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古志 知也  Koshi Tomoya

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 40849949
その他のID
所属 (現在) 2025年度: 国立研究開発法人産業技術総合研究所, エレクトロニクス・製造領域, 研究員
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2022年度 – 2023年度: 国立研究開発法人産業技術総合研究所, エレクトロニクス・製造領域, 主任研究員
2021年度: 国立研究開発法人産業技術総合研究所, エレクトロニクス・製造領域, 研究員
審査区分/研究分野
研究代表者
小区分21060:電子デバイスおよび電子機器関連
キーワード
研究代表者
引張試験 / 性能劣化挙動 / き裂発生形態 / 機能性インク / 布上印刷回路
  • 研究課題

    (1件)
  • 研究成果

    (2件)
  •  き裂発生形態の制御による布上印刷電子回路の高耐久化設計指針の構築研究代表者

    • 研究代表者
      古志 知也
    • 研究期間 (年度)
      2021 – 2023
    • 研究種目
      若手研究
    • 審査区分
      小区分21060:電子デバイスおよび電子機器関連
    • 研究機関
      国立研究開発法人産業技術総合研究所

すべて 2024 2023

すべて 図書

  • [図書] 次世代ウェアラブルデバイスに向けたフレキシブル・伸縮性エレクトロニクス技術とセンサ開発2024

    • 著者名/発表者名
      古志 知也(分担執筆)
    • 出版者
      サイエンス&テクノロジー株式会社
    • ISBN
      9784864283236
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K14220
  • [図書] インターフェース(49巻9号)2023

    • 著者名/発表者名
      古志 知也、野村 健一(分担執筆)
    • 出版者
      CQ出版
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-21K14220

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