| 研究者番号 |
50366449
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| その他のID |
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| 外部サイト |
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| 所属 (現在) |
2024年度: 東京理科大学, 研究推進機構総合研究院, 講師
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| 所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 |
2021年度 – 2022年度: 東京理科大学, 研究推進機構総合研究院, 講師
2007年度 – 2010年度: 東京理科大学, 総合研究機構, 講師
2005年度 – 2006年度: 東京理科大学, 総合研究機構, 助手
2004年度: 東京理科大学, 総合研究所, 助手
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| 審査区分/研究分野 |
- 研究代表者
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小区分29020:薄膜および表面界面物性関連 /
分析化学
- 研究代表者以外
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環境影響評価・環境政策 /
薄膜・表面界面物性 /
理工系
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| キーワード |
- 研究代表者
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集束イオンビーム / マテリアルインフォマティクス / 電界スプレーイオン化 / 薄膜形成 / 静電噴霧 / 質量分離 / リフトアップ / 多層薄膜 / ダイナミック分析 / shave-off法
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/ ナノデバイス / 二次イオン質量分析法 / 深さ方向分析 / マイクロ・ナノデバイス / ナノ材料 / 電子顕微鏡 / 超精密計測 / 解析・評価
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- 研究代表者以外
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X線光電子分光 / Plasma Reactor / TOF-SIMS / Diesel Exhaust Particle / Nanoparticle / Micro Beam Analysis / Complex Pollution / Health Effect / Atmospheric Environment / 粒別起源解析法 / ディーゼル排気微粒子(DEP) / 複合粒子汚染 / ナノ環境微粒子 / プラズマ / 飛行時間型二次イオン質量分析法 / 環境問題 / プラズマ反応器 / 飛行時間型二次イオン質量分析 / ディーゼル排気微粒子 / ナノ粒子 / マイクロビームアナリシス / 複合汚染 / 健康影響 / 大気環境 / 収東イオンビーム加工 / 質量分析 / シミュレーション / 超高真空 / 微小引出し電極 / 収束イオンビーム加工 / パルスレーザー / 電界蒸発 / アトムプローブ / 表面・界面ナノ構造 / ナノ構造化学 / 三次元像再生 / 人工多層膜分光結晶 / Cu(110) / Dualターゲット / 微分光電子ホログラフィー / 三次元原子像 / 光電子ホログラフィー / X線光電子回折 / 活性表面 / 表面反応 / 高速・時間分解 / 回折 / 光電子分光 / TiO_2(110) / VOx / 高速時間分解 / ダイナミクス / 自己組織化 / 低加速電子線回析 / Si(111) / X線光電子回析
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