穴田智史 Anada Satoshi

研究者番号	40772380
その他のID
所属 (現在)	2025年度: 一般財団法人ファインセラミックスセンター, その他部局等, 主任研究員
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2019年度 – 2024年度: 一般財団法人ファインセラミックスセンター, その他部局等, 上級研究員 2020年度: 一般財団法人ファインセラミックスセンター, ナノ構造研究所, 上級研究員 2018年度: 一般財団法人ファインセラミックスセンター, ナノ構造研究所, 研究員
審査区分/研究分野	研究代表者小区分29020:薄膜および表面界面物性関連 / 小区分21050:電気電子材料工学関連研究代表者以外中区分29:応用物理物性およびその関連分野
キーワード	研究代表者機械学習 / 電子線ホログラフィー / ノイズ低減 / 透過電子顕微鏡 / オペランド解析 / 電圧印加 / 光照射 / その場観察 / 光起電力効果 / スパースモデリング / オペランド観察 / 太陽電池 … もっと見る研究代表者以外 … もっと見る界面 / 画像処理技術 / 計測技術 / 走査型透過電子顕微鏡 / 欠陥 / 電池 / 触媒 / エネルギー関連材料 / 計測 / 情報科学 / 走査透過電子顕微鏡 / 透過電子顕微鏡 / 可干渉2光源照射 / ダメージレス / 像再生 / 高度情報科学 / 可干渉 / ２光源 / 光 / 干渉 / 光定在波 / エバネッセント光 / 半導体 / 電場 / 光干渉 / レーザー / 電子線ホログラフィー隠す

高速オペランド電子線ホログラフィーの開発と電荷挙動解析への応用研究代表者
- 研究代表者
  
  穴田智史
- 研究期間 (年度)
  2023 – 2025
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 審査区分
  
  小区分29020:薄膜および表面界面物性関連
- 研究機関
  一般財団法人ファインセラミックスセンター
実空間における超精密原子位置計測技術の開拓
- 研究代表者
  
  小林俊介
- 研究期間 (年度)
  2021 – 2023
- 研究種目
  
  挑戦的研究(開拓)
- 審査区分
  
  中区分29:応用物理物性およびその関連分野
- 研究機関
  一般財団法人ファインセラミックスセンター
2つの可干渉光源と高度情報科学を用いた透過電子顕微鏡ダメージレス観察法の開発
- 研究代表者
  
  平山司
- 研究期間 (年度)
  2020 – 2024
- 研究種目
  
  挑戦的研究(萌芽)
- 審査区分
  
  中区分29:応用物理物性およびその関連分野
- 研究機関
  一般財団法人ファインセラミックスセンター
光電場を可視化する電子顕微鏡法の開発
- 研究代表者
  
  山本和生
- 研究期間 (年度)
  2019 – 2022
- 研究種目
  
  挑戦的研究(萌芽)
- 審査区分
  
  中区分29:応用物理物性およびその関連分野
- 研究機関
  一般財団法人ファインセラミックスセンター
動作時太陽電池の高精度電子線ホログラフィー観察研究代表者
- 研究代表者
  
  穴田智史
- 研究期間 (年度)
  2018 – 2020
- 研究種目
  
  若手研究
- 審査区分
  
  小区分21050:電気電子材料工学関連
- 研究機関
  一般財団法人ファインセラミックスセンター

すべて 2024 2023 2022 2021 2020 2019 2018

すべて雑誌論文学会発表

[雑誌論文] Bayesian inference of atomic column positions in scanning transmission electron microscopy images2024
- 著者名/発表者名
  Yuki Nomura, Satoshi Anada, Shunsuke Kobayashi
- 雑誌名
  
  Microscopy
  
  巻: 印刷中号: 6 ページ: 481-487
- DOI
  10.1093/jmicro/dfae025
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K18196
[雑誌論文] Low-dose measurement of electric potential distribution in organic light-emitting diode by phase-shifting electron holography with 3D tensor decomposition2023
- 著者名/発表者名
  Sasaki Yusei、Yamamoto Kazuo、Anada Satoshi、Yoshimoto Noriyuki
- 雑誌名
  
  Microscopy
  
  巻: in press 号: 6 ページ: 485-493
- DOI
  10.1093/jmicro/dfad019
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20H02627, KAKENHI-PROJECT-19K22136
[雑誌論文] Enhancing performance of?electron holography with mathematical and?machine learning?based denoising techniques2023
- 著者名/発表者名
  Anada Satoshi、Nomura Yuki、Yamamoto Kazuo
- 雑誌名
  
  Microscopy
  
  巻: 72 号: 6 ページ: 461-484
- DOI
  10.1093/jmicro/dfad037
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K26551
[雑誌論文] Direct visualization of electric potential distribution in organic light emitting diode by phase-shifting electron holography2021
- 著者名/発表者名
  Sasaki Yusei、Yamamoto Kazuo、Anada Satoshi、Hirayama Tsukasa、Yoshimoto Noriyuki
- 雑誌名
  
  Applied Physics Express
  
  巻: 14 号: 7 ページ: 075007-075007
- DOI
  10.35848/1882-0786/ac07f1
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K05289, KAKENHI-PROJECT-20H02627, KAKENHI-PROJECT-19K22136
[雑誌論文] Phase-Shifting Electron Holography for Accurate Measurement of Potential Distributions in Organic and Inorganic Semiconductors2021
- 著者名/発表者名
  Kazuo Yamamoto, Satoshi Anada, Takeshi Sato, Noriyuki Yoshimoto, Tsukasa Hirayama
- 雑誌名
  
  Microscopy
  
  巻: 70 号: 1 ページ: 24-38
- DOI
  10.1093/jmicro/dfaa061
- 査読あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K05289, KAKENHI-PROJECT-19K22136, KAKENHI-PROJECT-20H02627, KAKENHI-PROJECT-18K13795
[雑誌論文] Direct visualization of the photovoltaic effect in a single-junction GaAs cell via in situ electron holography2020
- 著者名/発表者名
  Anada Satoshi、Hirayama Tsukasa、Sasaki Hirokazu、Yamamoto Kazuo
- 雑誌名
  
  Journal of Applied Physics
  
  巻: 128 号: 24 ページ: 243101-243101
- DOI
  10.1063/5.0030728
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K22136, KAKENHI-PROJECT-18K13795
[雑誌論文] Simulation-Trained Sparse Coding for High-Precision Phase Imaging in Low-Dose Electron Holography2020
- 著者名/発表者名
  Anada Satoshi、Nomura Yuki、Hirayama Tsukasa、Yamamoto Kazuo
- 雑誌名
  
  Microscopy and Microanalysis
  
  巻: 26 号: 3 ページ: 429-438
- DOI
  10.1017/s1431927620001452
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K13795
[雑誌論文] Sparse coding and dictionary learning for electron hologram denoising2019
- 著者名/発表者名
  Anada Satoshi、Nomura Yuki、Hirayama Tsukasa、Yamamoto Kazuo
- 雑誌名
  
  Ultramicroscopy
  
  巻: 206 ページ: 112818-112818
- DOI
  10.1016/j.ultramic.2019.112818
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K13795
[雑誌論文] Visualization of different carrier concentrations in n-type-GaN semiconductors by phase-shifting electron holography with multiple electron biprisms2019
- 著者名/発表者名
  Yamamoto Kazuo、Nakano Kiyotaka、Tanaka Atsushi、Honda Yoshio、Ando Yuto、Ogura Masaya、Matsumoto Miko、Anada Satoshi、Ishikawa Yukari、Amano Hiroshi、Hirayama Tsukasa
- 雑誌名
  
  Microscopy
  
  巻: 69 号: 1 ページ: 1-10
- DOI
  10.1093/jmicro/dfz037
- 査読あり / オープンアクセス
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K13795, KAKENHI-PROJECT-17H02792
[雑誌論文] Electron Hologram Denoising via Sparse Coding and Dictionary Learning2019
- 著者名/発表者名
  Anada Satoshi、Nomura Yuki、Hirayama Tsukasa、Yamamoto Kazuo
- 雑誌名
  
  Microscopy and Microanalysis
  
  巻: 25 号: S2 ページ: 52-53
- DOI
  10.1017/s1431927619000990
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K13795
[雑誌論文] Accurate measurement of electric potentials in biased GaAs compound semiconductors by phase-shifting electron holography2018
- 著者名/発表者名
  Anada Satoshi、Yamamoto Kazuo、Sasaki Hirokazu、Shibata Naoya、Matsumoto Miko、Hori Yujin、Kinugawa Kouhei、Imamura Akihiro、Hirayama Tsukasa
- 雑誌名
  
  Microscopy
  
  巻: 68 号: 2 ページ: 159-166
- DOI
  10.1093/jmicro/dfy131
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K13795, KAKENHI-PROJECT-17H01316
[学会発表] STEM画像の超解像処理による原子位置計測精度の改善の検討2024
- 著者名/発表者名
  小林明珠, 穴田智史, 小林俊介, 五十嵐康彦
- 学会等名
  日本顕微鏡学会　第80回学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K18196
[学会発表] 走査透過型電子顕微鏡法による原子変位解析の精度検証2024
- 著者名/発表者名
  小井沼厳, 小林俊介, 穴田智史, 桑原彰秀
- 学会等名
  日本顕微鏡学会　第80回学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K18196
[学会発表] 走査透過電子顕微鏡法を用いたPt(111)表面の原子間距離計測2024
- 著者名/発表者名
  小林俊介, 大江耕介, 仲山啓, 小井沼厳, 穴田智史, 桑原彰秀
- 学会等名
  日本顕微鏡学会　第80回学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K18196
[学会発表] Low-Dose Electron Holography with Machine Learning Denoising2023
- 著者名/発表者名
  Hirayama Tsukasa, Anada Satoshi, Nomura Yuki, and Yamamoto Kazuo
- 学会等名
  The 20th International Microscopy Congress
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K21150
[学会発表] JFCCにおける電子顕微鏡計測インフォマティクスの試み2023
- 著者名/発表者名
  山本和生，佐々木祐聖，穴田智史，野村優貴，平山司
- 学会等名
  日本顕微鏡学会　超高分解能顕微鏡法分科会　研究討論会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K22136
[学会発表] 電子線ホログラフィーによる半導体デバイスの高精度オペランド電位解析2023
- 著者名/発表者名
  穴田智史
- 学会等名
  日本顕微鏡学会第79回学術講演会
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-23K26551
[学会発表] HAADF STEM法による原子位置計測におけるノイズ低減の有効性2022
- 著者名/発表者名
  穴田智史, 小林俊介, 山本和生
- 学会等名
  日本顕微鏡学会　第78回学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21K18196
[学会発表] 単接合型太陽電池の光起電力効果のその場観察2022
- 著者名/発表者名
  穴田智史，平山司，佐々木宏和，山本和生
- 学会等名
  日本顕微鏡学会第６５回シンポジウム
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-19K22136
[学会発表] 電子線ホログラムのノイズ低減におけるスパースコーディング適用範囲の拡張2020
- 著者名/発表者名
  穴田智史，野村優貴，平山司，山本和生
- 学会等名
  日本顕微鏡学会第76回学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K13795
[学会発表] 電子線ホログラフィーによる半導体内部ポテンシャル分布の精密計測2020
- 著者名/発表者名
  穴田智史
- 学会等名
  2019年度日本顕微鏡学会超高分解能顕微鏡法分科会研究会
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K13795
[学会発表] Accurate Potential Measurement of a P-N Junction by Applying Phase-Shifting Electron Holography to a Wedge-Shaped Specimen2019
- 著者名/発表者名
  Anada Satoshi、Yamamoto Kazuo、Sasaki Hirokazu, Shibata Naoya、Matsumoto Miko、Hori Yujin、Kinugawa Kouhei、Imamura Akihiro、Hirayama Tsukasa
- 学会等名
  The 6th International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations (AMTC6)
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K13795
[学会発表] Accurate potential measurement of GaAs semiconductors by applying phase-shifting electron holography to a wedge-shaped specimen2019
- 著者名/発表者名
  S. Anada, K. Yamamoto, H. Sasaki, N. Shibata, M. Matsumoto, Y. Hori, K. Kinugawa, A. Imamura, T. Hirayama
- 学会等名
  International Workshop of Ultra High-Resolution on Microscopy
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K13795
[学会発表] スパースコーディングを用いた電子線ホログラムのノイズ除去2019
- 著者名/発表者名
  穴田智史，野村優貴，平山司，山本和生
- 学会等名
  日本顕微鏡学会第75回学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K13795
[学会発表] Accurate Measurement of Electric Potentials in P-N Junctions by Phase-Shifting Electron Holography and Sparse Coding2019
- 著者名/発表者名
  穴田智史，野村優貴，平山司，佐々木宏和，柴田直哉，山本和生
- 学会等名
  日本顕微鏡学会第75回学術講演会
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K13795
[学会発表] スパースコーディングによる電子線ホログラムの雑音低減2019
- 著者名/発表者名
  穴田智史，野村優貴，平山司，山本和生
- 学会等名
  第80回応用物理学会秋季学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K13795
[学会発表] Electron Hologram Denoising via Sparse Coding and Dictionary Learning2019
- 著者名/発表者名
  S. Anada, Y. Nomura, T. Hirayama, K. Yamamoto
- 学会等名
  Microscopy & Microanalysis 2019 Meeting
- 国際共著/国際学会である
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K13795
[学会発表] Accurate measurement of electric potentials in p-n junctions by phase-shifting electron holography and sparse coding2019
- 著者名/発表者名
  Anada Satoshi、Nomura Yuki、Tsukasa Hirayama、Sasaki Hirokazu、Shibata Naoya、Yamamoto Kazuo
- 学会等名
  日本顕微鏡学会第75回学術講演会
- 招待講演
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18K13795

1. 山本和生 (80466292)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 4件
2. 小林俊介 (60714623)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 5件
3. 平山司 (50399599)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 1件
4. 野村優貴 (60970126)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 1件
5. 吉本則之

共同の研究課題数: 0件

共同の研究成果数: 3件

穴田 智史 Anada Satoshi

研究課題

研究成果

共同研究者

高速オペランド電子線ホログラフィーの開発と電荷挙動解析への応用研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

実空間における超精密原子位置計測技術の開拓

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

2つの可干渉光源と高度情報科学を用いた透過電子顕微鏡ダメージレス観察法の開発

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

光電場を可視化する電子顕微鏡法の開発

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

動作時太陽電池の高精度電子線ホログラフィー観察研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

[雑誌論文] Bayesian inference of atomic column positions in scanning transmission electron microscopy images2024

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Low-dose measurement of electric potential distribution in organic light-emitting diode by phase-shifting electron holography with 3D tensor decomposition2023

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Enhancing performance of?electron holography with mathematical and?machine learning?based denoising techniques2023

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Direct visualization of electric potential distribution in organic light emitting diode by phase-shifting electron holography2021

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Phase-Shifting Electron Holography for Accurate Measurement of Potential Distributions in Organic and Inorganic Semiconductors2021

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Direct visualization of the photovoltaic effect in a single-junction GaAs cell via in situ electron holography2020

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Simulation-Trained Sparse Coding for High-Precision Phase Imaging in Low-Dose Electron Holography2020

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Sparse coding and dictionary learning for electron hologram denoising2019

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Visualization of different carrier concentrations in n-type-GaN semiconductors by phase-shifting electron holography with multiple electron biprisms2019

著者名/発表者名

雑誌名

DOI

データソース

[雑誌論文] Electron Hologram Denoising via Sparse Coding and Dictionary Learning2019

穴田智史 Anada Satoshi