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金澤 徹  Kanazawa Toru

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 40514922
その他のID
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2016年度 – 2018年度: 東京工業大学, 工学院, 助教
2013年度 – 2015年度: 東京工業大学, 理工学研究科, 助教
2009年度 – 2010年度: 東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 助教
審査区分/研究分野
研究代表者
電子デバイス・電子機器 / 小区分21060:電子デバイスおよび電子機器関連
研究代表者以外
電子デバイス・電子機器
キーワード
研究代表者
化合物半導体 / 高移動度チャネル / MOSFET / マルチゲート構造 / マルチゲート / 結晶成長 / MOVPE / ヘテロ接合 / TFET / トランジスタ … もっと見る / Ⅲ-Ⅴ族化合物半導体 / トンネルトランジスタ / 層状物質 / MOSトランジスタ / III-V族化合物 / ナノシート / MOCVD / 有機金属気相成長法 / 半導体超微細化 / III-V族化合物半導体 / 極微細加工プロセス / 半導体物性 / 電子デバイス・機器 / III-V族半導体 … もっと見る
研究代表者以外
絶縁体-半導体界面 / 格子緩和成長 / 分子線エピタキシー / InGaAs MIS構造 / タイプIIヘテロ構造 / 化合物半導体MOSFET / スタガード型ヘテロ構造 / 化合物半導体 / ヘテロ接合 / トンネルFET 隠す
  • 研究課題

    (5件)
  • 研究成果

    (48件)
  • 共同研究者

    (2人)
  •  III-V族/層状物質ヘテロ接合を用いたトンネルトランジスタ研究代表者

    • 研究代表者
      金澤 徹
    • 研究期間 (年度)
      2018
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 審査区分
      小区分21060:電子デバイスおよび電子機器関連
    • 研究機関
      東京工業大学
  •  積層型極短チャネルIII-V族MOSFET研究代表者

    • 研究代表者
      金澤 徹
    • 研究期間 (年度)
      2016 – 2017
    • 研究種目
      若手研究(B)
    • 研究分野
      電子デバイス・電子機器
    • 研究機関
      東京工業大学
  •  ヘテロ構造設計と微細化により低電圧・高速動作を目指した相補型縦型トンネルFET

    • 研究代表者
      宮本 恭幸
    • 研究期間 (年度)
      2014 – 2016
    • 研究種目
      基盤研究(A)
    • 研究分野
      電子デバイス・電子機器
    • 研究機関
      東京工業大学
  •  再成長ソースを有する三次元構造InGaAs MOSFET研究代表者

    • 研究代表者
      金澤 徹
    • 研究期間 (年度)
      2013 – 2015
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      電子デバイス・電子機器
    • 研究機関
      東京工業大学
  •  MOVPE選択再成長ソース領域によるIII-V族MOSFETの高駆動能力化研究代表者

    • 研究代表者
      金澤 徹
    • 研究期間 (年度)
      2009 – 2010
    • 研究種目
      若手研究(B)
    • 研究分野
      電子デバイス・電子機器
    • 研究機関
      東京工業大学

すべて 2019 2018 2017 2016 2015 2014 2011 2010 2009 その他

すべて 雑誌論文 学会発表 産業財産権

  • [雑誌論文] Effect of increasing gate capacitance on performance of p-MoS2/HfS2 van der Waals heterostructure tunneling field-effect transistor2019

    • 著者名/発表者名
      W. Zhang, S. Netsu, T. Kanazawa, T. Amemiya, Y. Miyamoto
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: -

    • NAID

      210000135286

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K04279
  • [雑誌論文] Fin width dependence on gate controllability of InGaAs channel FinFETs with regrown source/drain2016

    • 著者名/発表者名
      N. Kise,H. Kinoshita, A. Yukimachi, T. Kanazawa and Y. Miyamoto
    • 雑誌名

      Solid-State Electronics

      巻: vol.126 ページ: 92-95

    • DOI

      10.1016/j.sse.2016.09.009

    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16H06292, KAKENHI-PROJECT-26249046, KAKENHI-PROJECT-16K18087
  • [雑誌論文] Channel thickness dependence on InGaAs MOSFET with n-InP source for high current density2014

    • 著者名/発表者名
      K. Ohsawa, A. Kato, T. Kanazawa, E. Uehara and Y. Miyamoto
    • 雑誌名

      IEICE Electronics Express

      巻: 11 号: 14 ページ: 20140567-20140567

    • DOI

      10.1587/elex.11.20140567

    • NAID

      130004725760

    • ISSN
      1349-2543
    • 言語
      英語
    • 査読あり / 謝辞記載あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26249046
  • [雑誌論文] InP/InGaAs Composite Metal-Oxide-Semiconductor Firld-Effect Transistors with Regrown Source and Al_2O_3 gatedielectric Exhibiting Maximum Drain Current Exceeding 1.3 mA/μm2011

    • 著者名/発表者名
      R.Terao, T.Kanazawa, S.Ikeda, Y.Yonai, A.Kato, Y.Miyamoto
    • 雑誌名

      Applied Physics Express vol.4

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21760253
  • [雑誌論文] InP/InGaAs Composite MOSFETs with Regrown Source and Al_2O_3 gatedielectric Exhibiting Maximum Drain Current Exceeding 1.3 mA/μm2011

    • 著者名/発表者名
      R.Terao, T.Kanazawa, S.Ikeda, Y.Yonai, A.Kato, Y.Miyamoto
    • 雑誌名

      Applied Phys.Exp.

      巻: vol.4

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21760253
  • [雑誌論文] Submicron InP/InGaAs Composite-Channel Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor with Selectively Regrown n+-Source2010

    • 著者名/発表者名
      T.Kanazawa, K.Wakabayashi, H.Saito, R.Terao, S.Ikeda, Y.Miyamoto, K.Furuya
    • 雑誌名

      Applied Physics Express vol.3

    • NAID

      10026690574

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21760253
  • [雑誌論文] Submicron InP/InGaAs Composite-Channel Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor with Selectively Regrown n^+-Source2010

    • 著者名/発表者名
      T.Kanazawa, K.Wakabayashi, H.Saito, R.Terao, S.Ikeda, Y.Miyamoto, K.Furuya
    • 雑誌名

      Applied Phys.Exp.

      巻: vol.3

    • NAID

      10026690574

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21760253
  • [産業財産権] 電界効果トランジスタ2010

    • 発明者名
      宮本恭幸、金澤徹
    • 権利者名
      東京工業大学
    • 産業財産権番号
      2010-204769
    • 出願年月日
      2010-09-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21760253
  • [学会発表] 埋め込みNiバックゲートを用いたp-MoS2/HfS2トンネルFET2018

    • 著者名/発表者名
      張 文倫、祢津 誠晃、金澤 徹、雨宮 智宏、宮本 恭幸
    • 学会等名
      第79回応用物理学会秋季学術講演会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K04279
  • [学会発表] InGaAsナノシートトランジスタの作製2018

    • 著者名/発表者名
      金澤 徹、大澤 一斗、雨宮 智宏、木瀬 信和、青沼 遼介、宮本 恭幸
    • 学会等名
      第65回応用物理学会春季学術講演会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K18087
  • [学会発表] Fabrication of InGaAs Nanosheet Transistors with Regrown Source2018

    • 著者名/発表者名
      Kanazawa Toru、Ohsawa Kazuto、Amemiya Tomohiro、Kise Nobukazu、Aonuma Ryosuke、Miyamoto Yasuyuki
    • 学会等名
      Conpound Semiconductor Week 2018 (CSW2018)
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K18087
  • [学会発表] p-MoS2/HfS2 van der Waals Heterostructure Transistor Using Ni Backgate Buried in HfO2 Dielectric2018

    • 著者名/発表者名
      W. Zhang, S. Netsu, T. Kanazawa, T. Amemiya, Y. Miyamoto
    • 学会等名
      2018 Int. Conf. Solid State Devices and Materials
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-18K04279
  • [学会発表] InGaAsナノシートチャネルを持つマルチゲートMOSFETに向けた作製プロセス開発2017

    • 著者名/発表者名
      大澤 一斗、金澤 徹、木瀬 信和、雨宮 智宏、宮本 恭幸
    • 学会等名
      第78回応用物理学会秋季学術講演会
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-16K18087
  • [学会発表] 再成長S/Dを有するInGaAsマルチゲートMOSFETのLch=16nm動作2016

    • 著者名/発表者名
      木下治紀 木瀬信和 祢津誠晃 金澤徹 宮本恭幸
    • 学会等名
      第63回応用物理学会春季学術講演会
    • 発表場所
      東工大
    • 年月日
      2016-03-22
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26249046
  • [学会発表] Operation of 16-nm InGaAs channel multi-gate MOSFETs with regrown source/drain2016

    • 著者名/発表者名
      H. Kinoshita, N. Kise, A. Yukimachi, T. Kanazawa, Y. Miyamoto
    • 学会等名
      2016 Compound Semiconductor Week (CSW) [Includes 28th International Conference on Indium Phosphide & Related Materials (IPRM) & 43rd International Symposium on Compound Semiconductors (ISCS)]
    • 発表場所
      富山国際会議場
    • 年月日
      2016-06-28
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26249046
  • [学会発表] H.Kinoshita,S.Netsu,Y.Mishima,T.Kanazawa and Y.Miyamoto Fabrication of InGaAs channel multi-gate MOSFETs with MOVPE regrown source/drain2015

    • 著者名/発表者名
      H.Kinoshita,S.Netsu,Y.Mishima,T.Kanazawa and Y.Miyamoto
    • 学会等名
      11th Topical Workshop on Heterostructure Microelectronics
    • 発表場所
      HIDA HOTEL PLAZA, Takayama, Gifu
    • 年月日
      2015-08-24
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26249046
  • [学会発表] 再成長ソース / ドレインを有する InGaAs マルチゲート MOSFET 作製プロセス2015

    • 著者名/発表者名
      木下 治紀、 金澤 徹、祢津 誠晃、三嶋 裕一、宮本 恭幸
    • 学会等名
      第76回応用物理学会秋季学術講演会
    • 発表場所
      名古屋国際会議場
    • 年月日
      2015-09-16
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26249046
  • [学会発表] InGaAs channel for low supply voltage2015

    • 著者名/発表者名
      Y. Miyamoto,T. Kanazawa, Y. Yonai, K. Ohsawa, Y. Mishima, M. Fujimatsu, K. Ohashi, S. Nestu, and S. Iwata
    • 学会等名
      47th Int. Conf. on Solid State Devices and Materials
    • 発表場所
      Sapporo Convention Center
    • 年月日
      2015-09-28
    • 招待講演 / 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26249046
  • [学会発表] Improvement of Interface Property of HfO2/Al2O3/In0.53Ga0.47As Using Nitrogen Plasma Cleaning and Hydrogen Annealing2015

    • 著者名/発表者名
      S. Netsu, T. Kanazawa, and Y. Miyamoto
    • 学会等名
      27th International Conference on Indium Phosphide and Related Materials
    • 発表場所
      University of California Santa Barbara, CA USA
    • 年月日
      2015-07-01
    • 国際共著/国際学会である
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26249046
  • [学会発表] MOVPE再成長ソース/ドレインを有するInGaAsトライゲートMOSFET2014

    • 著者名/発表者名
      金澤 徹
    • 学会等名
      電子情報通信学会電子デバイス研究会
    • 発表場所
      東京
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-25420322
  • [学会発表] 裏面電極を有するIII-V族量子井戸型チャネルMOSFET2011

    • 著者名/発表者名
      金澤徹、寺尾良輔、山口裕太郎、池田俊介、米内義晴、加藤淳、宮本恭幸
    • 学会等名
      電子情報通信学会電子デバイス研究会
    • 発表場所
      東京
    • 年月日
      2011-01-14
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21760253
  • [学会発表] Al_2O_3ゲート絶縁膜を用いたInP/InGaAsチャネルn-MOSFETの電気特性2010

    • 著者名/発表者名
      寺尾良輔、金澤徹、斎藤尚史、若林和也、池田俊介、宮本恭幸、古屋一仁
    • 学会等名
      第57回応用物理学会関係連合講演会
    • 発表場所
      平塚
    • 年月日
      2010-03-19
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21760253
  • [学会発表] Al_2O_3ゲート絶縁膜および再成長ソースを有するサブミクロンInP/InGaAs n-MOSFET2010

    • 著者名/発表者名
      寺尾良輔、金澤徹、池田俊介、米内義晴、加藤淳、宮本恭幸
    • 学会等名
      第71回応用物理学会学術講演会
    • 発表場所
      長崎
    • 年月日
      2010-09-14
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21760253
  • [学会発表] InGaAs/InP MISFET with epitaxially grown source2010

    • 著者名/発表者名
      Y. Miyamoto, T. Kanazawa, H. Saito, K. Furuya
    • 学会等名
      2009 Asia-Pacific Workshop on Fundamentals and Applications of Advanced Semiconductor Devices (AWAD)
    • 発表場所
      Busan
    • 年月日
      2010-06-25
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21760253
  • [学会発表] InP/IGaAs Quantum Well Channel MOSFET Bonded on Silicon Substrate2010

    • 著者名/発表者名
      T. Kanazawa
    • 学会等名
      2nd Japanese-Russion Young Scientists Conf. Nano-Materials and Nano-Technology
    • 発表場所
      Tokyo
    • 年月日
      2010-09-21
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21760253
  • [学会発表] Submicron InP/InGaAs composite channel MOSFET with selectively regrown n^+-source/drain buried in channel undercut2010

    • 著者名/発表者名
      T. Kanazawa, K. Wakabayashi, H. Saito, R. Terao, T. Tajima, S. Ikeda, Y. Miyamoto, K. Furuya
    • 学会等名
      The 22nd Int. Conf. Indium Phosphide and Related Materials (IPRM 2010)
    • 発表場所
      Takamatsu
    • 年月日
      2010-06-01
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21760253
  • [学会発表] III-V族サブミクロンチャネルを有する高移動度MOSFET2010

    • 著者名/発表者名
      金澤徹、若林和也、斎藤尚史、寺尾良輔、池田俊介、宮本恭幸、古屋一仁
    • 学会等名
      電気学会電子デバイス研究会
    • 発表場所
      東京
    • 年月日
      2010-03-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21760253
  • [学会発表] Submicron InP/InGaAs composite channel MOSFETs with selectively regrown n^+-source/drain buried in channel undercut2010

    • 著者名/発表者名
      T.Kanazawa
    • 学会等名
      22nd Int.Conf.Indium Phosphide and Related Materials (IPRM2010)
    • 発表場所
      高松
    • 年月日
      2010-06-01
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21760253
  • [学会発表] InP/InGaAs MOSFET with back-electrode structure bonded on Si substrate using a BCB adhesive Layer2010

    • 著者名/発表者名
      T.Kanazawa
    • 学会等名
      2010 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM 2010)
    • 発表場所
      東京
    • 年月日
      2010-09-22
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21760253
  • [学会発表] InP/InGaAs composite channel MOSFET with Al_2O_3 gate dielectric2010

    • 著者名/発表者名
      金澤徹
    • 学会等名
      IEICE Technical Report of meeting on Electron Devices
    • 発表場所
      Tokyo, Japan
    • 年月日
      2010-01-14
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21760253
  • [学会発表] Submicron-channel InGaAs MISFET with epitaxially grown source2010

    • 著者名/発表者名
      Y. Miyamoto, H. Saito, T. Kanazawa
    • 学会等名
      10th IEEE Int. Conf. Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT-2010)
    • 発表場所
      Shanghai, China
    • 年月日
      2010-11-03
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21760253
  • [学会発表] Si基板上貼付された裏面電極付InP/InGaAs MOSFET2010

    • 著者名/発表者名
      金澤徹、寺尾良輔、山口裕太郎、池田俊介、米内義晴、加藤淳、宮本恭幸
    • 学会等名
      第71回応用物理学会学術講演会
    • 発表場所
      長崎
    • 年月日
      2010-09-14
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21760253
  • [学会発表] 再成長ソースを有するサブミクロンInP/InGaAs nMOSFETの電流電圧特性2010

    • 著者名/発表者名
      若林和也、金澤徹、斎藤尚史、寺尾良輔、池田俊介、宮本恭幸、古屋一仁
    • 学会等名
      第57回応用物理学会関係連合講演会
    • 発表場所
      平塚
    • 年月日
      2010-03-19
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21760253
  • [学会発表] InGaAs MISFET with epitaxially grown sourcce2010

    • 著者名/発表者名
      Y. Miyamoto, T. Kanazawa, H. Saito
    • 学会等名
      The 3rd Int. Symp. Prganic and Inorganic Electronic Materials and Related Nanotechnologies (EM-NANO 2010)
    • 発表場所
      Toyama
    • 年月日
      2010-06-23
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21760253
  • [学会発表] Al_2O_3ゲート絶縁膜を用いたInP/InGaAsコンポジットチャネルMOSFET2010

    • 著者名/発表者名
      金澤徹、若林和也、斎藤尚史、田島智宣、池田俊介、宮本恭幸、古屋一仁
    • 学会等名
      電子情報通信学会電子デバイス研究会
    • 発表場所
      東京
    • 年月日
      2010-01-14
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21760253
  • [学会発表] InP/InGaAs MOSFET with back-electrode structure bonded on Si substrate using a BCB adhesive layer2010

    • 著者名/発表者名
      T. Kanazawa, R. Terao, Y. Yamaguchi, S. Ikeda, Y. Yonai, Y. Miyamoto
    • 学会等名
      2010 Int. Conf. Solid State Devices and Materials (SSDM 2010)
    • 発表場所
      Tokyo
    • 年月日
      2010-09-22
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21760253
  • [学会発表] High-mobility MOSFET with submicron III-V channel2010

    • 著者名/発表者名
      金澤徹
    • 学会等名
      Technical Meeting on Electron Devices, IEE of Japan
    • 発表場所
      Tokyo, Japan
    • 年月日
      2010-05-26
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21760253
  • [学会発表] Fabrication of InP/InGaAs Undoped Channel MOSFET with Selectively Regrown N+-InGaAs Source Region2009

    • 著者名/発表者名
      金澤徹
    • 学会等名
      2009 Int.Conf.Solid State Devices and Materials(SSDM 2009)
    • 発表場所
      Miyagi, Japan
    • 年月日
      2009-10-07
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21760253
  • [学会発表] Fabrication of InP/InGaAs Undoped Channel MOSFET with Selectively Regrown N^+-InGaAs Source REgion2009

    • 著者名/発表者名
      T. Kanazawa, H. Saito, K. Wakabayashi, T. Tajima, R. Terao, Y. Miyamoto, K. Furuya
    • 学会等名
      2009 Int. Conf. Solide State Devices and Materials (SSDM 2009)
    • 発表場所
      Sendai
    • 年月日
      2009-10-07
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21760253
  • [学会発表] MOVPE再成長n^+-ソースを有するIII-V族高移動度チャネルMOSFET2009

    • 著者名/発表者名
      金澤徹
    • 学会等名
      IEE of Japan(Special Session on Compound Semiconductor Electron Devices for More Moore More than Moore)
    • 発表場所
      徳島市
    • 年月日
      2009-09-04
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21760253
  • [学会発表] InP/INGaAs-channel MOSFET with MOVPE Selective Regrown Source2009

    • 著者名/発表者名
      T. Kanazawa, K. Wakabayashi, H. Saito, R. Terao, T. Tajima, S. Ikeda, Y. Miyamoto, K.
    • 学会等名
      The 21st Int. Conf. Indium Phosphide and Related Materials (IPRM 2009)
    • 発表場所
      Newport Beach, USA
    • 年月日
      2009-05-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21760253
  • [学会発表] 再成長ソースを有するアンドープチャネルMOSFET2009

    • 著者名/発表者名
      若林和也、金澤徹、斎藤尚史、寺尾良輔、田島智宣、宮本恭幸、古屋一仁
    • 学会等名
      第70回応用物理学会学術講演会
    • 発表場所
      富山
    • 年月日
      2009-09-08
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21760253
  • [学会発表] InP/InGaAs-channel MOSFET with MOVPE Selective Regrown Source2009

    • 著者名/発表者名
      金澤徹
    • 学会等名
      The 21st Int.Conf.Indium Phosphide and Related Materials(IPRM2009)
    • 発表場所
      Newport Beach, USA
    • 年月日
      2009-05-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21760253
  • [学会発表] MOVEP再成長n^+-ソースを有するIII-V族高移動度チャネルMOSFET2009

    • 著者名/発表者名
      金澤徹、斎藤尚史、若林和也、寺尾良輔、田島智宣、池田俊介、宮本恭幸、古屋一仁
    • 学会等名
      電気学会電気・情報・システム部門大会
    • 発表場所
      徳島
    • 年月日
      2009-09-04
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21760253
  • [学会発表] InGaAs MOSFET Source Structures Toward High Speed/low Power Applications

    • 著者名/発表者名
      Y. Miyamoto, T. Kanazawa, Y. Yonai, A. Kato, M. Fujimatsu, M. Kashiwano , K. Ohsawa, and K. Ohashi
    • 学会等名
      26th International Conference on InP and Related Materials (IPRM 2014)
    • 発表場所
      Montpellier, France
    • 年月日
      2014-05-11 – 2014-05-14
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26249046
  • [学会発表] Improvement of Interface Property of HfO2/Al2O3/In0.53Ga0.47As Using Nitrogen Plasma Cleaning and Hydrogen Annealing

    • 著者名/発表者名
      S. Netsu, T. Kanazawa, and Y. Miyamoto
    • 学会等名
      27th International Conference on Indium Phosphide and Related Materials
    • 発表場所
      Santa Barbara, CA
    • 年月日
      2015-06-28 – 2015-07-02
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26249046
  • [学会発表] InGaAs tri-gate MOSFETs with MOVPE regrown source/drain

    • 著者名/発表者名
      Y. Mishima, T. Kanazawa, H. Kinoshita, E. Uehara, and Y. Miyamoto
    • 学会等名
      72nd Device Research Conference (DRC)
    • 発表場所
      Santa Barbara, CA
    • 年月日
      2014-06-22 – 2014-06-25
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26249046
  • [学会発表] Growth Process for High Performance of InGaAs MOSFETs

    • 著者名/発表者名
      Y. Miyamoto, T. Kanazawa, Y. Yonai, K. Ohsawa, Y. Mishima, T. Irisawa, M. Oda, and T. Tezuka
    • 学会等名
      72nd Device Research Conference (DRC)
    • 発表場所
      Santa Barbara, CA
    • 年月日
      2014-06-22 – 2014-06-25
    • 招待講演
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-26249046
  • 1.  宮本 恭幸 (40209953)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 11件
  • 2.  鈴木 寿一 (80362028)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 0件

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