西澤真一 Nishizawa Shinichi

研究者番号	40757522
その他のID	https://orcid.org/0000-0002-1172-7286
所属 (現在)	2024年度: 早稲田大学, 理工学術院(情報生産システム研究科・センター), 講師(任期付)
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2022年度 – 2024年度: 早稲田大学, 理工学術院(情報生産システム研究科・センター), 講師(任期付) 2022年度 – 2023年度: 埼玉大学, 理工学研究科, 助教 2019年度 – 2021年度: 福岡大学, 工学部, 助教 2017年度 – 2018年度: 埼玉大学, 理工学研究科, 助教 2016年度: 埼玉大学, 大学院理工学研究科, 助教
審査区分/研究分野	研究代表者小区分60040:計算機システム関連 / 計算機システム研究代表者以外計算機システム / 小区分60070:情報セキュリティ関連 / 小区分60040:計算機システム関連
キーワード	研究代表者集積回路 / 記憶保持特性 / フリップフロップ / 記憶特性 / モニター回路 / NBTI / トランジスタ特性診断 / BIST / テスト / ばらつきモニタ / プロセスモニタ / トランジスタ特性ばらつき / ばらつき評価回路 … もっと見る研究代表者以外 … もっと見る信頼性 / 経年劣化 / IoT / LSI / DVFS / AES / 耐タンパ性 / サイドチャネル攻撃 / 特性ゆらぎ / 常時起動デバイス / スタックトランジスタ / バルク / FDSOI / パワエレ / BTI / ランダムテレグラフノイズ / RTN / NBTI / 永久故障 / 一時故障 / パワーエレクトロニクス / ソフトエラー / 組込システム / ディペンダブルシステム / 組込みシステム / 製造容易化 / 低消費電力化 / 集積回路 / システムオンチップ隠す

電源電圧の動的制御による耐タンパ性LSI設計技法
- 研究代表者
  
  請園智玲
- 研究期間 (年度)
  2024 – 2026
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 審査区分
  
  小区分60070:情報セキュリティ関連
- 研究機関
  福岡大学
スキャン設計の再利用による低コストなトランジスタ劣化量診断研究代表者
- 研究代表者
  
  西澤真一
- 研究期間 (年度)
  2021 – 2024
- 研究種目
  
  若手研究
- 審査区分
  
  小区分60040:計算機システム関連
- 研究機関
  早稲田大学
   福岡大学
高信頼性を要求される常時起動デバイスの特性変動の実測評価と動作レベルのモデル化
- 研究代表者
  
  松本高士
- 研究期間 (年度)
  2018 – 2023
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 審査区分
  
  小区分60040:計算機システム関連
- 研究機関
  東京大学
フリップフロップの記憶保持特性を利用したトランジスタ特性ばらつきセンサ研究代表者
- 研究代表者
  
  西澤真一
- 研究期間 (年度)
  2017 – 2019
- 研究種目
  
  若手研究(B)
- 研究分野
  
  計算機システム
- 研究機関
  福岡大学
   埼玉大学
高効率かつ高信頼で長時間動作可能な「もの」のインターネット機器の実現
- 研究代表者
  
  小林和淑
- 研究期間 (年度)
  2015 – 2018
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  計算機システム
- 研究機関
  京都工芸繊維大学
自律的特性補償により閾値付近の低電圧まで安定動作する集積回路設計技術
- 研究代表者
  
  小野寺秀俊
- 研究期間 (年度)
  2013 – 2016
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  計算機システム
- 研究機関
  京都大学

すべて 2023 2022 2020 2019 2018 2015 2014 2013 その他

すべて雑誌論文学会発表

[雑誌論文] libretto: An Open Cell Timing Characterizer for Open Source VLSI Design2022
- 著者名/発表者名
  Shinichi Nishizawa, Toru Nakura
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences
  
  巻: -
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K17723
[雑誌論文] Universal NBTI Compact Model Replicating AC Stress/Recovery from a Single-shot Long-term DC Measurement2020
- 著者名/発表者名
  Hosaka Takumi、Nishizawa Shinichi、Kishida Ryo、Matsumoto Takashi、Kobayashi Kazutoshi
- 雑誌名
  
  IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology
  
  巻: 13 号: 0 ページ: 56-64
- DOI
  10.2197/ipsjtsldm.13.56
- NAID
  130007887399
- 査読あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11210
[雑誌論文] Design Methodology for Variation Tolerant D-Flip-Flop Using Regression Analysis2018
- 著者名/発表者名
  NISHIZAWA Shinichi、ONODERA Hidetoshi
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences
  
  巻: E101.A 号: 12 ページ: 2222-2230
- DOI
  10.1587/transfun.E101.A.2222
- NAID
  130007539015
- ISSN
  0916-8508, 1745-1337
- 年月日
  2018-12-01
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17K12657
[雑誌論文] Layout Generator with Flexible Grid Assignment for Area Efficient Standard Cell2015
- 著者名/発表者名
  Shinichi Nishizawa, Tohru Ishihara, Hidetoshi Onodera
- 雑誌名
  
  IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology
  
  巻: 8 号: 0 ページ: 131-135
- DOI
  10.2197/ipsjtsldm.8.131
- NAID
  130005091214
- ISSN
  1882-6687
- 言語
  英語
- 査読あり / 謝辞記載あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280014
[雑誌論文] Standard Cell Structure with Flexible P/N Well Boundaries for Near-Threshold Voltage Operation2013
- 著者名/発表者名
  Shinichi Nishizawa, Tohru Ishihara, Hidetoshi Onodera
- 雑誌名
  
  IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences
  
  巻: E96.A 号: 12 ページ: 2499-2507
- DOI
  10.1587/transfun.E96.A.2499
- NAID
  130003385302
- ISSN
  0916-8508, 1745-1337
- 言語
  英語
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280014
[学会発表] ハードウェア設計のオープンソース化に向けたライブラリキャラクタライザの開発2023
- 著者名/発表者名
  西澤真一、名倉徹
- 学会等名
  IEICE総合大会シンポジウム
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K17723
[学会発表] Library characterizer for open-source VLSI design2022
- 著者名/発表者名
  Shinichi Nishizawa, Toru Nakura
- 学会等名
  The Workshop on Open-Source EDA Technology (WOSET)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K17723
[学会発表] Process Variation Estimation using An IDDQ Test and FlipFlop Retention Characteristics2020
- 著者名/発表者名
  Shinichi Nishizawa,and Kazuhito Ito
- 学会等名
  International Conference on Microelectronic Test Structures
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17K12657
[学会発表] Compact Modeling of NBTI Replicationg AC Stress / Recovery from a Single-shot Long-term DC Measurement2019
- 著者名/発表者名
  Shinichi NISHIZAWA, Takumi HOSAKA, Ryo KISHIDA, Takashi MATSUMOTO, Kazutoshi KOBAYASHI
- 学会等名
  25th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11210
[学会発表] 単発DCストレス測定による負バイアス温度不安定性のAC特性を再現可能なモデル2019
- 著者名/発表者名
  保坂　巧、西澤真一、岸田　亮、松本高士、小林和淑
- 学会等名
  電子情報通信学会　デザインガイア2019
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K11210
[学会発表] Process Variation Aware D-Flip-Flop Design using Regression Analysis2018
- 著者名/発表者名
  Shinichi Nishizawa and Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  International Symposium on Quality Electronic Design
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17K12657
[学会発表] Process Variation Estimation using A Combination of Ring Oscillator Delay and FlipFlop Retention Characteristics2018
- 著者名/発表者名
  Takuma Konno, Shinichi Nishizawa and Kazuhito Ito
- 学会等名
  International Conference on Microelectronic Test Structures
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-17K12657
[学会発表] An impact of process variation on supply voltage dependence of logic path delay variation2015
- 著者名/発表者名
  S. Nishizawa, T. Ishihara, H. Onodera
- 学会等名
  International Symposium on VLSI Design, Automation and Test
- 発表場所
  Hsinchu(Taiwan)
- 年月日
  2015-04-27
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280014
[学会発表] Variation Tolerant Design of D-Flip-Flops for Low Voltage Circuit Operation2014
- 著者名/発表者名
  Shinichi Nishizawa, Tohru Ishihara, Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU)
- 発表場所
  Santa Cruz, CA, USA
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280014
[学会発表] Variation-Aware Flip-Flop Energy Optimization for Ultra Low Voltage Operation
- 著者名/発表者名
  Tatsuya Kamakari, Shinichi Nishizawa, Tohru Ishihara, Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  IEEE International System-On-Chip Conference
- 発表場所
  Las Vegas, Nevada, USA
- 年月日
  2014-09-02 – 2014-09-05
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280014
[学会発表] Design Methodology of Process Variation Tolerant D-Flip-Flops for Low Voltage Circuit Operation
- 著者名/発表者名
  Shinichi Nishizawa, Tohru Ishihara, Hidetoshi Onodera
- 学会等名
  IEEE International System-On-Chip Conference
- 発表場所
  Las Vegas, Nevada, USA
- 年月日
  2014-09-02 – 2014-09-05
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-25280014

1. 小林和淑 (70252476)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 3件
2. 松本高士 (70417369)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 3件
3. 小野寺秀俊 (80160927)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 4件
4. 土谷亮 (20432411)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
5. 石原亨 (30323471)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 4件
6. Mahfuzul Islam A. K. M. (80762195)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
7. 古田潤 (30735767)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
8. 吉河武文 (60636702)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
9. 請園智玲 (50610060)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
10. Stoffels Steve

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
11. Posthuma Niels

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
12. Li Xiangdong

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
13. Decoutere Stefaan

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件

西澤 真一 Nishizawa Shinichi

研究課題

研究成果

共同研究者

電源電圧の動的制御による耐タンパ性LSI設計技法

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

スキャン設計の再利用による低コストなトランジスタ劣化量診断研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

高信頼性を要求される常時起動デバイスの特性変動の実測評価と動作レベルのモデル化

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

フリップフロップの記憶保持特性を利用したトランジスタ特性ばらつきセンサ研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

高効率かつ高信頼で長時間動作可能な「もの」のインターネット機器の実現

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

自律的特性補償により閾値付近の低電圧まで安定動作する集積回路設計技術

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

[雑誌論文] libretto: An Open Cell Timing Characterizer for Open Source VLSI Design2022

著者名/発表者名

雑誌名

データソース

[雑誌論文] Universal NBTI Compact Model Replicating AC Stress/Recovery from a Single-shot Long-term DC Measurement2020

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

NAID

データソース

[雑誌論文] Design Methodology for Variation Tolerant D-Flip-Flop Using Regression Analysis2018

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

NAID

ISSN

年月日

言語

データソース

[雑誌論文] Layout Generator with Flexible Grid Assignment for Area Efficient Standard Cell2015

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

NAID

ISSN

言語

データソース

[雑誌論文] Standard Cell Structure with Flexible P/N Well Boundaries for Near-Threshold Voltage Operation2013

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

NAID

ISSN

言語

データソース

[学会発表] ハードウェア設計のオープンソース化に向けたライブラリキャラクタライザの開発2023

著者名/発表者名

学会等名

データソース

[学会発表] Library characterizer for open-source VLSI design2022

西澤真一 Nishizawa Shinichi