| 研究者番号 |
50366449
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| 外部サイト |
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| 所属 (現在) |
2020年度: 東京理科大学, 研究推進機構総合研究院, 講師
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| 所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 |
2007年度 – 2010年度: 東京理科大学, 総合研究機構, 講師
2005年度 – 2006年度: 東京理科大学, 総合研究機構, 助手
2004年度: 東京理科大学, 総合研究所, 助手
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| 審査区分/研究分野 |
- 研究代表者
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分析化学
- 研究代表者以外
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理工系 /
薄膜・表面界面物性 /
環境影響評価・環境政策
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| キーワード |
- 研究代表者
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解析・評価 / 超精密計測 / 電子顕微鏡 / ナノ材料 / マイクロ・ナノデバイス / 深さ方向分析 / 二次イオン質量分析法 / ナノデバイス / 集束イオンビーム / shave-off法 / ダイナミック分析 / 多層薄膜 / リフトアップ
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- 研究代表者以外
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X線光電子分光 / X線光電子回析 / Si(111) / 低加速電子線回析 / 自己組織化 / ダイナミクス / 高速時間分解 / VOx / TiO_2(110) / 光電子分光 / 回折 / 高速・時間分解 / 表面反応 / 活性表面 / X線光電子回折 / 光電子ホログラフィー / 三次元原子像 / 微分光電子ホログラフィー / Dualターゲット / Cu(110) / 人工多層膜分光結晶 / 三次元像再生 / ナノ構造化学 / 表面・界面ナノ構造 / アトムプローブ / 電界蒸発 / パルスレーザー / 収束イオンビーム加工 / 微小引出し電極 / 超高真空 / シミュレーション / 質量分析 / 収東イオンビーム加工 / 大気環境 / 健康影響 / 複合汚染 / マイクロビームアナリシス / ナノ粒子 / ディーゼル排気微粒子 / 飛行時間型二次イオン質量分析 / プラズマ反応器 / 環境問題 / 飛行時間型二次イオン質量分析法 / プラズマ / ナノ環境微粒子 / 複合粒子汚染 / ディーゼル排気微粒子(DEP) / 粒別起源解析法 / Atmospheric Environment / Health Effect / Complex Pollution / Micro Beam Analysis / Nanoparticle / Diesel Exhaust Particle / TOF-SIMS / Plasma Reactor
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