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吉川 祐樹  Yoshikawa Yuki

ORCIDORCID連携する *注記
研究者番号 50453212
その他のID
所属 (現在) 2025年度: 呉工業高等専門学校, 機械工学分野, 准教授
所属 (過去の研究課題情報に基づく) *注記 2014年度: 呉工業高等専門学校, 機械工学分野, 准教授
2013年度: 呉工業高等専門学校, 機械工学分野, 講師
2012年度: 呉工業高等専門学校, その他部局等, 講師
2007年度 – 2009年度: 広島市立大学, 情報科学研究科, 助教
2008年度: 広島市立大学, 大学院・情報科学研究科, 助教
審査区分/研究分野
研究代表者
計算機システム・ネットワーク
研究代表者以外
計算機システム・ネットワーク
キーワード
研究代表者
LSIのテスト / LSIのCAD / 遅延故障のテスト / LSIの高信頼設計 / 高位合成 / 遅延テスト容易性 / 許容故障 / 許容故障判定 / 耐故障設計 / 設計工学 … もっと見る
研究代表者以外
… もっと見る ディペンダブル・コンピューティング / システムオンチップ / テスト生成 / システムオンチップ.ディペンダブル・コンピューティング / VLSI-CAD / テスト容易化設計 / 設計自動化 隠す
  • 研究課題

    (3件)
  • 研究成果

    (11件)
  • 共同研究者

    (2人)
  •  パス遅延テスト容易性を考慮した高位合成システムの開発研究代表者

    • 研究代表者
      吉川 祐樹
    • 研究期間 (年度)
      2012 – 2014
    • 研究種目
      若手研究(B)
    • 研究分野
      計算機システム・ネットワーク
    • 研究機関
      呉工業高等専門学校
  •  組合せ回路のテスト生成複雑度に基づく上流からのVLSIテスト容易化合成法

    • 研究代表者
      井上 智生
    • 研究期間 (年度)
      2007 – 2009
    • 研究種目
      基盤研究(C)
    • 研究分野
      計算機システム・ネットワーク
    • 研究機関
      広島市立大学
  •  上流からの許容故障判定に基づくテストコストの削減に関する研究研究代表者

    • 研究代表者
      吉川 祐樹
    • 研究期間 (年度)
      2007 – 2008
    • 研究種目
      若手研究(スタートアップ)
    • 研究分野
      計算機システム・ネットワーク
    • 研究機関
      広島市立大学

すべて 2013 2010 2009 2008 2007 その他

すべて 雑誌論文 学会発表

  • [雑誌論文] パス遅延故障の過剰テストを削減するためのテストパタン生成法2013

    • 著者名/発表者名
      古本圭, 吉川祐樹
    • 雑誌名

      情報科学技術フォーラム講演論文集

      巻: RC-004 ページ: 85-88

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24700056
  • [雑誌論文] A Fast Threshold Test Generation Algorithm Based on 5-Valued Logic2010

    • 著者名/発表者名
      井上, 出水, 吉川, 市原
    • 雑誌名

      IEEE Proc.DELTA

      ページ: 345-349

    • 査読あり
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500048
  • [学会発表] A Scheme of Test Pattern Generation to Reduce Over-testing of Path Delay Faults2013

    • 著者名/発表者名
      Kei Furumoto and Yuki Yoshikawa
    • 学会等名
      Proc. 3rd International Symposium on Technology for Sustainability (ISTS)
    • 発表場所
      香港(中国)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24700056
  • [学会発表] A Binding Algorithm in High-Level Synthesis for Path Delay Testability2013

    • 著者名/発表者名
      Yuki Yoshikawa
    • 学会等名
      18th Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC)
    • 発表場所
      国際会議場 パシフィコ横浜
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24700056
  • [学会発表] スイッチの機能を考慮した部分スルー可検査性に関する考察2010

    • 著者名/発表者名
      岡伸也, 吉川祐樹, 市原英行, 井上智生
    • 学会等名
      信学技法(ディペンダブルコンピューティング研究会)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500048
  • [学会発表] 閾値テストのための5値論理に基づくテスト生成アルゴリズムに関する考察2009

    • 著者名/発表者名
      出水伸和, 吉川祐樹, 市原英行, 井上智生
    • 学会等名
      信学技報
    • 発表場所
      (発表予定)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19800035
  • [学会発表] 故障の許容性に基づく閾値テスト生成アルゴリズムの高速化2009

    • 著者名/発表者名
      中島佑介, 吉川祐樹, 市原英行, 井上智生
    • 学会等名
      信学技報
    • 発表場所
      Vol. 108, No. 431, 1-6
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19800035
  • [学会発表] 故障の許容性に基づく閾値テスト生成のための回路モデル2008

    • 著者名/発表者名
      周藤健太, 吉川祐樹, 市原英行, 井上智生
    • 学会等名
      信学技報
    • 発表場所
      (Vol.108, No.352, 5-10)
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19800035
  • [学会発表] スト生成のための最適スルー木集合構成法2007

    • 著者名/発表者名
      森永広介, 岡伸也, 吉川祐樹, 市原英行, 井上智生
    • 学会等名
      信学技法
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-19500048
  • [学会発表] 遅延故障のテスト容易性を指向した高位合成におけるスケジューリングに関する研究

    • 著者名/発表者名
      中谷夏主政, 吉川祐樹
    • 学会等名
      総合大会 情報・システムソサイエティ特別企画
    • 発表場所
      立命館大学(滋賀県草津)
    • 年月日
      2015-03-10 – 2015-03-13
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24700056
  • [学会発表] A Binding Method to Synthesize Path Delay Testable RTL Circuits

    • 著者名/発表者名
      Kei Furumoto and Yuki Yoshikawa
    • 学会等名
      Proc. 4rd International Symposium on Technology for Sustainability (ISTS)
    • 発表場所
      台北(台湾)
    • 年月日
      2014-11-19 – 2014-11-21
    • データソース
      KAKENHI-PROJECT-24700056
  • 1.  市原 英行 (50326427)
    共同の研究課題数: 2件
    共同の研究成果数: 3件
  • 2.  井上 智生 (40252829)
    共同の研究課題数: 1件
    共同の研究成果数: 3件

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