黒田理人 Kuroda Rihito

研究者番号	40581294
その他のID
所属 (現在)	2025年度: 東北大学, 未来科学技術共同研究センター, 教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2021年度 – 2024年度: 東北大学, 未来科学技術共同研究センター, 教授 2016年度 – 2021年度: 東北大学, 工学研究科, 准教授 2014年度 – 2015年度: 東北大学, 工学(系)研究科(研究院), 准教授 2014年度: 東北大学, 大学院工学研究科, 准教授 2010年度 – 2011年度: 東北大学, 大学院・工学研究科, 助教
審査区分/研究分野	研究代表者電子デバイス・電子機器研究代表者以外電子デバイス・電子機器 / 中区分39:生産環境農学およびその関連分野 / 小区分21060:電子デバイスおよび電子機器関連
キーワード	研究代表者電子デバイス・機器 / 吸光イメージング / 撮像素子 / センシングデバイス / ランダムテレグラフノイズ / 原子レベル平坦化 / ランダム・テレグラフ・ノイズ / しきい値ばらつき / 電子デバイス・集積回路 / 電子デバイス・電子機器 … もっと見る / MOSFET / Random Telegraph Signalノイズ / ノイズ / シリコン / CMOSイメージセンサ / Random Telegraph Noise / 1/fノイズ / MOSトランジスタ … もっと見る研究代表者以外電子デバイス・機器 / トマト / 野菜 / 生理障害 / 液晶エタロン / 高感度CMOSイメージセンサ / 液晶バンドパスフィルタ / 分光イメージング / 1光子検出 / フォトンカウンティング / 撮像素子 / センシングデバイス / 平坦化 / ストレス誘起電流 / リーク電流 / シリコン / MOSFET / 電子デバイス・集積回路隠す

作物の生理障害の機構解明におけるブレークスルーテクノロジーの開発と検証
- 研究代表者
  
  金山喜則
- 研究期間 (年度)
  2021 – 2025
- 研究種目
  
  基盤研究(A)
- 審査区分
  
  中区分39:生産環境農学およびその関連分野
- 研究機関
  東北大学
革新的高速分光による高感度リアルタイム分光イメージングの構築と非侵襲診断への展開
- 研究代表者
  
  石鍋隆宏
- 研究期間 (年度)
  2019 – 2021
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 審査区分
  
  小区分21060:電子デバイスおよび電子機器関連
- 研究機関
  東北大学
飽和電荷数1億個超・線形応答を有する革新的な微小光量差検出イメージセンサの創出研究代表者
- 研究代表者
  
  黒田理人
- 研究期間 (年度)
  2017 – 2019
- 研究種目
  
  若手研究(A)
- 研究分野
  
  電子デバイス・電子機器
- 研究機関
  東北大学
1光子検出の感度および線形・高飽和性能を有するＣＭＯＳ撮像素子の創出
- 研究代表者
  
  須川成利
- 研究期間 (年度)
  2015 – 2017
- 研究種目
  
  基盤研究(A)
- 研究分野
  
  電子デバイス・電子機器
- 研究機関
  東北大学
原子レベル平坦界面トランジスタによる電気的特性ばらつき・ノイズの極小化研究代表者
- 研究代表者
  
  黒田理人
- 研究期間 (年度)
  2014 – 2015
- 研究種目
  
  若手研究(B)
- 研究分野
  
  電子デバイス・電子機器
- 研究機関
  東北大学
原子レベル平坦界面トランジスタのゲート絶縁膜リーク電流の高精度統計的解析
- 研究代表者
  
  須川成利
- 研究期間 (年度)
  2012 – 2014
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  電子デバイス・電子機器
- 研究機関
  東北大学
MOSトランジスタの低ノイズ化へ向けたデバイス構造最適化研究代表者
- 研究代表者
  
  黒田理人
- 研究期間 (年度)
  2010 – 2011
- 研究種目
  
  研究活動スタート支援
- 研究分野
  
  電子デバイス・電子機器
- 研究機関
  東北大学

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すべて雑誌論文学会発表図書産業財産権

[図書] 2020版薄膜作製応用ハンドブック第2章第6節イメージセンサ2020
- 著者名/発表者名
  權田　俊一、近藤　高志、田畑　仁、小口　多美夫、中村　浩次、勝本　信吾、大見　俊一郎、工藤　聡也、神野　伊策、喜久田　寿郎、宮﨑　照宣、久保田　均、湯浅　新治、桜庭　裕弥、矢口　裕之、市野　邦男、山田　実、内田　裕久、井上　光輝、黒田　理人、他
- 総ページ数
  8
- 出版者
  エヌ・ティー・エス
- ISBN
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[図書] 車載センシング技術の開発と ADAS、自動運転システムへの応用　第2章第1節 CMOSイメージセンサの広ダイナミックレンジ化技術2017
- 著者名/発表者名
  黒田理人
- 総ページ数
  17
- 出版者
  技術情報協会
- ISBN
  9784861046582
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[図書] The Micro-World Observed by Ultra High-Speed Cameras: We See What You Don’t See, Part III Cameras with CCD/CMOS Sensors, Cameras with on-chip memory CMOS image sensors2017
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
- 総ページ数
  22
- 出版者
  Springer International Publishing
- ISBN
  9783319614908
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[図書] The Micro-World Observed by Ultra High-Speed Cameras: We See What You Don’t See, Part III Cameras with CCD/CMOS Sensors, Cameras with on-chip memory CMOS image sensors2017
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
- 総ページ数
  22
- 出版者
  Springer International Publishing
- ISBN
  9783319614908
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[図書] 光アライアンス2017年12月号　三次元積層を用いた先進CMOSイメージセンサ技術2017
- 著者名/発表者名
  黒田理人
- 総ページ数
  5
- 出版者
  日本工業出版
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[図書] 光アライアンス2017年12月号　三次元積層を用いた先進CMOSイメージセンサ技術2017
- 著者名/発表者名
  黒田理人
- 総ページ数
  5
- 出版者
  日本工業出版
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[図書] 車載センシング技術の開発と ADAS、自動運転システムへの応用　第2章第1節 CMOSイメージセンサの広ダイナミックレンジ化技術2017
- 著者名/発表者名
  黒田理人
- 総ページ数
  17
- 出版者
  技術情報協会
- ISBN
  9784861046582
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[雑誌論文] A High Near-Infrared Sensitivity Over 70-dB SNR CMOS Image Sensor With Lateral Overflow Integration Trench Capacitor2020
- 著者名/発表者名
  Maasa Murata, Rihito Kuroda, Yasuyuki Fujihara, Yusuke Otsuka, Hiroshi Shibata, Taku Shibaguchi, Yutaka Kamata, Noriyuki Miura, Naoya Kuriyama, Shigetoshi Sugawa
- 雑誌名
  
  IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
  
  巻: 67 号: 4 ページ: 1653-1659
- DOI
  10.1109/ted.2020.2975602
- 査読あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921, KAKENHI-PROJECT-18J20657
[雑誌論文] Over 100 Million Frames per Second 368 Frames Global Shutter Burst CMOS Image Sensor with Pixel-wise Trench Capacitor Memory Array2020
- 著者名/発表者名
  Manabu Suzuki, Yuki Sugama, Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
- 雑誌名
  
  Sensors
  
  巻: 20 号: 4 ページ: 1086-1086
- DOI
  10.3390/s20041086
- 査読あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921, KAKENHI-PROJECT-19J11127
[雑誌論文] An Optical Filter-Less CMOS Image Sensor with Differential Spectral Response Pixels for Simultaneous UV-Selective and Visible Imaging2020
- 著者名/発表者名
  Yhang Ricardo Sipauba Carvalho da Silva, Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
- 雑誌名
  
  Sensors
  
  巻: 20 号: 1 ページ: 13-13
- DOI
  10.3390/s20010013
- 査読あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[雑誌論文] A CMOS image sensor with dual pixel reset voltage for high accuracy ultraviolet light absorption spectral imaging2019
- 著者名/発表者名
  Yusuke Aoyagi, Yasuyuki Fujihara, Maasa Murata, Hiroya Shike, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics
  
  巻: 58 号: SB ページ: SBBL03-SBBL03
- DOI
  10.7567/1347-4065/aaffc1
- NAID
  210000135422
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[雑誌論文] A high-sensitivity compact gas concentration sensor using ultraviolet light absorption with a heating function for a high-precision trimethyl aluminum gas supply system2019
- 著者名/発表者名
  Hidekazu Ishii, Masaaki Nagase, Nobukazu Ikeda, Yoshinobu Shiba, Yasuyuki Shirai, Rihito Kuroda, and Shigetoshi Sugawa
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics
  
  巻: 58 号: SB ページ: SBBL04-SBBL04
- DOI
  10.7567/1347-4065/aafe69
- NAID
  210000135401
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[雑誌論文] Over 100 million frames per second high speed global shutter CMOS image sensor2019
- 著者名/発表者名
  R. Kuroda, M. Suzuki, S. Sugawa
- 雑誌名
  
  Proceedings of SPIE
  
  巻: 11051 ページ: 12-12
- DOI
  10.1117/12.2524492
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[雑誌論文] A Highly Robust Silicon Ultraviolet Selective Radiation Sensor Using Differential Spectral Response Method2019
- 著者名/発表者名
  Yhang Ricardo Sipauba Carvalho da Silva, Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
- 雑誌名
  
  Sensors
  
  巻: 19 号: 12 ページ: 2755-2755
- DOI
  10.3390/s19122755
- 査読あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[雑誌論文] High Speed and Narrow-Bandpass Liquid Crystal Filter for Real-Time Multi Spectral Imaging Systems2018
- 著者名/発表者名
  Kohei Terashima, Kazuhiro Wako, Yasuyuki Fujihara, Yusuke Aoyagi, Maasa Murata, Yosei Shibata, Shigetoshi Sugawa, Takahiro Ishinabe, Rihito Kuroda, Hideo Fujikake
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Electronics
  
  巻: E101.C 号: 11 ページ: 897-900
- DOI
  10.1587/transele.E101.C.897
- ISSN
  0916-8524, 1745-1353
- 年月日
  2018-11-01
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[雑誌論文] Statistical Analysis of Threshold Voltage Variation Using MOSFETs With Asymmetric Source and Drain2018
- 著者名/発表者名
  Shinya Ichino, Akinobu Teramoto, Rihito Kuroda, Takezo Mawaki, Tomoyuki Suwa, Shigetoshi Sugawa
- 雑誌名
  
  IEEE Electron Device Letters
  
  巻: 39 号: 12 ページ: 1836-1839
- DOI
  10.1109/led.2018.2874012
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[雑誌論文] [Papers] Statistical Analyses of Random Telegraph Noise in Pixel Source Follower with Various Gate Shapes in CMOS Image Sensor2018
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda, Akinobu Teramoto and Shigetoshi Sugawa
- 雑誌名
  
  ITE Transactions on Media Technology and Applications
  
  巻: 6 号: 3 ページ: 163-170
- DOI
  10.3169/mta.6.163
- NAID
  130007387394
- ISSN
  2186-7364
- 言語
  英語
- 査読あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[雑誌論文] Effect of drain current on appearance probability and amplitude of random telegraph noise in low-noise CMOS image sensors2018
- 著者名/発表者名
  Ichino S.、Mawaki T.、Teramoto A.、Kuroda R.、Rark H.、Wakshima S.、Goto T.、Suwa T.、Sugawa S.
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics
  
  巻: 57 号: 4S ページ: 04FF08-04FF08
- DOI
  10.7567/jjap.57.04ff08
- NAID
  210000148922
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245, KAKENHI-PROJECT-17H04921
[雑誌論文] [Papers] A Multi Spectral Imaging System with a 71dB SNR 190-1100 nm CMOS Image Sensor and an Electrically Tunable Multi Bandpass Filter2018
- 著者名/発表者名
  Yasuyuki Fujihara, Yusuke Aoyagi, Maasa Murata, Satoshi Nasuno, Shunichi Wakashima, Rihito Kuroda, Kohei Terashima, Takahiro Ishinabe, Hideo Fujikake, Kazuhiro Wako and Shigetoshi Sugawa
- 雑誌名
  
  ITE Transactions on Media Technology and Applications
  
  巻: 6 号: 3 ページ: 187-194
- DOI
  10.3169/mta.6.187
- NAID
  130007387396
- ISSN
  2186-7364
- 言語
  英語
- 査読あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921, KAKENHI-PROJECT-18J20657
[雑誌論文] Experimental investigation of localized stress-induced leakage current distribution in gate dielectrics using array test circuit2018
- 著者名/発表者名
  Park H.、Teramoto A.、Kuroda R.、Suwa T.、Sugawa S.
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics
  
  巻: 57 号: 4S ページ: 04FE11-04FE11
- DOI
  10.7567/jjap.57.04fe11
- NAID
  210000148908
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245, KAKENHI-PROJECT-17H04921
[雑誌論文] A high sensitivity 20Mfps CMOS image sensor with readout speed of 1Tpixel/sec for visualization of ultra-high speed phenomena2017
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
- 雑誌名
  
  Proceedings of SPIE
  
  巻: 10328 ページ: 1032802-1032802
- DOI
  10.1117/12.2270787
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245, KAKENHI-PROJECT-17H04921
[雑誌論文] Formation technology of flat surface with epitaxial growth on ion-implanted (100)-oriented Si surface of thin silicon-on-insulator2017
- 著者名/発表者名
  Furukawa K.、Teramoto A.、Kuroda R.、Suwa T.、Hashimoto K.、Sugawa S.、Suzuki D.、Chiba Y.、Ishii K.、Shimizu A.、Hasebe K.
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics
  
  巻: 56 号: 10 ページ: 105503-105503
- DOI
  10.7567/jjap.56.105503
- NAID
  210000148334
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245, KAKENHI-PROJECT-17H04921
[雑誌論文] Hole-Trapping Process at Al2O3/GaN Interface Formed by Atomic Layer Deposition2017
- 著者名/発表者名
  Teramoto A.、Saito M.、Suwa T.、Narita T.、Kuroda R.、Sugawa S.
- 雑誌名
  
  IEEE Electron Device Letters
  
  巻: 38 号: 9 ページ: 1309-1312
- DOI
  10.1109/led.2017.2734914
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[雑誌論文] Analysis and reduction of leakage current of 2 kV monolithic isolator with wide trench spiral isolation structure2016
- 著者名/発表者名
  Yusuke Takeuchi, Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics
  
  巻: 55 号: 4S ページ: 04EF07-04EF07
- DOI
  10.7567/jjap.55.04ef07
- NAID
  210000146330
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121, KAKENHI-PROJECT-15H02245
[雑誌論文] [Paper] A CMOS Image Sensor with 240 μV/e<sup>–</sup> Conversion Gain, 200 ke<sup>–</sup> Full Well Capacity, 190-1000 nm Spectral Response and High Robustness to UV light2016
- 著者名/発表者名
  Satoshi Nasuno, Shunichi Wakashima, Fumiaki Kusuhara, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
- 雑誌名
  
  ITE Transactions on Media Technology and Applications
  
  巻: 4 号: 2 ページ: 116-122
- DOI
  10.3169/mta.4.116
- NAID
  130005142728
- ISSN
  2186-7364
- 言語
  英語
- 査読あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121, KAKENHI-PROJECT-15H02245
[雑誌論文] [Paper] A High Quantum Efficiency High Readout Speed 1024 Pixel Ultraviolet-Visible-Near Infrared Waveband Photodiode Array2016
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda, Takahiro Akutsu, Yasumasa Koda, Kenji Takubo, Hideki Tominaga, Ryuta Hirose, Tomohiro Karasawa, Shigetoshi Sugawa
- 雑誌名
  
  ITE Transactions on Media Technology and Applications
  
  巻: 4 号: 2 ページ: 109-115
- DOI
  10.3169/mta.4.109
- NAID
  130005142727
- ISSN
  2186-7364
- 言語
  英語
- 査読あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121, KAKENHI-PROJECT-15H02245
[雑誌論文] Introduction of Atomically Flattening of Si Surface to Large-Scale Integration Process Employing Shallow Trench Isolation2016
- 著者名/発表者名
  Tetsuya Goto, Rihito Kuroda, Naoya Akagawa, Tomoyuki Suwa, Akinobu Teramoto, Xiang Li, Toshiki Obara, Daiki Kimoto, Shigetoshi Sugawa, Yutaka Kamata, Yuki Kumagai, and Katsuhiko Shibusawa
- 雑誌名
  
  ECS Journal of Solid State Science and Technology
  
  巻: 5 号: 2 ページ: P67-P72
- DOI
  10.1149/2.0221602jss
- 査読あり / 謝辞記載あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245, KAKENHI-PROJECT-26820121
[雑誌論文] [Paper] A 20Mfps Global Shutter CMOS Image Sensor with Improved Light Sensitivity and Power Consumption Performances2016
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda, Yasuhisa Tochigi, Ken Miyauchi, Tohru Takeda, Hidetake Sugo, Fan Shao, Shigetoshi Sugawa
- 雑誌名
  
  ITE Transactions on Media Technology and Applications
  
  巻: 4 号: 2 ページ: 149-154
- DOI
  10.3169/mta.4.149
- NAID
  130005142726
- ISSN
  2186-7364
- 言語
  英語
- 査読あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121, KAKENHI-PROJECT-15H02245
[雑誌論文] [Paper] Analysis and Reduction Technologies of Floating Diffusion Capacitance in CMOS Image Sensor for Photon-Countable Sensitivity2016
- 著者名/発表者名
  Fumiaki Kusuhara, Shunichi Wakashima, Satoshi Nasuno, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
- 雑誌名
  
  ITE Transactions on Media Technology and Applications
  
  巻: 4 号: 2 ページ: 91-98
- DOI
  10.3169/mta.4.91
- NAID
  130005142720
- ISSN
  2186-7364
- 言語
  英語
- 査読あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121, KAKENHI-PROJECT-15H02245
[雑誌論文] [Paper] Floating Capacitor Load Readout Operation for Small, Low Power Consumption and High S/N Ratio CMOS Image Sensors2016
- 著者名/発表者名
  Shunichi Wakashima, Fumiaki Kusuhara, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
- 雑誌名
  
  ITE Transactions on Media Technology and Applications
  
  巻: 4 号: 2 ページ: 99-108
- DOI
  10.3169/mta.4.99
- NAID
  130005142719
- ISSN
  2186-7364
- 言語
  英語
- 査読あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121, KAKENHI-PROJECT-15H02245
[雑誌論文] Low Temperature Atomically Flattening of Si Surface of Shallow Trench Isolation Pattern2015
- 著者名/発表者名
  T. Goto, R. Kuroda, T. Suwa, A. Teramoto, N. Akagawa, D. Kimoto, S. Sugawa, T. Ohmi, Y. Kamata, Y. Kumagai, and K. Shibusawa
- 雑誌名
  
  ECS Transactions
  
  巻: 66 号: 5 ページ: 285-292
- DOI
  10.1149/06605.0285ecst
- 査読あり / 謝辞記載あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245, KAKENHI-PROJECT-26820121
[雑誌論文] Analysis of breakdown voltage of area surrounded by multiple trench gaps in 4 kV monolithic isolator for communication network interface2015
- 著者名/発表者名
  Yusuke Takeuchi, Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics
  
  巻: 54 号: 4S ページ: 04DB01-04DB01
- DOI
  10.7567/jjap.54.04db01
- NAID
  210000144957
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24360129
[雑誌論文] Effect of Process Temperature of Al2O3 Atomic Layer Deposition Using Accurate Process Gasses Supply System2015
- 著者名/発表者名
  H. Sugita, Y. Koda, T. Suwa, R. Kuroda, T. Goto, H. Ishii, S. Yamashita, A. Teramoto, S. Sugawa, and T. Ohmi
- 雑誌名
  
  ECS Transactions
  
  巻: 66 号: 4 ページ: 305-314
- DOI
  10.1149/06604.0305ecst
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245, KAKENHI-PROJECT-26820121
[雑誌論文] Atomically flattening of Si surface of silicon on insulator and isolation-patterned wafers2015
- 著者名/発表者名
  Tetsuya Goto, Rihito Kuroda, Naoya Akagawa, Tomoyuki Suwa, Akinobu Teramoto, Xiang Li, Toshiki Obara, Daiki Kimoto, Shigetoshi Sugawa, Tadahiro Ohmi, Yutaka Kamata, Yuki Kumagai, and Katsuhiko Shibusawa
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics
  
  巻: 54 号: 4S ページ: 04DA04-04DA04
- DOI
  10.7567/jjap.54.04da04
- NAID
  210000144951
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22000010, KAKENHI-PROJECT-24360129, KAKENHI-PROJECT-26820121
[雑誌論文] Analysis of breakdown voltage of area surrounded by multiple trench gaps in 4 kV monolithic isolator for communication network interface2015
- 著者名/発表者名
  Yusuke Takeuchi, Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics
  
  巻: 54
- NAID
  210000144957
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121
[雑誌論文] Measurement and Analysis of Seismic Response in Semiconductor Manufacturing Equipment2015
- 著者名/発表者名
  Kaori Komoda, Masashi Sakuma, Masakazu Yata, Yoshio Yamazaki, Fuminobu Imaizumi, Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
- 雑誌名
  
  IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING
  
  巻: 28 号: 3 ページ: 289-296
- DOI
  10.1109/tsm.2015.2427807
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245, KAKENHI-PROJECT-26820121
[雑誌論文] Si image sensors with wide spectral response and high robustness to ultraviolet light exposure2014
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
- 雑誌名
  
  IEICE Electronics Express
  
  巻: 11 号: 10 ページ: 20142004-20142004
- DOI
  10.1587/elex.11.20142004
- NAID
  130004725750
- ISSN
  1349-2543
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24360129, KAKENHI-PROJECT-26820121
[雑誌論文] High Selectivity in Dry Etching of Silicon Nitride over Si Using a Novel Hydrofluorocarbon Etch Gas in a Microwave Excited Plasma for FinFET2014
- 著者名/発表者名
  Y. Nakao, T. Matsuo, A. Teramoto, H. Utsumi, K. Hashimoto, R. Kuroda, Y. Shirai, S. Sugawa, and T. Ohmi
- 雑誌名
  
  ECS Transactions
  
  巻: 61 号: 3 ページ: 29-37
- DOI
  10.1149/06103.0029ecst
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24360129, KAKENHI-PROJECT-26820121
[雑誌論文] Stress induced leakage current generated by hot-hole injection2013
- 著者名/発表者名
  Akinobu Teramoto, Hyeonwoo Park, Takuya Inatsuka, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa, Tadahiro Ohmi
- 雑誌名
  
  Microelectronic Engineering
  
  巻: 109 ページ: 298-301
- DOI
  10.1016/j.mee.2013.03.116
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24360129
[雑誌論文] On the Interface Flattening Effect and Gate Insulator Breakdown Characteristic of Radical Reaction Based Insulator Formation Technology2012
- 著者名/発表者名
  R. Kuroda, A. Teramoto, X. Li, T. Suwa, S. Sugawa, and T. Ohmi
- 雑誌名
  
  Jpn. J. Appl. Phys.
  
  巻: 51
- NAID
  210000140192
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[雑誌論文] On the Interface Flattening Effect and Gate Insulator Breakdown Characteristic of Radical Reaction Based Insulator Formation Technology2012
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics
  
  巻: 51 号: 2S ページ: 02BA01-02BA01
- DOI
  10.1143/jjap.51.02ba01
- NAID
  210000140192
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[雑誌論文] Recovery Characteristics of Anomalous Stress-Induced Leakage Current of 5. 6 nm Oxide Films2012
- 著者名/発表者名
  T. Inatsuka, Y. Kumagai, R. Kuroda, A. Teramoto, S. Sugawa and T. Ohmi
- 雑誌名
  
  Jpn. J. Appl. Phys.
  
  巻: 51
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[雑誌論文] A Test Circuit for Statistical Evaluation of p-n Junction Leakage Current and Its Noise2012
- 著者名/発表者名
  K. Abe, T. Fujisawa, H. Suzuki, S. Watabe, R. Kuroda, S. Sugawa, A. Teramoto and T. Ohmi
- 雑誌名
  
  IEEE Trans. Semicond. Manuf.
  
  巻: (印刷中)
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[雑誌論文] Different Properties of Erbium Silicides on Si(100)and Si(551)Orientation Surfaces2011
- 著者名/発表者名
  H. Tanaka, A. Teramoto, R. Kuroda, Y. Nakao, T. Suwa, K. Kawase, S. Sugawa and T. Ohmi
- 雑誌名
  
  ECS Trans.
  
  巻: 41 ページ: 365-373
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[雑誌論文] Analysis of the Low-Frequency Noise Reduction in Si(100)Metal. Oxide. Semiconductor Field-Effect Transistors2011
- 著者名/発表者名
  P. Gaubert, A. Teramoto, R. Kuroda, Y. Nakao, H. Tanaka, S. Sugawa, and T. Ohmi
- 雑誌名
  
  J. Appl. Phys.
  
  巻: 50
- NAID
  210000070258
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[雑誌論文] Impact of Channel Direction Dependent Low Field Hole Mobility on (100)Orientation Silicon Surface2011
- 著者名/発表者名
  R. Kuroda, A. Teramoto, S. Sugawa, and T. Ohmi
- 雑誌名
  
  Jpn. J. Appl. Phys.
  
  巻: 50
- NAID
  210000070260
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[雑誌論文] Highly Reliable Radical SiO_2 Films on Atomically Flat Silicon Surface Formed by Low Temperature Pure Ar Annealing2011
- 著者名/発表者名
  X. Li, R. Kuroda, T. Suwa, A. Teramoto, S. Sugawa and T. Ohmi
- 雑誌名
  
  Jpn. J. Appl. Phys.
  
  巻: 50
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[雑誌論文] Formation speed of atomically flat surface on Si (100)in ultra-pure argon2011
- 著者名/発表者名
  X. Li, A. Teramoto, T. Suwa, R. Kuroda, S. Sugawa, and T. Ohmi
- 雑誌名
  
  Microelec. Eng.
  
  巻: 88 ページ: 3133-3139
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[雑誌論文] Impact of Channel Direction Dependent Low Field Hole Mobility on (100) Orientation Silicon Surface2011
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda
- 雑誌名
  
  Japanese Journal of Applied Physics
  
  巻: 50 号: 4S ページ: 04DC03-04DC03
- DOI
  10.1143/jjap.50.04dc03
- NAID
  210000070260
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[雑誌論文] Gate SiO2 Film Integrity on Ultra-Pure Argon Anneal (100)Silicon Surface2011
- 著者名/発表者名
  A. Teramoto, X. Li, R. Kuroda, T. Suwa, S. Sugawa and T. Ohmi
- 雑誌名
  
  ECS Trans.
  
  巻: 41 ページ: 147-156
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[雑誌論文] Evaluation for Anomalous Stress-Induced Leakage Current of Gate SiO_2 Films Using Array Test Pattern2011
- 著者名/発表者名
  Y. Kumagai, A. Teramoto, T. Inatsuka, R. Kuroda, T. Suwa, S. Sugawa and T. Ohmi
- 雑誌名
  
  IEEE Trans. Electron Dev.
  
  巻: 58 ページ: 3307-3313
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[雑誌論文] Large-Scale Test Circuits for High-Speed and Highly Accurate Evaluation of Variability and Noise in Metal. Oxide. Semiconductor Field-Effect Transistor Electrical Characteristics2011
- 著者名/発表者名
  Y. Kumagai, K. Abe, T. Fujisawa, S. Watabe, R. Kuroda, N. Miyamoto, T. Suwa, A. Teramoto, S. Sugawa and T. Ohmi
- 雑誌名
  
  Jpn. J. Appl. Phys.
  
  巻: 50
- NAID
  210000071398
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[雑誌論文] Impact of Work Function Optimized S/D Silicide Contact for High Current Drivability CMOS2010
- 著者名/発表者名
  Y. Yukihisa, R. Kuroda, H. Tanaka, T. Isogai, A. Teramoto, S. Sugawa, and T. Ohmi
- 雑誌名
  
  ECS Trans.
  
  巻: 28 ページ: 315-324
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[雑誌論文] Atomically Flattening Technology at 850C^。 for Si(100)Surface2010
- 著者名/発表者名
  X. Li, T. Suwa, A. Teramoto, R. Kuroda, S. Sugawa, and T. Ohmi
- 雑誌名
  
  ECS Trans.
  
  巻: 28 ページ: 299-309
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[産業財産権] 受光デバイスおよび受光デバイスの信号読み出し方法2018
- 発明者名
  須川成利、黒田理人
- 権利者名
  国立大学法人東北大学
- 産業財産権種類
  特許
- 出願年月日
  2018
- 取得年月日
  2020
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[産業財産権] 光センサ及びその信号読み出し方法並びに固体撮像装置及びその信号読み出し方法2015
- 発明者名
  須川成利、黒田理人、若嶋駿一
- 権利者名
  国立大学法人東北大学
- 産業財産権種類
  特許
- 出願年月日
  2015
- 取得年月日
  2017
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] 高性能イメージセンサを用いたトマトの生理障害と品質の非破壊測定2022
- 著者名/発表者名
  青代香菜子・黒田理人・堀千秋・中山翔太・堀江駿斗・須川成利・金山喜則
- 学会等名
  園芸学会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21H04721
[学会発表] イメージング・デバイスの技術動向2020
- 著者名/発表者名
  黒田理人
- 学会等名
  日本学術振興会半導体界面制御技術第154委員会　第115回研究会
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] An Over 120dB Dynamic Range Linear Response Single Exposure CMOS Image Sensor with Two-stage Lateral Overflow Integration Trench Capacitors2020
- 著者名/発表者名
  Yasuyuki Fujihara, Maasa Murata, Shota Nakayama, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  Electronic Imaging 2020, Imaging Sensors and Systems 2020
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] Resistance Measurement Platform for Statistical Analysis of Next Generation Memory Materials2019
- 著者名/発表者名
  Takeru Maeda, Yuya Omura, Akinobu Teramoto, Rihito Kuroda, Tomoyuki Suwa, and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2019 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] 高SN比吸光イメージングによる真空チャンバー内ガス濃度分布計測2019
- 著者名/発表者名
  髙橋圭吾, シパウバカルバリオダシルバイヤンギリカルド, 沼尾直毅, 黒田理人, 藤原康行, 村田真麻, 石井秀和, 森本達郎, 諏訪智之, 寺本章伸, 須川成利
- 学会等名
  映像情報メディア学会技術報告・情報センシング研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] SN比CMOS吸光イメージセンサによる半導体プロセスチャンバー内ガス濃度分布計測2019
- 著者名/発表者名
  髙橋圭吾，Yhang Ricardo Sipauba Carvalho da Silva，黒田理人，藤原康行，村田真麻，石井秀和，森本達郎，諏訪智之，寺本章伸，須川成利
- 学会等名
  電子情報通信学会シリコン材料・デバイス研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] Advanced CMOS image sensor technologies for sensing applications in the era of IoT2019
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  The Sixth Symposium on Novel Optoelectronic Detection Technology and Application
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] 広光波長帯域・広ダイナミックレンジCMOSイメージセンサ2019
- 著者名/発表者名
  黒田理人
- 学会等名
  光とレーザーの科学技術フェア2019 究極を目指すイメージセンシングセミナー
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] A VGA Optical Filter-less CMOS Image Sensor with UV-selective and Visible Light Channels by Differential Spectral Response Pixels2019
- 著者名/発表者名
  Yhang Ricardo Sipauba Carvalho da Silva, Rihito Kuroda, and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2019 International Image Sensor Workshop
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] Real-time Multi-spectral Imaging System using Bluephase Liquid Crystal Fabry-Perot Tunable Filter2019
- 著者名/発表者名
  Takahiro Ishinabe, Kosuke Shinatake, Rihito Kuroda, Kazuhiro Wako, Yosei Shibata, Shigetoshi Sugawa, Hideo Fujikake
- 学会等名
  PhotonIcs & Electromagnetics Research Symposium (PIERS 2019)
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19H02187
[学会発表] 先進CMOS イメージセンサ開発へ向けたRTS ノイズの計測・解析技術2019
- 著者名/発表者名
  黒田理人
- 学会等名
  電子情報通信学会シリコン材料・デバイス研究会
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] 横型オーバーフロー蓄積トレンチ容量を有する飽和電子数2430万個・近赤外高感度CMOSイメージセンサ2019
- 著者名/発表者名
  村田真麻，黒田理人，藤原康行，大塚雄介，柴田　寛，柴口　拓，鎌田　浩，三浦規之，栗山尚也，須川成利
- 学会等名
  映像情報メディア学会技術報告・情報センシング研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] 0.1aFの検出精度を有するCMOS近接容量イメージセンサ2019
- 著者名/発表者名
  山本将大，黒田理人，鈴木　学，後藤哲也，羽森　寛，村上真一，安田俊朗，横道やよい，須川成利
- 学会等名
  映像情報メディア学会技術報告・情報センシング研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] Over 100 Million Frames per Second 368 Frames Global Shutter Burst CMOS Image Sensor with In-pixel Trench Capacitor Memory Array2019
- 著者名/発表者名
  Manabu Suzuki, Rihito Kuroda, and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2019 International Image Sensor Workshop
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] A 24.3Me- Full Well Capacity CMOS Image Sensor with Lateral Overflow Integration Trench Capacitor for High Precision Near Infrared Absorption Imaging2019
- 著者名/発表者名
  黒田理人
- 学会等名
  電気学会「ナノエレクトロニクス基盤ヘテロ集積化・応用技術調査専門委員会」
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] 高紫外光感度・高飽和CMOSイメージセンサを用いたサブppmオーダのオゾン水対流のイメージング2018
- 著者名/発表者名
  村田真麻, 藤原康行, 青柳雄介, 黒田理人, 須川成利
- 学会等名
  映像情報メディア学会技術報告・情報センシング研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] A CMOS Proximity Capacitance Image Sensor with 16μm Pixel Pitch, 0.1aF Detection Accuracy and 60 Frames Per Second2018
- 著者名/発表者名
  M. Yamamoto, R. Kuroda, M. Suzuki, T. Goto, H. Hamori, S. Murakami, T. Yasuda and S. Sugawa
- 学会等名
  2018 IEEE International Electron Devices Meeting
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] Dual Pixel Reset Voltage CMOS Image Sensor For High SNR Ultraviolet Light Absorption Spectral Imaging2018
- 著者名/発表者名
  Yusuke Aoyagi, Yasuyuki Fujihara, Maasa Murata, Hiroya Shike, Rihito Kuroda, and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2018 International Conference on Solid State Devices and Materials
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] High Sensitivity Compact Gas Concentration Sensor with Heating Function for High Precision Trimethyl Aluminum Gas Supply System2018
- 著者名/発表者名
  Hidekazu Ishii, Masaaki Nagase, Nobukazu Ikeda, Yoshinobu Shiba, Yasuyuki Shirai, Rihito Kuroda, and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2018 International Conference on Solid State Devices and Materials
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] High-speed multi-bandpass liquid-crystal filter using dual-frequency liquid crystal for real-time spectral imaging system2018
- 著者名/発表者名
  Takahiro Ishinabe, Kohei Terashima, Kazuhiro Wako, Yasuyuki Fujihara, Yusuke Aoyagi, Maasa Murata, Satoshi Nasuno, Shunichi Wakashima, Rihito Kuroda, Yosei Shibata, Shigetoshi Sugawa, Hideo Fujikake
- 学会等名
  SPIE PHOTONICS WEST 2018
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] RTS noise characterization and suppression for advanced2018
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda, Shinya Ichino, Takezo Mawaki, Tomoyuki Suwa, Akinobu Teramoto, and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  4th International Workshop on Image Sensors and Imaging Systems
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] Effects of Process Gases and Gate TiN Electrode during the Post Deposition Anneal to ALD-Al2O3 Dielectric Film2018
- 著者名/発表者名
  Masaya Saito, Akinobu Teramoto, Tomoyuki Suwa, Kenshi Nagumo, Yoshinobu Shiba, Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  American Vacuum Society 65th International Symposium & Exhibition
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] Improved Conductance Method for Interface Trap Density of ZrO2-Si interface2018
- 著者名/発表者名
  Hsin Jyun Lin, Akinobu Teramoto, Hiroshi Watanabe, Rihito Kuroda, Kota Umezawa, Kiichi Furukawa, and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2018 International Conference on Solid State Devices and Materials
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] High-speed multi-bandpass liquid-crystal filter using dual-frequency liquid crystal for real-time spectral imaging system2018
- 著者名/発表者名
  Takahiro Ishinabe, Kohei Terashima, Kazuhiro Wako, Yasuyuki Fujihara, Yusuke Aoyagi, Maasa Murata, Satoshi Nasuno, Shunichi Wakashima, Rihito Kuroda, Yosei Shibata, Shigetoshi Sugawa, Hideo Fujikake
- 学会等名
  SPIE PHOTONICS WEST 2018
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] 最高撮像速度5000万コマ/秒を有するプロトタイプグローバルシャッタ高速CMOSイメージセンサ2018
- 著者名/発表者名
  鈴木学, 鈴木将, 黒田理人, 須川成利
- 学会等名
  映像情報メディア学会技術報告・情報センシング研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] High Speed Global Shutter CMOS Image Sensors Toward Over 100Mfps2018
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda, Manabu Suzuki and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  Ultrafast imaging and particle tracking instrumentation and methods 2018
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] ソースとドレインが非対称のMOSFETを用いた電気的特性ばらつきの統計的解析2018
- 著者名/発表者名
  市野真也, 寺本章伸, 黒田理人, 間脇武蔵, 諏訪智之, 須川成利
- 学会等名
  シリコン材料・デバイス研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] 紫外－可視－近赤外光帯域・高感度イメージセンサと分光イメージングへの応用展開2018
- 著者名/発表者名
  黒田理人
- 学会等名
  光とレーザーの科学技術フェア2018　イメージセンサーオープンセミナー
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] Over 100Mfps high speed global shutter CMOS image sensor2018
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda, Manabu Suzuki and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  32nd International Congress on High-Speed Imaging and Photonics
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] バーストCDS動作を用いた撮影速度1億2500万コマ/秒の高速CMOSイメージセンサ2018
- 著者名/発表者名
  鈴木学, 黒田理人, 須川成利
- 学会等名
  映像情報メディア学会技術報告・情報センシング研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] A Preliminary Chip Evaluation toward Over 50Mfps Burst Global Shutter Stacked CMOS Image Sensor2018
- 著者名/発表者名
  Manabu Suzuki, Masashi Suzuki, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  IS&T International Symposium on Electronic Imaging 2018
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] 高速化・高感度化技術の今後2018
- 著者名/発表者名
  黒田理人
- 学会等名
  次世代画像入力ビジョンシステム部会・映像情報メディア学会共催公開講演会『イメージセンサ３０年の進歩と更なる発展』
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] 最高撮像速度5000万コマ/秒を有するプロトタイプグローバルシャッタ高速CMOSイメージセンサ2018
- 著者名/発表者名
  鈴木学, 鈴木将, 黒田理人, 須川成利
- 学会等名
  映像情報メディア学会技術報告・情報センシング研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] A Preliminary Chip Evaluation toward Over 50Mfps Burst Global Shutter Stacked CMOS Image Sensor2018
- 著者名/発表者名
  Manabu Suzuki, Masashi Suzuki, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  IS&T International Symposium on Electronic Imaging 2018
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] A 24.3Me- Full Well Capacity CMOS Image Sensor with Lateral Overflow Integration Trench Capacitor for High Precision Near Infrared Absorption Imaging2018
- 著者名/発表者名
  M. Murata, R. Kuroda, Y. Fujihara, Y. Aoyagi, H. Shibata, T. Shibaguchi, Y. Kamata, N. Miura, N. Kuriyama and S. Sugawa
- 学会等名
  2018 IEEE International Electron Devices Meeting
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] 高速化・高感度化技術の今後2018
- 著者名/発表者名
  黒田理人
- 学会等名
  次世代画像入力ビジョンシステム部会・映像情報メディア学会共催公開講演会『イメージセンサ３０年の進歩と更なる発展』
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] 局所的ストレス誘起ゲートリーク電流の統計的分布の解析とSi表面平坦化工程による低減2017
- 著者名/発表者名
  朴賢雨, 黒田理人, 後藤哲也, 諏訪智之, 寺本章伸, 木本大幾, 須川成利
- 学会等名
  電子情報通信学会・シリコン材料・デバイス研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] 撮像速度1000万コマ/秒を超える高速度CMOSイメージセンサの高感度化・多記録枚数化2017
- 著者名/発表者名
  黒田理人
- 学会等名
  次世代画像入力ビジョンシステム部会第171回定例会
- 発表場所
  東京理科大学森戸記念館（東京都・新宿区）
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] Impact of Drain Current to Appearance Probability and Amplitude of Random Telegraph Noise in Low Noise CMOS Image Sensors2017
- 著者名/発表者名
  Shinya Ichino, Takezo Mawaki, Akinobu Teramoto, Rihito Kuroda, Hyeonwoo Park, Takeru Maeda, Shunichi Wakashima, Tetsuya Goto, Tomoyuki Suwa, Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2017 International Conference on Solid State Devices and Materials
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] 紫外吸光とチャージアンプ回路を用いた高感度・小型リアルタイムガス濃度計2017
- 著者名/発表者名
  石井秀和, 永瀬正明, 池田信一, 志波良信, 白井泰雪, 黒田理人, 須川成利
- 学会等名
  電子情報通信学会・シリコン材料・デバイス研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] Impact of Random Telegraph Noise with Various Time Constants and Number of States in CMOS Image Sensors2017
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda, Akinobu Teramoto, Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2017 International Image Sensor Workshop
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] 画素SFで発生するランダムテレグラフノイズの統計的解析～トランジスタ形状・時定数・遷移数の影響～2017
- 著者名/発表者名
  黒田理人, 寺本章伸, 市野真也, 間脇武蔵, 若嶋駿一, 須川成利
- 学会等名
  映像情報メディア学会技術報告・情報センシング研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] Experimental Investigation of Localized Stress Induced Leakage Current Distribution in Gate Dielectrics Using Array Test Circuit2017
- 著者名/発表者名
  Hyeonwoo Park, Tomoyuki Suwa, Rihito Kuroda, Akinobu Teramoto, Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2017 International Conference on Solid State Devices and Materials
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] 高密度アナログメモリを搭載した超高速グローバルシャッタCMOSイメージセンサ2017
- 著者名/発表者名
  鈴木学, 鈴木将, 黒田理人, 熊谷勇喜, 千葉亮, 三浦規之, 栗山尚也, 須川成利
- 学会等名
  映像情報メディア学会技術報告・情報センシング研究会
- 発表場所
  NHK放送技術研究所（東京都・世田谷区）
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] 局所的ストレス誘起ゲートリーク電流の統計的分布の解析とSi表面平坦化工程による低減2017
- 著者名/発表者名
  朴賢雨, 黒田理人, 後藤哲也, 諏訪智之, 寺本章伸, 木本大幾, 須川成利
- 学会等名
  電子情報通信学会・シリコン材料・デバイス研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] Statistical Analysis of Random Telegraph Noise in Source Follower Transistors with Various Shapes2017
- 著者名/発表者名
  Shinya Ichino, Takezo Mawaki, Shunichi Wakashima, Akinobu Teramoto, Rihito Kuroda, Phillipe Gaubert, Tetsuya Goto, Tomoyuki Suwa, Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2017 International Image Sensor Workshop
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] 撮像速度1000万コマ／秒を超える高速度CMOSイメージセンサ技術の進展2017
- 著者名/発表者名
  黒田理人, 鈴木学, 鈴木将, 須川成利
- 学会等名
  高速度イメージングとフォトニクスに関する総合シンポジウム2017
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] Impact of SiO2/Si Interface Micro-roughness on SILC Distribution and Dielectric Breakdown: A Comparative Study with Atomically Flattened Devices2017
- 著者名/発表者名
  Hyeonwoo Park, Tetsuya Goto, Rihito Kuroda, Akinobu Teramoto, Tomoyuki Suwa, Daiki Kimoto, Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  International Reliability Physics Symposium 2017
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] Analysis of Random Telegraph Noise Behaviors of nMOS and pMOS toward Back Bias Voltage Changing2017
- 著者名/発表者名
  Takezo Mawaki, Akinobu Teramoto, Rihito Kuroda, Shinya Ichino, Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2017 International Conference on Solid State Devices and Materials
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] 紫外吸光とチャージアンプ回路を用いた高感度・小型リアルタイムガス濃度計2017
- 著者名/発表者名
  石井秀和, 永瀬正明, 池田信一, 志波良信, 白井泰雪, 黒田理人, 須川成利
- 学会等名
  電子情報通信学会・シリコン材料・デバイス研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] SNR 70dB超のCMOSイメージセンサと半値幅10nmのチューナブルマルチバンドパスフィルタを用いた分光イメージングシステム2017
- 著者名/発表者名
  青柳雄介, 藤原康行, 村田真麻, 那須野悟史, 若嶋駿一, 黒田理人, 寺島康平, 石鍋隆宏, 藤掛英夫, 若生一広, 須川成利
- 学会等名
  映像情報メディア学会技術報告・情報センシング研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] Spectral Absorption Imaging with an Over 70dB SNR CMOS Image Sensor2017
- 著者名/発表者名
  Maasa Murata, Yasuyuki Fujihara, Yusuke Aoyagi, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  電気関係学会東北支部連合大会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] Atomically flat interface for noise reduction in SOI-MOSFETs2017
- 著者名/発表者名
  Gaubert P.、Kircher A.、Park H.、Kuroda R.、Sugawa S.、Goto T.、Suwa T.、Teramoto A.
- 学会等名
  2017 International Conference on Noise and Fluctuations
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] Narrow-Bandpass Liquid Crystal Filter for Real-Time Multi Spectral Imaging Systems2017
- 著者名/発表者名
  Kohei Terashima, Takahiro Ishinabe, Kazuo Wako, Yasuyuki Fujihara, Yusuke Aoyagi, Maasa Murata, Satoshi Nasuno, Shunichi Wakashima, Rihito Kuroda, Yosei Shibata, Shigetoshi Sugawa, Hideo Fujikake
- 学会等名
  International Display Workshops
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] 広光波長帯域イメージセンサ技術と分光イメージングへの展開2017
- 著者名/発表者名
  黒田理人
- 学会等名
  次世代画像入力ビジョンシステム部会第170回定例会「次世代イメージセンサと新技術の展開」
- 発表場所
  東京理科大学森戸記念館（東京都・新宿区）
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] Impact of SiO2/Si Interface Micro-roughness on SILC Distribution and Dielectric Breakdown: A Comparative Study with Atomically Flattened Devices2017
- 著者名/発表者名
  Hyeonwoo Park, Tetsuya Goto, Rihito Kuroda, Akinobu Teramoto, Tomoyuki Suwa, Daiki Kimoto, Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  International Reliability Physics Symposium 2017
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] Impact of Drain Current to Appearance Probability and Amplitude of Random Telegraph Noise in Low Noise CMOS Image Sensors2017
- 著者名/発表者名
  Shinya Ichino, Takezo Mawaki, Akinobu Teramoto, Rihito Kuroda, Hyeonwoo Park, Takeru Maeda, Shunichi Wakashima, Tetsuya Goto, Tomoyuki Suwa, Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2017 International Conference on Solid State Devices and Materials
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] Narrow-Bandpass Liquid Crystal Filter for Real-Time Multi Spectral Imaging Systems2017
- 著者名/発表者名
  Kohei Terashima, Takahiro Ishinabe, Kazuo Wako, Yasuyuki Fujihara, Yusuke Aoyagi, Maasa Murata, Satoshi Nasuno, Shunichi Wakashima, Rihito Kuroda, Yosei Shibata, Shigetoshi Sugawa, Hideo Fujikake
- 学会等名
  International Display Workshops
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] Impact of Random Telegraph Noise with Various Time Constants and Number of States in CMOS Image Sensors2017
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda, Akinobu Teramoto, Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2017 International Image Sensor Workshop
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] リアルタイム分光イメージングシステム用の高速ナローバンドパス液晶フィルタ2017
- 著者名/発表者名
  寺島康平, 石鍋隆宏, 若生一広, 藤原康行, 青柳雄介, 村田真麻, 那須野悟史, 若嶋駿一, 黒田理人, 柴田陽生, 須川成利, 藤掛英夫
- 学会等名
  Optics & Photonics Japan 2017
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] 高精度アレイテスト回路計測技術を用いたソースフォロアトランジスタの動作条件変化によるランダムテレグラフノイズの挙動解析2017
- 著者名/発表者名
  市野真也, 間脇武蔵, 寺本章伸, 黒田理人, 若嶋駿一, 須川成利
- 学会等名
  電子情報通信学会・シリコン材料・デバイス研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] 高精度アレイテスト回路計測技術を用いたソースフォロアトランジスタの動作条件変化によるランダムテレグラフノイズの挙動解析2017
- 著者名/発表者名
  市野真也, 間脇武蔵, 寺本章伸, 黒田理人, 若嶋駿一, 須川成利
- 学会等名
  電子情報通信学会・シリコン材料・デバイス研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] 10Mfps 960 Frames Video Capturing Using a UHS Global Shutter CMOS Image Sensor with High Density Analog Memories2017
- 著者名/発表者名
  Manabu Suzuki, Masashi Suzuki, Rihito Kuroda, Yuki Kumagai, Akira Chiba, Noriyuki Miura, Naoya Kuriyama, Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2017 International Image Sensor Workshop
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] リアルタイム分光イメージングシステム用の高速ナローバンドパス液晶フィルタ2017
- 著者名/発表者名
  寺島康平, 石鍋隆宏, 若生一広, 藤原康行, 青柳雄介, 村田真麻, 那須野悟史, 若嶋駿一, 黒田理人, 柴田陽生, 須川成利, 藤掛英夫
- 学会等名
  Optics & Photonics Japan 2017
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] 急峻pn接合Siダイオード技術を用いた高感度・高速性能低加速電圧電子線検出器2017
- 著者名/発表者名
  黒田理人, 幸田安真, 原昌也, 角田博之, 須川成利
- 学会等名
  映像情報メディア学会技術報告・情報センシング研究会
- 発表場所
  NHK放送技術研究所（東京都・世田谷区）
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] SNR 70dB超のCMOSイメージセンサと半値幅10nmのチューナブルマルチバンドパスフィルタを用いた分光イメージングシステム2017
- 著者名/発表者名
  青柳雄介, 藤原康行, 村田真麻, 那須野悟史, 若嶋駿一, 黒田理人, 寺島康平, 石鍋隆宏, 藤掛英夫, 若生一広, 須川成利
- 学会等名
  映像情報メディア学会技術報告・情報センシング研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] Statistical Analysis of Random Telegraph Noise in Source Follower Transistors with Various Shapes2017
- 著者名/発表者名
  Shinya Ichino, Takezo Mawaki, Shunichi Wakashima, Akinobu Teramoto, Rihito Kuroda, Phillipe Gaubert, Tetsuya Goto, Tomoyuki Suwa, Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2017 International Image Sensor Workshop
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] A Spectral Imaging System with an Over 70dB SNR CMOS Image Sensor and Electrically Tunable 10nm FWHM Multi-Bandpass Filter2017
- 著者名/発表者名
  Yasuyuki Fujihara, Yusuke Aoyagi, Satoshi Nasuno, Shunichi Wakashima, Rihito Kuroda, Kohei Terashima, Takahiro Ishinabe, Hideo Fujikake, Kazuhiro Wako, Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2017 International Image Sensor Workshop
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] Atomically flat interface for noise reduction in SOI-MOSFETs2017
- 著者名/発表者名
  Gaubert P.、Kircher A.、Park H.、Kuroda R.、Sugawa S.、Goto T.、Suwa T.、Teramoto A.
- 学会等名
  2017 International Conference on Noise and Fluctuations
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] Experimental Investigation of Localized Stress Induced Leakage Current Distribution in Gate Dielectrics Using Array Test Circuit2017
- 著者名/発表者名
  Hyeonwoo Park, Tomoyuki Suwa, Rihito Kuroda, Akinobu Teramoto, Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2017 International Conference on Solid State Devices and Materials
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] 画素SFで発生するランダムテレグラフノイズの統計的解析～トランジスタ形状・時定数・遷移数の影響～2017
- 著者名/発表者名
  黒田理人, 寺本章伸, 市野真也, 間脇武蔵, 若嶋駿一, 須川成利
- 学会等名
  映像情報メディア学会技術報告・情報センシング研究会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] 撮像速度1000万コマ／秒を超える高速度CMOSイメージセンサ技術の進展2017
- 著者名/発表者名
  黒田理人, 鈴木学, 鈴木将, 須川成利
- 学会等名
  高速度イメージングとフォトニクスに関する総合シンポジウム2017
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] A Spectral Imaging System with an Over 70dB SNR CMOS Image Sensor and Electrically Tunable 10nm FWHM Multi-Bandpass Filter2017
- 著者名/発表者名
  Yasuyuki Fujihara, Yusuke Aoyagi, Satoshi Nasuno, Shunichi Wakashima, Rihito Kuroda, Kohei Terashima, Takahiro Ishinabe, Hideo Fujikake, Kazuhiro Wako, Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2017 International Image Sensor Workshop
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] 10Mfps 960 Frames Video Capturing Using a UHS Global Shutter CMOS Image Sensor with High Density Analog Memories2017
- 著者名/発表者名
  Manabu Suzuki, Masashi Suzuki, Rihito Kuroda, Yuki Kumagai, Akira Chiba, Noriyuki Miura, Naoya Kuriyama, Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2017 International Image Sensor Workshop
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17H04921
[学会発表] Analysis of Random Telegraph Noise Behaviors of nMOS and pMOS toward Back Bias Voltage Changing2017
- 著者名/発表者名
  Takezo Mawaki, Akinobu Teramoto, Rihito Kuroda, Shinya Ichino, Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2017 International Conference on Solid State Devices and Materials
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] Spectral Absorption Imaging with an Over 70dB SNR CMOS Image Sensor2017
- 著者名/発表者名
  Maasa Murata, Yasuyuki Fujihara, Yusuke Aoyagi, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  電気関係学会東北支部連合大会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] 画素毎の接続を有する3次元積層を用いた先進グローバルシャッタCMOSイメージセンサ技術2016
- 著者名/発表者名
  黒田理人
- 学会等名
  SEMICON Japan2016 TechSTAGE・STS 先端デバイス・プロセスセッション(2)
- 発表場所
  東京ビッグサイト（東京都・江東区）
- 年月日
  2016-12-14
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] An Over 1Mfps Global Shutter CMOS Image Sensor with 480 Frame Storage Using Vertical Analog Memory Integration2016
- 著者名/発表者名
  Manabu Suzuki, Masashi Suzuki, Rihito Kuroda, Yuki Kumagai, Akira Chiba, Noriyuki Miura, Naoya Kuriyama, Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2016 IEEE International Electron Devices Meeting
- 発表場所
  San Francisco, USA
- 年月日
  2016-12-05
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] A High Sensitivity Compact Gas Concentration Sensor using UV Light and Charge Amplifier Circuit2016
- 著者名/発表者名
  Hidekazu Ishii, Masaaki Nagase, Nobukazu Ikeda,Yoshinobu Shiba, Yasuyuki Shirai, Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  IEEE Sensors 2016
- 発表場所
  Orlando, USA
- 年月日
  2016-10-30
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] 190-1100 nm Waveband Multispectral Imaging System using High Light Resistance Wide Dynamic Range CMOS Image Sensor2016
- 著者名/発表者名
  Yasuyuki Fujihara, Satoshi Nasuno, Shunichi Wakashima, Yusuke Aoyagi, Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  IEEE Sensors 2016
- 発表場所
  Orlando, USA
- 年月日
  2016-10-30
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] CMOSイメージセンサの高速化・高感度化・広光波長帯域化技術2016
- 著者名/発表者名
  黒田理人, 須川成利
- 学会等名
  第191回研究集会シリコンテクノロジー分科会ナノ・接合技術研究会「接合技術の新展開」
- 発表場所
  宝塚大学梅田キャンパス（大阪府・大阪市）
- 年月日
  2016-02-28
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] Wide dynamic range LOFIC CMOS image sensors: principle, achievements and extendibility2016
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  International Forum on Detectors for Photon Science
- 発表場所
  富士ビューホテル（山梨県・富士河口湖町）
- 年月日
  2016-02-29
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121
[学会発表] 190-1100 nm waveband multispectral imaging system using high UV-light resistance 94dB dynamic range CMOS image sensor2016
- 著者名/発表者名
  Yasuyuki Fujihara, Satoshi Nasuno, Shunichi Wakashima, Yusuke Aoyagi, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  3rd International Workshop on Image Sensors and Imaging Systems
- 発表場所
  東京工業大学田町キャンパス（東京都・港区）
- 年月日
  2016-11-17
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] On-Chip Optical Filter Technology with Low Extinction Coefficient SiN for Ultraviolet-Visible-Near Infrared Light Waveband Spectral Imaging2016
- 著者名/発表者名
  Yasumasa Koda, Yhang Ricardo Sipauba Carvalho da Silva, Loic Julien, Daisuke Sawada, Tetsuya Goto, Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2016 Asia-Pacific Workshop on Fundamentals and Applications of Advanced Semiconductor Devices
- 発表場所
  函館国際ホテル（北海道・函館市）
- 年月日
  2016-07-04
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] Random Telegraph Noise Measurement and Analysis based on Arrayed Test Circuit toward High S/N CMOS Image Sensors2016
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda, Akinobu Teramoto and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  29th IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
- 発表場所
  メルパルク横浜（神奈川県・横浜市）
- 年月日
  2016-03-28
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121
[学会発表] A Dead-time free global shutter stacked CMOS image sensor with in-pixel LOFIC and ADC using pixel-wise connections2016
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda, Hidetake Sugo, Shunichi Wakashima, Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  3rd International Workshop on Image Sensors and Imaging Systems
- 発表場所
  東京工業大学田町キャンパス（東京都・港区）
- 年月日
  2016-11-17
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] A High Sensitivity 20Mfps CMOS Image Sensor with Readout speed of 1Tpixel/sec for Visualization of Ultra-high Speed Phenomena2016
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  The 31st International Congress on High-speed Imaging and Photonics
- 発表場所
  ホテル阪急エキスポパーク（大阪府・吹田市）
- 年月日
  2016-11-07
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] Dynamic Response of Random Telegraph Noise Time Constants toward Bias Voltage Changing2016
- 著者名/発表者名
  T. Mawaki, A. Teramoto, S. Ichino, R. Kuroda, T. Goto, T. Suwa, S. Sugawa
- 学会等名
  平成28年度電気関係学会東北支部連合大会
- 発表場所
  東北工業大学八木山キャンパス（宮城県・仙台市）
- 年月日
  2016-08-30
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] 画素毎の接続を用いた画素内に横型オーバーフロー蓄積容量およびAD変換器を有する露光時間途切れのないグローバルシャッタ積層型CMOSイメージセンサ2016
- 著者名/発表者名
  黒田理人, 須郷秀武, 若嶋駿一, 須川成利
- 学会等名
  映像情報メディア学会技術報告・情報センシング研究会
- 発表場所
  機会振興会館（東京都・港区）
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] CMOSイメージセンサの高速化・高感度化・広光波長帯域化技術2016
- 著者名/発表者名
  黒田理人, 須川成利
- 学会等名
  第191回研究集会シリコンテクノロジー分科会ナノ・接合技術研究会「接合技術の新展開(応用物理学会シリコンテクノロジー分科会)
- 発表場所
  宝塚大学梅田キャンパス（大阪府・大阪市）
- 年月日
  2016-02-27
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121
[学会発表] Random Telegraph Noise Measurement and Analysis based on Arrayed Test Circuit toward High S/N CMOS Image Sensors2016
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda, Akinobu Teramoto and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  29th IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
- 発表場所
  メルパルク横浜（神奈川県・横浜市）
- 年月日
  2016-03-28
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] A Dead-time Free Global Shutter CMOS Image Sensor with in-pixel LOFIC and ADC using Pixel-wise Connections2016
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda, Hidetake Sugo, Shunichi Wakashima, and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  Symposium on VLSI Circuits 2016報告会
- 発表場所
  神戸大学・梅田インテリジェントラボラトリ（大阪府・大阪市）
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] A Dead-time Free Global Shutter CMOS Image Sensor with in-pixel LOFIC and ADC using Pixel-wise Connection2016
- 著者名/発表者名
  Hidetake Sugo, Shunichi Wakashima, Rihito Kuroda, Yuichiro Yamashita, Hirofumi Sumi, Tzu-Jui Wang, Po-Sheng Chou, Ming -Chieh Hsu and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2016 Symposium on VLSI Circuits
- 発表場所
  Honolulu, USA
- 年月日
  2016-06-15
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] 動作電圧変化時の過渡状態におけるランダムテレグラフノイズの挙動に関する研究2016
- 著者名/発表者名
  間脇武蔵, 寺本章伸, 黒田理人, 市野真也, 後藤哲也, 諏訪智之, 須川成利
- 学会等名
  電子情報通信学会技術研究報告・シリコン材料・デバイス研究会
- 発表場所
  東北大学青葉山キャンパス（宮城県・仙台市）
- 年月日
  2016-10-26
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] Wide dynamic range LOFIC CMOS image sensors: principle, achievements and extendibility2016
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  International Forum on Detectors for Photon Science
- 発表場所
  富士ビューホテル（山梨県・富士河口湖町）
- 年月日
  2016-02-29
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] A 20Mfps Global Shutter CMOS Image Sensor with Improved Sensitivity and Power Consumption2015
- 著者名/発表者名
  Shigetoshi Sugawa, Rihito Kuroda, Tohru Takeda, Fan Shao, Ken Miyauchi and Yasuhisa Tochigi
- 学会等名
  2015 INTERNATIONAL IMAGE SENSOR WORKSHOP
- 発表場所
  Vaals, Netherlands
- 年月日
  2015-06-08
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] A CMOS Image Sensor with 240μV/e- Conversion Gain, 200ke- Full Well Capacity and 190-1000nm Spectral Response2015
- 著者名/発表者名
  Satoshi Nasuno, Shunichi Wakashima, Fumiaki Kusuhara, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2015 INTERNATIONAL IMAGE SENSOR WORKSHOP
- 発表場所
  Vaals, Netherlands
- 年月日
  2015-06-08
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] An Ultraviolet Radiation Sensor Using Differential Spectral Response of Silicon Photodiodes2015
- 著者名/発表者名
  Yhang Ricardo Sipauba Carvalho da Silva, Yasumasa Koda, Satoshi Nasuno, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  IEEE Sensors 2015
- 発表場所
  Busan, South Korea
- 年月日
  2015-11-01
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121
[学会発表] ゲート絶縁膜/Si界面の原子オーダー平坦化によるランダムテレグラフノイズ低減効果2015
- 著者名/発表者名
  黒田理人, 後藤哲也, 赤川直也, 木本大幾, 寺本章伸, 須川成利
- 学会等名
  映像情報メディア学会技術報告　情報センシング研究会
- 発表場所
  東京理科大学森戸記念館（東京都・新宿区）
- 年月日
  2015-05-08
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] 電荷電圧変換ゲイン240uV/e-、飽和電子数200ke-、感度波長帯域190-1000nmを有するCMOSイメージセンサ2015
- 著者名/発表者名
  那須野悟史, 若嶋駿一, 楠原史章, 黒田理人, 須川成利
- 学会等名
  映像情報メディア学会技術報告　情報センシング研究会
- 発表場所
  機会振興会館（東京都・港区）
- 年月日
  2015-09-18
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] A CMOS Image Sensor with 240μV/e- Conversion Gain, 200ke- Full Well Capacity and 190-1000nm Spectral Response2015
- 著者名/発表者名
  Satoshi Nasuno, Shunichi Wakashima, Fumiaki Kusuhara, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2015 INTERNATIONAL IMAGE SENSOR WORKSHOP
- 発表場所
  Vaals, Netherlands
- 年月日
  2015-06-08
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121
[学会発表] Effect of Process Temperature of Al2O3 Atomic Layer Deposition Using Accurate Process Gasses Supply System2015
- 著者名/発表者名
  Hisaya Sugita, Yasukasa Koda, Tomoyuki Suwa, Rihito Kuroda, Tetsuya Goto, Hidekazu Ishii, Satoru Yamashita, Akinobu Teramoto, Shigetoshi Sugawa, and Tadahiro Ohmi
- 学会等名
  227th Meeting of The Electrochemical Society
- 発表場所
  Chicago, USA
- 年月日
  2015-05-24
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] UV/VIS/NIR imaging technologies: challenges and opportunities2015
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2015 SPIE Sensing Technology + Applications
- 発表場所
  Baltimore, USA
- 年月日
  2015-04-20
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121
[学会発表] Analysis and Reduction of Floating Diffusion Capacitance Components of CMOS Image Sensor for Photon-Countable Sensitivity2015
- 著者名/発表者名
  Fumiaki Kusuhara, Shunichi Wakashima, Satoshi Nasuno, Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2015 INTERNATIONAL IMAGE SENSOR WORKSHOP
- 発表場所
  Vaals, Netherlands
- 年月日
  2015-06-08
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121
[学会発表] Low Temperature Atomically Flattening of Si Surface of Shallow Trench Isolation Pattern2015
- 著者名/発表者名
  Tetsuya Goto, Rihito Kuroda, Tomoyuki Suwa, Akinobu Teramoto, Naoya Akagawa, Daiki Kimoto, Shigetoshi Sugawa, Tadahiro Ohmi, Yutaka Kamata, Yuki Kumagai and Katsuhiko Shibusawa
- 学会等名
  227th Meeting of The Electrochemical Society
- 発表場所
  Chicago, USA
- 年月日
  2015-05-24
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] フローティングディフュージョン容量成分の解析・低減技術と高感度・高飽和CMOSイメージセンサへの適用2015
- 著者名/発表者名
  楠原史章, 若嶋駿一, 那須野悟史, 黒田理人, 須川成利
- 学会等名
  映像情報メディア学会技術報告　情報センシング研究会
- 発表場所
  機会振興会館（東京都・港区）
- 年月日
  2015-09-18
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] Electrical Properties of MOSFETs Introducing Atomically Flat Gate Insulator/Silicon Interface2015
- 著者名/発表者名
  Tetsuya GOTO, Rihito KURODA, Tomoyuki SUWA, Akinobu TERAMOTO, Toshiki OBARA, Daiki KIMOTO
- 学会等名
  電子情報通信学会　シリコン材料・デバイス研究会
- 発表場所
  東北大学青葉山キャンパス（宮城県・仙台市）
- 年月日
  2015-10-29
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] A 80% QE High Readout Speed 1024 Pixel Linear Photodiode Array for UV-VIS-NIR Spectroscopy2015
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda, Takahiro Akutsu, Yasumasa Koda, Kenji Takubo, Hideki Tominaga, Ryuuta Hirose, Tomohiro Karasawa and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2015 INTERNATIONAL IMAGE SENSOR WORKSHOP
- 発表場所
  Vaals, Netherlands
- 年月日
  2015-06-08
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121
[学会発表] Effect of Process Temperature of Al2O3 Atomic Layer Deposition Using Accurate Process Gasses Supply System2015
- 著者名/発表者名
  Hisaya Sugita, Yasukasa Koda, Tomoyuki Suwa, Rihito Kuroda, Tetsuya Goto, Hidekazu Ishii, Satoru Yamashita, Akinobu Teramoto, Shigetoshi Sugawa, and Tadahiro Ohmi
- 学会等名
  227th Meeting of The Electrochemical Society
- 発表場所
  Chicago, USA
- 年月日
  2015-05-24
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121
[学会発表] A Linear Response Single Exposure CMOS Image Sensor with 0.5e- Readout Noise and 76ke- Full Well Capacity2015
- 著者名/発表者名
  Shunichi Wakashima, Fumiaki Kusuhara, Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2015 SYMPOSIUM ON VLSI CIRCUITS
- 発表場所
  リーガロイヤルホテル京都（京都府・京都市）
- 年月日
  2015-06-15
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121
[学会発表] Electrical Properties of MOSFETs Introducing Atomically Flat Gate Insulator/Silicon Interface2015
- 著者名/発表者名
  Tetsuya Goto, Rihito Kuroda, Tomoyuki Suwa, Akinobu Teramoto, Toshiki Obara, Daiki Kimoto, Shigetoshi Sugawa, Yutaka Kamata, Yuki Kumagai, Katsuhiko Shibusawa
- 学会等名
  電子情報通信学会　シリコン材料デバイス研究会
- 発表場所
  東北大学青葉山キャンパス（宮城県・仙台市）
- 年月日
  2015-10-29
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121
[学会発表] Low Temperature Atomically Flattening of Si Surface of Shallow Trench Isolation Pattern2015
- 著者名/発表者名
  Tetsuya Goto, Rihito Kuroda, Tomoyuki Suwa, Akinobu Teramoto, Naoya Akagawa, Daiki Kimoto, Shigetoshi Sugawa, Tadahiro Ohmi, Yutaka Kamata, Yuki Kumagai and Katsuhiko Shibusawa
- 学会等名
  227th Meeting of The Electrochemical Society
- 発表場所
  Chicago, USA
- 年月日
  2015-05-24
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121
[学会発表] A Linear Response Single Exposure CMOS Image Sensor with 0.5e- Readout Noise and 76ke- Full Well Capacity2015
- 著者名/発表者名
  Shunichi Wakashima, Fumiaki Kusuhara, Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2015 SYMPOSIUM ON VLSI CIRCUITS
- 発表場所
  リーガロイヤルホテル京都（京都府・京都市）
- 年月日
  2015-06-15
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] Advanced CMOS Image Sensor Development2015
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda
- 学会等名
  Tohoku Univ. - imec Seminar 2015 Sendai Symposium on Analytical Science 2015 Joint Seminar on "Unobtrusive Sensing & Daily Health Screening"
- 発表場所
  東北大学青葉山キャンパス（宮城県・仙台市）
- 年月日
  2015-11-13
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121
[学会発表] A 80% QE High Readout Speed 1024 Pixel Linear Photodiode Array for UV-VIS-NIR Spectroscopy2015
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda, Takahiro Akutsu, Yasumasa Koda, Kenji Takubo, Hideki Tominaga, Ryuuta Hirose, Tomohiro Karasawa and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2015 INTERNATIONAL IMAGE SENSOR WORKSHOP
- 発表場所
  Vaals, Netherlands
- 年月日
  2015-06-08
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] UV/VIS/NIR imaging technologies: challenges and opportunities2015
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2015 SPIE Sensing Technology + Applications
- 発表場所
  Baltimore, USA
- 年月日
  2015-04-20
- 招待講演 / 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] Analysis and reduction of leakage current of 2kV monolithic isolator with wide trench spiral isolation structure2015
- 著者名/発表者名
  Yusuke Takeuchi, Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  Extended Abstracts of the 2015 International Conference on Solid State Devices and Materials
- 発表場所
  札幌コンベンションセンター（北海道・札幌市）
- 年月日
  2015-09-27
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] A 20Mfps Global Shutter CMOS Image Sensor with Improved Sensitivity and Power Consumption2015
- 著者名/発表者名
  Shigetoshi Sugawa, Rihito Kuroda, Tohru Takeda, Fan Shao, Ken Miyauchi and Yasuhisa Tochigi
- 学会等名
  2015 INTERNATIONAL IMAGE SENSOR WORKSHOP
- 発表場所
  Vaals, Netherlands
- 年月日
  2015-06-08
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121
[学会発表] Analysis and reduction of leakage current of 2kV monolithic isolator with wide trench spiral isolation structure2015
- 著者名/発表者名
  Yusuke Takeuchi, Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2015 International Conference on Solid State Devices and Materials
- 発表場所
  札幌コンベンションセンター（北海道・札幌市）
- 年月日
  2015-09-27
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121
[学会発表] ゲート絶縁膜/Si界面の原子オーダー平坦化によるランダムテレグラフノイズ低減効果2015
- 著者名/発表者名
  黒田理人, 後藤哲也, 赤川直也, 木本大幾, 寺本章伸, 須川成利
- 学会等名
  映像情報メディア学会技術報告　情報センシング研究会
- 発表場所
  東京理科大学森戸記念館（東京都・新宿区）
- 年月日
  2015-05-08
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121
[学会発表] An Ultraviolet Radiation Sensor Using Differential Spectral Response of Silicon Photodiodes2015
- 著者名/発表者名
  Yhang Ricardo Sipauba Carvalho da Silva, Yasumasa Koda, Satoshi Nasuno, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  IEEE Sensors 2015
- 発表場所
  Busan, South Korea
- 年月日
  2015-11-01
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] フローティングディフュージョン容量成分の解析・低減技術と高感度・高飽和CMOSイメージセンサへの適用2015
- 著者名/発表者名
  楠原史章, 若嶋駿一, 那須野悟史, 黒田理人, 須川成利
- 学会等名
  映像情報メディア学会技術報告　情報センシング研究会
- 発表場所
  機会振興会館（東京都・港区）
- 年月日
  2015-09-18
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121
[学会発表] Analysis and Reduction of Floating Diffusion Capacitance Components of CMOS Image Sensor for Photon-Countable Sensitivity2015
- 著者名/発表者名
  Fumiaki Kusuhara, Shunichi Wakashima, Satoshi Nasuno, Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2015 INTERNATIONAL IMAGE SENSOR WORKSHOP
- 発表場所
  Vaals, Netherlands
- 年月日
  2015-06-08
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] Advanced CMOS Image Sensor Development2015
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda
- 学会等名
  Tohoku Univ. - imec Seminar 2015 Sendai Symposium on Analytical Science 2015 Joint Seminar on "Unobtrusive Sensing & Daily Health Screening"
- 発表場所
  東北大学青葉山キャンパス（宮城県・仙台市）
- 年月日
  2015-11-13
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-15H02245
[学会発表] 電荷電圧変換ゲイン240uV/e-、飽和電子数200ke-、感度波長帯域190-1000nmを有するCMOSイメージセンサ2015
- 著者名/発表者名
  那須野悟史, 若嶋駿一, 楠原史章, 黒田理人, 須川成利
- 学会等名
  映像情報メディア学会技術報告　情報センシング研究会
- 発表場所
  機会振興会館（東京都・港区）
- 年月日
  2015-09-18
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121
[学会発表] Demonstrating Individual Leakage Path from RTS of SILC2014
- 著者名/発表者名
  A. Teramoto, T. Inatsuka, T. Obara, N. Akagawa, R. Kuroda, S. Sugawa and T. Ohmi
- 学会等名
  2014 IEEE International Reliability Physics Symposium
- 発表場所
  Waikoloa, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24360129
[学会発表] Stress induced leakage current generated by hot-hole injection2013
- 著者名/発表者名
  A. Teramoto, H.W. Park, T. Inatsuka, R. Kuroda, S. Sugawa, T. Ohmi
- 学会等名
  18th Conference of “Insulating Films on Semiconductors”
- 発表場所
  Krakow, Poland
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24360129
[学会発表] Demonstrating Distribution of SILC Values at Individual Leakage Spots2013
- 著者名/発表者名
  Takuya Inatsuka, Rihito Kuroda, Akinobu Teramoto, Yuki Kumagai, Shigetoshi Sugawa, and Tadahiro Ohmi
- 学会等名
  IEEE International Reliability Physics Symposium 2013
- 発表場所
  Monterey, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24360129
[学会発表] Impact of Injected Carrier Types to Stress Induced Leakage Current Using Substrate Hot Carrier Injection Stress2013
- 著者名/発表者名
  H. W. Park, A. Teramoto, T. Inatsuka, R. Kuroda, S. Sugawa, and T. Ohmi
- 学会等名
  2013 Asia-Pacific Workshop on Fundamentals and Application of Advanced Semiconductor Devices
- 発表場所
  Seoul, Korea
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24360129
[学会発表] A Test Circuit for Extremely Low Gate Leakage Current Measurement of 10 aA for 80, 000 MOSFETs in 80s2012
- 著者名/発表者名
  Y. Kumagai, T. Inatsuka, R. Kuroda, A. Teramoto, T. Suwa, S. Sugawa and T. Ohmi
- 学会等名
  IEEE Intl. Conf. on Microelectronic Test Structures
- 発表場所
  San Diego, U. S. A.
- 年月日
  2012-03-21
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[学会発表] Statistical Analysis of Random Telegraph Noise Reduction Effect by Separating Channel From the Interface2012
- 著者名/発表者名
  A. Yonezawa, A. Teramoto, R. Kuroda, H. Suzuki, S. Sugawa and T. Ohmi
- 学会等名
  IEEE Intl. Reliability Rhys. Symp.
- 発表場所
  Anaheim, U. S. A.
- 年月日
  2012-04-18
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[学会発表] Development of Direct-polish Process of CMP and Post-CMP Clean for Next Generation Advanced Cu Interconnects2011
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda
- 学会等名
  2011 International Conference on Planarization&CMP
- 発表場所
  Seoul, Korea
- 年月日
  2011-11-09
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[学会発表] Different properties of erbium silicides on Si(100)and Si(551)orientation surfaces2011
- 著者名/発表者名
  H. Tanaka, A. Teramoto, R. Kuroda, Y. Nakao, T. Suwa, S. Sugawa, and T. Ohmi
- 学会等名
  220th Meeting of The Electrochemical Society
- 発表場所
  Boston, U. S. A.
- 年月日
  2011-10-13
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[学会発表] Highly Ultraviolet Light Sensitive and Highly Reliable Photodiode with Atomically Flat Si Surface2011
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda
- 学会等名
  2011 International Image Sensor Workshop
- 発表場所
  大沼
- 年月日
  2011-06-08
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[学会発表] ラジカル反応ベース絶縁膜形成プロセスにおける界面平坦化効果と絶縁膜破壊特性との関係2011
- 著者名/発表者名
  黒田理人
- 学会等名
  電子情報通信学会シリコン材料・デバイス研究会
- 発表場所
  仙台
- 年月日
  2011-10-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[学会発表] Gate SiO2 Film Integrity on Ultra-Pure Argon Anneal (100)Silicon Surface2011
- 著者名/発表者名
  A. Teramoto, X. Li, R. Kuroda, T. Suwa, S. Sugawa, and T. Ohmi
- 学会等名
  220th Meeting of The Electrochemical Society
- 発表場所
  Boston, U. S. A.
- 年月日
  2011-10-10
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[学会発表] 埋め込み構造によるMOSFETにおけるランダム・テレグラフ・ノイズの低減2011
- 著者名/発表者名
  鈴木裕彌, 黒田理人, 寺本章伸, 米澤秋彰浩, 松岡弘章, 中澤泰希, 阿部健一, 須川成利, 大見忠弘
- 学会等名
  電子情報通信学会, シリコン材料・デバイス研究会
- 発表場所
  仙台
- 年月日
  2011-10-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[学会発表] ラジカル反応ベース絶縁膜形成プロセスにおける界面平坦化効果と絶縁膜破壊特性との関係2011
- 著者名/発表者名
  黒田理人, 寺本章伸, 李翔, 諏訪智之, 須川成利, 大見忠弘
- 学会等名
  電子情報通信学会, シリコン材料・デバイス研究会
- 発表場所
  仙台
- 年月日
  2011-10-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[学会発表] デュアルシリサイドを用いた低直列抵抗CMOS ソース/ドレイン電極形成技術2011
- 著者名/発表者名
  黒田理人, 田中宏明, 中尾幸久, 寺本章伸, 宮本直人, 須川成利, 大見忠弘
- 学会等名
  電気学会, 電子デバイス研究会
- 発表場所
  水上町
- 年月日
  2011-03-01
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[学会発表] Impact of Random Telegraph Noise Reduction with Buried Channel MOSFET2011
- 著者名/発表者名
  H. Suzuki, R. Kuroda, A. Teramoto, A. Yonezawa, S. Sugawa and T. Ohmi
- 学会等名
  2011 Intl. Conf. on SOLID STATE DEVICES AND MATERIALS
- 発表場所
  名古屋
- 年月日
  2011-09-29
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[学会発表] High reliable SiO_2 Films on Atomically Flat Silicon Surface Formed by Low Temperature Pure Ar Annealing2011
- 著者名/発表者名
  X. Li, R. Kuroda, T. Suwa, A. Teramoto, S. Sugawa, and T. Ohmi
- 学会等名
  Intl. Workshop on Dielectric Thin Films For Future Electron Devices : Science and Technology
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2011-01-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[学会発表] 異常Stress Induced Leakage Currentの発生・回復特性の統計的評価2011
- 著者名/発表者名
  稲塚卓也, 熊谷勇喜, 黒田理人, 寺本章伸, 須川成利, 大見忠弘
- 学会等名
  電子情報通信学会, シリコン材料・デバイス研究会
- 発表場所
  仙台
- 年月日
  2011-10-20
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[学会発表] On the Si Surface Flattening Effect and Gate Insulator Breakdown Characteristic of Radical Reaction Based Insulator Formation Technology2011
- 著者名/発表者名
  R. Kuroda, A. Teramoto, X. Li, T. Suwa, S. Sugawa and T. Ohmi
- 学会等名
  2011 Intl. Conf. on SOLID STATE DEVICES AND MATERIALS
- 発表場所
  名古屋
- 年月日
  2011-09-28
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[学会発表] 原子レベル平坦化Si表面を用いた紫外光高感度・高信頼性フォトダイオード2011
- 著者名/発表者名
  黒田理人
- 学会等名
  社団法人映像情報メディア学会情報センシング研究会
- 発表場所
  東京(招待講演)
- 年月日
  2011-11-18
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[学会発表] On the Si Surface Flattening Effect and Gate Insulator Breakdown Characteristic of Radical Reaction Based Insulator Formation Technology2011
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda
- 学会等名
  2011 International Conference on SOLID STATE DEVICES AND MATERIALS
- 発表場所
  名古屋
- 年月日
  2011-09-28
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[学会発表] デュアルシリサイトを用いた低直列抵抗CMOSソース/トレイン電極形成技術2011
- 著者名/発表者名
  黒田理人
- 学会等名
  電気学会電子デバイス研究会
- 発表場所
  水上町
- 年月日
  2011-03-01
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[学会発表] Recovery Characteristic of Anomalous Stress Induced Leakage Current of 5. 6nm Oxide Films2011
- 著者名/発表者名
  T. Inatsuka, Y. Kumagai, R. Kuroda, A. Teramoto, S. Sugawa, and T. Ohmi
- 学会等名
  2011 Intl. Conf. on SOLID STATE DEVICES AND MATERIALS
- 発表場所
  名古屋
- 年月日
  2011-09-28
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[学会発表] Impact of Channel Direction Dependent Low Field Hole Mobility on Si (100)2010
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda
- 学会等名
  2010 International Conference on SOLID STATE DEVICES AND MATERIALS
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2010-09-22
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[学会発表] Drastic reduction of the low frequency noise in Si(100)p-MOSFETs2010
- 著者名/発表者名
  P. Gaubert, A. Teramoto, R. Kuroda, Y. Nakao, H. Tanaka and T. Ohmi
- 学会等名
  2010 Intl. Conf. on SOLID STATE DEVICES AND MATERIALS
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2010-09-23
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[学会発表] Large Scale Test Circuits for Systematic Evaluation of Variability and Noise of MOSFETs' Electrical Characteristics2010
- 著者名/発表者名
  Y. Kumagai, K. Abe, T. Fujisawa, S. Watabe, R. Kuroda, N. Miyamoto, T. Suwa, A. Teramoto, S. Sugawa and T. Ohmi
- 学会等名
  2010 Intl. Conf. on SOLID STATE DEVICES AND MATERIALS
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2010-09-23
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[学会発表] Ultra-low Series Resistance W/ErSi_2/n^+-Si and W/Pd_2Si/p^+-Si S/D Electrodes for Advanced CMOS Platform2010
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda
- 学会等名
  IEEE International Electron Device Meeting
- 発表場所
  San Francisco, U.S.A.
- 年月日
  2010-12-08
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[学会発表] Impact of Channel Direction Dependent Low Field Hole Mobility on Si(100)2010
- 著者名/発表者名
  R. Kuroda, A. Teamoto, S. Sugawa and T. Ohmi
- 学会等名
  2010 Intl. Conf. on SOLID STATE DEVICES AND MATERIALS
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2010-09-23
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[学会発表] Ultra-low Series Resistance W/ErSi_2/n^+-Si and W/Pd_2Si/p^+-Si S/D Electrodes for Advanced CMOS Platform2010
- 著者名/発表者名
  R. Kuroda, H. Tanaka, Y. Nakao, A. Teramoto, N. Miyamoto, S. Sugawa and T. Ohmi
- 学会等名
  2010 IEEE IEEE Intl. Electron Devices Meeting
- 発表場所
  San Francisco, U. S. A.
- 年月日
  2010-12-08
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-22860004
[学会発表] Analyzing Correlation between Multiple Traps in RTN Characteristics
- 著者名/発表者名
  Toshiki Obara, Akinobu Teramoto, Akihiro Yonezawa, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa, and Tadahiro Ohmi
- 学会等名
  2014 IEEE International Reliability Physics Symposium
- 発表場所
  Waikoloa, USA
- 年月日
  2014-06-03 – 2014-06-05
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121
[学会発表] Analysis of Pixel Gain and Linearity of CMOS Image Sensor using Floating Capacitor Load Readout Operation
- 著者名/発表者名
  S. Wakashima, F. Kusuhara, R. Kuroda, S. Sugawa
- 学会等名
  IS&T/SPIE Electronic Imaging
- 発表場所
  San Francisco, USA
- 年月日
  2015-02-08 – 2015-02-12
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24360129
[学会発表] Demonstrating Individual Leakage Path from Random Telegraph Signal of Stress Induced Leakage Current
- 著者名/発表者名
  A. Teramoto, T. Inatsuka, T. Obara, N. Akagawa, R. Kuroda, S. Sugawa and T. Ohmi
- 学会等名
  2014 IEEE International Reliability Physics Symposium
- 発表場所
  Waikoloa, USA
- 年月日
  2014-06-03 – 2014-06-05
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24360129
[学会発表] A 20Mfps Global Shutter CMOS Image Sensor with Improved Sensitivity and Power Consumption
- 著者名/発表者名
  Shigetoshi Sugawa, Rihito Kuroda, Tohru Takeda, Fan Shao, Ken Miyauchi and Yasuhisa Tochigi
- 学会等名
  International Image Sensor Workshop 2015
- 発表場所
  Vaals, Netherlands
- 年月日
  2015-06-08 – 2015-06-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121
[学会発表] A 80% QE High Readout Speed 1024 Pixel Linear Photodiode Array for UV-VIS-NIR Spectroscopy
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda, Takahiro Akutsu, Yasumasa Koda, Kenji Takubo, Hideki Tominaga, Ryuuta Hirose, Tomohiro Karasawa and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  International Image Sensor Workshop 2015
- 発表場所
  Vaals, Netherlands
- 年月日
  2015-06-08 – 2015-06-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121
[学会発表] Wide spectral response and highly robust Si image sensor technology
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2nd Asian Image Sensor and Imaging System Symposium
- 発表場所
  東京工業大学キャンパス・イノベーションセンター（東京都・港区）
- 年月日
  2014-12-01 – 2014-12-02
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24360129
[学会発表] A Novel Analysis of Oxide Breakdown based on Dynamic Observation using Ultra-High Speed Video Capturing Up to 10,000,000 Frames Per Second
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda, Fan Shao, Daiki Kimoto, Kiichi Furukawa, Hidetake Sugo, Tohru Takeda, Ken Miyauchi, Yasuhisa Tochigi, Akinobu Teramoto and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2014 IEEE International Reliability Physics Symposium
- 発表場所
  Waikoloa, USA
- 年月日
  2014-06-03 – 2014-06-05
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24360129
[学会発表] A CMOS Image Sensor with 240μV/e- Conversion Gain, 200ke- Full Well Capacity and 190-1000nm Spectral Response
- 著者名/発表者名
  Satoshi Nasuno, Shunichi Wakashima, Fumiaki Kusuhara, Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  International Image Sensor Workshop 2015
- 発表場所
  Vaals, Netherlands
- 年月日
  2015-06-08 – 2015-06-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121
[学会発表] Analysis of the breakdown voltage of an area surrounded by the multi-trench gaps in a 4kV monolithic isolator for a communication network interface
- 著者名/発表者名
  Yusuke Takeuchi, Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2014 International Conference on Solid State Devices and Materials
- 発表場所
  つくば国際会議場（茨城県・つくば市）
- 年月日
  2014-09-08 – 2014-09-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24360129
[学会発表] Analyzing Correlation between Multiple Traps in RTN Characteristics
- 著者名/発表者名
  Toshiki Obara, Akinobu Teramoto, Akihiro Yonezawa, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa, and Tadahiro Ohmi
- 学会等名
  Toshiki Obara, Akinobu Teramoto, Akihiro Yonezawa, Rihito Kuroda, Shigetoshi Sugawa, and Tadahiro Ohmi
- 発表場所
  Waikoloa, USA
- 年月日
  2014-06-03 – 2014-06-05
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24360129
[学会発表] A Novel Analysis of Oxide Breakdown based on Dynamic Observation using Ultra-High Speed Video Capturing Up to 10,000,000 Frames Per Second
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda, Fan Shao, Daiki Kimoto, Kiichi Furukawa, Hidetake Sugo, Tohru Takeda, Ken Miyauchi, Yasuhisa Tochigi, Akinobu Teramoto and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2014 IEEE International Reliability Physics Symposium
- 発表場所
  Waikoloa, USA
- 年月日
  2014-06-03 – 2014-06-05
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121
[学会発表] Demonstrating Individual Leakage Path from Random Telegraph Signal of Stress Induced Leakage Current
- 著者名/発表者名
  A. Teramoto, T. Inatsuka, T. Obara, N. Akagawa, R. Kuroda, S. Sugawa and T. Ohmi
- 学会等名
  2014 IEEE International Reliability Physics Symposium
- 発表場所
  Waikoloa, USA
- 年月日
  2014-06-03 – 2014-06-05
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121
[学会発表] Analysis of Pixel Gain and Linearity of CMOS Image Sensor using Floating Capacitor Load Readout Operation
- 著者名/発表者名
  S. Wakashima, F. Kusuhara, R. Kuroda, S. Sugawa
- 学会等名
  IS&T/SPIE Electronic Imaging
- 発表場所
  San Francisco, USA
- 年月日
  2015-02-08 – 2015-02-12
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121
[学会発表] Analysis of the breakdown voltage of an area surrounded by the multi-trench gaps in a 4kV monolithic isolator for a communication network interface
- 著者名/発表者名
  Yusuke Takeuchi, Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2014 International Conference on Solid State Device and Materials
- 発表場所
  つくば国際会議場（茨城県・つくば市）
- 年月日
  2014-09-08 – 2014-09-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121
[学会発表] Analysis and Reduction of Floating Diffusion Capacitance Components of CMOS Image Sensor for Photon-Countable Sensitivity
- 著者名/発表者名
  Fumiaki Kusuhara, Shunichi Wakashima, Satoshi Nasuno, Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  International Image Sensor Workshop 2015
- 発表場所
  Vaals, Netherlands
- 年月日
  2015-06-08 – 2015-06-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121
[学会発表] Atomically Flattening of Si Surface of SOI and Isolation-patterned Wafers
- 著者名/発表者名
  T. Goto, R. Kuroda, N. Akagawa, T. Suwa, A. Teramoto, X. Li, S. Sugawa, T. Ohmi, Y. Kumagai, Y. Kamata, and T. Shibusawa
- 学会等名
  2014 International Conference on Solid State Devices and Materials
- 発表場所
  つくば国際会議場（茨城県・つくば市）
- 年月日
  2014-09-08 – 2014-09-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24360129
[学会発表] Atomically Flattening of Si Surface of SOI and Isolation-patterned Wafers
- 著者名/発表者名
  T. Goto, R. Kuroda, N. Akagawa, T. Suwa, A. Teramoto, X. Li, S. Sugawa, T. Ohmi, Y. Kumagai, Y. Kamata, and T. Shibusawa
- 学会等名
  2014 International Conference on Solid State Device and Materials
- 発表場所
  つくば国際会議場（茨城県・つくば市）
- 年月日
  2014-09-08 – 2014-09-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121
[学会発表] Wide spectral response and highly robust Si image sensor technology
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  2nd Asian Image Sensor and Imaging System Symposium
- 発表場所
  東京工業大学キャンパス・イノベーションセンター（東京都・港区）
- 年月日
  2014-12-01 – 2014-12-02
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121
[学会発表] High Selectivity in a Dry Etching of Silicon Nitride over Si Using a Novel Hydrofluorocarbon Etch Gas in a Microwave Excited Plasma for FinFET
- 著者名/発表者名
  Yukihisa Nakao, Takatoshi Matsuo, Akinobu Teramoto, Hidetoshi Utsumi, Keiichi Hashimoto, Rihito Kuroda, Yasuyuki Shirai, Shigetoshi Sugawa, and Tadahiro Ohmi
- 学会等名
  225th Meeting of The Electrochemical Society
- 発表場所
  Orlando, USA
- 年月日
  2014-05-11 – 2014-05-15
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24360129
[学会発表] UV/VIS/NIR imaging technologies: challenges and opportunities
- 著者名/発表者名
  Rihito Kuroda and Shigetoshi Sugawa
- 学会等名
  SPIE DSS, Sensing Technology + Applications
- 発表場所
  Baltimore, USA
- 年月日
  2015-04-20 – 2015-04-24
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-26820121

1. 須川成利 (70321974)

共同の研究課題数: 3件

共同の研究成果数: 76件
2. 石鍋隆宏 (30361132)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 1件
3. 柴田陽生 (70771880)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 1件
4. 若生一広 (90500893)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 1件
5. 金山喜則 (10233868)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 1件
6. 高橋英樹 (20197164)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
7. 加藤一幾 (30613517)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
8. 渡部敏裕 (60360939)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
9. 栗原大輔 (90609439)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
10. 後藤哲也

共同の研究課題数: 0件

共同の研究成果数: 1件
11. 諏訪智之

共同の研究課題数: 0件

共同の研究成果数: 1件
12. 大見忠弘

共同の研究課題数: 0件

共同の研究成果数: 1件

黒田 理人 Kuroda Rihito

研究課題

研究成果

共同研究者

作物の生理障害の機構解明におけるブレークスルーテクノロジーの開発と検証

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

革新的高速分光による高感度リアルタイム分光イメージングの構築と非侵襲診断への展開

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

飽和電荷数1億個超・線形応答を有する革新的な微小光量差検出イメージセンサの創出研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

1光子検出の感度および線形・高飽和性能を有するＣＭＯＳ撮像素子の創出

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

原子レベル平坦界面トランジスタによる電気的特性ばらつき・ノイズの極小化研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

原子レベル平坦界面トランジスタのゲート絶縁膜リーク電流の高精度統計的解析

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

MOSトランジスタの低ノイズ化へ向けたデバイス構造最適化研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

[図書] 2020版 薄膜作製応用ハンドブック 第2章第6節イメージセンサ2020

著者名/発表者名

総ページ数

出版者

ISBN

データソース

[図書] 車載センシング技術の開発と ADAS、自動運転システムへの応用 第2章 第1節 CMOSイメージセンサの広ダ イナミックレンジ化技術2017

著者名/発表者名

総ページ数

出版者

ISBN

データソース

[図書] The Micro-World Observed by Ultra High-Speed Cameras: We See What You Don’t See, Part III Cameras with CCD/CMOS Sensors, Cameras with on-chip memory CMOS image sensors2017

著者名/発表者名

総ページ数

出版者

ISBN

データソース

[図書] The Micro-World Observed by Ultra High-Speed Cameras: We See What You Don’t See, Part III Cameras with CCD/CMOS Sensors, Cameras with on-chip memory CMOS image sensors2017

著者名/発表者名

総ページ数

出版者

ISBN

データソース

[図書] 光アライアンス2017年12月号 三次元積層を用いた先進CMOSイメージセンサ技術2017

著者名/発表者名

総ページ数

出版者

データソース

[図書] 光アライアンス2017年12月号 三次元積層を用いた先進CMOSイメージセンサ技術2017

著者名/発表者名

総ページ数

出版者

データソース

黒田理人 Kuroda Rihito

[図書] 2020版薄膜作製応用ハンドブック第2章第6節イメージセンサ2020

[図書] 車載センシング技術の開発と ADAS、自動運転システムへの応用　第2章第1節 CMOSイメージセンサの広ダイナミックレンジ化技術2017

[図書] 光アライアンス2017年12月号　三次元積層を用いた先進CMOSイメージセンサ技術2017

[図書] 光アライアンス2017年12月号　三次元積層を用いた先進CMOSイメージセンサ技術2017

[図書] 車載センシング技術の開発と ADAS、自動運転システムへの応用　第2章第1節 CMOSイメージセンサの広ダイナミックレンジ化技術2017