折図形からの新規結像法によるサブオングストローム分解能の達成と応用への研究研究代表者
- 研究代表者
  
  山崎順
- 研究期間 (年度)
  2009 – 2010
- 研究種目
  
  若手研究(B)
- 研究分野
  
  薄膜・表面界面物性
- 研究機関
  名古屋大学
収差補正STEMによるシリコン中ドーパント拡散及びクラスタリングの単原子直視研究研究代表者
- 研究代表者
  
  山崎順
- 研究期間 (年度)
  2007 – 2008
- 研究種目
  
  萌芽研究
- 研究分野
  
  応用物性・結晶工学
- 研究機関
  名古屋大学
金属ガラスの局所原子構造の球面収差補正電子顕微鏡による研究研究代表者
- 研究代表者
  
  山崎順
- 研究期間 (年度)
  2006 – 2007
- 研究種目
  
  特定領域研究
- 審査区分
  
  理工系
- 研究機関
  名古屋大学
高空間分解能光化学反応その場観察装置による酸化チタンの触媒反応界面の動的観察
- 研究代表者
  
  田中信夫
- 研究期間 (年度)
  2005 – 2006
- 研究種目
  
  特定領域研究
- 審査区分
  
  理工系
- 研究機関
  名古屋大学
球面収差補正電子レンズを用いたナノ材料の構造と電子状態ゆらぎの研究
- 研究代表者
  
  田中信夫
- 研究期間 (年度)
  2005 – 2007
- 研究種目
  
  基盤研究(A)
- 研究分野
  
  ナノ構造科学
- 研究機関
  名古屋大学
無球面収差結像TEMによるSiO_2/Si界面の酸化状態の原子直視的研究
- 研究代表者
  
  田中信夫
- 研究期間 (年度)
  2003 – 2004
- 研究種目
  
  萌芽研究
- 研究分野
  
  薄膜・表面界面物性
- 研究機関
  名古屋大学
原子直視観察HAADF-STEM法によるSiGe中の自己拡散と点欠陥反応の研究研究代表者
- 研究代表者
  
  山崎順
- 研究期間 (年度)
  2003 – 2004
- 研究種目
  
  若手研究(B)
- 研究分野
  
  応用物性・結晶工学
- 研究機関
  名古屋大学
ミリセカンド時間分解型水素吸蔵・放出反応原子直視装置の開発
- 研究代表者
  
  田中信夫
- 研究期間 (年度)
  2001 – 2003
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  無機材料・物性
- 研究機関
  名古屋大学

[図書] Chapter 4, Surface/Interface holography, 3D Local Structure and Functionality Design of Materials2019
- 著者名/発表者名
  K.Gohara, J.Yamasaki and H.Shioya
- 総ページ数
  209
- 出版者
  World Scientific Publishing
- ISBN
  9789813273665
- データソース
  KAKENHI-PLANNED-26105009
[雑誌論文] Ultrafast dynamics of a photoinduced phase transition in single-crystal trititanium pentoxide2023
- 著者名/発表者名
  Shuhei Hatanaka, Taro Tsuchiya, Shuhei Ichikawa, Jun Yamasaki, Kazuhisa Sato
- 雑誌名
  
  Applied Physics Letters
  
  巻: 123 号: 24 ページ: 241902-241902
- DOI
  10.1063/5.0175450
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22K18974, KAKENHI-PROJECT-21H01764
[雑誌論文] Quasi-static 3D structure of graphene ripple measured using aberration-corrected TEM2021
- 著者名/発表者名
  Segawa Yuhiro、Yamazaki Kenji、Yamasaki Jun、Gohara Kazutoshi
- 雑誌名
  
  Nanoscale
  
  巻: 13 号: 11 ページ: 5847-5856
- DOI
  10.1039/d1nr00237f
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19H02600, KAKENHI-PROJECT-19K15439
[雑誌論文] Progress in environmental high-voltage transmission electron microscopy for nanomaterials2020
- 著者名/発表者名
  Tanaka Nobuo、Fujita Takeshi、Takahashi Yoshimasa、Yamasaki Jun、Murata Kazuyoshi、Arai Shigeo
- 雑誌名
  
  Philosophical Transactions of the Royal Society A: Mathematical, Physical and Engineering Sciences
  
  巻: 378 号: 2186 ページ: 20190602-20190602
- DOI
  10.1098/rsta.2019.0602
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16H02293, KAKENHI-PROJECT-19H02600
[雑誌論文] Empirical determination of transmission attenuation curves in mass-hickness contrast TEM imaging2019
- 著者名/発表者名
  Yamasaki Jun、Ubata Yuya、Yasuda Hidehiro
- 雑誌名
  
  Ultramicroscopy
  
  巻: 200 ページ: 20-27
- DOI
  10.1016/j.ultramic.2019.02.005
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-ORGANIZER-26105001, KAKENHI-PLANNED-26105009, KAKENHI-INTERNATIONAL-15K21719
[雑誌論文] Precise method for measuring spatial coherence in TEM beams using Airy diffraction pattern2018
- 著者名/発表者名
  J. Yamasaki, Y. Shimaoka, H. Sasaki
- 雑誌名
  
  Microscopy
  
  巻: 67 号: 1 ページ: 1-10
- DOI
  10.1093/jmicro/dfx093
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PLANNED-26105009, KAKENHI-ORGANIZER-26105001, KAKENHI-INTERNATIONAL-15K21719
[雑誌論文] Design of Core-Pd/Shell-Ag Nanocomposite Catalyst for Selective Semihydrogenation of Alkynes2016
- 著者名/発表者名
  1.T. Mitsudome, T. Urayama, K. Yamazaki, Y. Maehara, J. Yamasaki, K. Gohara, Z. Maeno, T. Mizugaki, K. Jitsukawa, and K. Kaneda
- 雑誌名
  
  ACS Catalysis
  
  巻: 6 号: 2 ページ: 666-670
- DOI
  10.1021/acscatal.5b02518
- 査読あり / 謝辞記載あり / オープンアクセス / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15K17462, KAKENHI-INTERNATIONAL-15K21719, KAKENHI-ORGANIZER-26105001, KAKENHI-PLANNED-26105003, KAKENHI-PROJECT-24246129, KAKENHI-PROJECT-26630410, KAKENHI-PROJECT-26289303, KAKENHI-PLANNED-26105009
[雑誌論文] Depth-resolution imaging of crystalline nanoclusters attached on and embedded in amorphous films using aberration-corrected TEM2015
- 著者名/発表者名
  J. Yamasaki, M. Mori, Masayuki, A. Hirata, Y. Hirotsu, N. Tanaka
- 雑誌名
  
  Ultramicroscopy
  
  巻: 151 ページ: 224-231
- DOI
  10.1016/j.ultramic.2014.11.005
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24360260, KAKENHI-PROJECT-24656400, KAKENHI-PLANNED-26105009, KAKENHI-PROJECT-26286049, KAKENHI-PROJECT-26310205
[雑誌論文] 収差補正TEM像における高さ分解能と三次元ナノ構造情報の検出2014
- 著者名/発表者名
  山崎　順
- 雑誌名
  
  顕微鏡
  
  巻: 49 ページ: 216-221
- NAID
  130007701743
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26286049
[雑誌論文] Polytype Transformation by Replication of Stacking Faults Formed by Two-Dimensional Nucleation on Spiral Steps during SiC Solution Growth2012
- 著者名/発表者名
  S. Harada, Alexander, K. Seki, Y.Yamamoto, C. Zhu, Y. Yamamoto, S. Arai, J. Yamasaki, N. Tanaka, and T. Ujihara
- 雑誌名
  
  Crystal Growth & Design
  
  巻: 12 ページ: 3209-3214
- URL
  http://dx.doi.org/10.1021/cg300360h
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23760030
[雑誌論文] Atomistic structure analysis of stacking faults and misfit dislocations at 3C-SiC/Si(001) interface by aberration-corrected transmission electron microscopy2012
- 著者名/発表者名
  J. Yamasaki, S. Inamoto, Y. Nomura, H. Tamaki, and N. Tanaka
- 雑誌名
  
  Journal of Physics D: Applied Physics
  
  巻: 45 号: 49 ページ: 494002-494002
- DOI
  10.1088/0022-3727/45/49/494002
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22000011, KAKENHI-PROJECT-23760030
[雑誌論文] Atomic arrangement at the 3C-SiC/Si(001) interface revealed utilizing aberration-corrected transmission electron microscope2011
- 著者名/発表者名
  S. Inamoto, J. Yamasaki, H. Tamaki, and N. Tanaka
- 雑誌名
  
  Philosophical Magazine Letters
  
  巻: 91 号: 9 ページ: 632-639
- DOI
  10.1080/09500839.2011.600730
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22000011, KAKENHI-PROJECT-23760030
[雑誌論文] Atomic arrangement at the 3C-SiC/Si(001) interface revealed utilising aberration-corrected transmission electron microscope2011
- 著者名/発表者名
  S. Inamoto, J. Yamasaki, H. Tamaki, and N. Tanaka
- 雑誌名
  
  Philosophical Magazine Letters
  
  巻: 91 ページ: 632-639
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23760030
[雑誌論文] Estimation of wave fields of incident beams in a transmission electron microscope by using a small selected-area aperture2011
- 著者名/発表者名
  S.Morishita, J.Yamasaki, N.Tanaka
- 雑誌名
  
  Journal of Electron Microscopy 60(2)
  
  ページ: 101-108
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21760026
[雑誌論文] Estimation of wave fields of incident beams in a transmission electron microscope by using a small selected-area aperture2011
- 著者名/発表者名
  S.Morishita, J.Yamasaki, N.Tanaka
- 雑誌名
  
  Journal of Electron Microscopy
  
  巻: 60(2) ページ: 101-108
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21760026
[雑誌論文] 回折顕微法による原子配列構造の可視化-制限視野回折図形からのSiダンベル構造再生-2009
- 著者名/発表者名
  山崎順、田中信夫、森下茂幸
- 雑誌名
  
  まてりあ特集「顕微鏡法による材料開発のための微細構造研究最前線(9)」 48(12)
  
  ページ: 604-604
- NAID
  10026268055
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21760026
[雑誌論文] 回折顕微法による原子配列構造の可視化 -制限視野回折図形からのSiダンベル構造再生-2009
- 著者名/発表者名
  山崎順、田中信夫、森下茂幸
- 雑誌名
  
  まてりあ 48巻12号
  
  ページ: 604-604
- NAID
  10026268055
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21760026
[雑誌論文] A practical solution for ehminating artificial image contrast in aberration-corrected TEM2008
- 著者名/発表者名
  Jun Yamasaki
- 雑誌名
  
  Microscopy and Microanalysis 14(1)
  
  ページ: 27-35
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18029011
[雑誌論文] Depth sensitivity of Cs-corrected TEM imaging2007
- 著者名/発表者名
  Hirahara, K., Yamasaki, J., Saitoh, K., Tanaka, N
- 雑誌名
  
  Microscopy and Microanalysis 890CD-891CD
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17201022
[雑誌論文] Depth sensitivity of Cs-corrected TEM imaging2007
- 著者名/発表者名
  Hirahara, K., Yamasaki, J., Saitoh, K. and Tanaka, N
- 雑誌名
  
  Microscopy and Microanalysis
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17201022
[雑誌論文] A simple method for minimizing non-linear contrast in spherical aberration-corrected HRTEM2007
- 著者名/発表者名
  J. Yamasaki, T. Kawai, N. Tanaka
- 雑誌名
  
  Journal of Electron Microscopy 54
  
  ページ: 209-214
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17201022
[雑誌論文] First experiments of selected area nano-diffraction from semiconductor interfaces using a spherical aberration corrected TEM2007
- 著者名/発表者名
  J. Yamasaki, H. Sawada, N. Tanaka
- 雑誌名
  
  Journal of Electron Microscopy 54
  
  ページ: 123-126
- NAID
  10016683055
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17201022
[雑誌論文] Depth sensitivity of Cs-corrected TEM imaging2007
- 著者名/発表者名
  Hirahara, K., Yamasaki, J., Saitoh, K. and Tanaka N
- 雑誌名
  
  Microscopy and Microanalysis
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17201022
[雑誌論文] Direct observation of six-membered rings in the upper and lower walls of a single-wall carbon nanotube by spherical aberration-corrected HRTEM2006
- 著者名/発表者名
  Kaori Hirahara, Koh Saitoh, Jun Yamasaki, and Nobuo Tanaka
- 雑誌名
  
  NANO LETTERS Vol.6, No.8
  
  ページ: 1778-1783
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17201022
[雑誌論文] Direct Observation of Six-Membered Rings in the Upper and Lower Walls of a Single-Wall Carbon Nanotube by Spherical Aberration-Corrected HRTEM2006
- 著者名/発表者名
  Kaori Hirahara, Koh Saitoh, Jun Yamasaki, Nobuo Tanaka
- 雑誌名
  
  NANO LETTERS Vol.6,No.8
  
  ページ: 1778-1783
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17201022
[雑誌論文] Direct Observation of Six-Membered Rings in the Upper and Lower Walls of a Single-Wall Carbon Nanotube by Spherical Aberration-Corrected HRTEM2006
- 著者名/発表者名
  Kaori, Hirahara, Koh, Saitoh, Jun, Yamasaki, Nobuo, Tanaka
- 雑誌名
  
  NANO LETTERS 6
  
  ページ: 1778-1783
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17201022
[雑誌論文] A simple method for minimizing non-linear contrast in spherical aberration-corrected HRTEM2005
- 著者名/発表者名
  J.Yamasaki, T.Kawai, N.Tanaka
- 雑誌名
  
  Journal of Electron Microscopy 54・3
  
  ページ: 209-214
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17201022
[雑誌論文] First experiments of selected area nano-diffraction from semiconductor interfaces using a spherical aberration corrected TEM2005
- 著者名/発表者名
  J. Yamasaki, H. Sawada, and N. Tanaka
- 雑誌名
  
  Journal of Electron Microscopy 54・2
  
  ページ: 123-126
- NAID
  10016683055
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17201022
[雑誌論文] A simple method for minimizing non-linear contrast in spherical aberration-corrected HRTEM2005
- 著者名/発表者名
  J. Yamasaki, T. Kawai, and N. Tanaka
- 雑誌名
  
  Journal of Electron Microscopy 54・3
  
  ページ: 209-214
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17201022
[雑誌論文] First experiments of selected area nano-diffraction from semiconductor interfaces using a spherical aberration corrected TEM2005
- 著者名/発表者名
  J.Yamasaki, H.Sawada, N.Tanaka
- 雑誌名
  
  J. Electron Microsc. 52
  
  ページ: 123-126
- NAID
  10016683055
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17029030
[雑誌論文] First experiments of selected area nano-diffraction from semiconductor interfaces using a spherical aberration corrected TEM2005
- 著者名/発表者名
  J.Yamasaki, H.Sawada, N.Tanaka
- 雑誌名
  
  Journal of Electron Microscopy 54・2
  
  ページ: 123-126
- NAID
  10016683055
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17201022
[雑誌論文] First observation of In_xGa_<1-x>As quantum dots in GaP by spherical aberration corrected HRTEM2004
- 著者名/発表者名
  N.Tanaka, J.Yamasaki, S.Fuchi, Y.Takeda
- 雑誌名
  
  Microscopy and Microanal 10
  
  ページ: 139-139
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15656010
[雑誌論文] Direct observation of staking fault in Si-Ge semiconductors by Cs-corrected TEM and ADF-STEM2004
- 著者名/発表者名
  J.Yamasaki, T.Kawai, N.Tanaka
- 雑誌名
  
  J.Electron Microscopy 53
  
  ページ: 129-129
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15656010
[雑誌論文] Direct observation of a stacking fault in Si_<1-x>Ge_x semiconductors by spherical aberration-corrected TEM and conventional ADF-STEM2004
- 著者名/発表者名
  J.Yamasaki, T.Kawai, N.Tanaka
- 雑誌名
  
  Journal of Electron Microscopy 53
  
  ページ: 129-135
- NAID
  10012932545
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15760005
[雑誌論文] Three-dimensional Analysis of Platinum Super-Crystals by TEM and HAADF-STEM Observations2004
- 著者名/発表者名
  J.Yamasaki, N.Tanaka, N.baba, H.kaibayashi, O.Terasaki
- 雑誌名
  
  Philosophical Magazine 84
  
  ページ: 2819-2828
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15760005
[雑誌論文] First observation of SiO_2/Si(100) by spherical aberration corrected HRTEM2003
- 著者名/発表者名
  N.Tanaka, J.Yamasaki, K.Usuda, N.Ikarashi
- 雑誌名
  
  J.Electron Microscopy 52.1
  
  ページ: 69-69
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15656010
[雑誌論文] HRTEM and EELS analysis of interfacial nanostructures in Ti/Si_<1-x>Ge_x/Si(100)2003
- 著者名/発表者名
  J.Yamasaki, N.Tanaka, O.Nakatsuka, A.Sakai, S.Zaima, Y.Yasuda
- 雑誌名
  
  Proceedings of the 2003 International Conference on Solid State Devices and Materialas
  
  ページ: 86-87
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15760005
[雑誌論文] High-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy and electron energy-loss spectroscopy of nano-granular Co-Al-O alloys2003
- 著者名/発表者名
  N.Tanaka, J.Yamasaki, S.Mitani, K.Takanashi
- 雑誌名
  
  Scripta Materialia 48
  
  ページ: 909-914
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15760005
[雑誌論文] First Observation of InGaAs Quantum Dots in GaP by Sperical Aberration-corrected HRTEM in comparison with ADF-STEM and Conventional HRTEM2003
- 著者名/発表者名
  N.Tanaka, J.Yamasaki, S.Fuchi, Y.Takeda
- 雑誌名
  
  Microscopy and Microanalysis 10
  
  ページ: 139-145
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15760005
[雑誌論文] 半導体/金属界面ナノ構造のHRTEM/EELS複合解析2003
- 著者名/発表者名
  山崎順, 田中信夫
- 雑誌名
  
  名古屋大学電子光学研究のあゆみ 19
  
  ページ: 4-9
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15760005
[雑誌論文] 球面収差補正TEM法の材料研究への応用
- 著者名/発表者名
  山崎順, 田中信夫
- 雑誌名
  
  特集 : 収差補正技術を用いた応用研究最前線
- NAID
  10018130997
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17201022
[雑誌論文] Oxygen release and structural changes in TiO_2 films during photocatalytic oxidation.
- 著者名/発表者名
  K.Yoshida, T.Nanbara, J.Yamasaki, N.Tanaka
- 雑誌名
  
  J.Appl.Phys. (In print)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17029030
[雑誌論文] Oxygen release and structural dhanges in TiO_2 films during photocatalytic oxidation.
- 著者名/発表者名
  K.Yoshida, T.nanbara, J.Yamasaki, N.Tanaka
- 雑誌名
  
  J. Appl Phys. (In print)
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17029030
[産業財産権] 支持体上に単原子が分散した構造体、支持体上に単原子が分散した構造体を製造する方法およびスパッタ装置2017
- 発明者名
  郷原一寿、前原　洋祐、山崎　憲慈
- 権利者名
  郷原一寿、前原　洋祐、山崎　憲慈
- 産業財産権種類
  特許
- 出願年月日
  2017
- 外国
- データソース
  KAKENHI-PLANNED-26105009
[産業財産権] 支持体上に単原子が分散した構造体、支持体上に単原子が分散した構造体を製造する方法およびスパッタ装置2017
- 発明者名
  郷原一寿、前原洋祐、山崎憲慈
- 権利者名
  郷原一寿、前原洋祐、山崎憲慈
- 産業財産権種類
  特許
- 出願年月日
  2017-01-26
- 外国
- データソース
  KAKENHI-PLANNED-26105009
[産業財産権] 分散体を製造する方法および分散体2016
- 発明者名
  郷原一寿、前原洋祐,山崎憲慈
- 権利者名
  郷原一寿、前原洋祐,山崎憲慈
- 産業財産権種類
  特許
- 産業財産権番号
  2016-016872
- 出願年月日
  2016-02-01
- データソース
  KAKENHI-PLANNED-26105009
[学会発表] Theoretical Study on Light Output from Orthogonal Lattice Waveguide Edge in Circular Defect in Two-dimensional Photonic Crystal (CirD) Laser2023
- 著者名/発表者名
  Hikari Kubota, Kazuki Sato, Yuki Adachi, Masato Morifuji, Hirotake Kajii, Akihiro Maruta, Jun Yamasaki, and Masahiko Kondow
- 学会等名
  Photonic Device Workshop 2023 (PDW2023)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22K18974
[学会発表] Edge Structure Optimization for Improving Output Power of Circular Defect in Photonic Crystal Laser2023
- 著者名/発表者名
  Yuki Adachi, Rintaro Maji, Yuto Kudo, Masato Morifuji, Hirotake Kajii, Akihiro Maruta, Jun Yamasaki, and Masahiko Kondow
- 学会等名
  Photonic Device Workshop 2023 (PDW2023)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22K18974
[学会発表] Wavelength properties of CirD (Circular Defect in 2D photonic crystal) Laser with aluminum oxide cladding layers having OLW (Orthogonal Lattice Waveguide) with air cladding layers2023
- 著者名/発表者名
  Kazuki Sato, Hikari Kubota, Yuki Adachi, Masato Morifuji, Hirotake Kajii, Akihiro Maruta, Jun Yamasaki, and Masahiko Kondow
- 学会等名
  Photonic Device Workshop 2023 (PDW2023)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22K18974
[学会発表] Time-resolved observation of photoinduced phase transition of trititanium pentoxide by ultrafast electrton microscopy2022
- 著者名/発表者名
  Shuhei Hatanaka, Taro Tsuchiya, Shuhei Ichikawa, Jun Yamasaki and Kazuhisa Sato
- 学会等名
  14th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '22 (ALC'22)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22K18974
[学会発表] Quantitative Analysis of Intensity Attenuation with Increasing Thickness in TEM and STEM Images2021
- 著者名/発表者名
  Jun Yamasaki, Hideo Nishikubo, Hirokazu Sasaki, and Shigeo Arai
- 学会等名
  International Conference on Materials and Systems for Sustainability 2021 (ICMaSS2021)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19H02600
[学会発表] Improved resolution in rapid electron tomography based on the image sharpness measurement2021
- 著者名/発表者名
  Tomohito Ishii and Jun Yamasaki
- 学会等名
  13th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '21 (ALC'21)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19H02600
[学会発表] TEM/STEM Intensity Modulation with Increasing Thickness Induced by Electron Multiple Scattering Phenomena in Materials2021
- 著者名/発表者名
  Jun Yamasaki, Hideo Nishikubo, Hirokazu Sasaki, and Shigeo Arai
- 学会等名
  2nd Canada-Japan Microscopy Societies Symposium
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19H02600
[学会発表] Precise analysis of transmission attenuation in mass-thickness contrast TEM images2020
- 著者名/発表者名
  Jun Yamasaki, Yuya Ubata, and Hidehiro Yasuda
- 学会等名
  12th Asia-Pacific Microscopy conference (APMC-2020)
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19H02600
[学会発表] Advances in Diffractive Imaging2019
- 著者名/発表者名
  J. Yamasaki
- 学会等名
  International Workshop of Ultra High-Resokution on Microscopy 2019
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PLANNED-26105009
[学会発表] TVノルム最小化を用いた密度定量トモグラフィにおけるノイズ問題解決法2019
- 著者名/発表者名
  照屋海登、山崎順、加藤丈晴、藤田直弘、馬場則男
- 学会等名
  日本物理学会 2019年秋季大会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19H02600
[学会発表] 電子線トモグラフィーの非線形透過率補正におけるノイズ問題の解決法2019
- 著者名/発表者名
  照屋海登、山崎順、加藤丈晴、藤田直弘、馬場則男
- 学会等名
  日本顕微鏡学会第75回学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19H02600
[学会発表] Precise analysis of intensity attenuation with increasing thickness in TEM images2019
- 著者名/発表者名
  Jun Yamasaki, Yuya Ubata, and Hidehiro Yasuda
- 学会等名
  the 6th International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations (AMTC6)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19H02600
[学会発表] Precise Measurements of Transmission Attenuation in Mass-Thickness Contrast TEM Images2019
- 著者名/発表者名
  Jun Yamasaki, Yuya Ubata, and Hidehiro Yasuda
- 学会等名
  Microscopy and Microanalysis 2019 Meeting
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19H02600
[学会発表] Correction of artifical density in 3D resonstructed micron-sized materials induced by nonlinear TEM image intensity2018
- 著者名/発表者名
  Jun Yamasaki, Yuya Ubata, Kazuyoshi Murata, Kazumi Takahashi, Shin Inamoto, Ryusuke Kuwahara
- 学会等名
  4th International Congress on 3D Materials Science (3DMS 2018)
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PLANNED-26105009
[学会発表] Anchoring Site of Single Pt Atoms on Free-standing Graphene2017
- 著者名/発表者名
  前原洋祐、山崎憲慈、郷原一寿
- 学会等名
  日本顕微鏡学会第73回学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PLANNED-26105009
[学会発表] グラフェン上コンタミネーションのTEM/STEMとAFMによる3次元構造解析2017
- 著者名/発表者名
  伊藤寛康、北嶋凌、山崎憲慈、前原洋祐、郷原一寿
- 学会等名
  日本顕微鏡学会北海道支部学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PLANNED-26105009
[学会発表] Precise measure of the depth resolution in aberration-corrected TEM2017
- 著者名/発表者名
  Jun Yamasaki, Koh Saitoh, and Nobuo Tanaka
- 学会等名
  日本顕微鏡学会第73回学術講演会
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-16K13688
[学会発表] 3D imaging of ripple structure in Free-standing single-layer graphene2017
- 著者名/発表者名
  瀬川裕大、山崎憲慈、前原洋祐、郷原一寿
- 学会等名
  日本顕微鏡学会第73回学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PLANNED-26105009
[学会発表] グラフェン上Pt単原子の原子分解能イメージングと電子状態解析2017
- 著者名/発表者名
  山崎憲慈, 前原洋祐, 郷原一寿
- 学会等名
  応用物理学会秋季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PLANNED-26105009
[学会発表] EELSによる担持グラフェン上の水素検出2017
- 著者名/発表者名
  鈴田耀大、山崎憲慈、前原洋祐、瀬川裕大、内田努、郷原一寿
- 学会等名
  日本顕微鏡学会北海道支部学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PLANNED-26105009
[学会発表] Precise measure of the depth resolution in aberration-corrected TEM2017
- 著者名/発表者名
  Jun Yamasaki, Koh Saitoh, Nobuo Tanaka
- 学会等名
  日本顕微鏡学会第73回学術講演会
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PLANNED-26105009
[学会発表] Developing Quantitative Phase Imaging by Electron Diffractive Imaging2016
- 著者名/発表者名
  Jun Yamasaki, Yuki Shimaoka, and Hirokazu Sasaki
- 学会等名
  The 5th International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations
- 発表場所
  WINC Aichi, Nagoya, Japan
- 年月日
  2016-05-11
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26286049
[学会発表] Refined Phase Imaging by Electron Diffractive Imaging2016
- 著者名/発表者名
  Jun Yamasaki, Yuki Shimaoka, and Hirokazu Sasaki
- 学会等名
  Microscopy and Microanalysis 2016 Meeting
- 発表場所
  Columbus, Ohio, USA
- 年月日
  2016-07-24
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26286049
[学会発表] Analysis of GaAs compound semiconductors and the semiconductor laser diode using electron holography, Lorentz microscopy, electron diffraction microscopy and differential phase contrast STEM2016
- 著者名/発表者名
  Hirokazu Sasaki, Shinya Otomo, Ryuichiro Minato, Junji Yoshida, Kazuo Yamamoto, Tsukasa Hirayama Jun Yamasaki and Naoya Shibata
- 学会等名
  The 5th International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations
- 発表場所
  WINC Aichi, Nagoya, Japan
- 年月日
  2016-05-11
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26286049
[学会発表] グラフェン上へのＰｔ単原子分散体の作製と評価2016
- 著者名/発表者名
  山崎憲慈, 前原洋祐, 北嶋　凌, 郷原一寿
- 学会等名
  応用物理学会学術講演会
- 発表場所
  朱鷺メッセ（新潟）
- 年月日
  2016-09-12
- データソース
  KAKENHI-PLANNED-26105009
[学会発表] Analysis of GaAs compound semiconductors and the semiconductor laser diode using off-axis electron holography, Lorentz microscopy, electron diffraction microscopy and differential phase contrast2015
- 著者名/発表者名
  Hirokazu Sasaki, Shinya Otomo, Ryuichiro Minato, Kazuo Yamamoto, Tsukasa Hirayama, Jun Yamasaki and Naoya Shibata
- 学会等名
  Microscopy and Microanalysis 2015 Meeting
- 発表場所
  Portland, USA
- 年月日
  2015-08-02
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26286049
[学会発表] Analysis of GaAs compound semiconductors and the semiconductor laser diode using off-axis electron holography, Lorentz microscopy, electron diffraction microscopy and differential phase contrast2015
- 著者名/発表者名
  Hirokazu Sasaki,Shinya Otomo, Ryuichiro Minato, Kazuo Yamamoto, Tsukasa Hirayama, Jun Yamasaki and Naoya Shibata
- 学会等名
  Microscopy and Microanalysis 2015 Meeting
- 発表場所
  Portland, USA
- 年月日
  2015-08-02
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26600042
[学会発表] Reconstruction of Atomic Structures and Electric Fields of Nano Materials Using Electron Diffractive Imaging2015
- 著者名/発表者名
  Jun Yamasaki
- 学会等名
  International Conference on Electron Microscopy and XXXVI Annual Meeting of the Electron Microscope Society of India (EMSI-2015)
- 発表場所
  Mumbai, India
- 年月日
  2015-07-08
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26600042
[学会発表] CVD成長させたグラフェン膜に観察されるモアレパターンの解析2015
- 著者名/発表者名
  山崎憲慈, 前原洋祐, 郷原一寿
- 学会等名
  日本顕微鏡学会学術講演会
- 発表場所
  京都国際会館（京都）
- 年月日
  2015-05-11
- データソース
  KAKENHI-PLANNED-26105009
[学会発表] Reconstruction of Atomic Structures and Electric Fields of Nano Materials Using Electron Diffractive Imaging2015
- 著者名/発表者名
  Jun Yamasaki
- 学会等名
  International Conference on Electron Microscopy and XXXVI Annual Meeting of the Electron Microscope Society of India (EMSI-2015)
- 発表場所
  Mumbai, India
- 年月日
  2015-07-08
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26286049
[学会発表] ＣＶＤ法によって銅箔の両面に成長させたグラフェン膜に由来するモアレパターンの解析2015
- 著者名/発表者名
  山崎憲慈, 前原洋祐, 郷原一寿
- 学会等名
  応用物理学会学術講演会
- 発表場所
  名古屋国際会議場（愛知）
- 年月日
  2015-09-11
- データソース
  KAKENHI-PLANNED-26105009
[学会発表] Depth-Resolution Imaging of Crystalline Nano Clusters Using Aberration-Corrected TEM2015
- 著者名/発表者名
  Jun Yamasaki, Akihiko Hirata, Yoshihiko Hirotsu, Kaori Hirahara and Nobuo Tanaka
- 学会等名
  The 2nd East-Asia Microscopy Conference (EAMC2)
- 発表場所
  姫路商工会議所、兵庫県姫路市
- 年月日
  2015-11-24
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26286049
[学会発表] Depth-resolution Imaging of Crystalline Nano Clusters on/in Amorphous Films Using Aberration-corrected TEM2015
- 著者名/発表者名
  Jun Yamasaki, Masayuki Mori, Akihiko Hirata, Yoshihiko Hirotsu, Kaori Hirahara, and Nobuo Tanaka
- 学会等名
  Third Conference on Frontiers of Aberration Corrected Electron Microscopy (PICO 2015)
- 発表場所
  Kasteel Vaalsbroek, the Netherlands
- 年月日
  2015-04-19
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26286049
[学会発表] Observation of electric field using electron diffractive imaging2014
- 著者名/発表者名
  J. Yamasaki, K. Ohta, H. Sasaki, and N. Tanaka
- 学会等名
  18th International Microscopy Congress (IMC 18)
- 発表場所
  Prague
- 年月日
  2014-09-09
- データソース
  KAKENHI-PLANNED-26105009
[学会発表] 3C-SiC/Si(001) 界面における積層欠陥の収差補正 TEM 解析2013
- 著者名/発表者名
  山崎順、稲元伸、野村優貴、石田篤志、秋山賢輔、平林康男、田中信夫
- 学会等名
  第60回応用物理学会春季学術講演会
- 発表場所
  神奈川工大
- 年月日
  2013-03-30
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23760030
[学会発表] 収差補正TEM 像による Si 基板上 high-k 絶縁膜の膜厚測定2013
- 著者名/発表者名
  山崎順、稲元伸、田中信夫
- 学会等名
  日本顕微鏡学会第69回学術講演会
- 発表場所
  大阪
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23760030
[学会発表] 3C-SiC/Si(001)界面における積層欠陥の収差補正TEM解析2013
- 著者名/発表者名
  山崎順、稲元伸、野村優貴、石田篤志、秋山賢輔、平林康男、田中信夫
- 学会等名
  第60回応用物理学会春季学術講演会
- 発表場所
  神奈川工科大学
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23760030
[学会発表] Atomistic Structure Analysis of 3C-SiC/Si(001) Interface and Stacking Faults by Aberration-Corrected Transmission Electron Microscopy2012
- 著者名/発表者名
  J. Yamasaki, S. Inamoto, Y. Nomura and N. Tanaka
- 学会等名
  icroscopy & Microanalysis 2012
- 発表場所
  Phoenix, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23760030
[学会発表] Interface Atomistic structure of 3C-SiC/Si(001) Revealed by Aberration-Corrected Transmission Electron Microscopy and a New Image Processing Method2012
- 著者名/発表者名
  J. Yamasaki, S. Inamoto, H. Tamaki, and N. Tanaka
- 学会等名
  International Symposium on Role of Electron Microscopy in Industry Toward Genuine Collaboration Between Academia and industry
- 発表場所
  Nagoya
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23760030
[学会発表] 積層欠陥と 3C-SiC/Si(001)界面の接合部の収差補正 TEM 解析2012
- 著者名/発表者名
  野村優貴、稲元伸、山崎順、田中信夫
- 学会等名
  日本顕微鏡学会第68回学術講演会
- 発表場所
  つくば国際会議場
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23760030
[学会発表] Atomistic interfacial structure of 3C-SiC/Si(001) and stacking faults studied by aberration-corrected transmission electron microscopy2012
- 著者名/発表者名
  Y. Nomura, J. Yamasaki, S. Inamoto, K. Okazaki-Maeda, and N. Tanaka
- 学会等名
  The 3rd International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations (AMTC3)
- 発表場所
  長良川国際会議場
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23760030
[学会発表] Atomistic interfacial structure of 3C-SiC/Si(001) and stacking faults studied by aberration-corrected transmission electron microscopy2012
- 著者名/発表者名
  Y. Nomura, J. Yamasaki, S. Inamoto, K. Okazaki-Maeda, and N. Tanaka
- 学会等名
  The 3rd International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations (AMTC3)
- 発表場所
  Gifu
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23760030
[学会発表] Atomistic Structure Analysis of 3C-SiC/Si(001) Interface and Stacking Faults by Aberration-Corrected Transmission Electron Microscopy2012
- 著者名/発表者名
  J. Yamasaki, S. Inamoto, Y. Nomura and N. Tanaka
- 学会等名
  Microscopy & Microanalysis 2012
- 発表場所
  Phoenix, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23760030
[学会発表] 積層欠陥と3C-SiC/Si(001)界面の接合部の収差補正TEM解析2012
- 著者名/発表者名
  野村優貴、稲元伸、山崎順、田中信夫
- 学会等名
  日本顕微鏡学会第68回学術講演会
- 発表場所
  つくば国際会議場
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23760030
[学会発表] Interface Atomistic structure of 3C-SiC/Si(001) Revealed by Aberration-Corrected Transmission Electron Microscopy and a New Image Processing Method2012
- 著者名/発表者名
  J. Yamasaki, S. Inamoto, H. Tamaki, and N. Tanaka
- 学会等名
  International Symposium on Role of Electron Microscopy in Industry Toward Genuine Collaboration Between Academia and industry
- 発表場所
  名古屋大学
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23760030
[学会発表] Analysis of Atomic Arrangement at 3C-SiC/Si(001) Interface by Aberration-Corrected Transmission Electron Microscopy2011
- 著者名/発表者名
  J. Yamasaki, S. Inamoto, H. Tamaki, and N. Tanaka
- 学会等名
  2011 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM 2011)
- 発表場所
  名古屋市
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23760030
[学会発表] Analysis of Atomic Arrangement at 3C-SiC/Si(001) Interface by Aberration-Corrected Transmission Electron Microscopy and a New Image Processing Method2011
- 著者名/発表者名
  J. Yamasaki, S. Inamoto, H. Tamaki, K.Okazaki-Maeda, and N. Tanaka
- 学会等名
  12th KIM-JIM symposium
- 発表場所
  Okinawa
- 年月日
  2011-11-06
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23760030
[学会発表] Analysis of Atomic Arrangement at 3C-SiC/Si(001) Interface by Aberration-Corrected Transmission Electron Microscopy2011
- 著者名/発表者名
  J. Yamasaki, S. Inamoto, H. Tamaki, and N. Tanaka
- 学会等名
  2011 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM 2011)
- 発表場所
  Nagoya
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23760030
[学会発表] Analysis of Atomic Arrangement at 3C-SiC/Si(001) Interface by Aberration-Corrected Transmission Electron Microscopy and a New Image Processing Method2011
- 著者名/発表者名
  J. Yamasaki, S. Inamoto, H. Tamaki, K.Okazaki-Maeda, and N. Tanaka
- 学会等名
  15th International Conference on Thin Films (ICTF15)
- 発表場所
  Kyoto
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23760030
[学会発表] Atomic Arrangement at 3C-SiC/Si(001) Interface Revealed by Aberration-Corrected Transmission Electron Microscopy and a New Image Processing Method2011
- 著者名/発表者名
  J. Yamasaki, S. Inamoto, H. Tamaki, and N. Tanaka
- 学会等名
  International Symposium on EcoTopia Science 2011
- 発表場所
  Nagoya
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23760030
[学会発表] Atomic Arrangement at 3C-SiC/Si(001) Interface Revealed by Aberration-Corrected Transmission Electron Microscopy and a New Image Processing Method2011
- 著者名/発表者名
  J. Yamasaki, S. Inamoto, H. Tamaki, and N. Tanaka
- 学会等名
  International Symposium on EcoTopia Science 2011
- 発表場所
  名古屋大学
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23760030
[学会発表]2011
- 著者名/発表者名
  太田圭佑、森下茂幸、山崎順、田中信夫
- 学会等名
  日本顕微鏡学会67回学術講演会
- 発表場所
  福岡国際会議場
- 年月日
  2011-05-17
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21760026
[学会発表] Analysis of Atomic Arrangement at 3C-SiC/Si(001) Interface by Aberration-Corrected Transmission Electron Microscopy and a New Image Processing Method2011
- 著者名/発表者名
  J. Yamasaki, S. Inamoto, H. Tamaki, K. Okazaki-Maeda, and N. Tanaka
- 学会等名
  15th International Conference on Thin Films (ICTF15)
- 発表場所
  京都市
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23760030
[学会発表] 電子回折顕微法を用いた位相像観察2011
- 著者名/発表者名
  太田圭佑、森下茂幸、山崎順、田中信夫
- 学会等名
  日本顕微鏡学会67回学術講演会
- 発表場所
  福岡国際会議場(発表確定)
- 年月日
  2011-05-17
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21760026
[学会発表] Analysis of Atomic Arrangement at 3C-SiC/Si(001) Interface by Aberration-Corrected Transmission Electron Microscopy and a New Image Processing Method2011
- 著者名/発表者名
  J. Yamasaki, S. Inamoto, H. Tamaki, K. Okazaki-Maeda, and N. Tanaka
- 学会等名
  12th KIM-JIM symposium
- 発表場所
  沖縄
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23760030
[学会発表] Measurement of Wavefront Curvature and Spatial Coherenceof Electron Beams by Using a Small Aperture2010
- 著者名/発表者名
  S.Morishita, J.Yamasaki, N.Tanaka
- 学会等名
  COHERENCE 2010
- 発表場所
  Rostock-Warnemunde, Germany.
- 年月日
  2010-06-09
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21760026
[学会発表] 電子回折顕微法を用いた結晶原子配列の可視化2010
- 著者名/発表者名
  山崎順
- 学会等名
  原子分解能ホログラフィー研究会ワークショップ
- 発表場所
  東北大学金属材料研究所
- 年月日
  2010-11-13
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21760026
[学会発表] HOLZ線のロッキングカーブプロファイルをもちいた3次元格子歪み解析II2010
- 著者名/発表者名
  濱邊麻衣子, 齋藤晃, 森下茂幸, 山崎順, 田中信夫
- 学会等名
  日本物理学会第65回年次大会
- 発表場所
  岡山大学
- 年月日
  2010-03-21
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21760026
[学会発表]2010
- 著者名/発表者名
  森下茂幸, 山崎順, 加藤丈晴, 田中信夫
- 学会等名
  日本顕微鏡学会66回学術講演会
- 発表場所
  名古屋国際会議場
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21760026
[学会発表]2010
- 著者名/発表者名
  J.Yamasaki, S.Morishita, N.Tanaka
- 学会等名
  The 17th IFSM International Microscopy Congress
- 発表場所
  Rio de Janeilo, Brazil
- 年月日
  2010-09-23
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21760026
[学会発表]2010
- 著者名/発表者名
  森下茂幸,山崎順,田中信夫
- 学会等名
  日本物理学会第65回年次大会
- 発表場所
  岡山大学
- 年月日
  2010-03-21
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21760026
[学会発表] Reconstruction of Crystalline Structures at 78 pmResolution by Electron Diffractive Imaging2010
- 著者名/発表者名
  J.Yamasaki, S.Morishita, N.Tanaka
- 学会等名
  COHERENCE 2010
- 発表場所
  Rostock-Warnemunde, Germany.
- 年月日
  2010-06-09
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21760026
[学会発表]2010
- 著者名/発表者名
  濱邊麻衣子, 齋藤晃, 森下茂幸, 山崎順, 田中信夫
- 学会等名
  日本物理学会第65回年次大会
- 発表場所
  岡山大学
- 年月日
  2010-03-21
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21760026
[学会発表]2010
- 著者名/発表者名
  S.Morishita, J.Yamasaki, T.Kato, N.Tanaka
- 学会等名
  The 2nd International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations
- 発表場所
  名古屋国際会議場
- 年月日
  2010-06-25
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21760026
[学会発表]2010
- 著者名/発表者名
  S.Morishita, J.Yamasaki, T.Kato
- 学会等名
  The 17th IFSM International Microscopy Congress
- 発表場所
  Rio de Janeilo, Brazil
- 年月日
  2010-09-23
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21760026
[学会発表]2010
- 著者名/発表者名
  S.Morishita, J.Yamasaki, N.Tanaka
- 学会等名
  COHERENCE 2010
- 発表場所
  Rostock-Warnemunde, Germany
- 年月日
  2010-06-09
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21760026
[学会発表]2010
- 著者名/発表者名
  山崎順
- 学会等名
  原子分解能ホログラフィー研究会ワークショップ
- 発表場所
  東北大学
- 年月日
  2010-11-13
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21760026
[学会発表]2010
- 著者名/発表者名
  J.Yamasaki, S.Morishita, N.Tanaka
- 学会等名
  COHERENCE 2010
- 発表場所
  Rostock-Warnemunde, Germany
- 年月日
  2010-06-09
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21760026
[学会発表]2010
- 著者名/発表者名
  J.Yamasaki, A.Hirata, Y.Hirotsu, N.Tanaka
- 学会等名
  The 17th IFSM International Microscopy Congress
- 発表場所
  Rio de Janeilo, Brazil
- 年月日
  2010-09-23
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21760026
[学会発表] 電子回折顕微法の再生結果に及ぼす量子ノイズの影響2010
- 著者名/発表者名
  森下茂幸, 山崎順, 田中信夫
- 学会等名
  日本物理学会第65回年次大会
- 発表場所
  岡山大学
- 年月日
  2010-03-21
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21760026
[学会発表]2009
- 著者名/発表者名
  Shigeyuki Morishita, Jun Yamasaki
- 学会等名
  Microscopy & Microanalysis 2009
- 発表場所
  Richmond, USA
- 年月日
  2009-07-30
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21760026
[学会発表]2009
- 著者名/発表者名
  森下茂幸, 山崎順, 加藤丈晴, 田中信夫
- 学会等名
  日本顕微鏡学会第65回学術講演会
- 発表場所
  仙台国際センター
- 年月日
  2009-05-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21760026
[学会発表] 収差補正STEMを用いた非晶質カーボン膜中白金原子の運動の観察2009
- 著者名/発表者名
  黒島光, 山崎順, 田中信夫
- 学会等名
  日本物理学会第64回年次大会
- 発表場所
  立教大学
- 年月日
  2009-03-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19656007
[学会発表]2009
- 著者名/発表者名
  Jun Yamasaki, Nobuo Tanaka, Shigeyuki Morishita
- 学会等名
  The 12th Frontiers of Electron Microscopy in Materials Science (FEMMS2009)
- 発表場所
  長崎ハウステンボス
- 年月日
  2009-09-28
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21760026
[学会発表] High-resolution imaging and structure analysis by using aberration-corrected electron diffraction2009
- 著者名/発表者名
  Jun Yamasaki, Nobuo Tanaka, Shigeyuki Morishita
- 学会等名
  The 12th Frontiers of Electron Microscopy in Materials Science(FEMM2009)
- 発表場所
  長崎ハウステンボス
- 年月日
  2009-09-28
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21760026
[学会発表]2009
- 著者名/発表者名
  Jun Yamasaki, et al
- 学会等名
  Microscopy & Microanalysis 2009
- 発表場所
  Richmond, USA
- 年月日
  2009-07-30
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21760026
[学会発表] Analysis of Crystalline Nano Structures Embedded in Amorphous Films by Selected Area Nano Diffraction in a Cs-corrected TEM2009
- 著者名/発表者名
  Jun Yamasaki, et al.
- 学会等名
  Microscopy & Microanalysis 2009
- 発表場所
  Richmond, USA
- 年月日
  2009-07-30
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21760026
[学会発表] Direct Observation of Site Hopping of Individual Dopant Atoms in Si Crystal by Cs-corrected STEM2007
- 著者名/発表者名
  Jun Yamasaki
- 学会等名
  Microscopy and Microanalysis 2007 Meeting
- 発表場所
  Fort Lauderdale, Florida, USA
- 年月日
  2007-08-06
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19656007
[学会発表] Site hopping of individual dopant atoms in Si crystal observed by Cs-corrected ADF-STEM2007
- 著者名/発表者名
  Yamasaki, J., Okunishi, E., Sawada, H and Tanaka, N
- 学会等名
  The NIMS Conference 2007 on Recent Breakthroughs in Materials Science and Tech nology
- 発表場所
  筑波
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17201022
[学会発表] 球面収差補正TEM・ナノ電子回折を用いた金属ガラスの局所構造解析2007
- 著者名/発表者名
  山崎順
- 学会等名
  日本物理学会第62回年次大会
- 発表場所
  北海道大学
- 年月日
  2007-09-23
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18029011
[学会発表] Site Hopping of Individual Dopant Atoms in Si Crystal Observed by Cs-corrected ADF-STEM2007
- 著者名/発表者名
  Jun Yamasaki
- 学会等名
  The NIMS Conference 2007 on Recent Breakthroughs in Materials Science and Technology
- 発表場所
  つくば国際会議場
- 年月日
  2007-06-12
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19656007
[学会発表] Cs補正ADF-STEMで捉えたSi中ドーパントアンチモンの置換位置移動2007
- 著者名/発表者名
  山崎順
- 学会等名
  日本顕微鏡学会第63回学術講演会
- 発表場所
  新潟コンベンションセンター
- 年月日
  2007-05-22
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19656007
[学会発表] 収差補正制限視野ナノ回折法によるZr-Ni系金属ガラスの局所構造解析2007
- 著者名/発表者名
  山崎順
- 学会等名
  日本顕微鏡学会第63回学術講演会
- 発表場所
  新潟コンベンションセンター
- 年月日
  2007-05-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18029011
[学会発表] Site hopping of individual dopant atoms in Si crystal observed by Cs-corrected ADF-STEM2007
- 著者名/発表者名
  Yamasaki, J., Okunishi, E., Sawada, H and Tanaka, N
- 学会等名
  The NIMS Conference 2007 on Recent Breakthroughs in Materials Scienoe and Technology
- 発表場所
  Tsukuba
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17201022
[学会発表] STEMドーパント原子の直接観察2007
- 著者名/発表者名
  山崎順
- 学会等名
  日本顕微鏡学会関西支部特別講演会
- 発表場所
  分子科学研究所・岡崎
- 年月日
  2007-07-31
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19656007
[学会発表] Site hopping of individual dopant atoms in Si crystal observed by Cs-corrected ADF-STEM2007
- 著者名/発表者名
  Yamasaki, J., Okunishi, E., Sawada, H, Tanaka, N
- 学会等名
  The NEVIS
- 発表場所
  Tsukuba
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17201022
[学会発表] Spherical aberration corrected STEM studies of Ge nanodots grown on Si(001) surfaces with an ultrathin SiO_2 coverage2007
- 著者名/発表者名
  Tanaka, N., Cho, S.P., Sbklyaev, A. A., Yamasaki, J., Okunishi, E, Icbikawa, M
- 学会等名
  ACSIN-9
- 発表場所
  Tokyo, Japan
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17201022
[学会発表] Spherical aberration corrected STEM studies of Ge nanodotsgrown on Si (001) surfaces with an ultrathin SiO_2 coverage2007
- 著者名/発表者名
  Tanaka, N., Cho, S. P., Shklyaev, A. A., Yamasaki, J., Okunishi, E and Ichikawa, M
- 学会等名
  ACSIN-9
- 発表場所
  東京
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17201022
[学会発表] Spherical aberration corrected STEM studies of Ge nanodots grown on Si(001)surfaces with an ultrathin SiO_2 coverage2007
- 著者名/発表者名
  Tanaka, N., Cho, S. P., Shklyaev, A. A., Yamasaki, J., Okunishi, E and Ichikawa, M
- 学会等名
  ACSIN-9
- 発表場所
  Tokyo, Japan
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17201022
[学会発表] 収差補正制限視野ナノ回折法を用いた金属ガラスの局所構造解析2007
- 著者名/発表者名
  山崎順
- 学会等名
  日本金属学会2007年秋期大会
- 発表場所
  岐阜大学
- 年月日
  2007-09-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18029011
[学会発表] Direct Observation of Six-membered Rings in a Graphene Monolayer Constituting a Single Wall Carbon Nanotube by Using Cs-Corrected TEM2006
- 著者名/発表者名
  Hirahara, K., Saitoh, K., Yamasaki, J and Tanaka, N
- 学会等名
  IMC 16
- 発表場所
  Sapporo
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17201022
[学会発表] High-resolution TEM/STEM Analysis on La_2O_3/Si(100)interfaces2006
- 著者名/発表者名
  Tanaka, N., Yamasaki, J and Saitoh, K
- 学会等名
  International Workshop on Nano-CMOS
- 発表場所
  Mishima
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17201022
[学会発表] Recent development of spherical aberration corrected electron microscopy and its application to studies of nano-structures2005
- 著者名/発表者名
  Tanaka, N., Yamasaki, J
- 学会等名
  International Symposium on Application of Quantum Beam 2005
- 発表場所
  神戸大学
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17201022
[学会発表] Electron Diffractive Imaging of Crystalline Structures and Electric Fields of Nano Materials
- 著者名/発表者名
  J. Yamasaki
- 学会等名
  The 15th International Union of Materials Research Society – International Conference in Asia (IUMRS-ICA)
- 発表場所
  Fukuoka
- 年月日
  2014-08-24 – 2014-08-30
- データソース
  KAKENHI-PLANNED-26105009
[学会発表] 位相回復法を用いた半導体解析
- 著者名/発表者名
  佐々木宏和、大友晋哉、山本和生、平山司、山崎　順、谷垣俊明、明石哲也
- 学会等名
  日本顕微鏡学会第70回学術講演会
- 発表場所
  幕張メッセ国際会議場（千葉県）
- 年月日
  2014-05-11 – 2014-05-13
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26600042
[学会発表] Phase Imaging by Electron Diffractive Imaging
- 著者名/発表者名
  Jun Yamasaki
- 学会等名
  Holo Workshop
- 発表場所
  Dresden （ドイツ）
- 年月日
  2014-06-10 – 2014-06-12
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26286049
[学会発表] 電子回折図形に基づくナノイメージング
- 著者名/発表者名
  山崎　順
- 学会等名
  第1回「3D活性サイト科学」公開ワークショップ
- 発表場所
  CIVI研修センター新大阪東（大阪府）
- 年月日
  2014-11-21 – 2014-11-22
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26600042
[学会発表] Electron Diffractive Imaging of Crystalline Structures and Electric Fields in/around Nano Materials
- 著者名/発表者名
  Jun Yamasaki
- 学会等名
  the 18th SANKEN International Symposium
- 発表場所
  Knowledge Capital Conges Convention Center （大阪府）
- 年月日
  2014-12-10 – 2014-12-11
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26600042
[学会発表] 電子線の空間コヒーレンス測定と電子線回折イメージング
- 著者名/発表者名
  山崎　順
- 学会等名
  日本放射光学会第６回若手研究会
- 発表場所
  理研播磨SPring-8 （兵庫県）
- 年月日
  2014-08-21 – 2014-08-22
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26600042
[学会発表] 収差補正TEMによる深さ分解能結像
- 著者名/発表者名
  山崎　順
- 学会等名
  日本顕微鏡学会超高分解能顕微法分科会 2014年度研究会
- 発表場所
  マホロバ・マインズ三浦（神奈川県）
- 年月日
  2015-02-20 – 2015-02-21
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26286049
[学会発表] 位相回復法を用いた半導体解析
- 著者名/発表者名
  佐々木宏和、大友晋哉、山本和生、平山司、山崎　順、谷垣俊明、明石哲也
- 学会等名
  日本顕微鏡学会第70回学術講演会
- 発表場所
  幕張メッセ国際会議場（千葉県）
- 年月日
  2014-05-11 – 2014-05-13
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26286049
[学会発表] Electron Diffractive Imaging of Crystalline Structures and Electric Fields of Nano Materials
- 著者名/発表者名
  Jun Yamasaki
- 学会等名
  The 15th International Union of Materials Research Society – International Conference in Asia (IUMRS-ICA)
- 発表場所
  Fukuoka University （福岡県）
- 年月日
  2014-08-24 – 2014-08-30
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26600042
[学会発表] Observation of electric field using electron diffractive imaging
- 著者名/発表者名
  J. Yamasaki, K. Ohta, H. Sasaki, and N. Tanaka
- 学会等名
  18th International Microscopy Congress (IMC 2014)
- 発表場所
  Prague （チェコ）
- 年月日
  2014-09-07 – 2014-09-12
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26286049
[学会発表] 電子回折図形に基づくナノイメージング
- 著者名/発表者名
  山崎　順
- 学会等名
  第1回「3D活性サイト科学」公開ワークショップ
- 発表場所
  CIVI研修センター新大阪東（大阪府）
- 年月日
  2014-11-21 – 2014-11-22
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26286049
[学会発表] Electron Diffractive Imaging of Crystalline Structures and Electric Fields of Nano Materials
- 著者名/発表者名
  Jun Yamasaki
- 学会等名
  The 15th International Union of Materials Research Society - International Conference in Asia (IUMRS-ICA)
- 発表場所
  Fukuoka University （福岡県）
- 年月日
  2014-08-24 – 2014-08-30
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26286049
[学会発表] Electron Diffractive Imaging of Crystalline Structures and Electric Fields in/around Nano Materials
- 著者名/発表者名
  Jun Yamasaki
- 学会等名
  the 18th SANKEN International Symposium
- 発表場所
  Knowledge Capital Congres Convention Center （大阪府）
- 年月日
  2014-12-10 – 2014-12-11
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26286049
[学会発表] Phase Imaging by Electron Diffractive Imaging
- 著者名/発表者名
  Jun Yamasaki
- 学会等名
  Holo Workshop
- 発表場所
  Dresden （ドイツ）
- 年月日
  2014-06-10 – 2014-06-12
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26600042
[学会発表] Observation of electric field using electron diffractive imaging
- 著者名/発表者名
  J. Yamasaki, K. Ohta, H. Sasaki, and N. Tanaka
- 学会等名
  18th International Microscopy Congress (IMC 2014)
- 発表場所
  Prague （チェコ）
- 年月日
  2014-09-07 – 2014-09-12
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26600042
[学会発表] 電子線の空間コヒーレンス測定と電子線回折イメージング
- 著者名/発表者名
  山崎　順
- 学会等名
  日本放射光学会第６回若手研究会
- 発表場所
  理研播磨SPring-8 （兵庫県）
- 年月日
  2014-08-21 – 2014-08-22
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26286049

1. 田中信夫 (40126876)

共同の研究課題数: 9件

共同の研究成果数: 36件
2. 齋藤晃 (50292280)

共同の研究課題数: 3件

共同の研究成果数: 9件
3. 室岡義栄 (40273263)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 0件
4. 郷原一寿 (40153746)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 9件
5. 佐々木宏和 (70649821)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 9件
6. 趙星彪 (90318783)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
7. 平田秋彦 (90350488)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 1件
8. 小林慶太 (40556908)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
9. 塩谷浩之 (90271642)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 1件
10. 畑中修平 (30838503)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 2件
11. 近藤正彦 (90403170)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 3件
12. 森藤正人 (00230144)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 3件
13. 坂口紀史

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
14. 内田努

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 1件
15. 山崎憲慈

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 9件
16. 前原洋祐

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 8件
17. 渡辺弘紀

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
18. HAIDER M

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
19. 成瀬幹夫

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
20. 五十嵐信行

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
21. HAIDER M.

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
22. 藤田武志

共同の研究課題数: 0件

共同の研究成果数: 1件

山崎 順 Yamasaki Jun

研究課題

研究成果

共同研究者

電子ビームによるサブミクロン局在光可視化技術の開発研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

物質中での電子線多重散乱過程解明に基づく形状も密度も正しい三次元再構成法の実現研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

収差補正電子顕微鏡の焦点位置スキャンによるナノ構造および原子の三次元計測法の開発研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

電子回折によるナノ構造体３D原子イメージング

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

原子からミクロンレベルまで観察可能な電子回折顕微法という新規結像分野の確立研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

電子線小角散乱からの新規位相イメージング法によるナノスケール電磁場の定量的可視化研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

収差補正電子顕微鏡と第一原理計算による立方晶SiC/Si界面の三次元原子配列解析研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

電子回折図形からの新規結像法によるサブオングストローム分解能の達成と応用への研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

収差補正STEMによるシリコン中ドーパント拡散及びクラスタリングの単原子直視研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

金属ガラスの局所原子構造の球面収差補正電子顕微鏡による研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

高空間分解能光化学反応その場観察装置による酸化チタンの触媒反応界面の動的観察

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

球面収差補正電子レンズを用いたナノ材料の構造と電子状態ゆらぎの研究

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

無球面収差結像TEMによるSiO_2/Si界面の酸化状態の原子直視的研究

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

山崎順 Yamasaki Jun