安達正明 ADACHI Masaaki

研究者番号	50212519
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所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記	2020年度 – 2021年度: 公立小松大学, 生産システム科学部, 教授 2008年度 – 2014年度: 金沢大学, 機械工学系, 教授 2006年度 – 2007年度: 金沢大学, 自然科学研究科, 教授 2004年度: 金沢大学, 自然科学研究科, 教授 1999年度 – 2003年度: 金沢大学, 工学部, 教授 1990年度 – 1992年度: 金沢大学, 工学部, 講師
審査区分/研究分野	研究代表者知能機械学・機械システム / 小区分18020:加工学および生産工学関連 / 知能機械学・機械システム / 機械工作・生産工学 / 物理計測・光学
キーワード	研究代表者位相抽出 / 振動 / スペックル干渉 / 干渉計測 / 光干渉 / 粗面 / 3次元形状 / two wavelengths / 2波長 / 干渉位相 … もっと見る / 半導体レーザ / 干渉顕微鏡 / レーザ / FPGA / 高精度計測 / 白色干渉 / 粗面反射 / 機械部品 / レーザー計測 / 波長シフト / 段差計測 / 等価波長 / 位相波面 / 波長変更 / レーザー光 / 3次元形状計測 / 金属部品 / 光路差変動 / Digital camera / Extremely high power LED / flash lamp / phase shift / vertical scanning / interference phase / optical interferometer / 二重露光 / デジタルカメラ / 高輝度LED光源 / フラッシュ光源 / 位相シフト法 / 垂直走査 / non-contact measurement / laser application / dynamic measurement / Speckle Interferometry / phase measurement / real-time / deformation measurement / リセット・リスタート / カメラ / 光ファイバー / 干渉画像 / 多波長発振レーザ光源 / 実時間測定 / 高精度光応用計測 / 二次元変形測定 / 機械加工 / 多波長計測 / 連続変形 / 工作機械 / 高精度測定 / レーザ応用計測 / 変形 / 非接触 / 動的測定 / 位相測定 / レーザ応用 / 変形計測 / Supersmooth-surface / Digital signal processing / Profilometer / Interferometer / うねり形状 / 形状計測 / 移動テ-ブル / 位置制御 / 移動テーブル / 光反射率 / 超精密面 / ディジタル信号処理 / 形状測定 / 光干渉法 / ３次元形状 / 計測工学 / 距離計測 / 位相差マップ / スペックル / 波長走査 / 空気擾乱 / 位相シフト / 波長可変レーザー / ランダム振動 / スペックル干渉計 / ３次元形状計測 / NA / 顕微鏡 / 高速ラインカメラ / ナノメータ / 光路差変化 / 露光 / 変位計 / 制御 / 振動環境下 / 半導体レーザー / 微細構造物 / 3次元形状測定 / モジュレーション / リアルタイム測定 / 光路差測定 / 段差 / リアルタイム計測 / 光路差隠す

精密測定室外でも使える機械部品群の光干渉を応用する３次元高精度形状計測技術の研究研究代表者
- 研究代表者
  
  安達正明
- 研究期間 (年度)
  2020 – 2021
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 審査区分
  
  小区分18020:加工学および生産工学関連
- 研究機関
  公立小松大学
電子基板上の部品群の高精度３次元形状計測技術の開発研究代表者
- 研究代表者
  
  安達正明
- 研究期間 (年度)
  2012 – 2014
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  知能機械学・機械システム
- 研究機関
  金沢大学
振動下でも使用できる超高精度3次元形状計測技術の開発研究代表者
- 研究代表者
  
  安達正明
- 研究期間 (年度)
  2009 – 2011
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  知能機械学・機械システム
- 研究機関
  金沢大学
上下振動している微細構造物の高精度3次元形状測定法の開発研究代表者
- 研究代表者
  
  安達正明
- 研究期間 (年度)
  2006 – 2008
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  知能機械学・機械システム
- 研究機関
  金沢大学
2色光干渉式高速高精度三次元形状測定器の開発研究代表者
- 研究代表者
  
  安達正明
- 研究期間 (年度)
  2002 – 2004
- 研究種目
  
  基盤研究(B)
- 研究分野
  
  知能機械学・機械システム
- 研究機関
  金沢大学
工作機械の二次元変形の高精度実時間測定技術に関する研究研究代表者
- 研究代表者
  
  安達正明
- 研究期間 (年度)
  1999 – 2001
- 研究種目
  
  基盤研究(C)
- 研究分野
  
  機械工作・生産工学
- 研究機関
  金沢大学
参照面のうねりの影響を受けない大型光学部品の光干渉式高精度うねり形状測定法研究代表者
- 研究代表者
  
  安達正明
- 研究期間 (年度)
  1990 – 1992
- 研究種目
  
  一般研究(C)
- 研究分野
  
  物理計測・光学
- 研究機関
  金沢大学

[図書] 走査型干渉顕微鏡観察下の粗面の垂直変位測定,光アライアンス2011
- 著者名/発表者名
  安達正明
- 出版者
  日本工業出版
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360115
[雑誌論文] Phase-Shift Extraction from Twice-Normalized Light Intensity Changes Recorded with Random Phase Shifts2014
- 著者名/発表者名
  Masaaki ADACHI and Satoshi SUNADA
- 雑誌名
  
  OPTICAL REVIEW
  
  巻: 21 ページ: 522-525
- NAID
  120005537875
- 査読あり / 謝辞記載あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24560289
[雑誌論文] 振動環境下で撮影された干渉像からの高精度位相抽出2011
- 著者名/発表者名
  安達正明(他2名, 1番目)
- 雑誌名
  
  精密工学会誌
  
  巻: 77巻ページ: 502-506
- NAID
  130001362305
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360115
[雑誌論文] 振動環境下で撮影された干渉像からの高精度位相抽出2011
- 著者名/発表者名
  安達, 丹羽, 岩尾
- 雑誌名
  
  精密工学会誌
  
  巻: 77(掲載確定)
- NAID
  130001362305
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360115
[雑誌論文] 振動環境下で撮影された干渉像からの高精度位相抽出2011
- 著者名/発表者名
  安達正明, 丹羽康人, 岩尾雄太
- 雑誌名
  
  精密工学会誌
  
  巻: 77 ページ: 502-506
- NAID
  130001362305
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360115
[雑誌論文] 干渉顕微鏡観察下の粗面の垂直走査域100μmでの光路差変化の高精度測定2010
- 著者名/発表者名
  安達, 河村, 岩尾
- 雑誌名
  
  精密工学会誌 76(掲載確定)
- NAID
  130000421878
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360115
[雑誌論文] 干渉顕微鏡観察下の粗面の垂直走査域100μmでの光路差変化の高精度測定2010
- 著者名/発表者名
  安達正明(他2名, 1番目)
- 雑誌名
  
  精密工学会誌
  
  巻: 76巻ページ: 834-839
- NAID
  130000421878
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360115
[雑誌論文] 干渉顕微鏡観察下の粗面の垂直走査域100μmでの光路差変化の高精度測定2010
- 著者名/発表者名
  安達, 河村, 岩尾
- 雑誌名
  
  精密工学会誌
  
  巻: 76 ページ: 834-839
- NAID
  130000421878
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360115
[雑誌論文] 振動環境でも利用できる垂直走査型光干渉応用形状計測技術2009
- 著者名/発表者名
  安達, 平野, 河村, 岩尾
- 雑誌名
  
  精密工学会誌 75
  
  ページ: 1299-1304
- NAID
  130000421525
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360115
[雑誌論文] 振動環境でも利用できる垂直走査型光干渉応用形状計測技術2009
- 著者名/発表者名
  安達正明(他3名, 1番目)
- 雑誌名
  
  精密工学会誌
  
  巻: 75巻ページ: 1299-1304
- NAID
  130000421525
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360115
[雑誌論文] 走査型干渉顕微鏡に内蔵可能な光路差変化量のリアルタイム測定法2008
- 著者名/発表者名
  安達正明, 藤本健太, 平野勇輝
- 雑誌名
  
  精密工学会誌 74巻
  
  ページ: 1215-219
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18560247
[雑誌論文] Phase-shift algorithm for white-light interferometry insensitive to linear errors in phase shift2008
- 著者名/発表者名
  M. Adachi
- 雑誌名
  
  Optical Review Vol.15
  
  ページ: 148-155
- NAID
  10021107040
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18560247
[雑誌論文] 走査型干渉顕微鏡に内蔵可能な光路差変化量のリアルタイム測定法2008
- 著者名/発表者名
  安達正明, 藤本健太, 平野勇輝
- 雑誌名
  
  精密工学会誌 74
  
  ページ: 1215-1219
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18560247
[雑誌論文] Phase-Shift Algori thm for White-Light Interferometry Insensitive to Linear Errors in Phase Shift2008
- 著者名/発表者名
  Masaaki Adachi
- 雑誌名
  
  Optical Review 15
  
  ページ: 148-155
- NAID
  10021107040
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18560247
[雑誌論文] Simultaneous measurement of nanometric longitudinal displacement and micrometric lateral displacement by using one line CCD camera2006
- 著者名/発表者名
  M. Adachi, Y. Nishide
- 雑誌名
  
  Proceeding of SPIE vol.6374
  
  ページ: 1-9
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18560247
[雑誌論文] Simul taneous measurement of nanometric longitudinal displacement and micrometric lateral displacement by using one line CCD camera2006
- 著者名/発表者名
  M.Adachi, Y.Nishide
- 雑誌名
  
  Proceeding of SPIE(Optomechatronic Actuators, Manipulation, and Systems Control) 6374
  
  ページ: 637408-1
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18560247
[雑誌論文] Vertical-scanning profilometry having nanometric height resolution and scanning speed more than 40μm2004
- 著者名/発表者名
  Masaaki ADACHI
- 雑誌名
  
  Proceedings of SPIE, Optomechatronic Sensor, Actuator, and Control 5602
  
  ページ: 73-82
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-14350129
[雑誌論文] Vertical-scanning profilometry having nanometric height resolution and scanning speed more than 40μm/s2004
- 著者名/発表者名
  Masaaki Adachi
- 雑誌名
  
  Proceedings of SPIE, Optoinechatronic Sensors, Actuators, and Control 5602
  
  ページ: 73-82
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-14350129
[雑誌論文] Vertical-scanning profilometry having nanometric height resolution and scanning speed more than 40μm/s2004
- 著者名/発表者名
  M.Adachi
- 雑誌名
  
  Proceedings of SPIE 5602
  
  ページ: 73-82
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-14350129
[雑誌論文] High-speed precision-surface profilometry using large phase shifting2003
- 著者名/発表者名
  M.Adachi, K.Ueda
- 雑誌名
  
  Proceedings of SPIE 5264
  
  ページ: 322-331
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-14350129
[雑誌論文] High-speed precision-surface profilometry using large phase shifting2003
- 著者名/発表者名
  M.Adachi, K.Ueda
- 雑誌名
  
  Proceedings of SPIE, Optomechatronic Systems IV 5264
  
  ページ: 322-331
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-14350129
[雑誌論文] Vertical-scanning profilometry using double-exposure camera and two short-coherent-light sources of different wavelengths2002
- 著者名/発表者名
  M.Adachi, K.Inabe
- 雑誌名
  
  Proceedings of SPIE, Optomechatronic Systems III 4902
  
  ページ: 600-607
- 説明
  「研究成果報告書概要(和文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-14350129
[雑誌論文] Vertical-scanning profilometry using double-exposure camera and two short-coherent-light sources of different wavelengths2002
- 著者名/発表者名
  M.Adachi, K.Inabe
- 雑誌名
  
  Proceedings of SPIE 4902
  
  ページ: 600-607
- 説明
  「研究成果報告書概要(欧文)」より
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-14350129
[雑誌論文] Phase-Shift Algorithm for White-Light Interferometry Insensitive to Lin-ear Errors in Phase Shift
- 著者名/発表者名
  Masaaki Adachi
- 雑誌名
  
  OPTICAL REVIEW (掲載確定)
- NAID
  10021107040
- 査読あり
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18560247
[産業財産権] 振動環境下での波長走査を用いた形状計測法及び装置2014
- 発明者名
  安達　正明
- 権利者名
  安達　正明
- 産業財産権種類
  特許
- 出願年月日
  2014-02-26
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24560289
[学会発表] ブロックゲージ表面の乱反射光と波長シフト干渉計を用いる3D形状計測2022
- 著者名/発表者名
  安達　正明
- 学会等名
  2022年度精密工学会春季大会学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K04196
[学会発表] 鏡面反射光を使わないサブミクロン平面の形状測定(その1)2021
- 著者名/発表者名
  安達　正明
- 学会等名
  2021年度精密工学会春季大会学術講演会
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-20K04196
[学会発表] 激しい空気擾乱にも影響されない波長変更干渉計による３次元形状計測法2015
- 著者名/発表者名
  安達正明
- 学会等名
  平成２７年度精密工学会春季大会学術講演会
- 発表場所
  東洋大学
- 年月日
  2015-03-17
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24560289
[学会発表] 振動環境下での波長走査を用いた電子基板の３次元形状計測法2014
- 著者名/発表者名
  安達正明，佐々木裕紀
- 学会等名
  ２０１４年度精密工学会春季大会
- 発表場所
  東京大学
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24560289
[学会発表] 光軸方向の不規則振動の影響を受けない波長走査応用３次元形状計測法2014
- 著者名/発表者名
  安達正明
- 学会等名
  平成２６年度精密工学会秋季大会学術講演会
- 発表場所
  鳥取大学
- 年月日
  2014-09-17
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24560289
[学会発表] 振動環境下で取り込まれた多数枚のスペックル干渉像からの位相抽出2013
- 著者名/発表者名
  安達正明，佐々木裕紀
- 学会等名
  ２０１３年度精密工学会秋季大会
- 発表場所
  関西大学
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-24560289
[学会発表] 振動環境下で撮影された白色干渉像からの高精度形状計測2011
- 著者名/発表者名
  安達正明(他2名, 3番目)
- 学会等名
  2011年精密工学会秋季大会学術講演会
- 発表場所
  金沢大学(石川県)
- 年月日
  2011-09-22
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360115
[学会発表] 露光中の光路差変化情報を用いた低輝度光源干渉像からの位相抽出の高精度化2010
- 著者名/発表者名
  岩尾, 丹羽, 安達
- 学会等名
  精密工学会学術講演会秋季大会
- 発表場所
  名古屋大学(愛知県)
- 年月日
  2010-09-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360115
[学会発表] 露光中の光路差変化情報を用いた低輝度光源干渉像からの位相抽出の高精度化2010
- 著者名/発表者名
  安達正明(他2名, 3番目)
- 学会等名
  2010年精密工学会秋季大会学術講演会
- 発表場所
  名古屋大学(愛知県)
- 年月日
  2010-09-27
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360115
[学会発表] 微細段差形状の高速高精度光応用3次元形状測定法2009
- 著者名/発表者名
  安達正明
- 学会等名
  精密工学会2009年度春期大会学術講演会
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2009-03-12
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18560247
[学会発表] 微細段差形状の高速高精度光応用3次元形状測定法2009
- 著者名/発表者名
  安達正明
- 学会等名
  精密工学会春季大会
- 発表場所
  中央大学
- 年月日
  2009-03-12
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18560247
[学会発表] 干渉顕微鏡観察下の粗面の垂直変位測定2009
- 著者名/発表者名
  安達, 河村, 岩尾
- 学会等名
  精密工学会
- 発表場所
  神戸大学(兵庫県)
- 年月日
  2009-09-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360115
[学会発表] 振動環境下で撮影された白色干渉像からの高精度形状計測2009
- 著者名/発表者名
  安達正明(他2名, 3番目)
- 学会等名
  2009年精密工学会秋季大会学術講演会
- 発表場所
  神戸大学(兵庫県)
- 年月日
  2009-09-11
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-21360115
[学会発表] 干渉顕微鏡観察下の粗面の垂直変位測定2009
- 著者名/発表者名
  安達正明, 河村昌範, 岩尾雄太
- 学会等名
  精密工学会2009 年度春期大会学術講演会
- 発表場所
  東京
- 年月日
  2009-03-12
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18560247
[学会発表] 振動環境で利用できる走査型光干渉応用形状計測技術2008
- 著者名/発表者名
  安達正明, 平野勇輝, 河村昌範, 岩尾雄太
- 学会等名
  精密工学会2008年度秋期大会学術講演会
- 発表場所
  仙台
- 年月日
  2008-09-18
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18560247
[学会発表] 顕微鏡内蔵型レーザ変位計の開発2007
- 著者名/発表者名
  安達正明, 平野勇輝, 藤本健太, 泉澤俊裕, 五十島一興
- 学会等名
  精密工学会
- 発表場所
  旭川市
- 年月日
  2007-09-13
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18560247
[学会発表] 顕微鏡内蔵型レ-ザ変位計の開発2007
- 著者名/発表者名
  安達正明, 平野勇輝, 藤本健太, 泉澤俊裕, 五十島一興
- 学会等名
  精密工学会2007年度秋期大会学術講演会
- 発表場所
  旭川
- 年月日
  2007-10-13
- データソース
  KAKENHI-PROJECT-18560247

1. 榎本文彦 (80135045)

共同の研究課題数: 2件

共同の研究成果数: 0件
2. 秋田純一 (10303265)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件
3. 竹内望 (20035588)

共同の研究課題数: 1件

共同の研究成果数: 0件

安達 正明 ADACHI Masaaki

研究課題

研究成果

共同研究者

精密測定室外でも使える機械部品群の光干渉を応用する３次元高精度形状計測技術の研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

審査区分

研究機関

電子基板上の部品群の高精度３次元形状計測技術の開発研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

振動下でも使用できる超高精度3次元形状計測技術の開発研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

上下振動している微細構造物の高精度3次元形状測定法の開発研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

2色光干渉式高速高精度三次元形状測定器の開発研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

工作機械の二次元変形の高精度実時間測定技術に関する研究研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

参照面のうねりの影響を受けない大型光学部品の光干渉式高精度うねり形状測定法研究代表者

研究代表者

研究期間 (年度)

研究種目

研究分野

研究機関

[図書] 走査型干渉顕微鏡観察下の粗面の垂直変位測定,光アライアンス2011

著者名/発表者名

出版者

データソース

[雑誌論文] Phase-Shift Extraction from Twice-Normalized Light Intensity Changes Recorded with Random Phase Shifts2014

著者名/発表者名

雑誌名

NAID

データソース

[雑誌論文] 振動環境下で撮影された干渉像からの高精度位相抽出2011

著者名/発表者名

雑誌名

NAID

データソース

[雑誌論文] 振動環境下で撮影された干渉像からの高精度位相抽出2011

著者名/発表者名

雑誌名

NAID

データソース

[雑誌論文] 振動環境下で撮影された干渉像からの高精度位相抽出2011

著者名/発表者名

雑誌名

NAID

データソース

[雑誌論文] 干渉顕微鏡観察下の粗面の垂直走査域100μmでの光路差変化の高精度測定2010

著者名/発表者名

雑誌名

NAID

データソース

[雑誌論文] 干渉顕微鏡観察下の粗面の垂直走査域100μmでの光路差変化の高精度測定2010

著者名/発表者名

雑誌名

NAID

データソース

安達正明 ADACHI Masaaki